Лучи эффект обратного отражения

Сцинтилляторы, которые наиболее часто применяются для гамма-спектрометрии, представляют собой одиночные кристаллы йодида натрия, активированного таллием. Сцинтилляционные спектры гамма-излучения состоят из одного или более острых характерных фотоэлектрических пиков, соответствующих энергиям источника гамма-радиации. Поэтому эти спектры полезны для идентификации, а также для обнаружения гамма-излучающих примесей в препарате. Кроме характерных пиков, в спектре обычно имеются и другие пики, обусловленные вторичным воздействием радиации на сцинтиллятор и его окружение, таким, как обратное отражение, аннигиляция позитронов, суммирование совпадений и флуоресцентные рентгеновские лучи. Кроме того, в результате рассеяния гамма-фотонов в сцинтилляторе и окружающих материалах возникают щирокие полосы, известные как спектры Комптона (эффект Комптона). Калибровка прибора производится с помощью известных образцов радиоактивных изотопов, энергетические спектры которых определены. Форма спектров будет различной в зависимости от используемых приборов это определяется различной формой и размерами кристаллов, применяемыми защитными материалами, расстоянием между источником излучения и детектором, а также типами дискриминаторов, используемых в амплитудных анализаторах импульсов. При использовании спектра для установления подлинности радиоизотопов необходимо сравнивать спектр исследуемого образца со спектром известного вещества, радиоактивность которого измерена тем же прибором и при тех же условиях. [c.78]

Третья плоская поверхность, перпендикулярная к двум другим, образует с ними угол, который отражает луч из любого пространственного угла параллельно самому себе. В оптике этот эффект, как известно, используют для отражения света как обратный отражатель, например глаз кошки. При падении плоской ультразвуковой волны эффект будет аналогичным. Однако следует учитывать результаты раздела 2.4 для случая а (отражение от границы твердое—газообразное) [c.61]

Представим себе атомную сетку, на которую падает пучок лучей. Сетка отражает их под углом, равным углу падения. Можно произвести любое перемещение сетки в ее собственной плоскости сместить как целое на любое расстояние, повернуть на любой угол вокруг оси, перпендикулярной ее плоскости, перевернуть обратной стороной к пучку — в наблюдаемом эффекте ничего не изменится как амплитуда, так и фаза отраженного луча останутся без изменений. [c.276]

Представление о комплексной амплитуде позволяет подойти к вопросу в более общей форме, не постулируя заранее существования условий Лауэ и интерференционного фактора. Наоборот, и дифракционные условия и особенности интерференционного фактора оказываются следствием общей формулы интенсивности рассеяния кристаллом. Соответственно этому при изображении дифракционного эффекта в обратном пространстве нет необходимости вводить заранее обратную решетку, как совокупность точек, соответствующих отражениям с разными индексами М/ наоборот, именно формула интенсивности должна выделить в дифракционном пространстве эти особые точки. Короче говоря, все основные законы дифракции рентгеновских лучей в кристалле можно вывести исходя из той единственной предпосылки, что расположение атомов в кристалле является периодическим. [c.93]

Таким образом, обратную решетку можно рассматривать как некоторую специфическую схему записи дифракционного эффекта, создаваемого кристаллом. В этой записи отражены как ориентации и межплоскостные расстояния отражающих плоскостей, так и индексы, амплитуды и фазы дифрагированных лучей. Каждый узел всесторонне характеризует одно определенное отражение. [c.315]

В разд. 6.9 было показано, что если можно воспользоваться гидростатическим приближением <С N/U), то при строго положительной частоте плавучести т нигде не может обращаться в нуль (для постоянных и Е N т равно N/U). В силу этого полное отражение волн оказывается невозможным. Кроме того, было, однако, показано, что в точках разрыва N может происходить частичное отражение, в результате которого после второго отражения от земли первоначальная волна может усилиться, что приведет к значительному увеличению амплитуды отклика. В модели с медленно меняющимися значениями U и N такой эффект не возникает, так как групповая скорость в ней в гидростатическом приближении всегда направлена вертикально вверх и лучи не могут поэтому отклониться вниз. Отсюда можио вывести, что отражение возможно только тогда, когда N в какой-либо зоне потока или U изменяются на масштабе т" достаточно быстро. Эффект отражения приводит к усилению отклика только тогда, когда область быстрого изменения параметров располагается на подходящей высоте над обтекаемым рельефом. Так, например, в Случае, который показан на рис. 6.11, значительный отклик при малых волновых числах происходит только тогда, когда обратное число Фруда N H/V (где N есть частота плавучести в нижнем слое высоты Я) близко к я/2, умноженному на нечетное целое число. Процесс усиления волн, обусловленный частичным отражением, вероятно, являлся важным фактором возникновения необычных волн, наблюдавшихся в окрестности Боулдера в штате Колорадо 11 января 1972 г. В [406] на основе трехслойной модели наблюдаемой ситуации проведен линейный анализ этого явления. В этом случае максимальный отклик был получен тогда, когда толщина каждого из двух нижележащих слоев была равна четверти длины волны. Нижний слой отличался высокой устойчивостью и имел толщину около [c.358]

Определение содержания компонента смеси с больщим г цо эффекту обратного отражения -лучей [c.367]

В 2 было показано, что выражение для интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллом бинарного твердого раствора, состоит из двух частей. Одна из них описывает резкие максимумы, образующие правильные лауэвские отражения, другая — плавные распределения в пределах всего обратного пространства. Последнее отвечает так называемому диффузному рассеянию и обязано своим происхождением флуктуациям рассеивающей способности узлов кристаллической решетки. Если пренебречь эффектом статических искажений, то выражение (2.58) для интенсивности диффузного рассеяния можно переписать в форме [c.159]

Описана [909] система с зеркальным отражением для анализа ИК-спектроскопией микрообразцов полистирола и других материалов массой 10—100 мкг. Обсуждаются преимущества и недостатки этого метода по сравнению с другими модификациями инфракрасной микроспектроскопии. Анализируемый образец помещают на маленькое металлическое зеркало, которое отражает световой луч и направляет его обратно через образец. В результате этого удается получить спектр пропускания образца, причем эффективная длина пробега луча в два раза больще фактической толщины образца. Благодаря этому интенсивность всех полос поглощения в два раза превышает значение, получаемое при измерении обычным методом. Основные ограничения в этом случае связаны с явлением рассеяния света , эффектами полиморфизма и с трудностями в получении однородного образца. [c.230]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология