Метод Дебая-Шеррера дифракционная картина

Наиболее распространенной камерой для рентгенографических исследований поликристаллов по методу Дебая — Шеррера является камера РКД-57. Она может быть использована для исследования структуры поликристаллов, проведения фазового анализа образцов (качественного и полуколичественного), определения размеров элементарной ячейки кристаллов и т. д. Регистрация дифракционной картины производится в угловом интервале от [c.127]

Ориентации кристалла, заменив кристалл образцом, приготовленным из кристаллического порошка. Среди хаотически расположенных кристалликов образца попадутся безусловно и такие, ориентации которых будут удовлетворять одновременно всем трем условиям Лауэ. Дифракционные лучи с разными тройками индексов будут созданы кристалликами, ориентированными различным образом. Этот способ получения дифракционной картины носит название метода порошка или метода Дебая — Шеррера. [c.186]

При обсчете дифракционных картин, полученных по методу Дебая — Шеррера (раздел В-4), уравнение (VI1-3) следует считать вполне пригодным. Однако если исследуется дифракционная картина рассеяния от единичного кристалла, то несомненный интерес представляет изучение расположения рефлексов в зависимости от угла падения первичных лучей. Для расчета такого рода дифракционных картин используется метод Лауэ. Если во — единичный вектор в направлении падающего луча и 8 — единичный вектор в направлении дифрагированного луча, то условие появления максимума интерференции для трехмерной решетки дается следующими выражениями [c.228]

Если поликристаллический образец подвергается действию электронов, то возникает дифракционная картина, идентичная рентгенограммам порошка, получаемым по методу Дебая — Шеррера. Дифрагированные лучи в этом случае также образуют интерференционный конус, величина угла которого определяется уравнением Брэгга. Следовательно, зная диаметр колец из электронограмм, после соответствующей калибровки можно определить межплоскостные расстояния. [c.246]

В предыдущем разделе были рассмотрены полимерные структуры, дающие электронограммы, аналогичные дифракционным картинам единичных кристаллов, что объясняется особой ориентацией кристаллитов. В данном разделе рассматриваются поликристаллические образцы, дающие дебаевские кольца на электронограммах (метод Дебая — Шеррера). Такие кристаллиты могут быть либо полностью дезориентированы, либо иметь волокнистую текстуру с осью волокна, расположенной антипараллельно падающему пучку электронов, как это отмечалось в разделе В. Оба указанных случая можно различить путем поворота образца. Если в образце имеется волокнистая текстура, то при его повороте кольца на электронограмме будут расщепляться на отдельные дуги. [c.252]

Объясните сущность метода Дебая — Шеррера (что исследуется этим методом и в каком виде) как дифрагируют (отражаются) рентгеновские лучи в образце и как объяснить дифракционную картину каким образом фиксируется дифракционная картина [c.183]

Идентификация дисперсного материала методом электронной дифракции во многих отношениях сходна с исследованием при помощи метода Дебая-Шеррера дифракции рентгеновских лучей на порошке. В основе его лежит измерение диаметров дифракционных колец на пленке, преобразование этих данных в величины межплоскостных расстояний с1 (в ангстремах) и оценка относительной интенсивности линий. Полученные данные сравнивают с табличными значениями для различных минералов с целью найти соответствия. Эта идеальная ситуация редко встречается при дифракции электронов, поскольку образец имеет, как правило, преимущественную ориентацию, а малое количество гранул не позволяет получить достаточно полную картину. [c.242]

Возможен и еще один метод изменения ориентации кристаллической решетки отмокительно первичного рентгеновского пучка. Он заключается в том, что если монокристалл заменить кристаллическим порошком, то среди хаотически расположенных в образце кристалликов бесспорно попадутся такие, ориентация которых будет удовлетворять условиям Лауэ. Этот способ получения дифракционной картины получил название метода порошка или метода Дебая—Шеррера Дпо имени ученых, открывших его). [c.85]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология