Проблема начальных фаз

Проблема начальных фаз является центральной в структурном анализе. Все развитие методики рентгеноструктурного анализа, начатое в 1937 г. работой Паттерсона, в сущности и состояло в попытках отыскать способы решения или обхода этой проблемы. Такие способы и были найдены в виде различных вариантов прямых методов структурного анализа. [c.86]

Проблема начальных фаз в центросимметричном кристалле не снимается, так как из эксперимента не следует, какое из двух возможных значений фазы имеет каждый дифракционный луч. Она лишь превращается в проблему знаков структурных амплитуд. Многозначная неопределенность снижается до двузначной неопределенности в каждом отражении. Естественно, что такую проблему решать несколько проще, чем общую проблему начальных фаз. [c.87]

Существуют два метода решения проблемы начальных фаз-метод Паттерсона и статистич. (прямой) метод. [c.446]

В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз . В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов рентгеновского, нейтронографического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [c.272]

В связи с затруднениями, вытекающими из проблемы начальных фаз, в течение длительного времени (до 1935—1936 гг.) единственным методом анализа строения кристаллов был метод проб и ошибок. На основе тех данных, которые дает изучение симметрии кристалла, его кристаллохимических и кристаллофизических свойств и на основе тонкого (но, в общем, качественного) анализа интенсивностей отражений экспериментатор выдвигал одну или несколько возможных моделей структуры кристалла. Эти модели подвергались испытанию, пробе , путем сопоставления интенсивности отражений, даваемых кристаллом в действительности с теми, которые можно было получить, применяя алгебраическую формулу (1) к выдвинутым вариантам структуры. В случае несовпадения Р 1гЫ) и Р кй) модель признавалась ошибочной, и операции повторялись с другим вариантом структуры. Такой подход был возможен только по отношению к сравнительно простым по строению и составу кристаллам. [c.181]

В действительности же проблема начальных фаз препятствует такому простому решению вопроса. Яркость выделенных отражений определяет [c.229]

Проблема упрощается в применении к структурам, имеющим (среди других элементов симметрии) центры инверсии, поскольку в их присутствии неопределенность начальной фазы отражений сводится к двузначности знака его структурной амплитуды. Не удивительно поэтому, что именно по отношению к центросимметричным структурам удалось разработать несколько методов решения проблемы начальных фаз, ценность которых была доказана успешным применением их в практике расшифровки ряда сложных структур кристаллов. Эти методы и рассматриваются на последующих страницах. [c.244]

При расчете сечений электронной плотности, помимо основной трудности, связанной с проблемой начальных фаз, возникают затруднения с рациональным выбором самого сечения не зная структурного мотива, нельзя предсказать, в каких сечениях окажутся максимумы электронной плот- [c.445]

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз , наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [c.2]

Величину F(Af /) можно непосредственно вычислить нз IQtkl), но значение [c.446]

С другой стороны, в применении к структурам без центров инверсии метод наложения и минимализации обладает, в принципе, огромным преимуществом перед любым другим методом двукратное применение минимализации приводит к атомному мотиву, минуя все затруднения, связанные с проблемой начальных фаз. В этом отношении наиболее благоприятны нецентросимметричные структуры с тяжелыми атомами , образующими одну правильную систему точек, кратности большей двух. Максимумы, их соединяющие, выделяются достаточно четко и имеются в количестве, достаточном для двукратной минимализации. [c.495]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология