Добротность спектрального прибора

Можно показать, что фактор добротности пропорционален mQ, где Q = иН, II — геометрический фактор прибора [45], откуда следует, что прогресс в технике спектрального приборостроения связывается с увеличением значений т и Q. Тем самым оценка спектральных приборов сводится к исследованию зависимости величины произведения геометрического фактора на разрешающую силу от разрешающей силы. Результаты экспериментального анализа этой зависимости для приборов различных классов представлены в работе [46], основные выводы из которой могут быть сформулированы следующим образом многие приборы работают на практике с разрешающей силой, часто существенно ниже теоретической, причем в этом случае произведение Q для данного прибора представляет собой практически постоянную величину. [c.135]

Определенный таким образом фактор добротности может использоваться в числе показателей абсолютной эффективности, скажем, в качестве некоторой балльной оценки [1]. Увеличение фактора добротности при переходе от призменного спектрометра к дифракционному и от. дифракционного к фурье-спектрометру отражает последовательное увеличение информативности методов, хотя темп роста ни с одним из известных масштабов информативности спектральных приборов не согласуется. Более того, предлагаемое сопоставление приборов при условии равенства достигнутого отношения сигнала к шуму вуалирует характер взаимосвязи возможностей прибора со временем измерения каждого спектрального элемента Ai. [c.135]

Сигнал поглощения усиливался с помощью многопроходной зеркальной системы. Использовался лазер с модулятором добротности и средними частотами повторения. Питание фотоэлектронного умножителя с целью уменьшения темпового тока осуществлялось в импульсном режиме. Спектральный прибор должен иметь практическое разрешение порядка 200000, а его чувствительность должна быть аналогична чувствительности, достигаемой ири использовании в качестве первичного источника излучения стандартных ламп с полым катодом. Для такого прибора спектральная плотность падающего излучения первичного источника может оказаться, однако, недостаточно высокой. Благодаря появлению дифракционных решеток с высокой разрешающей способностью и прогрессу в электронном приборостроении данный подход, по-впдимому, обеспечит большие возможности анализа, чем до сих нор. [c.87]

Принцип действия. В приборах с амплитудной модуляцией в каждый, момент времени регистрируется лишь один спектральный интервал. Спектр сканируется, как в обычном спектрометре. Приборы с частотной модуляцией. к рассмотрению которых мы перейдем, сохраняя преимущества СИСАМа в отношении пропускаемого светового потока, регистрируют весь спектр одновременно. Это многократно увеличивает добротность прибора. [c.217]

Очевидно, что лучшим будет прибор, регистрирующий за наименьшее время наибольший участок спектра наименее яркого источника с большим разрешением и большей точностью. Был сделан ряд попыток найти числовую характеристику, которая учитывала бы все главные свойства прибора и позволяла сопоставлять возможности спектральных приборов разного типа, независимо от принципов из устройства. С этой целью Жакино [3.5] предложил использовать величину названную им добротностью [c.93]

Временную развертку спектральной картины технически удобнее осуществлять с помощью достаточно медленного периодического изменения напряженности магнитного поля около ее резонансчо-го значения Яо. При наступлении резонанса система ядерных магнитных моментов поглощает энергию высокочастотного магнитного поля, что приводит к увеличению активного сопротивления катушки индуктивности, т. е. к уменьшению добротности высокочастотного контура. Это вызывает периодическую амплитудную модуляцию высокочастотного напряжения на контуре. Напрял<ение усиливается, детектируется и подается на регистрирующий прибор (обычно катодно-лучевой осциллограф) с временной разверткой, синхронизированной с изменением магнитного поля. Дисперсионный компонент резонансного сигнала вызывает изменение реактивного сопротивления катушки, что ведет к фазовой модуляции, на которую амплитудный детектор не реагирует. Следовательно, регистрирующий прибор выписывает зависимость резонансного поглощения С от напряженности магнитного поля Я. Такая схема регистрации может быть применена только тогда, когда интенсивность сигнала ядерного резонанса заметно превосходит уровень шума применяемого усилителя. Интенсивность резонансного сигнала при прочих равных условиях пропорциональна отношению тг/ть поэтому наилучшее отношение сигнал/шум наблюдается для полимеров, у которых то достаточно велико (для каучуков). [c.218]

Абстрагируясь от класса прибора, принципа его устройства и условий задачи, можно утверждать [17], что в общем случае. лучшим будет прибор, регистрирующий за наименьшее время наибольший участок спектра наименее яркого источника с наибольшим разрешением и отношением сигнала к шуму, В соответствии с этим П, Жакино предложил [2, 3] в качестве обобщенного критерия использовать фактор добротности W, в который вне зависимости от реальных связей параметров и характеристик прибора на равных основаниях входят число регистрируемых спектральных элементов М, разрешающая спла й, время измерений Т и минимальная спектральная плотность яркости излучения источника В а), при которой еще можно осуществлять регистрацию спектра с помощью данного прибора. Согласно этому крите- [c.134]

Для проведения анализа металлов и полупроводников был изготовлен времяпролетный масс-спектрометр с лазерным ионным источником. В качестве масс-спектрометра был использован серийный прибор типа МХ-1303. Испарение и ионизация атомов анализируемого вещества осуществлялось ОКГ, работающим в режиме с модуляцией добротности резонатора. Регистрация масс-спектра осуществлялась вторичным электронным умножителем, осциллографом С1-29. Работа прибора проверялась при анализе спектральных эталонов стали, и было установлено, что чувствительность прибора к данной примеси постоянна. Аналитические характеристики установки оказались следующими нижний предел обнаружения примесей около 5.10 %, воспроизводимость определения не превышагт 10%, разрешающая способность на уровне 10% составляет 180, информационная способность 10 бит. Рис. 6, библ. 4 назв. [c.236]