Кристаллы-анализаторы требования

Спектрометр. В спектрометре с горизонтально расположенным кристалл-анализатором счетчик можно вращать вокруг общей оси. Условие отражения выполняется только тогда, когда перпендикуляр к пробе или соответственно перпендикуляр к поверхности кристалл-анализатора делит угол между падающим и отраженным лучами пополам (рис. 5.9). Если угловая скорость вращения счетчика в два раза больше скорости вращения кристалл-анализатора, то это требование выполняется при любом положении кристалла. [c.205]

Рис. 5.3 иллюстрирует также дополнительное геометрическое требование постоянства угла выхода рентгеновского излучения i(j, которое вызвано малыми размерами входного окна спектрометра для рентгеновского сигнала, выходящего из электронно-оптической камеры. Требование полной фокусировки обеспечивается. перемещением кристалла-анализатора по прямой линии от образца с одновременным поворотом кристалла и перемещением детектора по довольно сложной траектории, в результате чего круг фокусировки поворачивается вокруг точечного источника. Интересная особенность такого устройства заключается в том, что расстояние L от кристалла до источника прямо пропорционально длине волны. Это можно показать с помощью рис. 5.3. Запишем [c.193]

Из-за того что легкие элементы имеют очень большие длины волн аналитических линий, число подходящих кристаллов-анализаторов невелико. Так как требования к этим кристаллам уже обсуждались выше (см. 4.9), мы здесь упомянем только большую постоянную решетки, диктуемую большими длинами волн из уравнения (11), минимальные потери интенсивности аналитической линии и малый вклад от отражений высших порядков. Этим требованиям удовлетворяют три следующих кристалла, удобные для работы с легкими элементами (в скобках приведены значе- [c.233]

Из множества кристалл-анализаторов, изготовленных из различных материалов, большинству лабораторий обычно нужны кристаллы из фтористого лития, первичного кислого фосфата аммония (АДП) и кислого фта-лата натрия или калия (КАП). Это хорошо видно из табл. 3, если учесть следующие требования, предъявляемые к кристалл-анализаторам [c.58]

Вывод информации может быть осуществлен как в аналоговом (интенсиметр, самопишущий потенциометр), так и в дискретном виде (индикаторное табло, цифропечатающая машинка, перфоратор, управляющая или вычислительная машина). В приборе возможна и любая комбинация этих способов выдачи информации. Требования предприятий, заключающиеся в наиболее простом и быстром выполнении аналитической работы, ведут к развитию высокоавтоматизированных аппаратов-автоматов. Подбор оптимальных кристалл-анализаторов, получение интенсивных аналитических линий легких элементов, развитие методических вопросов — таковы основные пути и средства для развития промышленного рентгеноспектрального метода анализа. [c.205]

При измерении /т (экваториальная установка) плоскости рассеяния для монохроматора и кристалл-анализатора должны совпадать между собой, а при измерении А (азимутальная установка) они должны быть взаимно перпендикулярны. Этх условия предъявляют определенные требования к аппаратуре. Кинематика аппаратуры должна обеспечивать соответствующие степени свободы для разворота кристалл-анализатора и счетчика (блока монохроматор — счетчик при расположении последнего на дифрагированном пучке) из горизонтальной установки в вертикальную и плавное вращение (колебание) кристалл-анализатора для измерения интегральной интенсивности в обеих его установках (рис. 1). Заметим, что в случае расположения монохроматора на дифрагированном пучке /у и /т могут быть измерены также и без изменения положе- [c.68]

Кристаллы-анализаторы, применяемые в рентгеновской спектроскопии, должны удовлетворять ряду требований. Наиболее важными характеристиками кристаллов являются расстояние между плоскостями, коэффициент отражения для отражений первого порядка, коэффициент отражения для [c.221]

В спектрографе РСД-2 могут быть использованы кристаллодержатели двух конструкций. Основой кристаллодержателя первой конструкции (рис. 37) с изогнутым кристаллом постоянного радиуса кривизны служит стеклянный сегмент, вогнутая цилиндрическая поверхность которого обработана с оптической степенью точности. Радиус цилиндрической поверхности кристаллодержателя — 500 мм. Ориентированная кварцевая пластинка, использованная в спектрографе в качестве анализатора лучей, в согласии с требованиями метода Иогансона, предварительно шлифовалась с обеих сторон по радиусу 1000 мм. [c.94]

К кристаллу-анализатору предъявляются два основных требования он должен обладать высокой светосилой и хорошей разрешающей способностью. Указанные качества в значительной мере зависят от того, в какой области длин волн используется кристалл. Для длинноволновой области (1С<,-линии элементов от хлора до кислорода) используют кристаллы с большим межплоско-стным расстоянием d, а для коротковолновой области — с малым /(0,1-0,15 нм). Разрешающая способность тем выше, чем меньше d. [c.14]

Система с плоским кристаллом состоит из рентгеновской трубки, держателя образцов и спектрометра. Спектрометр в свою очередь состоит из кристалла-анализатора, коллиматора и детектора. Рентгеновскую трубку используют в качестве первичного источника рентгеновского излучения для возбугкдения вторичного (или характеристического) спектра пробы. Анализируемая проба может быть твердой, жидкой или смесью порошков. Если требуется точный анализ, то к пробе предъявляют существенное требование — однородность ее поверхности. Поскольку характеристическое излучение направлено во все стороны, для получения параллельных лучей, падающих на кристалл, применяют коллиматоры. Параллельный пучок рентгеновских лучей диффрагируется кристаллом в соответствии с законом Брэгга [c.210]

В настоящее время стали доступны самые разнообразные кристаллы-анализаторы. В дополнение к рентгепоспектральпому оборудованию компании Iso-Met и Harshaw по требованию поставляют разные кристаллы. В табл. 5 приведен список некоторых таких кристаллов. Многие кристаллы выпускают как плоскими, так и изогнутыми. Данные, приведенные в колонке таблицы Отражательная способность , являются приблизительными и могут служить лишь для грубой ориентации. Отражательная способность зависит от конкретного кристалла и рабочей длины волны. [c.222]