Методы обеспечения спектральной избирательности

Методы обеспечения спектральной избирательности [c.36]

Вторая глава содержит описание рентгеноспектрального флуоресцентного анализа, кристалл-дифракционных и бескри-стальных методов обеспечения спектральной избирательности, краткую характеристику выпускаемой промышленностью аппаратуры, ее основных элементов и режимов работы. В этой главе показаны также основные методические приемы, позволяющие обеспечить высокую точность и чувствительность анализа полимерных материалов. Приведен обзор исследований по рентгеноспектральному флуоресцентному анализу химических волокон, целлюлозы, бумаги, пленок, тканей и других полимерных материалов. [c.3]

Коэффициент К зависит от интенсивности h первичных фотонов на поверхности образца, массового коэффициента фотоэлектрического поглощения Тд первичного излучения в определяемом элементе, расстояния R от образца до источника возбуждающего излучения, выхода флуоресценции Wq при возбуждении атома определяемого элемента на -уровень, величины скачка поглощения Sg для (/-уровня, вероятности ргперехода атома, возбужденного на -уровень, с испусканием г-й линии, площади образца 5 и, наконец, от отношения длины первичного рентгеновского излучения Я] к длине волны kf i-й линии вторичного (флуоресцентного) спектра определяемого элемента А с массовой концентрацией Сд. При кристалл-дифракционном методе обеспечения спектральной избирательности коэффициент пропорциональности К зависит еще от коэффициента F, учитывающего общие потери интенсивности флуоресценции из-за конечной апертуры кристалла, поглощения в воздухе, в кристалле и других факторов. [c.18]

Первоначально для выделения аналитической линии использовался лишь кристалл-дифракционный метод 9], основанный на дифракции рентгеновского излучения на кристалле-анализаторе. Достижения в области радиоизотопных источников, специальных маломощных рентгеновских трубок, спектрометрий рентгеновского излучения позволили разработать бескристальные методы обеспечения спектральной избирательности, отли чающиеся существенной аппаратурной простотой. [c.36]

В бескристальном методе 13, 14] обеспечения спектральной избирательности выделение аналитической линии осуществляется путем использования свойства пропорциональности между энергией фотона и амплитудой импульса на выходе сцинтил-ляционных и пропорциональных счетчиков в сочетании с дифференциальным амплитудным дискриминатором, селективными и дифференциальными рентгеновскими фильтрами. Отказ от кристалла-анализатора, возможность приблизить анализируемый образец к источнику возбуждения рентгеновской флуоресценции и к окну детектора позволяют на 5—6 порядков повысить светосилу аппаратуры и вместо мощной рентгеновской установки использовать радиоизотопные источники сравнительно малой активности или специальные рентгеновские трубки малой мощности. [c.41]

Для решения аналитической задачи методом спектрометрии, как и для других спектральных исследований, необходима информация об интенсивности полос спектра в определенных его участках. В аналитических приборах для выделения таких узких полос спектра служат оптические фильтры (светофильтры). Светофильтры должны обладать достаточно высоким коэффициентом пропускания Гмакс излучения требуемой длины волны Лмакс и для обеспечения избирательности аналитического прибора иметь достаточно малую полуширину полосы пропускания и минимальный коэффициент пропускания фонового излучения Гфон- [c.50]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология