Полуширина полосы пропускания

На рис. 9.40, а представлен внешний вид интерференционно-поляризационного фильтра с терморегулятором [9.14]. Фильтр составлен из И ступеней. Последние три — широкоугольные с регулируемым полон<ением максимума пропускания. Фильтр имеет полуширину полосы пропускания [c.251]

Номер на рукоятке Маркировка светофильтра Длина волны, соответствующая максимуму пропускания, нм Полуширина полосы пропускания, нм [c.205]

Маркировка на диске Маркировка светофильтра Длина волны, соответствующая максимуму пропускания, мм Полуширина полосы пропускания, мм [c.209]

Хз светофильтра Длина волны, соответствующая максимуму пропускания, нм Полуширина полосы пропускания, нм № светофильтра Длина волны, соответствующая максимуму пропускания, нм Полуширина полосы пропускания, нм [c.337]

Интерференционные фильтры на 400—700 нм с полушириной полосы пропускания 30 нм возможно применение отдельных фильтров на 347—700 нм с полушириной полосы 10 нм. Размер пробы 2,5 мл. Цикл анализа (ввод пробы — измерение — возврат пробы) имеет продолжительность 15 с. Кювета двухкамерная в форме песочных часов. Заполнение и опорожнение кюветы- осуществляется пневматически с помощью плунжерного насоса. Имеются электронные устройства для автоматической калибровки, коррекции нулевой линии и введения поправок первого порядка с учетом закона Бера. Результаты анализа представляются в цифровой форме. [c.405]

Кварцевая проточная кювета (объемом 0,5—0,1 см ), лампа — источник УФ-излучения. С одной стороны кюветы имеется заслонка для установки прибора на нуль, с другой ее стороны — фотоумножитель. Применяется для измерений при 254 нм в непрерывном анализе. Линейная шкала поглощений (О — 0,5 или О — 2,5), которую можно использовать для регистрации результатов с помощью отдельного записывающего устройства. Может быть использовано для управления устройством отбора фракций. Сменные детекторы. Предусмотрена возможность работы в различных спектральных диапазонах. Однолучевая схема путем выделения (фильтрами) спектральной линии при 254 нм, излучаемой ртутной лампой низкого давления диапазон видимого света 410—700 нм с использованием клинообразного интерференционного фильтра с полушириной полосы пропускания 25 нм ближняя ИК-область спектра (700—950 нм) —с применением клинообразного интерференционного фильтра с полушириной полосы пропускания 40 нм. Двухлучевая схема (по выбору 254 или 280 нм) используется с применением флуоресцирующего кристалла в качестве источника (полуширина 17 нм). В модели 660 для анализа непрерывного потока вещества можно выбирать различные линии спектра излучения ртути (254, 313, 364, 405, 435, 546, 679 нм). Выбор нужной линии осуществляется с помощью сменных фильтров. [c.408]

Фильтровый УФД, например, с четырьмя интерференционными фильтрами на 217 нм (полуширина полосы пропускания — 20 нм), 254 нм (42 нм), 263 нм (15 нм), 279 нм (12 нм) перекрывает область 200—300 нм и реализует полные возможности 4-волновой записи хроматограмм, в том числе получение разностных хроматограмм и спектральных отношений. [c.268]

Спектральная полуширина полосы пропускания интерференционного монохроматического светофильтра дается соотношением [c.104]

Монохроматические ИФ, полученные путем испарения в вакууме сульфида цинка и криолита, обладают меньшей полушириной полосы пропускания, значительно меньшими крыльями, чем ИФ, полученные химическим путем из ТЮг и ЗЮг. [c.105]

Дальнейшее уменьшение полуширины полосы пропускания ИФ можно достичь путем их комбинации. Сложные интерференционные фильтры высокой монохроматичности, или мультиплекс-светофильтры, позволяют [c.105]

Узкополосные фильтры характеризуются обычно длиной волны Хтах соответствующей максимуму пропускания, пропусканием в максимуме Гтах и полушириной полосы пропускания АЯ1/2. За эту величину принимается интервал длин волн, для границ которого Т = 2 Гтах- [c.227]

Спектральный интервал между соседними максимумом и минимумом пропускания фильтра, определяюш ий полуширину полосы пропускания,, легко найти из формул (9.8) и (9.9). Он равен [c.248]

Рис. 21. Запись сигнала при различных уровнях светового потока. Полуширина полосы пропускания частот — 3 гц. / —5-10 а 2— 3—2-10- За 4-

Особенно высокие качества в отношении коэффициента пропускания и полуширины полосы пропускания обнаруживают комбинации нескольких интерференционных фильтров (мультиплекс-светофильтры) с многослойными диэлектрическими покрытиями. Теория и технология изготовления мультиплекс-светофильтров разработана и описана Ф. А. Королевым [84]. Эти фильтры могут быть изготовлены как для видимой, так и для ультрафиолетовой области спектра и позволяют получить полуширину полосы пропускания порядка 1 А при коэффициенте пропускания до 50—70%. Применение подобных высококачественных светофильтров в упрощенных спектрофотометрах для атомно-абсорбционных измерений представляет большой интерес, так как по сравнению со щелевыми монохроматорами фильтры обеспечивают уменьшение размеров спектрофотометров, простоту использования и большую светосилу ). [c.112]

Для достижения наименьщей полуширины полосы пропускания целесообразно использовать наибольшие Сэк. Однако увеличение Рэк выше нескольких сотен связано с применением многокаскадных схем, которые в состоянии обеспечить необходимый коэффициент усиления К. С другой стороны, возможности построения усилителей с высоким Qэк зависят от стабильности частоты модуляции, т. е. чаще всего от стабильности частоты тока в сети со, которым питают механические модуляторы. При изменении частоты сети на Дсо изменяется коэффициент усиления К избирательного усилителя. Величины Qэl Дсо/со и АК//С связаны следующим соотношением [41] [c.132]

Большинство монохроматоров снабжено подвижной щелью, позволяющей регулировать ширину пропускаемой полосы. При узкой щели полуширина полосы пропускания уменьшается, но также уменьшается и интенсивность выходящего излучения. Поэтому [c.127]

При фиксированной щели полуширина полосы пропускания призменного монохроматора непрерывно возрастает с увеличением длины волны излучения, поскольку коэффициент преломления любого материала призмы уменьшается в длинноволновой области. Так, полуширина полосы пропускания кварцевого монохроматора в обычно используемых приборах равна 1,5 нм на миллиметр щели при 250 нм и 50 нм при 700 им. Поэтому, чтобы получить спектр при фиксированной ширине полосы (а это часто требуется), необходимо непрерывно уменьшать ширину щели монохроматора по мере увеличения длины волны, [c.127]

Минимальный размер щели, который можно установить на спектрофотометре, лимитируется двумя факторами — интенсивностью источника и чувствительностью детектора. В областях, где та и другая величина малы, для сохранения интенсивности потока, достаточной для точного измерения, необходимо увеличить размер щели и, следовательно, полуширину полосы пропускания. [c.144]

Рис. 24-3. Влияние ширины полосы пропускания на спектры идентичных растворов. Следует обратить внимание на то, что оптическая плотность, меняется от спектра к спектру на 0,1. Полуширина полосы пропускания I — I нм 2— 10 нм 3 — 20 нм.

Изменение температуры приводит к смещению максимума полосы пропускания светофильтров, которое может достигать 0,00017 мкм на 1 °С [44], и к изменению полуширины полосы пропускания, величина которого на порядок меньше. При точном анализе, чтобы избежать влияния температуры на параметры светофильтров, их термостатируют. [c.51]

Спектральные характеристики интерференционных светофильтров в значительной степени зависят от угла падения лучей [45]. При увеличении угла падения максимум пропускания смещается в сторону меньших длин волн, а полуширина полосы пропускания возрастает. Иногда эту зависимость используют в приборах для регулирования положения максимума пропускания в небольших пределах. Для этого в анализаторы встраивают блоки поворотных фильтров с указателем угла поворота. На рис. 2.17 показано изменение характеристик узкополосного пропускающего интерференционного фильтра в зависимости от угла падения лучей на фильтр, а на рис. 2.18 — блок поворотного фильтра. [c.51]

Обычно можно считать несущественными смещения бЯ, меньшие, чем 1/5 полуширины полосы пропускания фильтра АЯ (см. формулу (9.11)). Тогда [c.245]

Некоторые фирмы выпускают очень узкополосный фильтр с высоким коэффициентом пропускания он состоит из 5—25 неметаллических слоев с попеременно большим и малым показателем преломления. Изготовители этих фильтров уверяют, что можно достигнуть 90%-ного пропускания и что полуширина полосы пропускания может быть 40 А. Полосы пропускания большинства интерференционных фильтров, имеющихся в продаже в настоящее время, такие же (или немного шире), как и у стеклянных фильтров. На рис. 7-34 изображены кривые пропускания двух типов интерференционных фильтров. Фильтр (5), предназначенный для выделения линии [c.596]

Регистрация такого же фототока от концентрации Сг постороннего элемента означает, что относительная ошибка определения равна в этом случае 100%. Таким образом, чем больше значение фактора специфичности, тем меньше ошибки, вызываемые присутствием постороннего элемента. Современные фотометры снабжены интерференционными светофильтрами, монохроматичность которых характеризуется полушириной полосы пропускания ДЯ, равной обычно 10—12 нм. Факторы специфичности для фотометров с интерференционными светофильтрами обычно колеблются от единиц до нескольких сотен, для спектрофотометров они равны нескольким тысячам. [c.250]

Первоначально при изготовлении интерференционных фильтров в качестве отражающих слоев использовали слои серебра. Как показал теоретический расчет интерференционные фильтры со слоями серебра пропускают в видимой области спектра 45%—50% света при полуширине полосы пропускания порядка ШО (т. е. около 50—100А). Практически получаемые характеристики светофильтров значительно хуже. Недостаток такого фильтра — смещение полосы пропускания и уменьшение интенсивности пропускания в максимуме вследствие окисления серебра. [c.104]

В атомно-абсорбционном спектральном анализе установки с фильтрами применялись при определениях щелочных металлов и ртути. В фотометре Мальмштадта [33], предназначенном для определения натрия, резонансные линии Ма5890 А-ЬНа5895 А выделяются интерференционным фильтром с полушириной полосы пропускания около 100 А. Благодаря тому, что световой поток велик, для фотоэлектрической регистрации используется [c.112]

Некоторые исследователи применяют для усиления модулированных сигналов усилители переменного тока с узкой полосой пропускания. Например, автором в первых работах [54] применялся линейный узкополосный усилитель с С-фильтром, настроенным на частоту модуляции 925 гц. Полуширина полосы пропускания фильтра составляла - 30 гц. Регистрация сигнала производилась пишущим потенциометром ЭПП-09. Дер-фель, Гейер и Мюллер [55] использовали избирательный усилитель, настроенный на частоту 125 гц. Сигнал регистрировали шкальным гальванометром фирмы Цейсс. Модуляция светового пучка осуществлялась в обоих упомянутых случаях вращением перфорированного диска от синхронного мотора. [c.160]

Для решения аналитической задачи методом спектрометрии, как и для других спектральных исследований, необходима информация об интенсивности полос спектра в определенных его участках. В аналитических приборах для выделения таких узких полос спектра служат оптические фильтры (светофильтры). Светофильтры должны обладать достаточно высоким коэффициентом пропускания Гмакс излучения требуемой длины волны Лмакс и для обеспечения избирательности аналитического прибора иметь достаточно малую полуширину полосы пропускания и минимальный коэффициент пропускания фонового излучения Гфон- [c.50]

Максимальные изменения параметров светофильтров во времени происходят в течение первых 18—30 ч после их изготовления [42, 43]. Смещение максимума пропускания излучения светофильтром в течение этого времени достигает 0,002 Лмакс- Это смещение учитывается контролированием Хмакс при изготовлении светофильтра и введением соответствующей поправки, т. е. кшкс = = 0,998 А,макс. Результаты исследований стабильности показали [40], что смещение максимума пропускания излучения светофильтрами через 7—8 лет после их изготовления достигает 0,03 мкм, а увеличение полуширины полосы пропускания 0,01—0,03 мкм. Основная доля изменений приходится на первоначальный момент после изготовления светофильтра. [c.51]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология