Метрика кристалла

Главная ось симметрии в этих трех сингониях всегда принимается за ось Z, а оси X, У расположены в плоскости, перпендикулярной главной оси. Отрезки по осям X, У здесь одинаковы а = Ъ), поэтому метрика кристаллов средней категории характеризуется отношением с а, которое является материальной константой вещества. [c.44]

Метрика решетки кристалла. На рис. 11 показана ось [c.23]

Для описания метрики этих решеток требуется условиться об общих правилах выбора координатных осей в кристаллах. Имеется довольно много разных формулировок этих правил, но, к сожалению, ни одна из них не охватывает всех случаев в виде единого положения, а включает несколько соподчиненных правил и требует отдельных дополнительных оговорок для определения случаев симметрии. [c.29]

Таблица 2. Координатные системы и метрика решеток кристаллов разных сингоний и типы решеток по Бравэ

Метрика решетки кристалла. На рис. 12 показана ось 2 и проведен некий узловой ряд решетки, образующий с осью угол а. Поворотная симметрия требует су- [c.24]

Как уже отмечалось (гл. II, 3), полное структурное исследование кристалла можно разбить на два принципиально разных этапа. На первом из них решаются проблемы метрики решетки и симметрии кристалла определяются размеры элементарной ячейки (а следовательно, и число формульных единиц, приходящихся на ячейку), точечная и пространственная группа кристалла. Для решения этих задач привлекаются лишь данные о геометрии дифракционной картины — о направлениях дифракционных лучей, симметрии в расположении пятен на рентгенограмме и наличии или отсутствии пятен, отвечаюш их лучам с определенными индексами (правила погасаний). [c.82]

Классификация кристаллов по синго-ниям определяется выбором кристаллографической системы координат, или, иначе говоря, элементарной ячейки кристалла (ее так называемой метрики [c.44]

При описании внешней формы кристалла нас интересуют, собственно, не абсолютные значения осевых единиц, а их отношение а Ь с). Разным сингониям отвечают следующие характеристики (рис. 1.35) кубическая а Ь = с а = = у = 90 тетрагональная а = Ь с а=Р=у = 90° ромбическая а Ф Ф Ь Ф с а=( =у = 60° тригональная а = Ь = с а = = у Ф Ф 90° моноклинная афЬ фс а = у = 0°, (5 Ф 90° триклинная йфЪ фс 1ф Фу Ф 90° гексагональная углы между осями а равны 120°, между осью с и осями а равны 90°. Совокупность углов между осями и отношений осевых единиц называют иногда метрикой данного вида кристаллов. [c.65]

Метрика решетки кристалла. На рис. И показана ось 2 и проведен некий узловой ряд решетки, образующий с осью угол а. Поворотная симметрия требует существования эквивалентного ряда, повернутого относительно первого на 180°. Второй ряд образует с осью такой же угол а, а это означает, что в узловой сетке, построенной на этих двух рядах, должны существовать ряды, перпендикулярные и параллельные оси симметрии. Этот результат — общий для любых осей симметрии, начиная с осей второго порядка. [c.23]

Сингония, а иногда и класс кристалла у всех членов ряда сохраняются, но с переходом к отдельным членам ряда наблюдаются резкие изменения метрики элементарной ячейки. [c.151]

Как справедливо указывал Е. С. Фёдоров, все структуры кристаллов должны быть производными от двух основных типов —кубического и гексагонального. Следует отметить, что часто вещества, причислявшиеся ранее, например, к кубической сингонии, позднее оказывались принадлежащими к тетрагональной или даже ромбической сингонии, поскольку выяснялось, что отношение осей а Ь с слегка отклоняется от 1, т. е. равно не 1 1 1, а например, 1 1 1,001 или 1,005 1 1,001. В других случаях выяснялось, что вещество, причислявшееся на основании метрики элементарной ячейки (т. е. отношения а Ь с и величины углов а, , у) к кубической сингонии, следует отнести к ромбоэдрической, поскольку угол а равен не 90°, [c.234]

Далее, как мы знаем, симметрия кристалла определяется не только метрикой элементарной ячейки и положением центров тяжести частиц, но и их собственной симметрией и ориентировкой. [c.235]

Хлористоводородная кислота, судя ио табл. 1, — электролит умеренно диссоциированный. В высокой степени она диссоциирована только ири очень большом разбавлении. Этот вывод в какой-то мере является неожиданным, так как хлористоводородную кислоту принято считать сильным электролитом, диссоциированным и в концентрированных растворах в высокой степени. Однако представление о высокой степени диссоциации сильных электролитов или о полной нх диссоциации сложилось на основе изучения кристаллов с ионными решетками, в которых не локализуются недиссоциированные молекулы, и разбавленных растворов. Известные до настоящего времени методы не позволяли определять концентрацию ионов в концентрированных растворах с достаточной точностью. Метод метрики химических диаграмм на основе концепции состояния пригоден для исследования химических равновесий как в разбавленных, так и в концентрированных растворах. Полученные этим методом данные являются объективными, так как учитывают все виды взаимодействия в системе. Они и дают истинное представление о степени диссоциации сильных электролитов в концентрированных растворах. [c.34]

Кристаллофизической системой координат называется декартова система координат, условленным образом ориентированная относительно кристаллогра( 1ческой системы, которая связывается с пространственной решеткой кристалла. Кристаллографическая система координат определяется тремя векторами элементарных трансляций и тремя углами между векторами трансляций, которые задают метрику кристалла и являются материальными константами кристаллического вещества / 6 /. Правила выбора координатных систем стандартизованы и приводятся в литературе по кристаллографии / 6, II /. Система координат, в которой квадратная матрица имеет диагональную форму, т.е. отличны от щжя только значения, стоящие на диагонали матрицы, называется главной системой координат тензора. [c.34]

Со(КНз),] ,, 041 ГГп 1 [SUi] ГГп НгО, J l °(NH3)5l [SO4] 1 10,51 10, Л 10,79 10,45 10,02 1 290 ПО 7 314 285 299 ЙВ I 429 Группа Со(КПз)50Н сама по себе не имеет кубической симметрии. Расиоло-женио ОН-групп п кристалле является статистическим. Сохранение кубической метрики при столь разных величинах ионов является наглядным примером влияния слабого силового цоля большого катиона, допускающего вращение ионов в решётке [c.786]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология