Ширина линии вследствие неоднородности пол

Ширина и форма отдельных линий в спектре ЯМР. Измеряемая на опыте ширина линии ЯМР-погло-щения складывается из следующих основных компонентов естественной ширины линии, допплеровского уширения, уширения вследствие неоднородности постоянного магнитного поля и уширения за счет взаимодействий. [c.13]

Неоднородный вклад в ширину линии вследствие неразрешенной СТС, анизотропии положения линии и модуляционного уширения учитывается методами, описанными в 2.3, 2.4. [c.64]

Для проведения эксперимента обычно нужно иметь не менее 30 лг стероида. Ширины линий в спектре могут быть уменьшены в несколько сот раз вращением образца в магнитном поле, вследствие чего осуществляется усреднение неоднородности поля в направлении, перпендикулярном направлению вращения [8]. Поэтому ампула должна иметь одинаковый диаметр по всей длине, иначе при вращении она будет колебаться и ухудшать разрешение. Кроме того, образец, выделенный после химической реакции, может содержать в качестве примесей следы ферромагнитных частиц, которые вызовут колебания в разрешении спектрометра, а следовательно, отрицательно повлияют на ка- [c.20]

Таким образом, в 3-см диапазоне сотс = 0,184 ((о=0,058-Хсек- ), а в 8-мм диапазоне сатс = 0,75 (со=0,235-10 рад Сек ). Следовательно, в обоих диапазонах исследования шт<1, т, е. спектр представляет наложение всех линий тонкой структуры (внутри каждой компоненты СТС), но в 8-мм диапазоне из-за меньшего влияния неоднородного уширения линии СТС будет уже, чем в 3-см диапазоне. При повышении вязкости раствора вследствие увеличения параметра Тс в соответствии с релаксационным механизмом компоненты СТС в спектре ЭПР иона Мп + уширяются (в результате уширения линий ТС внутри каждой компоненты СТС). Уширение достигает максимального значения при Тс (0 , а при дальнейшем увеличении вязкости ширина линии остается неизменной. При этом по причине, указанной выше, наблюдается уменьшение интенсивности экспериментального сигнала ЭПР, и при достижении максимальной ширины интенсивность составляет /з5 от исходной интенсивности. В этой области регистрируется линия, соответствующая переходу тонкой структуры Л1,= -Ь /2- — -- Л- Регистрация спектра СТС [c.115]

Наиболее наден ен способ учета фона при помощи сканирующего микрофотометра. Линия сканируется по обе стороны от ее центра на расстояние равное ширине линии, среднее значение фона оценивается визуально. Несмотря на то что в принципе фон можно измерить и на нерегистрирующем микрофотометре, тем не менее существуют некоторые доводы против этих измерений. Прежде всего почернение фона не равномерно, оно меняется вследствие неоднородности эмульсии и неоднородности самого фона (рис. 10). Во-вторых, фон непосредственно у достаточно плотной линии имеет провал, обусловленный эффектом Эберхарда. Большие скопления зерен серебра в изобран<ении линии проявляются сильнее, уменьшая концентрацию проявителя вблизи линии. Поэтому истинный фон следует замерять на некотором расстоянии от линии. [c.175]

Учет неоднородности поля. Для неводородоподобного уровня поправка первого приближения теории возмущений, обусловленная дипольным взаимодействием V, равна нулю. Поправка второго порядка от V (квадратичный штарк-эффект) пропорциональна в то время как квадрупольное расщепление пропорционально (см. 28). Вследствие этого квадрупольное расщепление в неоднородном поле может играть основную роль в уширении линии. В качестве примера укажем на резонансную линию Са Я- = 4227А (переход 45 — s4p Pj). Квадрупольный штарк-эффект, обязанный неоднородности поля, играет решающую роль в уширении этой линии, приводя к ширине порядка 4 10" W (Л == =-/V ), тогда как у 4,4 10 W ). Характерной особенностью квадрупольного уширения является независимость от и, так как при /г = 3 Y = 2n JA/ [c.551]

Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины измеряемой линии. Ранее было показано, что это делается для того, чтобы устранить мешающие эффекты оптической нестабильности. Хотя это обстоятельство является достоинством при определении высоких концентраций (см. выше), его следует рассматривать в качестве недостатка при определении следов элеменов. Вследствие широких выходных щелей отношение суммарной интенсивности линии и фона к интенсивности фона, т. е. (/ + 1и)/1и, заметно изменяется, что приводит к увеличению предела обнаружения. Другой недостаток с точки зрения определения следов элементов состоит в том, что на приборах обычной конструкции невозможно произвести точный учет фонового излучения. Иными словами, нельзя одновременно интегрировать интенсивности // + / и / , где / — интенсивность фона рядом с линией. Следовательно, невозможно вычесть величну / из суммарной величины / + / и тем самым ввести поправку на фон. Вместо этого приходится последовательно определять величины I -Ь 1и) 1г и 1и11г и затем вычислять / //г путем вычитания последней из первой величины. Точность определения этой расчетной величины зависит от воспроизводимости неоднократно повторенных измерений, т. е. по существу от статистической воспроизводимости измеряемых данных. В противоположность этому в спектрографическом методе величины 5/+и и измеряются рядом в одном спектре. Измерения можно повторить в параллельных спектрограммах, и поэтому такой способ дает более точный учет фона. Однако в спектрографическом анализе главные погрешности обусловлены локальной неоднородностью фотопластинки. Возможности [c.260]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология