Более точное определение дефектов

У11.8. БОЛЕЕ ТОЧНОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ [c.160]

Повреждения целостности (трещины, свищи, раковины) могут быть грубо (и лишь в случаях выхода дефекта на поверхность) определены осмотром. Более точные приемы определения этих дефектов описываются в главе XI применительно к ремонту химической аппаратуры и могут использоваться и для дефектации деталей машин. [c.122]

Контроль вьшолняют на уровне фиксации, который одновременно является уровнем браковки в результате автоматического контроля. Дорогостоящие трубы большого диаметра, отбракованные таким образом, дополнительно контролируют ручным способом для более точного определения допустимости дефекта. [c.442]

Для отстройки от ложных сигналов применительно к сварным соединениям труб с камерами парового котла в ЦНИИТмаш И.Л. Гребенник и др. предложен способ возможно более точного определения местоположения отражателя в сварном соединении. Для этого применяют СОП с искусственными дефектами типа плоскодонного отверстия и зарубки, выделяющие зону непровара, а также надеваемую на экран маску-трафарет с изображением соединения и хода ультразвуковых лучей в нем (рис. 5.21). Несмотря на удовлетворительные результаты испытаний, способ не получил широкого распространения, так как дефектоскописту трудно его применять при массовом контроле. [c.589]

Преобразователь с узким пучком лучей УЗК для контроля участков изделий, расположенных в труднодоступных местах, и более точного определения координат дефекта. [c.178]

При исследованиях в отраженном свете можно полнее и с большей объективностью, чем в проходящем свете, изучить кристаллическую структуру материалов. Это обусловлено тем, что в полированных шлифах просматриваются разрезы кристаллов, располагающиеся лишь в одной плоскости, тогда как в проходящем свете изучается слой материала толщиной до 300 мкм, в котором кристаллы часто накладываются друг на друга, в связи с чем возникают ошибки в определении границ зерен. В отраженном свете весьма отчетливо просматриваются плоскости двойникования, становятся контрастными края кристаллов и дефекты их поверхности и выявляется макроструктура зерен по фигурам травления. При применении косого освещения и проведения исследования в темном поле можно получить и некоторые дополнительные данные о строении отдельных кристаллов и зерен. В отраженном свете более точны и количественные определения содержания отдельных фаз. [c.118]

Контактную поверхность изделия разбивают на области прозвучивания. В каждой области определяют расположение дефектов и глубину их залегания. Во время контроля прямыми искателями устанавливают вид осциллограмм и анализируют их изменение при перемещении искателя в областях прозвучивания (рис. 13), что позволяет приблизительно оценить протяженность дефекта и его тип. Если контактная поверхность достаточно велика, то для определения характера дефекта используют наклонные искатели, посылающие поперечные ультразвуковые волны под определенным углом к поверхности исследуемого изделия. Наблюдение за изменением осциллограмм в зависимости от положения искателей относительно дефекта позволяет более точно определить тип дефекта. Для получения дополнительных [c.25]

При контроле сварных соединений основной способ отстройки от ложных сигналов, связанных с провисом и валиком, - точное определение координат отражателя. Например, точка отражения Р (рис. 2.45, б) лежит за пределами интервала времени, соответствующего поступлению эхосигналов от возможных дефектов сварного соединения. Но это справедливо при контроле прямым лучом, а дефекты, обнаруженные однажды отраженным лучом, можно спутать с отражением от провиса. Более подробно способы выделения ложных сигналов от провисания будут рассмотрены в разд. 5.1.2.1. [c.198]

Реальную площадь компактных дефектов очень приближенно оценивают, деля эквивалентную площадь на коэффициент выявляемости. Для поковок и проката он равен 0,15. .. 0,4, а для сварных швов - 0,01. .. 0,1 (данные В.Е. Белого). Более точно коэффициент может быть определен для конкретных изделий, технологий и материалов путем набора статистических данных по вскрытию реальных дефектов. [c.352]

Более точный способ сравнения дефекта с боковым цилиндрическим отверстием - определение второго центрального нормированного момента [222]. Он предусматривает измерение амплитуд эхосигналов от дефекта и бокового отверстия при перемещении преобразователя с шагом 1 мм и сравнение интегральных значений амплитуд от этих отражателей. Этот способ, однако, трудоемок и редко применяется на практике. [c.361]

Реальную площадь компактных дефектов определяют, деля эквивалентную площадь на коэффициент выявляемости. Для поковок и проката он равен 0,15. .. 0,4, для сварных швов - 0,01. .. 0,1. Более точно этот коэффициент может быть определен для конкретных изделий, технологий и материалов. [c.245]

Оба метода в сущности могут использоваться только для контроля доступных участков трубы. Рентгенография позволяет исследовать большие площади поверхностей за короткое время в реальном масштабе времени. Тем не менее получаемые результаты могут быть разными. Так, серьезные дефекты, выявляемые мануальной рентгенографией, в ряде случаев могут не выглядеть опасными (критическими). Более точно характер коррозионных повреждений при этом может быть определен при помощи денситометрии. [c.53]

Погрешность определения места обрыва жилы кабеля составляет 25 м и зависит от чувствительности гальванометра и точности наблюдений. Место обрыва определяется более точно, если измерения сделать 2—3 раза и взять средний результат. После того как место нарушения изоляции пли обрыва жилы установлено, кабель ремонтируется. Бронированный кабель разрезается там, где обнаружен дефект, броня вскрывается и находятся повреждения изоляции или жилы. Кабели в резиновой оболочке и оплетке не разрезаются у них вскрывается оболочка и находятся повреждения жил или изоляции. [c.137]

Однополупериодное выпрямление бывает необходимо главным образом тогда, когда нужно точно определять время прохождения, например при измерении толщины стенок или при определении местонахождения дефекта, поскольку прн этом получаются (как видно на рис. 10.16) более строго определяемые крутые фронты импульса. При этом полярность, которую целесообразно выбрать (положительная или отрица тельная фаза), зависит от искателя и от типа отражателя. В зависимости от того, является ли отражатель акустически более мягким или более твердым, чем окружающий его материал, изменяется и фаза эхо-сигнала. [c.209]

Такой вид контроля пригоден только для листов, назначение которых не требует более детального исследования определенных мест, Еслп, например, лист является котельным, то при сдаче—приемке целесообразно потребовать точного контроля тех мест, где, в частности, будут ввариваться трубы, и регламентировать максимально допустимый размер дефектов. Аналогичным образом поступают в частности и Федеральные железные дороги ФРГ при приемке листов для поясов железнодорожных мостов, к которым должны привариваться перемычки в положении на ребро. В этих местах ввиду сварки и поперечных нагрузок от перемычек наличие любого дефекта имеет более важное значение, чем в свободной части листа. В руководстве по контролю эти требования должны быть учтены. [c.460]

Метод слабого пучка. Анализ дислокаций и наиболее надежное определение вектора Бюргерса обычно проводится при малых значениях g (т. е. при малых индексах действующих отражений) и малых отклонениях от вульф — брэгговского положения. При малых значениях S, т. е. при действии дифрагированных пучков большой интенсивности (сильные пучки), изображения дислокаций имеют ширину порядка 10 нм, тот же порядок имеет расстояние от области контраста до линии дислокации (или от изображения до точной проекции дислокационной линии). По существу указанные величины ( Ю нм) являются характеристикой разрешения обычного метода дифракционной электронной микроскопии в применении к анализу дислокаций, что более чем на порядок хуже разрешения современных приборов. Можно назвать ряд задач, для которых важно улучшить разрешение метода определение положения дислокаций (например, по отношению к границе зерна) выявление расщепления дислокаций и оценка энергии дефекта упаковки выявление парных дислокаций (при упорядочении) выявление дисперсных выделений на дислокациях. Для решения этих задач успешно используется так называемый метод слабого пучка . При использовании слабых действующих пучков (т. е. при больших s) ширина изображения дислокаций снижается до 1 нм. Метод слабого пучка может быть реализован в микроскопах, позволяющих получить темнопольные изображения высокого разрешения. [c.517]

Иестехиометрические соединения представляют наиболее важную группу тел, имеющих дефекты. По определению нестехиометрические соединения — это твердые тела, в составе которых имеется избыток или недостаток одного из компонентов. В некоторых нестехиометрических соединениях обнаруживаются только очень незначительные отклонения от стехиометри-ческого состава, в других проявляются заметные отклонения, но как в тех, так и в других отношение числа атомов одного компонента к числу атомов другого компонента не соответствует точно отношению их, выражаемому формулой этого соединения. (Не следует думать, что идеально стехиометри-ческие соединения более устойчивы одно из наибольших достижений рентгенографии, особенно важное для химии, заключалось в том, что с помощью этого метода было показано, что соединения идеального состава не представляют собой ничего уникального в смысле кристаллического строения [22].) [c.218]

Интенсивность отраженного света зависит от показателя преломления, а также от гладкости поверхности (см. уравнение 14.3). По этой причине показатель преломления черного стеклянного стандарта должен быть определен точно. Вдобавок, краска на основе связующего с высоким показателем преломления будет иметь более высокое значение зеркального отражения, чем краска иа основе связующего с более низким показателем преломления. В табл. 15.1 приведены показатели преломления некоторых типичных связующих и величины зеркального отражения от совершенно идентичных поверхностей (относительно черного стеклянного стандарта, глянец которого принят за 100 единиц). Человеческий глаз также имеет склонность к большему восприятию блеска, отраженного от поверхности с более высоким показателем преломления (бриллианты отличаются от стекла ), но поверхности, имеющие дефекты, блескомерами могут быть оценены неверно из-за разности показателей преломления. [c.441]

Квалификационная характеристика. Профессия — дефектоскопист по УЗК. Классификация — 5-й разряд. Характеристика работ. Настройка режимов работы по эталонам и тест-образцам особо сложных и точных дефектоскопов и установок автоматического УЗК с дистанционным управлением, УЗК сварных соединений из сталей с крупнокристаллической структурой и деталей сложной конфигурации. Изготовление специальных эталонов, составление эскизов. Обработка результатов контроля. Разработка простых технологических карт УЗК. Настройка чувствительности приборов по АРД-диа-граммам. Изготовление нормальных и призматических искателей. Проведение УЗК раздельно-совмещенными искателями. Контроль и определение координат дефектов сварных соединений сложной конфигурации. Оценка качества сложных сварных соединений и основного металла металлоконструкций и трубопроводов по результатам УЗК в соответствии с требованиями Правил контроля, ОСТов, РТМ, технических условий, методик. Ведение учетной документации по результатам контроля. Руководство звеном дефектоскопистов второго — четвертого разрядов при выполнении работ по УЗК. Выполнение более ответственных работ под руководством более опытных дефектоскопистов. [c.64]

Для облегчения распознавания дефектов следует зачищать неровности шва, а наплывы удалять запиливанием, если это допускается технологией ремонта или изготовления детали. В отдельных случаях для более точного определения характера дефекта проводят металлографические исследования. [c.373]

Возможно испьггание на КТГ образцов с дефектами, отличными от трещин, а также бездефектного материала. Из двух параметров, доступных для регистрации — перемещения частей образца и изгибающего момента, программу нагружения следует задавать по тому, который может бьггь более точно определен из предварительного расчета. [c.468]

Строчные синхроимпульсы распределяются усилителем-распределителем и поступают на умножитель и делитель частоты. Коэффициенты умножения и деления находятся в определенном соотношении и меняются одновременно. После умножения и деления импульсы суммируются и поступают на яркостный канал ЦВКУ. Таким образом на экране формируется масштабная сетка. При ее помощи возможна оценка линейных размеров и площадей дефектов, а также надмолекулярных структурных образований. Точность оценки невысока (погрешность 5—15%), но, как показывает опыт, такой точности вполне достаточно для определения геометрических размеров дефектов при ТНРК. Более точное определение размеров с помощью телевизионных автоматов с выводом данных на цифропечать будет описано ниже. [c.259]

В результате использования тонких слоев чувствительного резиста с целью получения более точного переноса изображения система МСР оказывается более уязвимой по критерию пористости. Для определения числа пор проводят следующие операции. В производстве МДП-транзисторов наносят на проводник плеику 8102 толщиной 35 нм и создают МСР в соответствии с полной технологической схемой, за исключением экспонирования. Диоксид кремния затем травят в местах дефектов мокрым или сухим (плазма Ср4) способом. После этого резист удаляют, а на поверхность 5102 наносят кружки алюминия диаметром 0,8 мм, подавая на них последовательно напряжение 1,5—3,0 В на 1 см. В качестве меры пористости используют отношение общего числа замыканий к общей площади алюминиевых кружков. Этот метод может быть использован для оценки вклада каждой технологической операции в создание пористости. Оказалось, что пористость обусловлена дефектами в слое чувствительного резиста А2, но не дефектами в планаризационном слое ПММА [2]. При использовании оргаиоси-локсанов в качестве промежуточного слоя пористость составила [c.276]

Использование ранних времен наблюдения. Термин "раннее время наблюдения" (early dete tion method) был предложен группой Д. Балажа для определения момента времени, когда температурный сигнал АТ (т) начинает превышать уровень шума (см. также пп. 1.3 и 5.2). Очевидно, что отношение сигнал/шум при этом ниже, чем в момент оптимального наблюдения, но форма скрытых дефектов воспроизводится более точно вследствие слабой объемной диффузии тепла. Кроме того, тепловое сопротивление (толщина) дефектов при ранних временах наблюдения практически не влияет на поверхностную температуру в дефектной зоне, поэтому метод раннего времени наблюдения пригоден для оценки глубины залегания дефектов [35] [c.119]

Ультразвуковой метод более точный, производительный и дает возможность определить наличие дефектов практически на любой глубине. Методы рентгеноконтроля и гамма- и бета-дефектоскопии используют для определения скрытых дефектов в сварных швах аппаратов, подлежащих проверке по правилам Госгортехнадзора. [c.187]

Большинство известных полиамидов является кристаллизующимися полимерами. В связи с этим переход полимера из твердого агрегатного состояния в вязкотекучую жидкость сопровождается значительным изменением физических свойств полимера образуется прозрачная жидкость с плотностью ниже плотпости исходного твердого полимера, рентгенограмма которой характерна для аморфного состояния. Плавление полиамидов не происходит при четко определенной температуре. Наблюдается довольно размытая зона, границы которой можно определить по исчезновению мутности расплава или, более точно, по исчезновению интерференционной окраски, наблюдаемой в поляризационном микроскопе. Размытая температура плавления полиамида обусловливается не полидисперсностью (при небольшом содержании мономера и молекул с короткими цепями), а главным образом наличием двух фаз соотношение (между которыми при плавлении меняется. Важным об стоятельством является также большое число дефектов в кристаллах [c.109]

Для чего же необходимо столь высокое разрешение Известно, что атомные массы элементов (и их изотопов) вследствие дефекта масс имеют нецелочисленные значения. Одно и то же массовое число, например 28, имеют комбинации различных атомов (СО, С2Н4, N2, H2N). Однако точные значения их масс различаются между собой на некоторую, хотя и незначительную величину (табл. 1). На приборах с низкой разрешающей способностью < 1000) ионы приведенного выше состава будут давать один общий пик с т/е 28. На приборах же с более высоким значением i (>3000) будет наблюдаться несколько пиков, каждый из которых соответствует иону с определенной [c.22]

Твердые ионоселективные электроды. В твердых мембранных электродах ионочувствительный элемент изготовляется из малорастворимого кристаллического вещества с ионным характером проводимости. Перенос заряда в таком кристалле происходит за счет дефектов кристаллической рещетки.. Вакансии могут заниматься ионом только определенного размера и заряда, что обусловливает высокую селективность кристаллических мембран. Конструктивно такие электроды сходны со стеклянными в обоих электродах мембрана разделяет исследуемый раствор и раствор сравнения, в котором находится электрод сравнения (обычно хлорсеребряный). Из электродов этого типа щироко применяется фторидный электрод, в котором мембраной является монокристалл ЬаРз, имеющий чисто фторидную проводимость, с добавкой Еир2 для увеличения электрической проводимости. Чувствительность фторидного электрода позволяет проводить измерения равновесной концентрации фторид-ионов Р в широкой области концентраций от 10" до 1 моль/л. В этой области отклонений от уравнения Нернста не наблюдается. Селективность электрода очень высока — даже тысячекратный избыток посторонних ионов (галоге-НИД-, нитрат-, сульфат-ионов и др.) по сравнению с фторид-ионом не мешает определению и только в присутствии ОН-ионов селективность падает (ОН является мешающим ионом). Работа фторидного электрода ухудшается также в присутствии лигандов, образующих с ионом Ьа " прочные координационные соединения в растворе (цитрат-, оксалат-ионы и др.). Вполне понятно также, что с увеличением кислотности среды равновесная концентрация фторид-ионов Р в растворе уменьшается за счет образования молекул НР. Таким образом, показания фторидного электрода в кислой области будут существенно зависеть от pH. В щелочной области на поверхности электрода может образоваться осадок Ьа(ОН)з, что также вызовет искажение показаний электрода. Точные границы pH, в которых показания фторидного электрода от pH зависят несущественно, привести трудно, так как с уменьшением концентрации фторид-иона эта область также уменьшается. Для растворов с концентрацией фторид-иона п-Ю моль/л и более этот интервал охватывает область значений pH примерно от 4...5 до 8...9. [c.201]

Имеется довольно обширная литература, посвященная теплопроводности в гетерогенных средах, появление которой объясняется главным образом технологической важностью применения таких материалов в качестве теплоизоляции. Изоляционные материалы на основе минеральных волокон можно рассматривать как одну из разновидностей композиционных материалов, в которых окружающий воздух играет роль непрерывной матрицы. Вследствие наличия в таких материалах двух фаз — газообразной и твердой— их называют двухфазными материалами. Однако использование такого термина для композиционных материалов, в которых оба компонента находятся в твердом состоянии, оказалось не вполне точным. Само понятие композиционный уже указывает иа присутствие в таком материале более одного компонента и оказывается вполне достаточным для его характеристики. Несмотря па несомненное принципиальное сходство между волокнистыми теплоизоляциоными и композиционными материалами, имеется и существенное различие, оказывающее заметное влияние на свойства, связанные с явлениями переноса в композиционных материалах. В изоляционных материалах непрерывная фаза (воздух или какой-либо другой газ) находится в непосредственном контакте с волокнистым твердым телом. В композиционных материалах конструкционного назначения матрица и армирующий наполнитель приводятся в контакт в процессе формования под действием заданного давления и температуры. Любой дефект, образующийся в процессе формования, например несмачивание части армирующего наполнителя полимерным связующим, присутствие воздушных включений на поверхностях уплотненного волокнистого мата, препятствует равномерному распределению компонентов и в дальнейшем приведет к возникновению сопротивления на границе раздела фаз. Кроме того, очевидно, что в течение определенного периода времени под действием, например, влаги, влияние этих неблагоприятных условий будет увеличиваться. Хотя этот эффект может быть легко обнаружен, поскольку он приводит к ух- пщению механических свойств композиционных материалов, о. зывается, что в литературе отсутствуют какие-либо сведения о его влиянии на тепло- и электропроводность. [c.287]

Итак, Менделеев продолжает искать естественную причину того, почему сложный атом, образовавшийся из п одинаковых простых атомов, не будет весить ровно в п раз больше, чем один простой атом, иначе говоря, почему здесь не соблюдается принцип аддитивности и наблюдаются отклонения от целых чисел, выражающих арифметическую сумму весов исходных составных частей. Эту причину Меиделеев усмотрел в том, что в момент образования сложного элемента из нескольких атомов более простого элемента (как в предыдущем случае из 4Ре), часть весомого вещества претерпевает качественное превращение, переходя в качественно иную форму, причем сам вес, по Менделееву, зависит от особого рода движения материи. Поскольку Менделеев признает при этом, что закон постоянства веса есть лишь частный случай закона постоянства движения (т. е. энергии), то тем самым он признает, что при потере веса в момент образования сложного атома общее количество движения сохраняется и весь процесс сводится к тому, что определенное количество движения одной его формы, проявляющейся как вес , перешло в точио такое же количество движения другой его формы, проявляющейся как химическая энергия или какой-либо другой вид движения. Значит, при разложении сложного атома одного элемента на составляющие его более простые атомы другого элемента должно произойти обратное превращение такого же точно количества движения определенного вида в то движение материи, которое называется весом . Таково объяснение, которое дал Менделеев тому факту, что к атомным весам элементов оказался не применимым механистический принцип аддитивности. Этим, в частности, был дан ответ на вопрос, поставленный Менделеевым в своем дневнике в связи с рассмотрением потери части веса при предполагаемом образовании атома Р1 из 4Ре. Так опровержение механистического принципа аддитивности и поиски естественной причины неаддитивности атомных весов элементов подвели Менделеева к замечательному предвидению не только явления дефекта массы, но и того круга процессов образования более сложных элементов из более простых и разложения первых на вторые, при которых должен иметь место этот дефект массы. Более того, Менделеев подошел к еще более замечательному предвидению того, что при этих процессах должен выделяться определенный вид движения материи (или энергии), возникающий за счет того же самого дефекта массы (т. е. потерянной части веса ). Таким образом, в ходе опровержения гипотезы Праута с ее ложной концепцией а,вдитивности атомных весов Менделеев пришел к предсказанию в общих чертах основных положений и явлений будущей ядерной физики. Самым замечательным при этом было то, что [c.165]

В областях II и III концентрации собственных дефектов изменяются — концентрация Vph увеличивается, а Vs уменьшается. Это явление можно рассматривать как влияние примеси на растворимость в кристалле избытка свинца или избытка серы [30]. Однако существует некоторая неопределенность в вопросе о том, что считать избытком свинца или серы в смешанном кристалле такого рода для ответа на этот вопрос, очевидно, необходимо определить, что под-зазумевается под точно стехиометрическим смешанным кристаллом [31]. "ораздо более определенным является противоположный эффект — влияние собственных дефектов на растворимость примеси. Некоторые особенности такого влияния видны уже из рис. XVI. 1, откуда ясно, что растворимость примесного атома в заряженной форме резко изменяется в точке, где его концентрация становится больше концентрации преобладающих собственных дефектов. Дополнительные сведения дает расчет концентраций дефектов как функции р 2 (или рхг) при постоянной активности примесных атомов. [c.451]

Существенной областью применения ДНК-олигонуклеотидов является дородовая (пренатальная) лиагностика наследственных заболеваний. Более 500 наследственных болезней человека связаны с нарущением какого-то одного гена. В больщинстве случаев эти мутации рецессивны. Это означает, что болезнь развивается, если человек получает дефектные копии гена сразу от обоих родителей Одна из задач современной медицины состоит в том, чтобы выявлять такие аномальные эмбрионы до рождения, информировать об этом мать и дать ей возможность прекратить беременность. Например, для серповидноклеточной анемии известна точная нуклеотидная замена в мутантном гене (последовательность GAG заменена на GTG в пени ДНК. кодирующей Р-пепь гемоглобина) В данном случае синтезируют два олигонуклеотида Один из них соответствует последовательности нормального гена в участке предполагаемых мутаций, другой несет замену, обусловливающую болезнь. В условиях когда эти последовательности достаточно коротки (примерно 20 нуклеотидов) и при температуре гибридизации, при которой стабильность сохраняют лищь точно совпадающие цепи, можно использовать радиоактивные зонды. Тест состоит в том, что из эмбриональных клеток, содержащихся в амниотической жидкости (ее получают в ходе процедуры, называемой амниоцентезом), выделяют ДНК и используют ее для Саузерн-блоттигна с радиоактивными ДНК-зондами. Дефектный эмбрион легко опознается, поскольку его ДНК будет гибридизоваться только с олигонуклеотидом, комплементарным мутантной последовательности ДНК. К сожалению, для больщинства наследственных болезней дефект на уровне ДНК еще не расшифрован, однако круг заболеваний, для которых применяется дородовая диагностика, постоянно расширяется. Это стало возможно благодаря использованию феномена полиморфизма длины рестрикционных фрагментов. В данном случае с помощью гибридизации выявляют наличие или отсутствие определенных сайтов рестрикции, тесно сцепленных с дефектными генами. [c.241]

Призма Николя имеет два недостатка, которые исключают возможность ее применения при точных измерениях 1) луч света, выходящий из поляризатора, при поворачивании послед него описывает, как видно из рие. 66, окружность—дефект еще более значительный, чем у призм Глана (см. рис. 66 и 64) 2) если эта призма используется в качестве анализатора в соединении с поляризующим николем и применяется очень яркий источник света (см. стр. 224), то достигнуть полного погасания всего поля зрения оказывается невозможным (это удается получить только для ограниченной части поля, причем участок затемненного поля смещается при вращении анализатора, располагаясь вокруг истинного положения скрещенных николей). Значение второго недостатка станет яснее после рассмотрения комбинации поляризатор—анализатор (стр. 219 и след.). Согласно Брюа, этот недостаток призм Николя является источником погрешности при определении величины вращения, причем ошибка измерений угла вращения достигает нескольких минут [55]. Если используется яоляризационпый микроскоп, то призмы Николя обусловливают [c.211]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология