Метод скачка потенциала

Рассмотрим теперь данные, полученные методом скачка потенциала и позволяющие судить об изменении ориентации молекул при переходе газообразной пленки в сплошную. Типичные кривые Аф — V представлены на рис. 32, В области малых значений [c.105]

Рассмотрим теперь данные, полученные методом скачка потенциала, позволяющие судить об изменении ориентации молекул при переходе газообразной пленки в сплошную. Типичные кривые Аф — V представлены на рис. VII. 6. В области малых значений у (/) Дф возрастает линейно с ростом у. Далее наблюдается резкий излом с выходом на другой участок (//), также линейный, но со значительно большим углом наклона а. Отношение тангенсов углов наклона двух участков, равное, по уравнению (VII. 7), отношению os 0 составляет 0,15 для жирных кислот [c.97]

Если средняя скорость смещения потенциала по первому методу (скачок потенциала/время выдержки) равна скорости смещения потенциала по второму методу, то получаемые кривые различаются мало [197, 212]. Поскольку при это м автоматическое непрерывное смещение потенциала значительно удобней и точнее ступенчатого ручного и облегчает автоматическую запись тока, а современные потенциостаты, как правило, снабжаются устройством для развертки потенциала, то второй метод в последние годы все больше вытесняет первый. Исследователи, располагающие таким потенциостатом, используют первый метод для снятия нестационарных кривых в следующих случаях. [c.150]

Использование метода скачка потенциала для измерения релаксационных процессов [129] показало, что различным временам релаксации изменения емкости при наложении импульсов напряжения на бислой могут быть соотнесены различные процессы. Предполагается, что изменение емкости АС/С 0,8% со временем релаксации 3,3 мс и ДС/С=0, % (0,7 мс) соответствует переориентации доменов в плоскости мембраны. Изменение емкости на 1,5— 3% со временем релаксации 166 мкс может быть интерпретировано как вращение в электрическом поле отдельных дипольных молекул. Еще меньшие времена релаксации (il8 мкс), возможно, соответствуют переориентации отдельных дипольных молекул с плоскостью вращения, параллельной плоскости бислоя. [c.279]

Измерить Прямым методом скачок потенциала не представля- [c.181]

Весьма характерны также кривые зависимости А от температуры при я = onst. Кривая А — t (рис. VH.9) для мири-стиновой кислоты (я = 5 дин/см) показывает, что в узком интервале температур ( 2°) происходит удвоение площади пленки. Этот процесс можно представить как плавление вертикальной ориентированной структуры с освобождением движения цепей и раздвижением молекул, продолжающих, однако, соприкасаться сферами действия . Действительно, измерения, проведенные методом скачка потенциала, показали, что угол e 40—50°. [c.109]

VI). Соединения перечисленных элементов в их смеси можно раздельно титровать [106] стандартным раствором rSOi в среде 5%-ноп H2SO4 при комнатной температуре потенциометрическим методом. Скачки потенциала соответствуют окончанию реакций восстановле- [c.178]

Рис. 30. Измерения емкости двойного электрического слоя для платинового электрода (потенциал измерен относительно водородного электрода) в 1 н. НСЮ при 30° С методами скачка потенциала и линейной развертки потенциала .Gilman S., Ele tro him. A ta, 9, 1025, (1964) полное пояснение обозначений содержится в оригинальной

Метод нейтрализации. Потенциометрическое титрование может быть с успехом применено для титрования кислотами и щелочами. Подобно тому, как идет титрование при осаждении хлорида серебра, будет идти титрование кислоты щелочью с водородным электродом, являющимся индикатором на ионы Н . Построив график так, как указывалось выше, находим на нем точку эквивалентности по резкому перегибу потенциометрической кривой. Ход кривой титрования по методу нейтрализации зависит от концентрации титруемого раствора и констант диссоциации кислоты и щелочи. Так же как и для разобранных выше методов, скачок потенциала при Л1втоде нейтрали ации тем больше, чем больше концентрация титруемой кислоты или шелочи и чем больше степень их диссоциации. [c.332]

В методе скачка потенциала измеряют переходный отклик электрода на возмущение потенциала. Для изучения переноса заряда и кинетики процессов в модифицированных электродах в комбинации с этим методом используют и множество других. Среди них необходимо отметить спектроскопический метод, позволяющий следить за изменением редокс-состояния модифицирующего покрытия во времени. Достоинство этого метода состоит в том, что он позволяет избежать проблемы фона, с которой приходится иметь дело при измерениях тока. Наиболее распространенный вариант спектроскопического метода заключается в наблюдении изменений в видимой области спектра с помощью прозрачного электрода из оксида олова, служащего подложкой для модифицирующего покрытия. Спектроскопические измерения отражают интегральные изменения редокс-состояния покрытия, описываемые интегральной формой модифицированного уравнения Коттрелла [11] [c.190]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология