Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Физические основы рентгеноспектрального анализа

    Описаны физические основы рентгеноспектрального анализа, его аппаратурное оформление и методика. Большое внимание уделено применению рентгеноспектральных систем непрерывного аналитического контроля процессов, показаны перспективы использования метода при анализе пластмасс, химических волокон, пленок, тканей, бумаг и других полимерных материалов. [c.2]


    В первой главе изложены сведения о физических основах рентгеноспектрального анализа, рентгеновских спектрах, их происхождении и структуре, закономерностях взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Рассмотрены фотопоглощение, рентгеновская флуоресценция, когерентное и некогерентное рассеяния рентгеновского излучения. В главе даны основные аналитические зависимости рентгеноспектрального анализа, приведены факторы, определяющие точность и чувствительность определений. [c.3]

    Часто необходимо знать, в какой форме присутствует данный элемент в образце породы или руды — в виде окисла, сульфида, сульфата и т. п. Эта область фазового анализа руд, минералов и горных пород — весьма трудная. Отдельные формы чаще всего выделяют избирательным растворением, но эти приемы в значительной мере эмпирические. Теоретические основы подбора селективных растворителей развиты недостаточно. Физические методы фазового анализа, за которыми, несомненно, будущее, пока применяются в ограниченном масштабе к числу этих методов относятся локальный рентгеноспектральный анализ, ядерная гамма-резонансная спектроскопия, метод ЭПР и некоторые другие. Накоплен относительно большой опыт фазового анализа руд цветных металлов (Н. А. Филиппова, Б. С. Христофоров). [c.111]

    Физические основы фотоэлектронного, рентгеноэлектронного и рентгеноспектрального методов и их применение для изучения валентных уровней. Энергии ионизации и другие характеристики валентных уровней для более чем двухсот свободных молекул и изолированных групп в кристаллах зонная структура соединений типа А"В - (п=1—4), а также окислов переходных и непереходных элементов. Анализ закономерностей электронного строения неорганических соединений. [c.4]

    К собственно химическим методам исследования относятся синтез минералов и являющихся продуктами процесса соединений, изучение их состава и поведения в разных условиях при взаимодействии с теми или иными реагентами, а также фазовый химический анализ изучаемых продуктов. Обычно химические методы не используются изолированно, а сочетаются с физико-химическими и все чаще—физическими методами. Даже простая операция количественного определения pH или Ен раствора основана на применении потенциометрии — физико-химического метода. Да и определение качественного и количественного состава вещества проводят не только химико-аналитическими методами, а с широким использованием физических и физико-химических методов анализа (эмиссионного и атомно-абсорбционного спектрального, рентгеноспектрального, активационного и др.). Для обеспечения правильности результатов анализа применяют стандартные образцы веществ и материалов, состав которых установлен на основе комплексного использования химических и различных инструментальных методов. [c.199]


    Книга посвящена важнейшим проблемам химической связи в полупроводниках, металлах и других твердых телах. В ней приводятся результаты теоретического и экспериментального исследования природы химической связи на основе рентгенографического, рентгеноспектрального, нейтронографического анализов, данные термодинамического и термохимического исследований полупроводниковых соединений. Рассматриваются вопросы исследования физических и физико-химических свойств сложных полупроводников, анализируется связь физических свойств, зонной структуры, динамики кристаллической решетки с характером химической связи. [c.2]

    Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ (РФА) является физическим методом. В основе его лежат процессы возбуждения атомов вещества и возникновения флуоресцентных рентгеновских характеристических (вторичных) излучений под воздействием рентгеновского облучения (первичного излучения). Наличие характерных спектральных линий свидетельствует об элементном составе исследуемого образца. Интенсивность линий связана с уровнями содержания соответствующих элементов. [c.37]


Библиография для Физические основы рентгеноспектрального анализа: [c.118]    [c.197]    [c.53]    [c.465]   
Смотреть главы в:

Рентгеноспектральные экспрессные методы анализа полимерных материалов -> Физические основы рентгеноспектрального анализа




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Анализ физические



© 2025 chem21.info Реклама на сайте