Построение контрольных карт

Здесь А2,Л 3 и 4 коэффициенты для второго этапа построения контрольных карт, значения которых приведены в [4] в зависимости от уровня значимости <<-. Величина опреде- [c.11]

При построении контрольных карт по оси абсцисс откладывают соответствующие средние значения искомых величин х, х2 на диаграмме правильности, на диаграмме воспроизводимости — квадратичные ошибки Si, S2... или размахи / ь R2. Среднеквадратичную ошибку подсчитывали по формуле [c.294]

Разработка контрольной карты процесса, т. е. установление центральной линии и контрольных пределов, требует некоторого обдумывания и исследования самого процесса. Предположим, что процесс и точки замеров определены четко, приняты в расчет время запаздывания и мертвое время, а также найден подходящий выборочный метод и выборочный интервал. Затем следует проверить, что предположения относительно распределения вероятности наблюдаемой переменной являются оправданными. Тогда нужно исследовать и саму процедуру получения выборки, чтобы точность данных, которые будут использоваться, была известна (и находилась на допустимо низком уровне). Для более тонких проверок необходимы выборки большего объема, однако временной шаг может быть и такой, что выборка будет состоять только из одного показания (скажем, из показания газового хроматографа). Экономичность взятия проб, стоимость вспомогательных материалов, внесения поправок, ремонта оборудования и т. д. тоже важно учитывать при построении контрольных карт, однако эти факторы здесь нами не рассматриваются. [c.107]

Построение контрольной карты Шьихарта производится в два этапа. На первом этапе определяется среднее значение параметра X и размах Рч для отдельного цикла коксования. При этом строится таблица, включающая текущее значение температуры X. по которому находится среднее арифиетическое X и величина размаха R [c.10]

ТАБЛИЦА 4.4. Значения Ла, Оз и Вц для первой стадии построения контрольных карт X н В [c.112]

ТАБЛИЦА 4.5. Значения Ац, Оз, О для второй стадии построения контрольных карт ДГ и [c.114]

Пример 4.1. Построение контрольных карт X и Я [c.116]

Полученные значения Кв и 10,. используют для построения контрольной карты (рис. 8). По горизонтальной оот откладывают порядковые номера измеряемых значений показателя качества, по вертикаль- [c.38]

Здесь А2,Л 3 и Л 4 коэффициенты дай второго этапа построения контрольных карт, значения кото ш приведены в [4] в зависимости от уровня звачиыости. Величина с<. определяется необходимостью сбалансировать малость вероятности ошибки и чувствительность контрольной карты, учитывая связанные с этим затраты. Часто, исходя из этих соображений, значения оС для каадого коэффициента различны и могут быть выбраны методом экспертной оценки. [c.11]

Для оценки правдоподобия приближенного вероятностного равенства разработано несколько критериев согласия проверяемых гипотез относительно вида функций фо(х) иДх). Более подробно о них, о проверке 1шютез, об оценке неизвестных параметров распределений можно узнать из [7-11]. В химической технологии методы проверки статистических гипотез нашли широкое применение при построении контрольных карт химико-технологических процессов (см. 20.4.3). [c.685]

Применение метода проверки статистических гипотез с учетом возможности совершения ошибок 1 и II рода, широко используемого нри построении контрольных карт химико-технологичес1сих ироцессов, рассматривается в 20.3,4, [c.733]

Какие же приемы экспериментального исследования можно применить в подобной ситуации Во-первйх, в распоряжении исследователя имеются средства, позволяющие установить, в какой момент произошло существенное изменение производительности завода. К таким средствам относятся, в частности, методы построения контрольных карт качества и графиков накопленной суммы. [c.308]

Тогда как же начать строить контрольную карту Опыт тех, кто работал с контрольными картами, показывает, что нельзя, начиная построение контрольной карты, предполагать процесс под статистическим контролем. Итак, первый шаг — это вычислить X я Я для небольшого числа исходных выборок и принять уровни значимости а (для ошибки первого рода) для обеих карт (карты X и карты ). Для данного уровня значимости а, основываясь на числе рассмотренных выборок, отбираем соответствующие множители А2, Оз и Хиллиер [7, 23] рассчитал эти множители, а также соответствующие значения для стандартного отклонения (табл. 4.4). [c.111]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология