Площади лика

Компонент Содер-жание компонента, % (мае.) Количество вещества, мг Площадь лика на хроматограмме, см2 Площадь пика, соответствующая 1 мг вещества. см Чувствительность детектора по Портеру, МВ МНН/МГ [c.242]

ТАБЛИЦА IV.26. Площади ликов на хроматограммах и результаты количественного анализа методом внутренней нормализации [c.312]

Рис. 6.5. Зависимость погрешности анализа ДХ от погрешностей определения объема вводимой пробы А1 и площади лика Д5. 1—3 — метод внутреннего стандарта, Л5=1, 2, 3% соответственно 4—6 — метод абсолютной калибровки, 5 Л5 = 1, 2, 3% соответственно.

S — площадь лика н-нонана, мм [c.318]

Расчет состава анализируемого газа производят методом внутренней нормализации. Определяют приведенные площади ликов (5) соответствующих компонентов на обоих хроматограммах по формуле 1 [c.83]

При значительных матричных взаимодействиях может оказаться полезным метод добавления стандарта. Он заключается в том, что снимают хроматограмму смеси и определяют площадь лика анализируемого вещества. Затем к известному объему исходной неизвестной смеси добавляют замеренное количество чистого вещества и снова снимают хроматограмму смеси. Первоначальную концентрацию вещества определяют по увеличению площади пика. [c.284]

Существует ли строгая линейная зависимость между площадью лика и показаниями интегратора [c.278]

Приближение к площади треугольника, или триангуляция. В этом случае площадь лика измеряют как площадь треугольника (рис. 10.30). Высоту измеряют от нулевой линии до точки пересечения касательных к точкам перегиба кривой. Методика относительно проста, и высоту таким способом определить лег- [c.216]

Принимая сумму площадей всех пиков за 100%, вычисляли содержание каждого компонента в анализируемой смеси. Площадь лика рассчитывали, умножая высоту пика, измеренную с точностью 0,5 мм, на его ширину, измеренную на середине высоты, с точностью 0,1 мм. [c.247]

Площадь лика, произв.ед. [c.226]

В табл. 3 приведены площади ликов для каждого Koiino-нента и известное весовое его содержание (в %). В свою очередь последнее измерено путем введения по.правочных коэффициентов на весовое содержание каждого компонента в со-ответствующ /ю ему площадь пика поправочные коэффициенты определены на известных смесях с применением трифенилметана в качестве внутреннего стандарта [c.158]

Методика сводится к следующему. К чистому компоненту добавляют известное количество стандарта и смесь вводят в колонку. Готовят есколько смесей только с различным отношением ком1панента и стандарта. По хроматограммам строят графики для всех компонентов, характеризующие зависимость площадей пиков компонента и стандарта от их весовых количеств, определяют отношение площадей ликов компонентов и стандарта и по графикам находят соответствующие соотношения количеств веществ. Зпая навеску стандарта, можно вычислить количество любого компонента. [c.44]

Градуировочный график. Во флаконы вносят по 25 мл стандартных растворов этилентрихлорида, закрывают пробками и навинчивающимися крышками. Стандарты обрабатывают в условиях анализа проб. Отбирают шприцем 1 мл паро-воздушной фазы из флаконов и вводят в испаритель прибора для хроматографического разделения. На полученной хроматограмме измеряют площади ликов каждого стандарта и по средним результатам строят график зависимости площади пика от содержания этилентри.хлорида (мкг). [c.259]

Начальные участки осциллополярографических —Я-кривых водных растворов соли феррициния имеют вид высоких пиков вследствие автоингибирования ферроценом. При более катодных потенциалах ингибирование ослабляется, и ток увеличивается. Высота пика зависит от скорости изменения потенциала слабее, чем пики процессов, контролируемых диффузией (в отличие от случая восстановления адсорбированных веществ, где зависимость более сильная). Интегрированием площади ликов найдено, что ингибирование наступает при образовании на поверхности ртутной капли полимолекулярного слоя ферроцена. Метод I — -кривых приводит к результатам, которые хорошо согласуются с данными, получаемыми другими методами. [c.279]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология