Определение поверхности рентгеновских лучей

Близко к этому методу (рентгенографии) стоит метод дифракции электронов (электронография). Волновая механика показывает, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. Определение структуры кристаллов и молекул методом дифракции электронов привело к результатам, полностью совпадающим с результатами, получаемыми с помощью рентгенографии, В последние годы с этой же целью стали применяться и нейтроны (нейтронография), что дало возможность определять положение и водородного атома, чего не удавалось достигнуть методами рентгенографии и электронографии. [c.123]

Если предположить, что твердая частица растворяется, как единица в целом, то вопрос размера также приобретает немаловажное значение. Так, нанример, размер двух слоев (взятых за единицу) олеата в мицелле олеата натрия определен пр и помощи рентгеновских лучей в 49 ангстремов (4,9 миллимикрона). Если-растворить 1 г соли олеиновой кислоты в 0,791 г бензола, то интервал рентгеновских лучей увеличится до 86 ангстремов (8,6 миллимикронов). Небесполезно сопоставить эти цифры с размерами самых мелких видов углерода, которые имеются в продаже. Примером может служить марка супер-спектра , выпускаемая фирмой Колумбия , средний размер частиц которой равен 130 ангстремам (13 миллимикронам). Трудно объяснить себе процесс размещения в мицелле такой сравнительно громоздкой частицы иначе, как ее адсорбцией поверхностью мицеллы. Если попытаться представить себе растворение частицы, величина которой выходит за пределы мицеллы, то можно легко заблудиться в чаще всевозможных определений. [c.110]

Некоторые конструкции рентгеновских микроанализаторов позволяют получать изображение распределения элементов на поверхности образца с помощью характеристических рентгеновских лучей. Для этого электронный зонд, падающий на образец, специальной электромагнитной системой отклоняется так, что пробегает по некоторой площади (метод сканирования). Время, затрачиваемое электронным зондом для пробега одного растра, равно 8 с, число строк — 400. Возможные увеличения 300, 600 , 1200 и 2400. Спектрометр прибора настраивается на характеристическую линию определенного элемента. Рентгеновские кванты, попадающие в спектрометр, преобразуются счетчиком в электрические импульсы, которые модулируют электронный луч телевизионной трубки. В результате каждому зарегистрированному кванту соответствует яркая точка на экране. Поскольку развертка электронного зонда синхронна с разверткой электронно-лучевой трубки, то светящиеся точки располагаются на экране в соответствии с характером распределения элементов на анализируемой площади. [c.153]

За последние годы для определения структуры кристаллов и молекул сравнительно широко применяется метод дифракции электронов (электронография). Метод заключается в том, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. [c.59]

Так как в состав стекла входят различные элементы, получаемое излучение содержит лучи разных длин волн, что создает неудобства при пользовании им. Для избежания этого в рентгеновской трубке (рис. 111-14) против катода К) устанавливается анод А), сделанный из какого-либо простого вещества. Попадая на его однородную поверхность, поток электронов вызывает образование рентгеновских лучей, характеризующихся некоторой определенной длиной волны. [c.73]

Поверхность образца исследуют под микроскопом при освещении видимым светом Изображение поверхности получают с помощью отраженного электронного луча. Испускаемые при этом характеристические рентгеновские лучи делают возможным определение химического состава наблюдаемых участков методом так называемого микроанализа (микрозонда). Метод требует вакуума [c.150]

Основное различие между свойствами характеристического рентгеновского излучения и характеристическими электронами (оже-электронами) при определении состава твердого тела состоит в разной глубине выхода из образца. Как рентгеновское излучение, так и оже-электроны образуются в результате ионизации под действием электронов пучка внутренних оболочек, а поэтому полученные методом Монте-Карло картины актов ионизации (например, рис. 3.7—3.9) дают одно и то же распределение генерации рентгеновского излучения и оже-электронов в области взаимодействия. Последующее распространение рентгеновских лучей и оже-электронов в образце до его поверхности [c.93]

Интересным и перспективным методом, позволяющим достаточно просто разделить возможные предельные случаи, по-видимому, является метод рентгеновского просвечивания гранул адсорбента при адсорбции веществ, поглощающих рентгеновские лучи. Несомненным преимуществом метода является также его наглядность. Применительно к цеолитам метод рентгеновского просвечивания применялся для изучения характера переноса подпетого этила в формованных цеолитах типа СаА при адсорбции из потока газа-носителя (азот) [21]. Образцы цеолитов СаА, используемые в этих опытах, были взяты из различных партий формованных цеолитов и отличались различными связующими добавками, а также режимами формования и термической обработки. Все три образца цеолитов с изолированной боковой поверхностью одновременно помещались в адсорбционную трубку, через которую продувался поток газа-носителя, содержащего пары адсорбтива, и через определенные промежутки времени облучались рентгеновскими лучами. [c.288]

Для изучения биметаллических катализаторов используются следующие методы газовая адсорбция [28], дифракция рентгеновских лучей [29], магнитные измерения [30]. Оже-спектроскопия [31], фотоэлектронная спектроскопия [32] и рентгеновская спектроскопия (анализ тонкой структуры рентгеновских спектров в области края поглощения, соответствующего /С-уровню) [33]. Большинство методов не дает прямого определения даже одной из трех характеристик биметаллических катализаторов поверхности и структуры, размера кристалла и химического состояния поверхностных атомов металла. [c.21]

Информация о параметрах микропористой структуры может быть получена на основании опытных данных по равновесной адсорбции газов и паров и малоугловому рассеянию рентгеновских лучей. Как уже отмечалось, особенностью микропористых адсорбентов является завершение объемного заполнения микропор до начала капиллярной конденсации паров в более крупных переходных порах. В общем случае адсорбенты, наряду с микропорами, содержат переходные поры и макропоры, как, например, активные угли. Адсорбцией на поверхности макропор, обычно не превышающей 1—2 м г, всегда можно пренебречь. Однако при достаточном развитии объема переходных пор их удельная поверхность может превышать 50 м г и достигать 200—300 м 1г. В таком случае адсорбцию на поверхности переходных пор необходимо учитывать. После определения удельной поверхности переходных пор по одному из изложенных методов, основанных на капиллярных явлениях, можно с достаточным приближением оценить адсорбцию на их поверхности. Для этого обычно пользуются изотермой адсорбции рассматриваемого пара для непористого адсорбента [c.266]

Проведенный анализ позволяет обнаружить удовлетворительную связь между размерами и формой агрегатов блоксополимеров и их молекулярной структурой. Полученные результаты относятся к последовательностям блоков различных типов. Полного согласия между экспериментальными и теоретическими результатами не следует ожидать, поскольку рассматривались только простые идеализированные формы частиц, делались довольно грубые допущения относительно конформации цепей и не учитывалась энергия поверхностей раздела, а также допускались неточности в расчетах из-за лишь приближенно известных значений молекулярных весов, диаметров частиц и т. д. Например, значения рк, определенные с помощью электронной микроскопии (см. рис. 8), оказываются значительно большими, чем значения, получаемые методом рассеяния рентгеновских лучей, по-видимому, из-за того, что цепи имеют конформацию сплющенных эллипсоидов,. а не сфер. [c.203]

Прежде чем приступить к глубокому физико-химическому анализу любого процесса адсорбции, в первую очередь необходимо определить удельную поверхность адсорбента. Это можно сделать как в ходе самих адсорбционных измерений (адсорбционные методы определения удельной поверхности рассматриваются в следующей главе), так и с помощью ряда других методов, обсуждаемых ниже. Рамки этой книги не позволяют охватить все методы определения удельной поверхности. В частности, такие методы оценки размеров частиц и пор, как, например, оптическая и электронная микроскопия, дифракция рентгеновских лучей и методы, основанные на измерении проницаемости, здесь не рассматриваются. Подробные сведения по всем этим вопросам читатель может найти в работах [1, 2]. [c.416]

Простейшим методом определения размера и формы относительно крупных частиц является оптический микроскопический метод. Нижний предел радиусов, поддающихся определению этим способом, около 2000 А. К более старым методам определения частиц меньшего размера (которые могут давать существенный вклад в величину поверхности и каталитической активности порошка) относится суспендирование их в жидкости и измерение скорости их седиментации или установления равновесия под действием силы тяжести или при центрифугировании. Эти методы трудоемки, но дают хорошие результаты для распределения частиц по радиусам. Другим реже используемым способом является измерение величины поверхности по адсорбции газа и расчет среднего радиуса на основе допущения о форме частиц. Гораздо более прямые и полезные сведения можно получать при изучении рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами, используя электронный микроскоп и исследуя расширение дифракционных линий на рентгенограммах, полученных под большими углами. [c.166]

Помимо визуальных и адсорбционных методов поверхность может быть определена измерением скорости растворения, теплот смачивания, проницаемости и теплопроводности она может быть также оценена с помощью оптических методов и методом диффракции рентгеновских лучей. Эти методы кратко обсуждаются в настоящей главе. Литература об определении поверхности и размеров частиц столь обширна, что о подробном ее обсуждении и изложении здесь не может быть и речи. [c.368]

Как уже указывалось выше, из природного графита при прессовании можно получить довольно твердое тело [57]. Детально этот процесс описан в [58]. При давлении около 7000 атм получены прямоугольные брусочки, которые имели ту же удельную поверхность (по БЭТ), что и исходный порошок, а кажущаяся плотность их была 2,18 0,03 г/см . По плотности брусочков и графитовых частиц, определенной методом дифракции рентгеновских лучей, была рассчитана пористость, оказавшаяся равной 4 2%. Ртутный поромер показал, что поры имеют диаметр около 1000 А. [c.344]

При рентгенографическом определении макронапряжений глубина анализируемого слоя не превышает нескольких десятков микрометров (глубины проникновения рентгеновских лучей), что существенно меньше толщины изделия. Поэтому можно с достаточной степенью точности считать, что в этом тонком -приповерхностном слое напряженное состояние плоское, как и на самой поверхности, Т, е. 0 3=0 (из условий равновесия). [c.341]

На поверхность кремниевой пластины наносят раствор резиста и с помощью центрифуги получают однородную пленку, которую после высушивания на воздухе подвергают предварительному обжигу при определенной температуре в течение определенного времени. Затем резист облучают через маску с соответствующим рисунком (рабо чую маску) ультрафиолетовыми, дальними ультрафиолетовыми или рентгеновскими лучами и проявляют путем погружения в проявляющий раствор или разбрызгивания проявителя. Далее следует промыв ка специальным промывочным раствором. [c.235]

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. В одном из них — методе Лауэ пучок рентгеновских лучей всевозможных длин волн проходит через диафрагму и падает на поверхность кристалла под некоторым определенным углом (рис. 13). В потоке лучей всегда найдутся такие, длины которых удовлетворяют условию (а), при этом в результате отражения на фотографической пластинке, наряду с центральным пятном от непреломившегося луча, получаются симметрично расположенные вокруг него пятна, каждое из которых соответствует каким-нибудь кий. Лауэграмма (рис. 14) дает возможность определить симметрию кристалла и его ориентировку. Расшифровка лауэграмм — достаточно сложная задача. [c.57]

С момента появления работы де Бройля (1925) прошло всего два года, когда были опубликованы поразительные результаты опытов Дэвиссона и Джермера, в которых удалось обнаружить волновые свойства электрона. Пучок параллельно летящих электронов, направленный на поверхность монокристалла никеля, отражается под определенным углом, следуя закону отражения света, согласно которому угол падения равен углу отражения. Угол, под которым происходит особенно сильное отражение, изменяется по мере изменения скорости электронов в пучке. Это вполне естественно, так как от скорости и должна зависеть длина волны электрона (l=hlmv). Рассчитать эту длину можно по известному уравнению Брэггов для отражения рентгеновских лучей от кристалла [c.28]

С другой стороны, тесные контакты коллоидной химии со смежными дисциплинами способствовали обогащению ее экспериментальной базы. Наряду с такими классическими методами эксперимента, родившимися именно в коллоидной химии, как определение поверхностного натяжения и двухмерного давления, ультрамикроскопия, центрифугирование, диализ и ультрафильтрацня, наблюдение разнообразных электрокинетичеоких явлений в дисперсных системах, дисперсионный анализ и порометрия, многочисленные прецизионные адсорбционные методы, изучение рассеяния света (опалесценции) и т. п., в разных разделах коллоидной химии нашли эффективное применение всевозможные спектральные методы ЯМР, ЭПР, УФ- и ИК-спектроскопия, гашение люминесценции, многократно нарушенное полное внутреннее отражение, эллипсометрия (с широким использованием лазерной техники), малоугловое рассеяние рентгеновских лучей и другие рентгеновские методы, радиоактивные изотопы, все виды электронной микроскопии. Большие перспективы открывает привлечение современных физических методов исследования поверхностей с использованием медленных электронов, масс-спектроскопии вторичных ионов и т. п. [c.9]

Микропористость в коллоидных частицах в некоторых случаях может быть продемонстрирована методом малоугловой дифракции рентгеновских лучей. Когда определяемый таким методом размер частиц оказывается значительно меньшим, чем размер, подсчитанный из величины удельной поверхности, которая измерялась по адсорбции азота или наблюдалась по электронно-микроскопическим снимкам, то это означает, что подобные частицы составлены из еще меньших дискретных единичных образований, их упаковка так плотна и получающиеся при этом поры настолько малы, что молекулы азота в них не проникают [72]. Большая часть гелей состоит из первичных частиц, пронизанных порами, доступными молекулам азота. Однако Ледерер, Шурц и Янцон [73] сообщили, что, по-видимому, в полученных ими определенных разновидностях гелей кремнезема наблюдалась некоторая внутренняя поверхность, поскольку соответствующие высокие значения гидратации для таких гелей, равные 0,15—0,26 г НгО/г 5102, должны означать наличие высокой пористости. [c.446]

Для определения удельной поверхности углеродистых саж применяют колориметрический метод, основанный на простой зависимости между оптической плотностью суспензии и размером взвешенных в ней частиц при данной концентрации. Эта зависимость справедлива для таких систем, в которых размер частиц близок к длине волны примененного света. Керкер измерял радиус частиц с помощью поляризованного света [218]. Методом рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами измеряли радиус частиц до 5 нм и меньше [219]. Теснер разработал кинетический метод определения удельной поверхности саж, основанный на экспериментально установленном факте, что разложение углеводородов на поверхности углерода представляет собой чисто поверхностный процесс. Скорость процесса при прочих равных условиях пропор-циональна поверхности и может быть измерена прямым гравиметрическим методом [220]. [c.94]

Для определения внутренней поверхности целлюлозы применяют также методы дейтерирования и тритироваьшя, рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами, продавливания ртути (макропористая структура), метод сорбции паров инертных газов, азота, паров воды [4, 5, 10-12] [c.15]

Такая интерпретация структуры аморфных твердых тел подтверждается рентгеновским анализом. Явление отклонения световых лучей при прохождении через так называемые диффракционнгле решетки давно известно. Пучок лучей видимого света, проходя через стеклянную нластинк ", на которую нанесено большое число параллельных линий, отклоняется от своего направления па угол, длина которого зависит от расстояния между линиями и от длины световой волны. Изучение этого явления привело к выводу, что эффект диффракции зависит от четырех факторов во-первых, свет доля ен проходить через среду, перемежающиеся зоны которой сильно отличаются но их способности к пропусканию света далее, эти зоны должны быть приблизительно параллельны, находиться приблизительно на равном расстоянии друг от друга, и это расстояние но порядку величины должно соответствовать длине волны данного светового луча. Если принять во внимание правильное расположение атомов в кристалле, то станет ясно, что последние представляют собой ряд диффракционных решеток, расположенных одна позади другой. Здесь, конечно, правильность расположения гораздо больше, чем в любой решетке, нанесенной на поверхность стекла. Поэтому можно ожидать, что такой кристалл и будет действовать как решетка, если удастся найти световые лучи с соответствующей длиной волны, много меньшей, чем длины волн видимого света. Этому требованию вполне отвечают рентгеновские лучи в определенной области длины их волн. Применение этих лучей создает возможность количественного определения расположения атомов в структуре кристаллов. [c.280]

Рентгеновские лучи анализируют разложением по длинам волн или при помощи энергоселективного анализатора. Приближенный элементарный состав можно получить, сравнивая интенсивности характеристических рентгеновских линий неизвестного образца и стандарта известного состава. Используя необработанные данные по интенсивностям для компонентов, содержание которых превышает 10%, можно ожидать, что точность их определения составит 25%. Вводя поправки на поглощение рентгеновских лучей образцом и нелинейность рентгеновского излучения, а такн<е уделяя долл ное внимание стабильности инструментальных факторов, неизменному полон ению образца, степени доводки его поверхности (необходима оптически гладкая поверхность) и качеству калибровки, можно добиться точности 2%. Если образец является изолятором, необходимо покрыть его проводящим слоем, чтобы предохранить от статического заряжания. [c.400]

Эккел [115] в исследованиях по различной обработке поверхностей катализаторов и по влиянию ее на каталитическую активность, а также на химическое превращение, утверждает, что 1) активность нерекристаллизован-ного никеля и шлифованных листов никеля не может быть приписана неоднородности поверхности, 2) обработка на холоду и шлифовка одинаково влияют на структуру катализатора. Шлифование затрагивает только наружные атомные слои предполагается, что такое воздействие приводит, с одной стороны, к разрушению зерна, а с другой стороны, к деформированию решетки, в ссо- енности в плоскости скольжения. Это вызывает усиление интерференции рентгеновских лучей соответственно наблюдаемому на Ка дублете прокатанного листа никеля. Сдвинутые при деформации атомы могут быть элиминированы нагревом, что указывает расщепление дублета Ка. Определения активности, проведенные с никелем, нагретым до 200, 235, 270 и 350°, показывают, что снижение активнссти соответствует расщеплению дублета Ка. Эккел считает, что полученные им результаты убедительны он предполагает, что каталитически активные места отличаются атомами, которые сдвинуты в каком-либо направлении от нормального положения, а также изменили атомные расстояния. [c.247]

Андерсон и Эмметт [97], изучившие ряд саж с диаметрами частиц приблизительно от 200 А и более, считают, что ошибка электронно-микроскопического метода в определении поверхности частиц составляет вероятно 10%. Ошибка возникает не только благодаря неточности измерений, но также из-за некоторого отклонения формы частиц от шарообразной и неопределенности в выборе значения плотности. Разрешение на микрофотографиях было, по-видимому, около 30 — 50 А. Близкие характеристики дисперсности ряда саж были получены при помощи электронно-микроскопического и других методов рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами и адсорбционного [98, 99], что свидетельствует в пользу надежности каждого метода. При исследовании степени дисперсности латексов ошибка электронно-микроскопического метода была оценена в +3% [100]. [c.160]

В опытах применяли два основных типа катализатора 1) никель на силикагеле, приготовленный пропиткой силикагеля раствором Ni(N03), и восстановленный при 450—500° катализатор содержал 0.10—0.12 г никеля на 1 г. Удельная поверхность силикагеля, вычисленная по измерениям адсорбции метиленовой сини, составляла от 25 до 300 м /г 2) скелетный катализатор, приготовленный выщелачиванием 1 г 50%-ного сплава Ni —Al в 80 см 20%-ного NaOH в течение двух часов. Мелкораздробленный порошок сплава всыпали в щелочь, нагретую на кипящей водяной бане. После выщелачивания катализатор многократно отмывали водой и затем спиртом, промывные воды центрифугировали, и осевшие частицы присоединялись к общей массе катализатора. Общий вес катализатора 0.56 г. Катализатор состоял из дисперсных кристаллов, размер которых соответствует величине порядка 10 см кристаллы имеют гексагональную решетку с отношением осей с/а = 1.60. Идентифицирование плоскостей рассеяния рентгеновских лучей и определение параметров кристаллической решетки показало, что а = 2.541 и с = 4.064 A. Поверх-Ешсть катализатора составляла 40—50 м /г. [c.158]

Относительно недавно появился еще один физический метод анализа — электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА), которую называют также рентгеноэлектронной спектроскопией. В основе метода — явление рентгеновского фотоэффекта, метод пригоден для изучения твердых, в частности органических, веществ. Эффективный слой твердого вещества для выхода фотоэлектронов составляет приблизительно 10 нм, поэтому рентге-ноэлектронная спектроскопия перспективна для изучения состава поверхностных слоев и пленок. Важно только, чтобы вещество не разлагалось под действием рентгеновских лучей или вакуума, исследуемая поверхность должна быть чистой. Относительная ошибка определения может быть доведена до 1—2%, определять можно все элементы, кроме водорода. К сожалению, точные аналитические характеристики метода не вполне установлены. В СССР первые работы по ЭСХА начались в Институте общей и неорганической химии АН СССР (В. И. Нефедов). Приборы для анализа и исследования вещества этим методом выпускают несколько зарубежных фирм — Вариан (США, Швейцария), Хьюлет-Паккард (США), Вакуум Дженерейторс (Англия). [c.74]

Отсутствуют непосредственные сравнения величин поверхности, полученных с помощью рентгеновских лучей и но газовой адсорбции, но без сомнения первые были бы больше последних. Вполне вероятно, что в активных углях существуют столь узкие поры, что даже молекулы азота не могут в них проникнуть. В то же время не следует забывать, что величины поверхностей, приведенные в третьем столбце табл. 51, являются максимальными. Если высоты кристаллитов, определенные Гофманом и Вильмом, в 2 раза меньше, то истинная поверхность углей—карбораффина, противогазового, угля IV и супранорита — будет составлять соответственно 1365, 1450, 1540 и 1480 м /г. Для двух различных углей из скорлупы кокосовых орехов Дейц и Глейстин[ ] нашли методом адсорбции азота величины поверхностей в 1400 и 1850 м /г. Поэтому кажется вполне вероятным, что при определении поверхности одного и того же адсорбента методом рентгеновских лучей и методом адсорбции азота должно получиться хорошее совпадение. [c.425]

Определение глубины залегания дефекта. Рентгенограмма, как и снимок с помощью 7-лучей, представляет линейную проекцию объема детали на плоскость рентгеновской пленки. Координаты местоположения дефекта в этой плоскости можно определить непосредственным измерением по негативу. Однако часто важно знать третью координату дефекта в направлении рентгеновского луча (т. е. расстояние дефекта от внешней поверхности детали, прилегающей к кассете с пленкой). Для этого необходимо получить на одной и той же пленке две рентге-нограмы, снятые при разном положении источника лучей. Принцип такой съемки ясен из схемы рис. 5.7. В рассматриваемом случае деталь снимают дважды, смещая рентгеновскую трубку после первого снимка в направлении, параллельном плоскости пленки, на расстояние О. При этом изображение дефекта смещается на расстояние с1. Если расстояние от фокуса трубки до фотопленки равно Я-, то высота дефекта по отношению к пленке х определяется, очевидно, из пропорции х/ Н—х) =й10. [c.153]

Исследуемый образец накладывается на стеклянные пластинки толщиной 0,8—1 мм в виде слоя толщиной около 0,1 мм. Такая полоска ориентируется по отношению направления рентгеновских лучей так, что продолжение оси камеры должно точно пересекать поверхность образца подобно тому, как это делается при установке образцов в рентгеновском спектрографе Сигбана. Угол излучения (падения), образуемый пластинкой с падающим лучом, должен быть равным углу отражения, и поэтому любая интерференция должна быть отрегулирована в каждом отдельном случае. Преимуще.ство этого метода заключается в том, что ширина интерференционной полосы не зависит от строения или неоднородного распределения интенсивности в первичном луче. Соблюдение всех этих условий имеет особенно большое значение для надежного измерения величин частиц и одновременно для определения характера искажений в структуре. [c.273]

Наиболее изящный метод определения величины частиц коллоидных систем заключается в использовании дифракции рентгеновских лучей, падающих под малыми углами, и в переносе на силикаты методов исследования целлюлозы . Эта теория несколько отличается при применении ее к системам с плотно упакованными частицами, имеющими лишь малые межчастичные свободные пространства, и к разбавленным коллоидным золям . Шал, Элкин и Росс показали, что такой метод можно применять к кремнезему или к смесям гелей кремнезема и глинозема для определения их пористости, что важно как мера адсорбции газа при низкой температуре (см. С. I, 7 и ниже) и для явлений капиллярной конденсации (см. А. III, 155 и ниже). Эта особая область применения методов дифракции рентгеновских лучей до сих пор интенсивно развивается, и в ней заложены перспективы для решения проблем, связанных с изучением силикатов, особенно систем вода — глина и подобных материалов, обладающих высокой активной поверхностью. Для практического применения метода малых углов прибор с двумя кристаллами, описанный Фаикухеном и Еллине-ком2, может оказаться особенно полезным он имеет две отражающие кальцитовые пластинки на пути для резко сфокусированного главного рентгеновского луча. Эти авторы изучали у-глинозем, нагретый при различных тем- [c.273]

Определенная упаковка молекул при частичном высушивании раствора происходит — они укладываются подобно бревнам в запани (на лесосплаве), только не в двух измерениях, как на поверхности воды, а в трех. Промежутки, как и в запани, заполнены водой. Рассеяние рентгеновских лучей от подобного частично упорядоченного расположения молекул дает довольно богатую информащ1Ю, но не достаточную для однозначного восстановления структуры молекул, исходя только из рентгенограмм. Это обстоятельство и явилось причиной долгих споров о том, правильно ли Уотсон и Крик угадали структуру ДНК в волокнах. [c.134]

В результате длительных исследований, проведенных многими авторами, Брунауер, Эмметт и Теллер разработали особенно удачный метод определения удельной поверхности твердых тел посредством адсорбции азота при низких температурах. Этот метод был успешно сверен сданными не зависимых друг от друга определений при помощи электронной микроскопии, рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами или измерения диффузии [1]. [c.28]

В 1927 г. Дэвиссон и Гермер [25] исследовали поверхность никелевого кристалла с помощью бомбардировки электронными пучками и обнаружили, что пучки рассеиваются подобно рассеянию на кристаллической решетке рентгеновских лучей. Зная параметр решетки, можно с помощью закона Брэгга (2.5) рассчитать длину волны Де Бройля. Найденные величины соответствовали уравнению (2.6). Дифракция электронов, как и рентгеновская, может применяться для определения строения кристаллов. Данные, полученные из опытов по рассеянию рентгеновских лучей и дифракции электронов будут приведены в главе 3. [c.43]

При кажущейся плотности полисорба рк = 0,44 >10 кг/м удельная поверхность сферических агломератов в единице массы полисорба, найденная таким образом, равна 63-10 м /кг. Оценка поверхности мезопор по данным малоуглового рассеивания рентгеновских лучей дает близкое значение 5 е = 62-10 м /кг, что, во-первых, подтверждает надежность определения удельной поверхности мезопор и, во-вторых, убеждает в том, что мезопо-ристость полисорба, действительно, образована контактами плотно упакованных сфероидальных агрегатов первичных гелевых частиц сополимера [53]. [c.44]

Определение величины поверхности необходимо при всех количественных исследованиях скоростей гетерогенных процессов. Поверхность между двумя несмешивающимися жидкими фазами обычно может быть точно определена на основании простых геометрических соображений, тогда как определение величины поверхности твердых веществ часто оказывается затруднительным из-за ее сложной формы. Для определения величины поверхности твердых тел применяется целый ряд методов, в том числе два метода с применением радиоактивных индикаторов. Один из этих методов, называемый методом поверхностного обмена, основан на гетерогенной реакции обмена между ионами, находящимися на поверхности твердого вещества, и ионами в растворе (см. гл. 1). Другой метод, а именно метод эманирования, основан на выделении радиоактивных атомов инертного газа через поверхность твердого вещества (см. гл. IX). Обзор исследований, посвященных этим методам, приведен в статьях Цименса (24, 214]. Здесь не будет дано описания других методов, не основанных на применении радиоактивности (измерения с помощью микроскопа, использования явлений адсорбции газов, адсорбции красителей, поляризации электродов, определения скорости растворения, проницаемости, теплоты смачивания, оптической интерференции, диффракции рентгеновских лучей, теплопроводности), обзор которых был сделан Брунауэром [В82]. [c.254]

Прекрасным примером использования рентгеновских лучей при исследовании порошков является определение размера частиц и величины их поверхности путем рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Обычная рентгенограмма вещества получается путем рассеяния лучей под сравнительно большими углами относительно падающего луча. Кроме того, происходит интенсивное рассеяние под очень небольшими углами, составляющими около 1/2° но отношению к падающему лучу. Метод заключается в измерении интенсивности лучей, рассеянных под малыми углами, относительно интенсивности падающего луча (который получается путем преобразования рентгеновских лучей в монохроматические благодаря отражению от кристалла). Интенсивность может измеряться либо фотографически, либо путем регистрации излучепия с помощью счетчика Гейгера — Мюллера. Интенсивность рассеяния под малыми углами для совокупности частиц, гранулометрический состав которых характеризуется линейным размером R, выран<ается следующим образом [c.167]