Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод Дебая

Рис. А.48. Метод Дебая —Шерера (порошковая рентгенография). Рис. А.48. <a href="/info/2478">Метод Дебая</a> —Шерера (порошковая рентгенография).

Рис. 1.72. Схема выполнения рентгеноструктурного анализа кристаллов по методу вращения образца (о) и по методу Дебая - Шеррера (б) Рис. 1.72. <a href="/info/1422379">Схема выполнения</a> <a href="/info/128872">рентгеноструктурного анализа кристаллов</a> по <a href="/info/128872">методу вращения</a> образца (о) и по <a href="/info/2478">методу Дебая</a> - Шеррера (б)
    При определении молекулярных масс полимеров методом Дебая следует также учесть, что параметр т отражает светорассеяние, обусловленное только рассеивающими частицами, и не связан с рассеянием света растворителем, т. е. является избыточной величиной  [c.147]

    Второй метод Дебая — определение электрических дипольных мо ментов молекул веществ в разбавленных растворах. ..... [c.265]

    Фотографический метод предусматривает использование специальных камер той или иной конструкции в зависимости от поставленных задач. Наиболее широко применяется камера типа РКД (рис. 68) для съемки рентгенограмм с поликристаллических образцов по методу Дебая—Шеррера. [c.115]

    По набору njd, полученному из дебаеграммы, можно получить параметры решетки и индексы каждого отражения, однако это задача довольно сложная. Сравнительно легко она решается для кристаллов кубической симметрии. Недостатком метода Дебая — Шерера является трудность расшифровки рентгенограммы, что обусловлено наложением линий, отвечающих разным pqr. [c.203]

    Наиболее распространенной камерой для рентгенографических исследований поликристаллов по методу Дебая — Шеррера является камера РКД-57. Она может быть использована для исследования структуры поликристаллов, проведения фазового анализа образцов (качественного и полуколичественного), определения размеров элементарной ячейки кристаллов и т. д. Регистрация дифракционной картины производится в угловом интервале от [c.127]

    Широкое применение находят методы Дебая, основанные на из-мерении статической диэлектрической проницаемости веществ в газообразном состоянии и в разбавленных растворах полярных веществ в неполярных растворителях. [c.327]

    Определение дипольного момента по второму методу Дебая с использованием графической экстраполяции к бесконечному разведению [c.329]

    Метод Дебая может быть применен также к растворам ПАВ, содержащим мицеллы, если они являются рэлеевскими частицами и раствор достаточно разбавленный. В этом случае уравнение Дебая принимает следующий вид  [c.147]


    Экспериментальное определение момента диполя молекулы может быть осуществлено различными методами, из которых наибольшее распространение получил метод измерения диэлектрической проницаемости, показателя преломления и плотности разбавленных растворов вещества в неполярном растворителе, так называемый второй метод Дебая . Метод дает хорошие результаты для жидких и твердых веществ, не дающих ассоциатов в растворах и имеющих момент диполя больше 0,4 О. [c.206]

    Если с принять за массовую концентрацию, то в знаменателе будет плотность в квадрате. Результаты анализа в данном методе могут иметь погрешности, обусловленные взаимодействием между макромолекулами в растворах. Для исключения этих погрешностей в определенпи молекулярной массы полимеров, мнцеллярной массы ПЛВ или просто массы частиц осмотически активных золей вместо метода сравнения применяют абсолютный метод Дебая. Для выражения интенсивности рассеянного света по этому методу используют уравнение Эйнштейна, получаемое на основе учета флуктуаций оптической плотности, возникающих в результате изменения осмотического давления и концентраций. Так как основной причиной рассасывания флуктуаций концентраций является изменение осмотического давления, то это дает возможность связать соотношения для рассеяния света и осмотического давления. Используя уравнение осмотического давления до второго внри-ального коэффициента Л2, учитывающего мел<частичное взаимодействие, Дебай получил следующее соотношение между мутностью раствора полимера, его концентрацией и молекулярной массой полимера  [c.264]

    ПОЛЯРИЗАЦИИ ГАЗООБРАЗНЫХ ВЕЩЕСТВ (ПЕРВЫЙ МЕТОД ДЕБАЯ) [c.327]

    В методе поликристалла (метод Дебая — Шеррера) используется монохроматическое излучение к и поликристаллический образец, состоящий из множества мелких кристалликов, хаотически ориентированных по отношению к первичному пучку рентгеновских лучей. Если образец состоит из сравнительно мелких кристалликов (порядка 1—5 мкм), то в участке образца, облучаемом рентгеновским пучком, всегда найдется достаточное число таких кристалликов, ориентация которых удовлетворяет условию Вульфа — Брегга (1.36в). [c.118]

    Первый метод Дебая — определение электрического дипольного мо мента молекул паров веществ............... [c.265]

    Метод Дебая с введением поправки экспериментально прост, однако точность его не всегда удовлетворительна. Более точен метод, предложенный Б. Зиммом. По этому методу измеряют интенсивность рассеянного света в широком диапазоне углов при различных концентрациях. Величину 1Шг находят при одновременной экстраполяции к нулевым концентрациям и нулевым углам рассеяния. [c.214]

    Нередко бывает трудно получить сравнительно большие кристаллы вещества, которые требуются для проведения исследования методом вращения. В этих случаях используют метод порошка метод Дебая—Шеррера). В этом методе (рис. 130) рентгеновский луч проходит через образец, спрессованный из мелких кристаллов исследуемого вещества. Среди большого числа Кристалликов в порошке всегда найдутся такие, ориентация которых удовлетворяет уравнению (IV. 12) эти кристаллы дадут отражения. Получаемые таким образом рентгенограммы называют дебаеграммами. Метод порошка экспериментально более прост, чем метод вращения, однако расшифровка дебаеграммы, как правило, более сложна для некоторых типов кристаллов полное установление структуры этим методом вообще невозможно. [c.252]

    Рентгеновская камера для съемки образцов-порошков по методу Дебая — Шеррера (рис. 59, а) имеет цилиндрический корпус 3, [c.116]

    Метод Дебая применим для определения молекулярного веса веществ, размер молекул которых не превышает 10 м. [c.72]

    Исследования показали, что введение в полуколлоидную систему различных добавок, а также изменение температуры раствора, сдвигают величину критической концентрации мицеллообразования. Это имеет большое практическое значение. Мицеллярный вес полуколлоидов имеет порядок десятков тысяч. Мицеллярный вес определяют несколькими методами. Так, используя метод Дебая (см. раздел IV), находят экспериментальное значение мутности для не- скольких концентраций раствора полуколлоида, затем [c.82]

    Ориентационная модель. Следующая простая модель иллюстрирует метод описания релаксационной поляризации и поглощения, который несколько отличается от метода Дебая. [c.359]

    Метод Дебая—Шеррера. Первоначально для рентгенографических исследований применяли только крупные, хорошо сформпровап-ные одиночные кристаллы изучаемого вещества. Это было очень неудобно, так как не все вещества можно получить и виде крупных монокристаллов. Поэтому стали искать новый более доступный метод рентгенографического исследования. Такой метод, позвол5Пощий выполнять рентгеноструктурные исследования с порошкообразным веществом, был разработан Лебаем и Шер-рером. [c.113]


    Для исследования структуры веществ, для которых трудно получить сравнительно большие кристаллы, применяют метод порошка (метод Дебал — Шеррв ра). Рентгеновский луч пропускают через образец, спрессованный из мелких кри сталлов исследуемого вещества (рис. 1,79). Среди большого числа кристалликов в порошке всегда найдутся такие, ориентация которых удрвлетворяет уравнению [c.143]

    X-ray powder порошковый метод рентгеноструктурного анализа, метод Дебая — Шерера [c.294]

    Для каких дисп(. рсных систем применимо уравнение Дебая Какие параметры дисперсных систем определяют по методу Дебая  [c.127]

    Таким образом, для нахождения молекулярной массы полиыеров методом Дебая достаточно получить концентрационную зависимость мутности X раствора ПАВ и найти значение константы Н, для чего дополнительно требуется измерить инкремент показателя прелом,пения (п —по)/с. Для определения этой величины лучше всего использовать [c.146]

    Исследования Партхасаратхи [74, 751 хотя и многочисленны, по не всегда хорошо согласуются с данными других исследователей. Измерения проводились им при случайных температурах, что, по всей вероятности, свидетельствует о недостаточном термостатировании. Поскольку по ряду веществ исследования им проведены впервые, мы приводим эти данные с оговоркой. Партхасаратхи для исследований применял оптический метод Дебая-Сирса [c.459]

    ХХУШ.З. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДИПОЛЬНЫХ МОМЕНТОВ В РАЗБАВЛЕННЫХ РАСТВОРАХ (ВТОРОЙ МЕТОД ДЕБАЯ) [c.327]

    Определение дипольного момента вещества по второму методу Дебая в приближении Гедестранда [c.330]

    В методе порошка метод Дебая) в качестве объекта иссле доваиия берут поликристаллическое вещество (порошок или шлиф), состоящее из частиц с линейными размерами не больше [c.355]

    Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

    Рентгеновская высокотемпературная установка УРВТ-1300 предназначена для исследования методом Дебая поликристаллических образцов в интервале температур от комнатной до 1300°С в вакууме и до 1100°С в воздухе или атмосфере инертного газа. С помощью установки УРВТ-1300 можно изучать высокотемпературные фазовые переходы, измерять параметры кристаллической решетки и коэффициент термического расширения и др. Нагревание образца в установке осуществляется электрической печью сопротивления. [c.104]

    В теории, развитой И. А. Мирцхулава, учтено многократное взаимодействие ионов путем обобщения метода Дебая — Фалькенгагена. [c.85]

    Для исследования структуры веществ, для которых трудно получить сравнительно большие кристаллы, применяют метод порошка (метод Дебая - Шеррера). Рентгеновский луч пропускают через образец, спрес( ованный из мелких кристаллов исследуемого вещества, отраженные лучи регистрируют на ( юто- [c.153]

    Метод Дебая — Шеррера. Данный метод позволяет выполнять ренггеноструктурные исследования с порошкообразным веществом. Пусть некоторое семейство плоскостей в кристалле образует с падающим пучком монохроматического рентгеновского излучения угол 0, удовлетворяющий уравнению Вульфа — Бреггов (рис. 57). Не меняя угла скольжения (т. е. сохраняя условие Вульфа — Брег-га), будем вращать кристалл вокруг оси первичного пучка. Отраженный пучок излучения опишет в пространстве конус с углом при вершине, равным 40. Другое семейство плоскостей этого же кристалла даст такой же конус, но уже с иным углом при вершине и т. п. Если на пути отраженных пучков излучения перпендикулярно первичному пучку поставить фотопластинку, то на ней зафиксируется ряд концентрических колец по числу семейств атомных плоскостей, отражающих рентгеновское излучение. [c.114]

    Определить межплоскостные расстояния, тип кристаллической решетки и вещество, если известны расстояния между симметричными линиями на рентгенограмме. Съемка рентгенограммы производилась по методу Дебая и Шерера в стандартной камере диаметро.м 57,3-10 м длина волны монохроглатического рентгеновского излучения 1,5393-10 ж (диаметром образца пренебречь). Для определения вещества пользоваться следующими пособиями Л. И. Миркин. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов . М., Физматгиз, 1961, стр. 437 или Практикум по физической химии под ред. проф. С. В. Горбачева. М., Высшая школа , 1974 и приложение табл. 4. [c.35]

    Поликристаллы исследуют методом Дебая — Шерера порошок из множества беспорядочным образом расположенных кристаллов облучают при Я = onst. Поскольку кристаллы ориентированы беспорядочно, всегда найдутся отражающие плоскости для любого расстояния d. Полученные дебаеграммы регистрируют либо на плоскую, либо на цилиндрическую пленку. [c.203]

    Таким образом, существует три классических метода получения дифракционного эффекта от кристалла полихроматический метод (или метод Лауэ), метод порошка (или метод Дебая — Шерера) и метод враш ения монокристалла. Различные схемы, основанные на методе вращения, но включающие то или иное перемещение кассеты с рентгеновской пленкой, называют рентгенгониометрическими. [c.55]

    В методе Дебая — Шеррера монохроматическое рентгеновское излучение вазимодействует с полпкристаллическим образцом исследуемого вещества. Переменным параметром в этом методе, называемом также методом порошка, является угол падения 0, так как в поликристаллическом порошковом образце присутствуют кристаллики любой ориентации относительно первичного пучка. При этом вместо отдельных пятен на рентгенограмме получаются концентри- [c.196]

    Оптический метод. Одним т важнейших методов определения молекулярных весов является измерение рассеяния света, проходящего через раствор полимера. Наиболее распространен метод Дебая, основанный на измерении мутности разбавленных растворов высокополимеров. Уравнение Дебая с поправкой Ь (аналогично уравнению Вант-Гоффа для осмометрич ского метода) имеет вид  [c.71]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод Дебая: [c.290]    [c.345]    [c.110]    [c.202]    [c.134]    [c.100]    [c.39]   
Физическая химия растворов электролитов (1950) -- [ c.66 ]

Введение в молекулярную теорию растворов (1959) -- [ c.420 ]

Введение в молекулярную теорию растворов (1956) -- [ c.420 ]

Физическая химия растворов электролитов (1952) -- [ c.66 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Анализ электронограмм, полученных по методу Дебая — Шеррера

Деба грамма t Дебая, метод

Дебай

Дебая Церера метод

Дебая Шерера метод

Дебая Шерера метод порошковый метод

Дебая Шеррера метод

Дебая Шеррера, метод получени

Дебая Шеррера, метод получени монокристаллов

Дебая Шеррера, метод получени поликристаллов

Дебая второй метод

Дебая первый метод

Метод Дебая-Шеррера дифракционная картина

Метод Дебая-Шеррера индицирование

Метод Дебая-Шеррера кристаллов средних сингоний

Метод Дебая-Шеррера кубических кристаллов

Метод Дебая-Шеррера моноклинных

Метод Дебая-Шеррера определение пространственной группы

Метод Дебая-Шеррера погрешность при расчете

Метод Дебая-Шеррера применение

Метод Дебая-Шеррера радиуса пленки

Метод Дебая-Шеррера размеров ячейки

Метод Дебая-Шеррера ромбических

Метод Дебая-Шеррера способы закладки пленкн

Метод Дебая-Шеррера триклинных

Метод порошка (метод Дебая—Шеррера)

Методы увеличения дебитов газовых скважин

Определение дипольного момента по температурной зависимости поляризации газообразных веществ (первый метод Дебая)

Определение дипольных моментов в разбавленных растворах (второй метод Дебая)

Первый метод Дебая — определение электрического дипольного момента молекул паров веществ



© 2024 chem21.info Реклама на сайте