Трехкристальные спектрометры

В настоящее время трехкристальные спектрометры в основном используют для исследования частотной дисперсии в кристаллах или в опытах, где необходима высокая точность измерений (даже за счет увеличения продолжительности измерений). [c.235]

Схема трехкристального спектрометра приведена на рис. 67. Неподвижные кристаллы 1 ж 2 образуют двухкристальный монохроматор Кристалл 5, для которого получают кривую отражения, устанавливается в положение параллельное или антипараллельное по отношению к кристаллу II. [c.246]

Выяснение возможностей и количественных характеристик трехкристального спектрометра было достигнуто разработкой более строгой теории этого метода, изложенной в работе [109]. Построение теории близко к изложенной теории двухкристального спектрометра. [c.247]

Существенный результат (9.43), (9.44), (9.45) заключается в том, что форма кривой отражения, снятой на трехкристальном спектрометре, при сделанных допущениях не зависит от вертикальной расходимости падающего пучка [функции С2 ( ф)]. Для дальнейшего анализа полученных соотношений введем новую переменную [c.249]

Для вычисления полуширины кривой отражения, получаемой на трехкристальном спектрометре, мы можем использовать ту же аппроксимацию гауссовой кривой для функции Сх, В таком случае можно получить следующее соотношение [c.251]

Таким образом, трехкристальный спектрометр при надлежащем выборе отражений позволяет получить кривую отражения, которая по форме практически совпадает с истинным профилем динамического максимума, в особенности, если учесть, что этот прибор не искажает истинную кривую из-за паразитной симметрии [121]. [c.251]

На рис. 3 приведена схема трехосевого, или трехкристального спектрометра Коллимированный пучок нейтронов из реактора монохро-мируют с помощью кристалла Сам образец играет роль "второго кристалла". Распределение по энергии рассеянных образцом нейтронов анализируется с помощью третьего кристалла путем сканирования. В связи с этим данный метод включает трудоемкую операцию регулировки либо монохромирующего, либо анализирующего кристалла в отличие от метода ВП, в котором одновременно Измеряется все распределение рассеянных нейтронов по энергии. Тем не менее помимо лучшей разрешающей способности трехкристальные спектрометры [c.234]

Ar Q. Указанное смещение максимума определяется разницей величин т]о согласно (7.34) и (7.35) при Тл Yo ( м Р с. 48). Увеличение ширины области полного отражения Ат]о следует из (7.32). Очевидно, величины г] и At]q изменяются в обратных направлениях при увеличении (Оо (рис. 48). При переходе от шкалы углов падения к шкале углов отражения указанные изменения имеют обратные знаки. Величина смещения максимума на шкале углов отражения подробно обсуждается в 9.4 в связи со схемой трехкристального спектрометра при асимметричной съемке. Что касается численных оценок, то отмеченные эффекты значительно превышают соответствующие величины в случае Лауэ. Так, при асимметричном отражении 220 излучения МоКа от Si с = 0,335 и = = 0,027 получаем т]о — 11,2" вместо tJos = — 1,8" и Ат] 8,1" вместо At]qs — 2,3". [c.213]

Этот результат имеет принципиальное значение, так как он позволил Реннингеру использовать в качестве монохроматора в трехкристальном спектрометре именно схему (д, п) Действительно, как было уже указано, при образовании максимума Р (Р) при параллельном расположении кристаллов в значение функции Р (Р) при каждом данном положении Р дают вклад монохроматические составляющие пучка в сравнительно широком интервале длин волн в типичном случае, согласно (9.22), 2—ЗХ, В противоположность этому, в каждом данном положении Р кристалла В в схеме (д, п) принимает участие спектральный интервал в р/а раз меньший, т. е. в указанном типичном случае шириной до 0,01—0,02Х. [c.245]

Впервые идея трех- и многокристальных спектрометров была выдвинута Дю-Мондом [119], который предложил наглядный графический метод анализа свойств подобных приборов. Реннингер 101] использовал этот метод для качественного рассмотрения возможных схем трехкристального спектрометра, построил его и получил с его помощью существенно новый результат кривую отражения по Брэггу от кальцита с отчетливой асимметрией. Таким образом, была устранена паразитная симметрия кривых отражения, которые получаются при использовании классической схемы (гг, — п) двухкристального спектрометра. Полная теория и схема трехкристального прибора были развиты в работе [109] и успешно использованы для получения кривых отражения от Ое и 81. [c.246]

Весьма наглядной иллюстрацией к соотношениям (9.59) являются кривые отражения 111 излучения СпКа от Ge, полученные Бубаковой [112]. В этой работе был использован трехкристальный спектрометр, описанный выше. Кривые отражения, представленные на рис. 70, были сняты при трех различных углах падения (Oq (соответственно, трех значениях ф). Средняя кривая 1 отвечает симметричному отражению, левая 2 — скользящему паде- [c.254]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология