Расстояния между слоевыми линиями

Расстояния между слоевыми линиями зависят от углов раствора дифракционных конусов. Последние же, как мы знаем, определяются величиной периода повторения в ряде, идущем по оси конусов. Таким образом, расстояние между слоевыми линиями определяется периодом идентичности кристалла вдоль оси вращения. Эту связь иллюстрирует рис. 124. [c.199]

По расстоянию между слоевыми линиями на рентгенограммах вращения или качания можно определить период решетки кристалла по направлению оси вращения [c.116]

Период идентичности по оси макромолекулы с определяют из расстояния между слоевыми линиями [c.193]

По расстоянию между слоевыми линиями вычисляется период по оси текстуры. Поскольку по оси текстуры обычно ориентирована ось макромолекулы, то, зная величину периода, можно найти длину звена макромолекулы, а по нему - конфигурацию макромолекулы. [c.366]

Расстояния между слоевыми линиями [c.198]

Рис. 124. Расстояние между слоевыми линиями рентгенограммы

Определение типа решетки Бравэ методом качания в принципе очень несложно. Совместив с осью вращения ту или иную диагональ грани элементарной ячейки, легко определить по расстоянию между слоевыми линиями, центрирована ли рассматриваемая грань или нет если период идентичности окажется равным полной длине диагонали грани, то грань примитивна, если же он окажется в два раза меньше длины диагонали—-в центре грани имеется узел решетки. Для выявления пространственной центрировки достаточно снять рентгенограмму качания при вращении кристалла вокруг оси, параллельной телесной диагонали ячейки. [c.237]

Расстояние между слоевыми линиями рентгенограммы вращения зависит не только от периода идентичности в кристалле вдоль оси вращения и длины волны лучей, но и от того, под каким углом к оси вращения падает первичный пучок (см. формулу (27, II) на стр. 199). На рис. 226, а первичный пучок образует угол и- = 0 с плоскостью, перпендикулярной оси вращения. Начало координат обратной решетки О, всегда расположенное в точке пересечения первичного пучка с поверхностью сферы отражения, смещается из экваториального сечения [c.358]

Рис. 6.11. Определение параметров ячейки по расстояниям между слоевыми линиями.

Размеры элементарной ячейки. Если рентгенограммы получены при вращении кристалла вокруг каждой оси элементарной ячейки (метод вращения монокристалла), то величины а, Ь я с можно прямо вычислить по уравнению (3-3), зная расстояния между слоевыми линиями. В случае прямоугольных ячеек их можно также найти из соотношений йдо=а//г и т. д. Чаще всего величины а, Ь я с получают математическим преобразованием осей обратной решетки. [c.43]

Интерпретация рентгенограммы волокна похожа принципиально на интерпретацию рентгенограммы вращения или качания единичных кристаллов, рассмотренных в разделе 3. Однако вследствие меньшего количества пятен на рентгенограмме волокна, по сравнению с рентгенограммой единичного кристалла, задача нахождения размеров и симметрии элементарной ячейки становится менее определенной. Размер элементарной ячейки в направлении, параллельном оси волокна, всегда можно определить по расстояниям между слоевыми линиями по уравнению (3-3). Однако, как видно на рис. И, число пятен на каждой слоевой линии может быть невелико, так что далеко не всегда существует единственны способ их индицирования. Поэтому обычно предлагаемые простые элементарные ячейки не всегда оказываются точными. [c.55]

Рассматривавшиеся до сих пор рентгенограммы волокна напоминали рентгенограммы вращения единичных кристаллов, т. е. исследованные волокна, очевидно, содержали множество малых трехмерных кристаллических областей, одинаково ориентированных по отношению к оси волокна. С другой стороны, волокна, которые будут рассмотрены в следующих разделах, дают значительно более бедные рентгенограммы (например, см. рис. 11,е и 11, ). Пятна (или мазки) в этом случае лежат на слоевых линиях, но интенсивность рефлексов и поперечные расстояния между слоевыми линиями изменяются очень сильно по сравнению с рентгенограммой нормального типа, например, для полиизобутилена, приведенной на рис. И,в. Некоторые слоевые линии могут совершенно отсутствовать. На удаленной слоевой линии (например, на десятой слоевой линии, см. рис. 11,ы) обычно располагается довольно интенсивная меридиональная (т. е. в направлении вер- [c.63]

Зная расстояние между слоевыми линиями, можно определить период вдоль оси текстуры. Если обозначить через 6 — период по оси текстуры, —расстояние на пленке между слое- [c.99]

Интересной особенностью обладает ОНС, дающая дифрактограмму типа рис. 24,6. Расстояние между слоевыми линиями дифрактограммы уменьшается с ростом удлинения, и при прогреве таких пленок ПЭ при температуре порядка 75—100° возникает новая картина рассеяния, указывающая на появление ЕРЭ, ориентированных перпендикулярно направлению исходного растяжения [37]. Форма и размеры этой новой структуры зависят от степени вытягивания, размеров сферолитов в нерастянутой пленке, температуры и условий прогрева (например, наличие и величина нагрузки при прогреве). На рис. 25 приведены // -дифрактограммы пленок ПЭ высокого давления, растянутых на 400% (рис. 25, а) и затем прогретых при малой постоянной нагрузке при 85° (рис. 25,6). [c.43]

Ориентация кристаллов в холоднотянутых волокнах обычно достаточно высока для определения их структуры рефлексы представляют собой очень короткие дуги, так что последовательные слоевые линии не накладываются друг на друга. Однако четкость рефлексов заставляет желать много лучшего ее можно повысить термической обработкой волокон, находящихся в растянутом состоянии при температуре несколько ниже температуры плавления в результате этой обработки увеличиваются размеры и правильность кристаллов, что и позволяет получить на рентгенограмме четкие рефлексы. При рассмотрении рентгенограмм (несколько примеров которых дано на рис. 41) размер элементарной ячейки вдоль оси волокна можно определить непосредственно из расстояний между слоевыми линиями, но поперечные размеры ячейки должны быть найдены методом подбора [2]. [c.266]

Окончательное решение этого вопроса и определение расположения атомов основываются на вычислении интенсивностей всех рефлексов для ряда предполагаемых положений атомов и сравнении полученных значений с наблюдаемыми интенсивностями. Предполагая те или иные конфигурации и расположение молекул, естественно, пользуются известными стереохимическими величинами, такими, как нормальные длины связей и углы между связями. Эти величины иногда непосредственно используются в кристаллографии полимеров, поскольку размер элементарной ячейки в направлении оси волокна является величиной периода идентичности вдоль молекулярной цепи и эту длину можно просто сравнить с длиной любой предполагаемой конфигурацией цепи. Это является преимуществом кристаллографии полимеров по сравнению с соответствующим исследованием неполимерных веществ. Иногда можно довольно точно определить конфигурации молекулы даже без определения размеров элементарной ячейки, так как период идентичности по цепи может быть рассчитан непосредственно по расстоянию между слоевыми линиями без определения положений отдельных рефлексов. (В этом случае надежные данные могут быть получены только при очень совершенной ориентации кристаллов в образце волокна.) Необходимо, однако, уточнить, что может дать определение периода идентичности по цепи. Утверждать, что конфигурация молекулы определена, можно только в том случае, если измеренная величина периода идентичности соответствует периоду идентичности полностью вытянутой молекулы известного химического строения (например, плоского зигзага для цепей насыщенных алифатических углеводородов). Если же измеренная величина периода меньше вычисленной для полностью вытянутых молекул, то это уменьшение может быть обусловлено целым рядом конфигураций, возникающих в результате вращений вокруг связей молекулы, и необходимо тщательное исследование для того, чтобы определить, какая из этих конфигураций правильна. Число возможных конфигураций ограничивается тем, что вращение вокруг связей свойственно преимущественно цепям насыщенных углеводородов 15] но окончательное заключение о конфигурации молекулы должно быть основано на определении расположения атомов в элементарной ячейке, исходя из относительных интенсивностей рефлексов. Во всяком случае, для определения расположения и взаимной ориентации молекул такое тщательное исследование совершенно необходимо. [c.267]

Пусть спираль содержит целое число к остатков в расчете на виток к = Р/И. В этом случае картина рентгеновского рассеяния будет относительно простой. Рис. Ы.5,Б, В иллюстрирует расчет структурного фактора для спирали с тремя остаткам а виток (фактически показаны интенсивности, усредненные по вращению). Свертка состоит попросту в том, что изображение строится в начале координат, затем смещается на три слоевые линии и накладывается на предыдущее и т.д. В результате картина рассеяния будет повторяться каждую третью слоевую линию. В случае целочисленной спирали расстояние между слоевыми линиями определяет шаг спирали, а период повторяемости картины рассеяния прямо связан с количеством остатков на виток. [c.413]

Наиболее широко для определения структз ры используется метод вращения кристалла. В этом методе используется монохроматическое рентгеио1вское излучение, а в качестве исследуемого образца — монокристалл. Так как монокристаллы получены отнюдь не для всех полимеров, а размеры полученных монокристаллов слишком малы, то при исследовании полимеров используются ориентироваи-ные, максимально закристаллизованные полимерные пленки или волокна. При вращении кристалла вокруг какой-либо оси рентгеновские лучи, направленные перпендикулярно к этой оси, в определенный момент времени оказываются по отношению к некоторым кристаллографическим плоскостям в положении, при котором выполняется формула Вульфа — Брэгга. В этом случае возникает дифрагированный рентгеновский луч, который приводит к появлению рефлекса (пятна) на цилиндрической фотопленке, ось которой совпадает с осью вращения кристалла. На цилиндрической фотопленке рефлексы располагаются по слоевым линиям, перпендикулярным к оси вращения. Слоевая линия, проходящая через след от первичного пучка рентгеновских лучей, называется нулевой. Расположение остальных слоевых линий ясно нз рнс. 12. Расстояние между слоевыми линиями зависит от расстояния между идентичными рассеивающими центрами, расположенными вдоль оси вращения кристалла. Период идентичности / в этом направлении определяется формулой [c.39]

Первый этап структурного исследования основан на определении направлений всех дифрагированных пучков. Вначале по расстоянию между слоевыми линиями па текстуррентгенограмме определяется длина той оси элементарной ячейки, к-рая направлена вдоль оси текстуры. Поскольку вдоль осп текстуры в подавляющем большинстве случаев в ориентированном образце направлены оси макромолекул, то таким образом оиределяется длина повторяющегося звона макромолекулы, т. н. период и д е н т и ч н о с т и. Изучая расположение всех рефлексов вдоль слоевых линий и т. и. погасания (количество и положение отсутствующих рефлексов), определяют остальные размеры элементарной ячейки и расположение элементов симметрии, существующих в структуре. [c.168]

П и самых благоприятных условиях (кристаллик размерами 0,2—0,3 мм, незначительное поглощение, точная юстировка, острофокусная трубка, совершенная камера) точность определения периодов по расстояниям между слоевыми линиями не превышает 0,05 А. Обычно же ошибка в определении периода по расстоянию между слоевыми линиями — порядка 1 % величины периода. На предварительной стадии исследования — для оценки числа молекул в ячейке, определения типа решетки и для последующего индицирования — этого вполне достаточно. На заключительной стадии анализа структуры — при определении координат атомов — размеры ячейки желательно знать с большей точностью (0,005—0,01 А). После индицирования рентгенограмм любого типа, которые могут потребоваться при дальнейшем исследовании, такое более точное определение легко может быть проделано (см. стр. 363, 371). Для этой цели удобен также дифрактометрический метод (см. стр. 379). Прецизионного определения периодов идентичности (точность 0,001—0,0001 А) мы касаться не будем. [c.235]

На рентгенограммах фибриллярных белков часто наблюдаются рефлексы, соответствующие лишь малым межплоскостным расстояниям, а истинный период вдоль оси спирали не проявляется. Так, например, по расстоянию между слоевыми линиями вдоль меридиана можно рассчитать шаг спирали, но нельзя заметить периодичность в 27 А, о которой говорилось выше. Небольшое изменение этой величины не приведет к заметным изменениям дифракционной картины, так как шаг спирали может изменяться при этом слишком мало, чтобы такое изменение удалось заметить по смещению размытых пятен. Рентгенограммы спиральных структур характеризуются специфическим расположением меридиональных и близмеридиональ-ных рефлексов на слоевых линиях, поэтому распознать такие структуры очень легко. [c.247]

Как показано на рис. 1, а, рассеянные лучи будут распространяться вдоль образующих конусов. Если фотографическая пластинка установлена за образцом (от которого наблюдается рассеяние) перпендикулярно падающгму пучку лучей, дифракционные линии будут совпадать с линиями пересечения конусов с фотографической пластинкой. Эги л пии пересечения называются слоевыми линиями, они показаны на рис. 7,6. Если мы залшним фотографическую пластинку полоской пленки, свернутой в виде цилиндра вокруг рассеивающего образца, линии пересечения пленки и конусов будут представлять собой окружности н при разворачивании пленки слоевые линии станут прямыми (рис. 7,е). Зная расстояние между слоевыми линиями, mojkho найти величину d. Если слоевые линии резкие, то это значит, что в линейной после- [c.31]

Рентгенограмма аксиальной текстуры (текстуррентгенограм-ма) принципиально ничем не отличается от рентгенограммы вращения монокристалла. По расстоянию между слоевыми линиями можно вычислить период по оси текстуры [формула (2). ч тр. 100]. Поскольку по оси текстуры обычно, ориенти,розана ось макромолекулы, то, определив величину периода, можно непосредственно определить длину звена макромолекулы. Этот прием очень удобен и часто используется в рентгеноструктурных исследованиях ориентированных образцов полимеров. [c.111]

Таким образом, расстояние между слоевыми линиял1и определяется периодом идентичности кристалла вдоль оси вра-щения. Расстояние между слоевыми линиями зависит от длины волны рентгеновского излучения чем короче длина волны, тем меньше это расстояние. [c.89]

Впервые метод рентгеноструктурного анализа для исследования белков был применен в 1920 г., всего через восемь лет после разработки метода дифракции рентгеновских лучей, Р. Герцогом и В. Янке [252], которые получили текстур-диаграм-мы для фиброина шелка, коллагена и некоторых других фибриллярных белков, волокна которых они ориентировали перпендикулярно пучку рентгеновских лучей. Аналогичные исследования провел в 1923 г. Р. Брилль [ИЗ]. Цель этих работ была попытка выбрать элементарную ячейку белков. Было установлено, что расстояния между слоевыми линиями рентгенограммы фиброина шелка соответствуют периоду приблизительно 7 А вдоль оси волокна. К. Мейер и Г. Марк интерпретировали это расстояние как период идентичности вдоль полностью растянутой транс-полипептидной цепи, расположенной параллельно оси волокна. Таким образом, было сделано первое заключение о возможной протяженности одного аминокислотного остатка, которая должна была быть равной 3,5 А. [c.139]

Размеры элементарной ячейки могут быть определены по текстурдиаграммам методом обратной решетки, развитым Берналем [6] для рентгенограмм вращения монокристаллов. Размеры элементарной ячейки по оси волокна получаются непосредственно из расстояний между слоевыми линиями, но другие размеры и углы должны быть найдены методом проб. [c.142]

Полимер винил-хлорида СНС1=СН2 не обладает каучукоподобными свойствами при комнатной температуре, но пластифицированный полимер имеет широкое распространение в качестве материала для изоляционных оболочек и для других целей в тех случаях, когда желательна гибкость или некоторая упругость восстановление первоначального состояния этого материала после деформации по сравнению с каучуком происходит очень вяло. Марвел [60] показал, что химически мономерные остатки связаны большей частью по схеме голова к хвосту . Таким образом, структура полимера — (— СНС1 — СНг—) . Получены ориентированные волокна, и на рентгенограммах видны довольно диффузные пятна, показывающие, что кристаллические области или очень малы, или очень несовершенны. По расстоянию между слоевыми линиями определен молекулярный [c.178]

В табл. 33 приведены значения и установочного расстояния между слоевой линией и экраном 8 для эквинаклонного метода в зависимости от для камеры Вейссенберга диаметром 2г = 5,73 см с экранами диаметрог г 2г = 5 СМ, [c.98]

Исследователи Эймского университета описывают оксихлорид урана (IV) как желтое веш,ество с перьевидными кристаллами, сотрудниками же Браунского университета цвет этих кристаллов был определен как зеленый. Желтые кристаллы устойчивы на воздухе и растворяются в воде с образованием зеленого раствора. Получены предварительные рентгенографические данные для монокристаллов [105]. Повидимому, они принадлежат к тетрагональной или гексагональной сингонии. Межплоскостные расстояния вдоль оси игольчатых кристаллов равны 3,32 А, как это выведено из расстояний между слоевыми линиями. Расстояния между слоевыми линиями (не отчетливо выраженными) нормально к оси игл составляют около 40 А. Были проведены и некоторые другие предварительные рентгенографические исследования оксихлорида, однако выводов относительно структуры кристаллов пока еще не сделано [106].Для диэлектрической постоянной твердого оксихлорида сообщается значение 2,4 [107]. [c.472]

Измерив на текстуррентгенограмме расстояние между слоевыми линиями, можно рассчитать величину периода вдоль оси текстуры. Если р — период вдоль оси текстуры, 1п — расстояние на пленке между линией с номером п и нулевой слоевой линией, [c.43]

Расстояния между слоевыми линиями на плоской пленке измеряются вдоль меридиана от линии экватора до вершин ги- пербол. / .1 [c.44]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология