Изображения искомых величин

Выражение (У.13) является операторным уравнением модели идеального перемешивания (изображением искомого решения исходного уравнения (У.9)). Поскольку величина имеет смысл постоянной времени объекта Т, то уравнение (У.13) можно переписать в следующем виде [c.98]

Принятые обозначения коэффициентов, полученные решения изображающих уравнений и проведенный анализ коэффициентов приводят к следующему общему выражению для изображений искомых переменных величин я, (s), (s) и 3(5) [c.152]

Таким образом, в зависимости от выбранного метода решения дифференциальных уравнений, описывающих динамику элемента или системы, определяется передаточная функция (2.38) или (2.46). При этом следует иметь в виду, что при решении задач с применением методов операционного исчисления зависимые переменные будут функциями комплексной переменной s и только после выполнения обратного преобразования (нахождения оригиналов по их изображениям) можно получить искомые величины в виде функций времени (действительного переменного). Например, для [c.42]

Опытные данные принято представлять в виде таблиц, которые можно разделить на две группы таблицы записи и таблицы изображения. Таблицами записи называют специально разграфленные формы, в которые заносятся непосредственные результаты опытов наблюдений в функции от независимого переменного опыта, а также результаты промежуточных операций расчета при вычислении искомой величины. [c.40]

Для повышения точности измерения в оптических отсчетных устройствах применяется метод двойного изображения. Выигрыш точности достигается за счет исключения одной операции наводки. В обычном отсчетном устройстве для измерения длины (или угла) необходимо делать две наводки на шкалу (лимб) и произвести два отсчета. Разность этих двух отсчетов и дает искомую величину длины (угла). Один из отсчетов может быть нулевым. [c.120]

При измерении изображение штриха основной шкалы в общем случае расположено в стороне от нулевого штриха сетки на величину I. Задачей отсчетного устройства и является определение величины этого интервала, отнесенной к плоскости основной шкалы. Механизмом 3 пластинка 4 наклоняется на такой угол, чтобы изображение штриха основной шкалы вновь совпало с индексом сетки. Величина наклона пластинки, отсчитанная по шкале механизма, определит искомую величину. Обычно деления шкалы этого механизма наносятся в долях интервала основной шкалы. [c.128]

Структурные схемы полного поля рассеивания среднего диаметра резьбовых элементов изделия, изображенные на фиг. 44, построены так же, как и все предыдущие. За исходную величину при построении этих схем принят номинальный размер среднего диаметра резьбы формующего элемента, представляющий искомую величину. Наибольшее и наименьшее значения размеров среднего диаметра формующих элементов получены путем отложения частных величин, составляющих величину допуска среднего диаметра резьбы изделия, от линии номинала. [c.102]

Номограммы — графические изображения функциональной зависимости, позволяющие быстро находить искомую величину по ряду значений других величин см. иапр. стр. 411). [c.19]

Алгебраическое решение этой системы уравнений относительно величин Оп (3) и г/ (5) и введение стандартных обозначений коэффициентов дает искомые выражения изображений скорости и перемещения выходного звена [c.358]

Другой метод состоит в измерении двух напряжений, из которых каждое соответствует примерно 50% интенсивности ионного тока данного пика искомое напряжение получается суммированием двух величин. Даже в том случае, когда выходная щель равна по ширине входной, установить точное положение максимума затруднительно, поскольку наклон в этой области мал. Было показано [184], что распределение интенсивности ионов по входной щели (имеющей ширину около 0,25 мм) неоднородно в масс-спектрометрах с простой фокусировкой и при использовании источников с электронной бомбардировкой возникает уменьшенное изображение области ионизации вблизи входной щели. Это вызывает резкий пик (выброс) в распределении интенсивности по ширине входной щели и приводит к эффекту более узкой виртуальной щели. Дополнительное уменьшение выходной щели обеспечивает получение резко очерченного пика, облегчает установление положения максимума и позволяет увеличить разрешающую способность секторного прибора с радиусом 150 мм примерно в 1000 раз. Более удовлетворительный метод установления положения максимума состоит в графическом изображении производной пика этот метод широко применяется в нашей лаборатории. Так как скорость изменения кривизны больше в максимуме (если выходная щель не шире входной), то положение последнего легче определить, особенно когда величина произвол- [c.55]

Для решения задачи нужно найти вид функции М = 1]5(с ), взять производную и приравнять ее нулю. Из полученного выражения легко найти искомую оптимальную величину диаметра. Можно поступить иначе задавая значения диаметра, строят в системе координат М — с1 кривую, подобную изображенной на рис. 11.11. Минимум на кривой показывает величину диаметра, при которой расходы будут наименьшими. [c.71]

В таком случае каждая точка на рис. 39, удовлетворяющая этому условию, будет представлять возможное собственное состояние для энергии между нулем и для. двух степеней свободы. Общее число таких точек можно найти, начертив круг радиусом 7- с центром в начале координат. Все точки, лежащие в квадранте этого круга, изображенном на рис. 39, удовлетворяют уравнению (51.10), и поэтому искомое число собственных состояний равно числу таких точек. При достаточно большой величине энергии, когда соответствующие квантовые числа и Пу также велики, очевидно, что каждая единица площади на рис. 39 будет содержать в среднем одну точку. [c.397]

Отрезок такой прямой удобнее всего провести и измерить на изображении, где одна из скрещивающихся прямых проецируется в точку, т. е. перпендикулярна соответствующей плоскости проекций (рис. 93, а). Здесь искомое расстояние измеряется величиной t перпендикуляра, опущенного из точечной проекции одной прямой на одноименную проекцию другой. [c.81]

На рис. 96, б показан двугранный угол, образованный плоскими стенками бункера. Так как одна из плоскостей, заданная прямыми и т профильно-проецирующая, то опущенный на нее перпендикуляр оказывается параллельным профильной плоскости, что затрудняет определение угла. Поэтому в данном примере определим непосредственно величину двугранного угла. Для этого требуется провести плоскость 0, перпендикулярную ребру 1-2 этого угла. Для облегчения построения такой плоскости и линий ее пересечения с заданными заменим плоскость проекций Пг плоскостью П4, параллельной ребру 1-2 (см. стр. 62). Получим изображение всей системы на новой плоскости П4, проведем нужную нам плоскость 0 перпендикулярно ребру 1-2. Эта плоскость, естественно, перпендикулярна и плоскости П4, вследствие чего ее легко показать на последней в виде прямой. С проекцией плоскости 0 совпадают одноименные проекции линий пересечения А-3 и А-4. Показав эти линии на горизонтальной проекции, можно приступить к определению искомого угла между ними. Для вращения этого угла до горизонтального положения в данном случае удобно воспользоваться горизонталью 3-4 (см. стр. 73). Радиус вращения ведущей точки А виден при этом в натуральную величину, как отрезок Аа-За- Проделав несложные построения (см. рис. 96, б), получим натуральную величину угла у между заданными плоскостями. [c.86]

Для нахождения произведения 1 D — W) следует поступить так во-первых, установить конец радиуса-вектора у значения параметра I, которым характеризуется выбранный сорт эмульсии в данных условиях проявления (в случае, изображенном на рис. 43, а, I = 2). Так как шкала I пропорциональна tg , где ос— угол радиуса-вектора с осью абсцисс, а проекция радиуса-вектора на ось 0Y представляет в масштабе величину D — W, то искомое произведение /(D — W) графически представится проекцией радиуса-вектора на ось абсцисс. [c.73]

Для предотвращения случайной ошибки в определении искомого параметра рекомендуется осуществлять 3—4 независимых определения I и в качестве истинного значения принимать среднее из этих величин. Например, при обработке данных, следующих из четырех серий независимых измерений, проведенных по кривой рис. 97, нами были получены цифры, приведенные в табл. 20. Среднее значение параметра Р-преобразования I было принято равным 2,4. Сего помощью была вычислена функция I (О—157), спрямляющая ход характеристической кривой в широкой области изменения интенсивности линий. Результаты соответствующих вычислений приведены в табл. 21. Как видно из рис. 99, найденная таким образом Р-преобразованная функция почернения в отличие от изображенной здесь же исходной характеристической кривой в широкой области изменения интенсивности линий действительно линейно зависит от lg I. [c.188]

Из уравнений (18) и (19) следует, что определяет вклад адс в значение второго момента, 8 — вклад внутренней диффузии, 8 — вклад диффузии из газовой фазы частице. Каждое из значений б может быть рассчитано с помощью уравнений (18) — (21) по экспериментально найденным величинам Ц2 при различных скоростях таза-ио-сителя и размерах частиц. Для расчета искомых коэффициентов эксперимент проводился при малых значениях вдела Рейнольдса (<0,2). При этих условиях число Нуссельта 2 Я //-Одв практически не зависит от скорости потока и равно двум [З]. Следовательно, и не зависит от скорости и размера частиц. Тогда 8 , З,-, 8 также не будут зависеть от скорости и левая часть уравнения (18) должна быть линейной относительно 1/1 2. Наклон ее будет равен (1 + о)7 . и она должна отсекать отрезок на оси ординат, равный 8д + 8 + 8 . Как это следует из рис. 3 для пропана, результаты подтверждают эту линейную зависимость так как бо известно, то может быть определен по наклону прямых линий, изображенных на рис. 3. Далее можно построить зависимости между величинами отсекаемых отрезков ( а + 5 + + 5 и и снова получить прямые линии. Наклоны этих линий могут быть использованы для расчета по уравнениям (20) и (21). Значение адс может быть определено из величины отсекаемой ординаты по уравнению (19). Таким образом могут быть найдены все коэффициенты, характеризующие процессы в слое. [c.121]

Далее, по известным графикам изменения уровня во времени 5 ( ) в отдельных расчетных узлах (совпадающих с точками расположения наблюдательных скважин) заранее рассчитываются изображения 81 по формуле (10.17), а затем — отвечающие им потенциалы и . Собственно моделирование заключается в подборе сопротивлений Ri таким образом, чтобы потенциалы в расчетных узловых точках оказались совпадающими с заданными величинами //. Для контроля следует иметь в виду, что, поскольку искомые параметры априорно считаются постоянными в пределах рассматриваемой области, то при однородной разбивке все операторные сопротивления должны оказаться равными (а точнее — близкими) друг другу по величине. Если удовлетворить данное требование не представляется возможным, то это свидетельствует о неправомочности предпосылки о постоянстве искомых параметров. [c.277]

Обозначая величины площадей расхождения, изображенных на рис. П4.5а и рис. П4.56, соответственно 5 и 5 2, а радиус искомой окружности (соответствующей конусу [c.647]

Один из них — метод интегральных преобразований, сущность которого заключается в следующем. Преобразуя, по Лапласу (9.1), (9.2), (9.3), (9.4), получаем зависимости между изображениями искомых величин [c.117]

Получили изображения искомых переменных величин ц (S) в виде суммы несложных дробей с определенными коэ ициентами а , ац, aj , tij,, йцо. й)ц 5/12- Bfts и 5)14 при А. равном 1, 2 и 3. Эти выражения легко поддаются обратному преобразованию по Лапласу с помощью теоремы Коши о вычетах и общей теоремы разложений [12, 17]. Выбранная процедура обратного преобразования по Лапласу аналитически выражается так [c.154]

Зная параметры оптической системы, можно по площади под шлирен-пиком определить разность коэффициентов преломления в ячейке. Для облегчения процедуры определения площади можно использовать специальную калибровочную ячейку (Be kman Instruments In .), дающую на фотопластинке прямоугольное изображение и позволяющую измерять площадь непосредственно на пластинке. Другой способ заключается в применении вещества с известным удельным инкрементом показателя преломления, например сахарозы и ячейки для искусственного образования границы, в которой при достижении определенной скорости вращения растворитель наслаивается на раствор. Площадь под образующимся калибровочным пиком, отвечающая известной разности коэффициентов преломления, может служить для определения искомой величины Пр — По. С другой стороны, при данной величине угла 0 измерение площади под таким стандартным пиком позволяет определить величину F ab в уравнении (III. 3). [c.47]

В режиме, предложенном Каргиным и Соголовой [2], осуществляется кратковременное (импульсное) наложение груза, однако не по идеализированной схеме В, поскольку при нулевой нагрузке на пуансон затруднительно фиксировать начало отсчета. Для приведения пуансона в контакт с поверхностью образца его нагружают сначала небольшим грузом, не вызывающим заметных деформаций, и делают отсчет высоты. Вслед за этим накладывают на пуансон рабочий груз и через определенный период вредгени проводят второй отсчет, затем полностью разгружают. Разность двух отсчетов и дает искомую величину деформации за данный отрезок времени. Время дшжду последовательныд1и издюрепиями обычно не оговаривается. Характер изменения нагрузки в этом случае изображен на схеме (рис. 11.5, случай Г). [c.28]

Измерение вручную. Допустим, что необходимо измерить точное значение массы иона М+. Для этого исследуемое соединение и реперное, обычно перфторирован-ный углеводород, одновременно вводят в масс-спектрометр и в спектре выбирают пик реперного иона К+, ближайшего по массе к иону М+. Пик иона К+ выводят на экран осциллографа и затем путем плавного изменения ускоряющего напряжения в ионном источнике на экран осциллографа выводят пик М+. При чередующемся изображении пиков ионов К+ и М+ ускоряющее напряжение изменяют до тех пор, пока они не совместятся на экране осциллографа. Величина изменения напряжения, которая считывается с панели прибора, непосредственно дает искомое отношение масс. Рассмотренный метод называется методом совмещения пиков. Для получения точного отношения масс при небольшом их различии необходимо работать на масс-спектрометре высокого разрешения. При измерениях вручную для исследования большого количества ионов требуется значительная затрата времени. Присущая этому способу относительная длительность измерения делает, например, невозможным непосредственное исследование компонентов при оазделении смеси га- [c.191]

Так, например, в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра последовательно осуществляются следующие ос- новиые процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов-элементов в плазме и высвечивание характеристичных спектров элементов в) отбор определенной доли све-товотч) потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы или дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции- восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксироваиие) ж) поглощение квантов света фотографическим спектром образца, измерение величин плотности почернения спектральных линий и фона с помощью микрофотометра з) сравнение полученных величин интенсивностей спектральных линий с интенсивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяции искомого содержания элемента в пробе по калибровочному графику. [c.27]

Во всех рассмотренных случаях математическая постановка задачи идентична. Она может быть пояснена с домощью рис. 11, на котором изображен объект (динамический канал) с известной весовой функцией K t), разделяющий искомую и измеряемую величины. В дальнейшем ограничимся рассмотрением линейных объектов. Местом приложения величины x t) обозначено сечение объекта (вход или выход), относительно которого следует знать измеряемую величину x t). В действительности x t) измеряется в другом сечении объекта, отделенном от места приложения x t) указанным динамическим каналом. [c.113]

Для расчетов функции р х, г) [30] сконструирована серия специальных машин. Большинство из них — аналоговые счетные машины, использующие механические, оптические или электрические аналогии. Механическая аналогия применяется в интеграторе Хоппе и Панке [12]. К числу более известных приспособлений относится машина Эллёра [19], построенная по принципу оптической аналогии каждый член суммы (8.13) представляется системой волн, амплитуда колебаний которых пропорциональна F (hOl). Указанная система волн построена таким образом, что в ребре а элементарной ячейки укладывается h длин волн, а в ребре с—I длин волн. На рис. 8.1, а показана волна, соответствующая структурной амплитуде F (203), а на рис. 8.1, б — соответствующее негативное изображение волны. (В машине Эллера негативные изображения волн проецируются на лист фотобумаги). Перемещение изображения относительно начала системы координат позволяет получить величину фазового угла а (hOl), а продолжительность экспозиции пропорциональна величине F hOl) . Тогда на фотобумаге возникает система темных полос, соответствующих гребням волн, которые отвечают одному члену ряда. Суммируя указанным путем все члены ряда на одном и том же листе фотобумаги, мы получаем искомое изображение проекции элементарной ячейки. [c.240]

При качественном анализе проводят относительное измерение длин волн. Положение искомой линии определяют чаще всего сравнением со спектром железа [15]. Отсутствие линии надежно свидетельствует об отсутствии элемента. Уверенный вывод о присутствии данного элемента (ввиду возможного наложения линий) делают при наличии по крайней мере двух линий обнаруживаемого элемента. При количественном анализе измеряемой величиной является почернение фотопластинки, описываемое уравнением (5.2.9). Необходимыми предпосылками количественного определения являются съемка всех спектров при одинаковых условиях и калибровка прибора по пробам известного состава. Особенно часто спектрографический анализ выполняют в полуколичественном варианте. При визуальном сравнении плотности почернений для стандарта и анализируемой пробы можно оценить порядок содержания определяемого элемента (например, 10 , 3-10 , Ю- % или при более тонких градациях 10" 5-10 , 2-10 , 10 %). В полуколичественном анализе охватывается интервал концентраций определяемого элемента в несколько порядков. Несколько более точные измерения плотностей почернения возможны со шкалой стандартных плотностей почернения (зрс1-шкала ) по Аддинку [16, 17]. Эта шкала представляет собой полоску фотобумаги с изображением около десятка расположенных рядом пронумерованных линий с увеличивающимся почернением. Для измерения выбирают те линии 8р(1-шкалы, интенсивность которых совпадает с интенсивностью сравниваемых спектральных линий. Эти линии зрс1-шкалы используют в качестве эталона при калибровке и работе. [c.195]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология