Интенсивность линии суммарная

Масс-спектральный метод позволяет проводить анализ химического состава смесей и элементный анализ. Возможен качественный и количественный анализ. Количественный анализ основан на пропорциональности интенсивности линий масс-спектра каждого из веществ его парциальному давлению в области ионизации. Суммарный масс-спектр аддитивно складывается из масс-спектров всех компонентов смеси. Можно анализировать все смеси (газы, жидкости, твердые), которые в ионизационной камере прибора полностью испаряются без разложения компонентов. Эффективность масс-спектрометрии как метода молекулярного анализа сильно увеличивается при его комбинациях с хроматографией, инфракрасной и ультрафиолетовой спектроскопией. Особенно эффективна комбинация с хроматографией, когда [c.451]

Интенсивность характеризует суммарную силу сигнала и представляет собой энергию, поглощенную образцом при резонансе. Примечание. Б оптической спектроскопии слово интенсивность характеризует величину ординаты спектра на самописце, т. е. интенсивность равна высоте линии.) [c.346]

На основании измерения относительных интенсивностей спектральных линий можно проводить количественные измерения определять число ядер, вызывающих тонкую и сверхтонкую структуру спектра. Суммарная интенсивность линий характеризует полное число неспаренных электронов в системе. [c.197]

Следует отметить, что для получения истинной интенсивности линии, когда интенсивность фона вносит существенный вклад в суммарную интенсивность линии, необходимо измерять фон в области длины волны линии определяемого элемента или вблизи нее. Это является обычным в случае плазмы. [c.25]

Если в пробах присутствует свинец, аналитическая линия которого РЬ накладывается на линию Аз К , сначала измеряют суммарную интенсивность линий Аз и РЬ Отдельно измеряют отношение интенсивностей линий РЬ и РЬ 31,2 и рассчитывают истинную интенсивность линии Аз К - [c.99]

Суммарная интенсивность линий нормируется так, что [c.52]

Рассмотрим теперь вид резонансного сигнала протонов метиленовой группы. Для каждой конкретной молекулы возможна одна из восьми ситуаций в отношении спинов метильной группы (табл. 5.4). При ориентации спинов всех протонов по полю (ааа) суммарная проекция спинов на направление Щ составляет 3/2, при противоположной ориентации (РРР) —3/2. В остальных случаях составляет 1/2 или -1/2 поскольку эта ситуация реализуется тремя различными способами, вероятность встретить молекулу с таким суммарным спином для протонов метильной группы втрое больше, чем со спином 3/2 или —3/2. В результате сигнал метиленовой группы будет выглядеть как квартет с соотношением интенсивностей линий 1 3 3 1. [c.294]

Наблюдению спектральной линии мешает наличие фона сплошного спектра. Из теории погрешностей следует, что если разность между суммарной интенсивностью линии и фона 7 + и интенсивностью фона 1ф равна утроенной погрешности измерения б/ [c.25]

Графическое изображение масс-спектра сложной смеси в виде группового масс-спектра показано на рис. 1. Совокупность групп ионов, на которые разбивается исходный масс-спектр, можно изобразить в виде линейчатого спектра (жирные линии на рис. 1), положение линий которого соответствует положениям центров групп, а высота линий — суммарным интенсивностям пиков ионов каждой группы. [c.60]

Допустим, что линии А я В расположены на более или менее интенсивном фоне и надо найти отнощение их интенсивностей. Для учета фона следует отдельно измерить его почернение вблизи линий. Если фон неравномерен, то необходимо провести измерения почернения по обе стороны от спектральной линии и взять среднее. По кривой почернения находим соответствующие измеренным почернениям интенсивности. Введем следующие обозначения 1а, 1в — интенсивности линий А, В /ф,/ф — интенсивности фона вблизи линий А, В 1а + и , /в + ф — суммарные интенсивности этих линий и фона. Тогда искомое отношение интенсивностей определяется следующим выражением [c.145]

Для усиления интенсивности атомных и некоторых ионных ли-йий определяемых элементов с низким и средним потенциалом иоиизации в сухие остатки анализируемых в угольной дуге растворов вводят соответствующие, оптимальные количества солей щелочных или щелочноземельных элементов. Оптимальная добавка хлорида натрия (суммарная на двух электродах) при закреплении пробы на торце составляет 30—100 мкг, в случае закрепления в тонком торцевом слое —300—1000 мкг [270]. Интенсивность линий при введении хлорида натрия для атомных спектральных линий возрастает в 2—10 раз, что сравнимо с эффектом прикатодного усиления в дуге постоянного тока [270, 279]. В присутствии оптимальных добавок легкоионизуемых элементов в дуге практически устраняется взаимное влияние остальных элементов пробы даже в том случае, когда содержание одних превосходит содержание других элементов в сотни и тысячи раз. [c.354]

Коэффициент поглощения излучателей резко меняется в зависимости от соотношения компонентов бинарной смеси, что связано с большим различием в атомных номерах ниобия (41) и тантала (73). От коэффициента поглощения, в свою очередь, зависит интенсивность рассеянного излучения (фона). Аналитический график, представляющий функцию суммарной интенсивности линии и фона /(Л+Ф) от концентрации (С, %), отражает указанную зависимость и позволяет избавиться от необходимости измерений и учета фона. Кроме того, анализ по графику приводит к нивелировке статистических ошибок и ошибок, связанных с изготовлением эталонов. [c.271]

Третий вариант исключения фона таков обозначим суммарную интенсивность линии вместе с фоном через /д+ф, интенсивность фона под максимумом линии в отсутствие ее через /ф. Так как /д+ф = Лт + /ф, то отношение интенсивности линии /д к интенсивности фона равно [c.116]

При увеличении суммарной концентрации электронов в пламени равновесия 1 и 2 будут смещаться в сторону образования нейтральных атомов, что вызовет взаимное увеличение интенсивности линий, принадлежащих нейтральным атомам. Напротив, линии [c.224]

Изучение характера изменения во времени может дать ценную информацию, касающуюся выбора аналитических пар линий для тех спектральных методов, которые основаны на использовании общего излучения за все время экспозиции. Для спектрографического анализа наиболее подходящими оказываются такие пары линий X я г, для которых наблюдается одинаковый характер изменения X и г во времени. Или, выражаясь точнее, для количественного анализа в большей степени подходит пара линий, для которой величина 1х/1г изменяется во времени меньше всего, т. е. отношение интенсивностей меньше зависит от изменений в условиях возбуждения (например, температуры плазмы, ионного и электронного давления и т. д.). С учетом небольшого изменения этого практического правила его придерживаются и в спектрометрическом анализе. В этом случае вместо максимума интенсивности измеряют суммарную интенсивность линий на некотором участке длин волн (разд. 6.6). Поэтому при изучении изменений отношения интенсивностей линий пары х и г следует принимать во внимание интегральную интенсивность линий для их полных контуров. [c.272]

Очевидно, что практически на месте линии можно измерить только суммарную интенсивность линии и фона (/ -(- / ). Величину отношения хЦи, необходимую для уравнения (5.3.6.1), получают вычитанием единицы из отношения интенсивности (/ -]-/ )// [c.56]

При измерении интенсивности линий серии импульсных сигналов, образованных импульсным генератором, периодически вводились в систему так, чтобы на экране осциллографа наблюдалось бы суммарное отклонение. При соответствующем регулировании величина отклонения устанавливается равной максимуму интенсивности измеряемых линий. При этом необходимое число импульсов пропорционально интенсивности линии. [c.217]

В первом случае измеряют суммарную интенсивность линии и фона при длине волны, соответствующей максимуму линии. Затем изменяют длину волны до получения минимального показания с од- [c.198]

Как уже упоминалось, из интенсивности линий на рентге-ногралолах порошка далеко не всегда можно рассчитать значения структурных факторов как из-за случайных совпадений линий с разными индексами, так и вследствие того, что в кубической, тетрагональной и гексагональной сингониях есть дифракционные классы, для которых множители повторяемости меньше максимально возможных для данной сингонии (т.е. измеряется суммарная интенсивность нескольких линий). Начиная с ромбической сингонии, такой проблемы нет, но возрастает число случайных совпадений. Это приводит к тому, что методы структурного анализа, разработанные в расчете на монокристалльные данные, оказываются малопригодными для обработки рентгенограм порошка. Поэтому основная область применения порошковых методов [c.186]

Число линий в спектре соответствует числу различных суммарных спинов /1, относительная интенсивность линий определяется числом возможных способов реализации и. Напряженность поля, при которой проявляются резонансные линии (Нрез), определяется величиной Нэфф- Если //эфф>//, то Ярез меньше Н на ту же величину. [c.289]

Интенсивность линий вращательных полос поглощения определяется тaтичprv w суммарным дипольным моментом молекулы. — Ярил. реЗ. ч=1-ким [c.220]

Ядра Н и Н" независимо друг от друга также могут ориентироваться по полю и против него, влияя на протон Н. Если спины ядер Н и Н" аитипараллельны полю Но, то индуцированные ими поля складываются. Если они параллельны, то дополиительные поля также складываются, но имеют другое направление. Третье состояние возникает, когда спины ядер Н и аитипараллельны друг другу и их суммарное поле равио нулю. Для протонов Н и Н" одинаково вероятны все указанные ориентации, поэтому сигнал протона Н расщепляется в триплет с интенсивностью линий 1 2 1. [c.90]

Баргон И., Фишер X. и Йонсен Ю., изучая спектры ядерного магнитного резонанса (ЯМР) диамагнитных продуктов сразу после их образования, впервые наблюдали химически индуцированную неравновесную поляризацию ядерных спинов [5] интенсивность линий в спектре существенно превосходила соответствующую величину в условиях термодинамического равновесия. Вскоре было показано, что химически индуцированная поляризация ядер может привести и к эмиссии на резонансных частотах ЯМР. В продуктах химических реакций спектры ЯМР обнаруживают два типа эффекта ХПЯ - интегральный и мультиплетный. Интегральный эффект характеризует суммарную интенсивность отдельных мультиплетов в спектре ЯМР, которые возникают благодаря спин-спиновому взаимодействию ядер. Мультиплетный эффект характеризует появление эмиссии и усиленного поглощения линий внутри мультиплетов. Для иллюстрации на рис. 2 приведены Фурье-образы спада сигнала свободной индукции, полученные после действия 7г/4 и 37г/4 импульсов (два верхних спектра, соответственно). Эти результаты получены для фотолиза ди-терт-бутил кетона. Их сумма дает интегральный эффект ХПЯ, в то время как их разность (нижний спектр на рис. 2) дает мультиплетный эффект ХПЯ. [c.6]

Видно, что оператор взаимодействия спинов с переменным магнитным полем может перевести функцию в суперпозицию триплетных состояний А в и ДдДд с проекцией суммарного спина +1 и -1. Значит, в принципе могут наблюдаться резонансные переходы между триплетными подуровнями. Интенсивность линий зависит от разности населенностей уровней. Если в начальный момент образования РП все триплетные уровни заселены одинаково, то в такой ситуации также спектр ЭПР не должен наблюдаться. [c.98]

SPT может возникать в связанных спиновых системах, когда различные переходы одного и того же ядра испытывают неравное возмущение. В идеальном случае, когда все переходы насыщаются полностью, SPT не возникает вообще. Однако, пытаясь повысить селективность облучения, мы стремимся снизить напряженность радиочастотного поля и тем самым создаем возможность для появления SPT. Мы не будем здесь рассматривать механизм переноса заселенности, поскольку он подробно обсуждается в гл. 6 укажем только природу этого явления и способы его подавления. В отличие от ЯЭО, повышающего общую интенсивность мультиплета, SPT создает только разностную поляризацию, т. е. приводит к появлению линий с противоположными фазами, суммарный интеграл которых равен нулю (рис. 5,18). При интегрировании сигналов для определения ЯЭО линии SPT не изменяют величину интег рала, но интенсивные линии с противоположными фазами искажают спектр, поэтому имеет смысл попробовать их подавить. [c.175]

На рис. 8 показаны вычисленные уровни энергии [34]. Четыре разрешенных перехода соответствуют изменению суммарного спина АМ = 1. Расчетный спектр, а также предсказанные интенсивности линий приведены на рис. 9. Положение линий спектра дано по отношению к средней величине 72Т1Я°(2 — оа — [c.298]

Если в анализируемом материале содержится свинец, то линия РЬ La накладывается на линию As К - В этом случае измеряют суммарную интенсивность линий As и РЬ L . В отдельном опыте определяют отношение иитепсивиостей линий РЬ и РЬ и вычисляют истинное значение интенсивности линии As К - Если содержание мышьяка выше то мышьяк определяют по ме- [c.179]

На полученных спектрограммах фотометрируют линию Р 255,328 нм и фон непрерывного спектра вблизи линии. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется с помощью характеристических кривых, построенных по маркам почернений стзщенчатого ослабителя. Интенсивность линий находят вычитанием интенсивности фона из суммарной интенсивности (линии и фона). [c.147]

Пороговая иитеисивность е. Суммарная интенсивность всех линий спектра полагается равной 2 , где п — общее число спинов. Обычно для сильносвязанных спиновых систем наблюдаются сильные различия в интенсивности отдельных компонент. Слабые линии спектра могут оказаться ниже уровня шума, т. е. экспериментально недостоверными. Для упрощения анализа следует, по крайней мере вначале, рассмотреть наиболее интенсивные линии, Для этого вводят пороговую интенсивность (см. также 3). [c.201]

Для повышения воспроизводимости и правильности результатов спектрального анализа предложен способ, основанный на введении в пробу двух элементов сравнения, один из которых обладает более высокой, а другой более низкой летучестью, чем определяемый элемент [1422]. При удачном выборе концентраций этих элементов может быть достигнуто одинаковое изменение во времени суммарной интенсивности двух линий сравнения и интенсивности линии определяемого элемента. При определении этим способом галлия в омеси СаСОз и МдСОз элементами сравнения служат индий и палладий, вводимые в пробу в равных количествах. Определение проводят по линиям Са —2943,6 1п —3256,1 и Рс1 —3441,4 А. Метод целесообразно применять при одновременном определении большого числа примесей. [c.157]

Таким образом, идентифицировать элементы можно, исходя пз наблюдаемых энергий оже-электронов. В эти величины необходимо ввести поправку, вычитая работу выхода анализируемого вещества работа выхода образца не рассматривается, так как энергии связи электронов в металле относятся к уровню Ферми. Для тяжелых элементов суммарное количество возможных оже-переходов весьма велико, однако картина несколько упрощается, если учитывать только более интенсивные линии Кофлин и Клаусин [45] дали их сводку (рис. 4), которая в большинстве случаев вполне удовлетворительна. Эти авторы составили также исчерпывающие таблицы всех рассчитанных в интервале 10—3000 эВ оже-переходов для элементов с атомными номерами от 3 до 92. [c.416]

Благодаря широкому диапазону экспозиции при регистрации на фотопластинке искровой источник может использоваться для анализа микропримесей. Используя специальное ш асси для передвижения фотопластинки между экспозициями, можно на одной пластинке зарегистрировать несколько спектров. На каждой пластинке время экспозиции различных спектров может в три раза отличаться одно от другого. Общий диапазон изменения экспозиции лежит в пределах от 1 до 10 наибольшая продолжительность экспозиции 10 мин. Для получения точной величины, характеризующей каждую экспозицию, измеряется суммарный заряд, попадающий на контрольный электрод за время экспозиции. В благоприятных случаях могут быть определены линии, интенсивность которых составляет Ы0" % от интенсивности главной линии при наиболее длительной экспозиции. В некоторых особых случаях этому препятствует ряд обстоятельств наложение линий основных элементов, сплошной фон, возникающий вследствие столкновений, вызывающих процессь[ переноса заряда, ореол по краям интенсивных линий на высоких массах или низкая чувствительность примесей по сравнению с основными элементами. [c.128]

В табл. 2 приведены уравнения, определяющие для смеси А+В вклад различных механизмов образования ионов в суммарную интенсивность линий. (Миожите гь появляется перед некоторыми членами благодаря тому, что из метиленовой группы В могут мигрировать как Н, так и О, вероятности миграции которых мы считаем одинаковыми.) По [c.385]

Наиболее интенсивна в масс-спектре легкого 1-бутена линия иона С3Н5 (М/е 41), представляющего собой аллильную группу этой молекулы. Линия 42 очень слабая. Однако в масс-спектре дейтерированной молекулы большой интенсивностью обладает линия с массовыми числами 42, 43 и 44 (рис. 1), что свидетельствует о миграции одного, двух или трех атомов D в аллильную группу. Линия иона СзЩ составляет 19% суммарной интенсивности. Суммарные интенсивности линий групп i, С2, С3 и С4 остаются одними и теми же для обоих бутенов. [c.387]

Для каждого соединения проводили предварительные опыты, в которых при использовании электронов пизкой энергии определяли температуру максимального выхода радикалов. При этой температуре мы снимали полный масс-спектр продуктов термического разложения соединения, ионизируя их электронами энергии 50 эе. В большинстве случаев среди стабильных продуктов имелись димеры, углеводороды типа ИИ, а когда опыт проводили с нитритами, — соединения типа КСНО и КСНгОН. В небольшом количестве в продуктах всегда присутствовали молекулы исходных соединений. Отношения интенсивностей линий ионов к интенсивностям линий молекулярных ионов продуктов распада и исходного соединения определяли в сиоциальных опытах. По этим отношениям вычисляли вклад осколочных ионов стабильных продуктов в интенсивность линии иона IV и, следовательно, определяли интенсивность тока ионов К, образованных при понизации радикала К. Обычно ток ионов, образованных из радикалов, составлял от 0,3 до 0,5 суммарной интенсивности тока [c.428]

Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины измеряемой линии. Ранее было показано, что это делается для того, чтобы устранить мешающие эффекты оптической нестабильности. Хотя это обстоятельство является достоинством при определении высоких концентраций (см. выше), его следует рассматривать в качестве недостатка при определении следов элеменов. Вследствие широких выходных щелей отношение суммарной интенсивности линии и фона к интенсивности фона, т. е. (/ + 1и)/1и, заметно изменяется, что приводит к увеличению предела обнаружения. Другой недостаток с точки зрения определения следов элементов состоит в том, что на приборах обычной конструкции невозможно произвести точный учет фонового излучения. Иными словами, нельзя одновременно интегрировать интенсивности // + / и / , где / — интенсивность фона рядом с линией. Следовательно, невозможно вычесть величну / из суммарной величины / + / и тем самым ввести поправку на фон. Вместо этого приходится последовательно определять величины I -Ь 1и) 1г и 1и11г и затем вычислять / //г путем вычитания последней из первой величины. Точность определения этой расчетной величины зависит от воспроизводимости неоднократно повторенных измерений, т. е. по существу от статистической воспроизводимости измеряемых данных. В противоположность этому в спектрографическом методе величины 5/+и и измеряются рядом в одном спектре. Измерения можно повторить в параллельных спектрограммах, и поэтому такой способ дает более точный учет фона. Однако в спектрографическом анализе главные погрешности обусловлены локальной неоднородностью фотопластинки. Возможности [c.260]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология