Пластины пьезокварцевые

В ряде случаев для улучшения рабочих характеристик пьезокварцевых резонаторов используются пьезоэлементы, ориентированные под углом (обычно в пределах 20°) к плоскости с, причем эти пластины имеют значительные размеры вдоль оси у. К таким пьезоэлементам относятся пластины срезов - 5°, —18°30, +8,5°, МТ, МТ и др. Их изготовление из пинакоидальных образцов крайне неэкономично, так как вызывает большое количество отходов, а в ряде случаев вообще невозможно, поскольку крупногабаритные заготовки не вписываются в объем деловой части кристалла. Экспериментально было установлено, что нарастание однородного материала происходит и в тех случаях, когда затравочная пластина отклоняется от плоскости базиса на углы в пределах 10—20° (осью вращения является ось х). Это позволяет синтезировать кристаллы, основные поверхности роста которых образуют с плоскостью базиса заданные углы. Однако такие плоскости характеризуются по сравнению с другими гранями крайней неустойчивостью и дают однородный материал лишь в том случае, когда наращивание производится с относительно невысокими скоростями при низких температурах, что отрицательно сказывается на производительности процесса и качестве кристаллов. [c.166]

Кварц привлек к себе особое внимание во время второй мировой войны. Кристаллы кварца обладают пьезоэлектрическим свойством, означающим, что они могут вибрировать при приложении переменного электрического поля, причем вибрация характеризуется постоянной частотой, зависящей от размера изделия. Пластина, вырезанная из кристалла кварца, имеет характерную частоту, которая стабильна в чрезвычайно узком диапазоне при условии, что температура кварца остается постоянной. Вследствие этого кварцевая пластина— неотъемлемая деталь пьезокварцевого генератора, важного прибора в технике связи. Например, для уверенного приема длина несущей волны, излучаемой передатчиком, должна быть строго стабильной. В течение войны спрос на кристаллы кварца, необходимые для военных целей, превосходил предложение, что было обусловлено нарушением обычных для мирного времени торговых связей. [c.108]

Пьезокварцевые пластины. Пластины из кварца можно изготовлять любой формы круглой, квадратной и др. Круглые пластины имеют то преимущество, что они более прочны как электрически, так и механически. Кроме того, [c.74]

Устройство пьезокварцевого манометра показано на фиг. 131. Корпус 1 датчика манометра ввернут в гайку 2, снабженную ниппелем для присоединения к объекту измерения. В нижней части корпус герметически закрыт мембраной 3, образующей дно корпуса. На мембрану положена металлическая шайба 4 с цилиндрической выточкой для помещения кварцевой пластины 5. На кварцевую пластину кладется плитка 6. На нее укладывается вторая кварцевая пластина 5, покрываемая металлической шайбой 7. В центре верхней плоскости шайбы 7 помещается стальной шарик 8. Пакет из кварцевых пластин и стальных шайб поджимается гайкой 9, образующей крышку датчика. [c.220]

Простая замена пьезокварцевых пластин пьезопреобразователями из ниобата лития позволяет повысить чувствительность экспериментальной установки на 25— 30 дб. [c.85]

В современных фазовых флуорометрах непосредственно измеряют величину ф и по формуле (19.9) определяют значение т. При этом для высокочастотной модуляции возбуждающего света используют дифракцию на стоячей ультразвуковой волне, возникающей под действием высокочастотного поля в пьезокварце или жидкости (например, в ксилоле), в которую помещена пьезокварцевая пластина. [c.434]

Для работы пьезокварцевого излучателя непосредственно в реакционном сосуде, заполненном водой, можно использовать стандартный пьезокварцевый элемент, который (один или в группе таких элементов) заключают в плотно закупоренный водонепроницаемый футляр. Во избежание электрического пробоя по краям пластины футляр заполняют жидкостью с высокими изоляционными свойствами, например трансформаторным маслом. [c.143]

Чувствительным элементом в методе ПКМ является тонкий кварцевый кристалл, вырезанный под определенным углом к основным кристаллографическим осям и обладающий пьезоэлектрическими свойствами [156]. Наиболее широко применяются АТ- и ВТ-срезы. При наложении внешнего электрического потенциала в данных кварцевых пластинках возникают сдвиговые колебания кристаллической решетки. Принципиальная схема пьезокварцевого резонатора приведена на рис. 6.11. В качестве электродов применяют напыленные пленки золота, серебра, алюминия, титана и других металлов. При подключении кристалла в электрический колебательный контур в кристалле возникает резонанс при условии, что электрические и механические колебания происходят с частотой, близкой к фундаментальной (базовой) частоте кристалла. Базовая частота кристалла зависит от толщины, химической структуры, формы пластины кварца, а также от его массы. В простейшем случае (вакуум) уравнение, связывающее изменение частоты колебаний кристалла А/, с изменением массы, прикрепленной к кристаллу Ат, выглядит следующим образом [157[ [c.323]

Звукохимические реакции протекают под воздействием высокочастотных ультразвуковых колебаний, генерируемых пьезоэлектрическими излучателями, действие которых основано иа обратном пьезоэлектрическом эффекте — возникновении ультразвуковых колебаний в пьезокристаллическом материале в электрическом поле. Ультразвуковые колебания генерируются пьезокварцевой пли пьезокерамической пластиной, возбуждаемой от высокочастотного генератора на резонансной частоте. [c.102]

К качеству кристаллов, предназначенных для изготовления затравочных пластин для выращивания пьезокварца и оптически однородного кварца, предъявляются различные технические требования. Для изготовления пьезокварцевых затравок используются обычно синтетические кристаллы любой энантиоморфной разновидности, свободные от дофинейских и бразильских двойников, выращенные с различными, преимущественно повышенными скоростями. До последнего времени в пьезокварцевом затравочном кристаллосырье не лимитировались концентрация примесей, твердых включений, а также плотность ростовых дислокаций. По мере ужесточения требований к качеству резонаторов и вытеснения из производственной сферы дорогостоящего и дефицитного природного кварца синтетическим предпринимаются попытки нормирования плотности дислокаций в синтетическом пьезокварце. Однако выращивание пьезокварцевых кристаллов с контролируемой плотностью дислокаций на вертикально расположенных затравочных пластинах является чрезвычайно сложной технологической задачей, поскольку линейные несовершенства не только наследуются от затравок, но и образуются в больших количествах в местах врастания в кристаллы твердых включений. [c.51]

Пьезокварцевое микровзвешивание основано на зависимости собственной частоты колебаний, распространяемых в пластине пьезокварца, от массы вещества, нанесенного на повер.ч-ность боковых граней пластины [1]. Этот метод используется при изучении многих физических и химических процессов, сопровождающихся изменением массы вещества на поверхности датчика микровесов — пластины кварцевого резонатора [2]. [c.46]

Все экспериментальные работы по пьезокварцевому микровзвешиванию можно разделить на две группы работы, в которых метод используется для определения толщины пленок вещества, и работы, в которых изменение толщины (или массы) слоя вещества на пластине резонатора характеризует протекающий в рабочем объеме процесс адсорбция, десорбция, растекание и др. [2, 4]. [c.47]

Одна пара пь зокварцевых преобразователей, расположенных в крышке и дне измерительной камеры, имела собственную частоту 1 Мгц, вторая — 2 Мгц. Так как пьезокварцевые пластины возбуждаются обычно лишь на нечетных гармониках, то одна пара преобразователей позволяла получгть ультразвуковые колебания с частотами, кратными 1 Мгц (1, 3, 5, 7, 9, 11 Мгц и т. д.), вторая пара — с ча. тотами, кратными 2 Мгц (2, 6, 10, [c.80]

Многие из задач современной аналитической химии решаются путем привлечения в эту область различных физических эффектов. Пьезокварцевое микровзвешивание основано на зависимости собственной частоты колебаний, распространяемых в Пластине пьезокварца, от массы вещества, нанесенного на поверхность боковых граней пластины [1]. Этот метод использу-тот при изучении многих физических и химических процессов, сопровождающихся изменением массы вещества, расположен-Цого на поверхности датчика микровесов — пластины кварцевого резонатора [2]. [c.256]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология