Камеры для определения периодов идентичности

Камеры для определения периодов идентичности [c.244]

Камеру можно применять для выявления симметрии кристалла и принадлежности его к определенной кристаллической системе нахождения основных направлений как в ограненных, так и в неограненных кристаллах определения периодов идентичности вдоль основных и других направлений в кристаллах. [c.29]

Ниже приведены сетка Бернала — график рис. 38 — и табл. 32 для ее построения, по которым можно определить координаты С и при съемке в цилиндрической камере. Размер графика по горизонтали 4г/ , что дает возможность его увеличения или уменьшения для камеры любого радиуса г. В таблице для камеры радиусом 28,65 мм даны расстояние х см) пятна на слоевой линии от центральной оси графика в зависимости от координаты у (сл ) в направлении оси вращения и координат и в обратном пространстве. Для определения периода идентичности t (повторяемости) или трансляции вдоль направления оси вращения uvw при съемке на плоскую или цилиндрическую неподвижную пленку используют соотношение [c.98]

Камера применяется для выявления симметрии кристаллов определения ориентировки кристаллов известных веществ — как небольших и г гало поглощающих рентгеновские лучи, так и крупных и непрозрачных для рентгеновских лучей определения направлений и выбора координатных осей в неограненных кристаллах, в том числе кристаллах неизвестных веществ оценки величины периода идентичности вдоль основных направлений кристалла определения отношений осевых отрезков. [c.28]

П и самых благоприятных условиях (кристаллик размерами 0,2—0,3 мм, незначительное поглощение, точная юстировка, острофокусная трубка, совершенная камера) точность определения периодов по расстояниям между слоевыми линиями не превышает 0,05 А. Обычно же ошибка в определении периода по расстоянию между слоевыми линиями — порядка 1 % величины периода. На предварительной стадии исследования — для оценки числа молекул в ячейке, определения типа решетки и для последующего индицирования — этого вполне достаточно. На заключительной стадии анализа структуры — при определении координат атомов — размеры ячейки желательно знать с большей точностью (0,005—0,01 А). После индицирования рентгенограмм любого типа, которые могут потребоваться при дальнейшем исследовании, такое более точное определение легко может быть проделано (см. стр. 363, 371). Для этой цели удобен также дифрактометрический метод (см. стр. 379). Прецизионного определения периодов идентичности (точность 0,001—0,0001 А) мы касаться не будем. [c.235]

Рис. 153. а —рентгеновская камера для определения периодов идентичности РКОП Кл — коллиматор Д — дуга П — ползун Б—барабан Г — гониометрическая головка М—мотор К — кассета полуцилиндрическая К.П — кассета плоская % — ось гониометрической головки 1 1 — ось качания б — камера РКОП (вид сверху) в — исходная ориентация триклинного кристалла, укрепленного на гониометрической головке камеры г — стереографическая проекция кристалла при его исходной ориентации. Показаны углы поворота гониометрической головки в ползуне (угол ф) и ползуна по дуге (угол р), выводящие направление [тпр] на ось вращения камеры [c.245]

Таким образом, камера может применяться для выявления симметрии кристалла определения ориентировки кристалла известного вещества как небольших размеров и малопоглощающего рентгеновские лучи, так и сравнительно крупных и мало прозрачных для рентгеновского излучения для определения важных направлений и выбора основных координатных осей в неограненном кристалле (неизученного еще вещества), а также для оценки величины периодов идентичности вдоль основных направлений кристалла и определения отношения осевых от-резков . [c.129]

Вследствие особенностей конструкции камера РКОП может применяться для выявления симметрии и систем.ы кристалла, нахождения основных направлений в неограненном кристалле и определения величины периодов идентичности вдоль всех основных направлений кристалла (переход от одного направления к другому производится отсчитываемыми поворотами гониометрической головки с кристаллом по дуге и лимбу камеры без переклейки кристалла). [c.131]

При кажущейся простоте поставленных требований выдержать их в промыщленных условиях затруднительно. Так, коксовые батареи с камерами разной шириньг должньг быть построены на одном предприятии, иметь общий углеподготовительный цех возраст, система обогрева и теплофизические свойства 01 неупорных материалов кладки обогревательных простенков коксовых батарей должны быть одинаковыми обогрев должен производиться на одном отопительном газе. Однако, даже при равенстве температур обогрева, не может быть гарантирована идентичность распределения температур по высоте обогревательных простенков, так как изменение ширины печных камер, как правило, непременно потребует изменения конструкции простенков для передачи необходимого количества тепла и, следовательно, изменится гидравлический режим обогрева. Именно поэтому попытки определения зависимости периода коксования от щирины камерьг в промышленных условиях приводит, зачастую, к противоречивым результатам и не могут быть использованы для технико-экономических расчетов. [c.291]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология