Широких линий ЯМР

Метод ЯМР широких линий (ЯМР низкого разрешения) является полезным дополнением к рентгенографии при изучении как монокристаллов и поликристаллических образцов, так и твердых рентгеноаморфных объектов [758, 759]. В отличие от ЯМР высокого разрешения (см разд. 4 1 3) характер спектров ЯМР широких линий определяется прямым диполь-дипольным взаимодействием и существенным образом зависит от относительного расположения в твердом теле атомов, имеющих ядерные магнитные моменты Для изотопов легких ядер Н, Р ширина линии значительно превышает химический сдвиг, т е линии, соответствующие поглощению изотопов, входящих в состав различных химических соединений, накладываются друг на друга Например, для протонов диапазон химических сдвигов составляет около 10 Гц, а ширина линии в твердом теле имеет порядок 10 Гц Спектры ЯМР широких линий этих элементов, как правило, симметричны Обычно регистрируется не сама линия поглощения, а ее первая производная (рис 4.1) [c.398]

Изучение широких линий ЯМР-спектров позволяет также получить информацию о структуре расплава, например, образование пучков параллельных цепей вызывает отклонения от лоренцевой формы сигнала ЯМР. [c.337]

Модуляция постоянного поля аналогична той, которая применяется для спектроскопов ЯМР. Для наблюдения широких линий ЯМР с помощью осциллографа нужны большие амплитуды мо- [c.196]

Следует различать ЯМР высокого разрешения и ЯМР низкого разрешения (второй метод часто называют ЯМР- пектроскопией широких линий). ЯМР высокого разрешения применяется при исследовании жидкостей и в некоторых случаях газов протяженность спектров составляет менее 0,1 % величины приложенного постоянного магнитного поля. ЯМР низкого разрешения применяется при исследовании твердых тел и иногда жидкостей ширина спектров составляет 1—10 % величины приложенного постоянного магнитного поля. ЯМР низкого разрешения дополняет рентгеновскую кристаллографию при определении положения атомов водорода в кристаллах. Кроме того, с его помощью можно обнаруживать возникновение различных типов молекулярных движений [c.50]

Данные хроматографических измерений хорошо согласуются с результатами изучения зависимости ширины линий магнитного резонансного поглощения от количества адсорбированного углеводорода на цеолитах в этих формах [71]. При адсорбции молекул разного электронного строения на натриевом цеолите зависимость ширины линий от химической природы молекул углеводородов не наблюдается. Наличие широких линий ЯМР является признаком жесткой фиксации молекул бензола в решетке цеолитов в кобальтовой и никелевой формах. Существование узких и широких линий протонного поглощения свидетельствует о том, что адсорбированные молекулы на поверхности цеолита находятся в двух различных [c.160]

Порядок присоединения звеньев в цепи. Свойства линейного полимера существенно зависят от порядка присоединения звеньев. У полимеров, полученных из несимметричных винильных мономеров, могут быть два способа присоединения звеньев в цени голова к хвосту и голова к голове . Иногда эти структуры удается различить но величине АЩ широких линий ЯМР блока полимера. Для сополимера три-фторхлорэтилена с винилиденфторидом Любимов с сотрудниками теоретически рассчитали, что внутримолекулярный вклад в АЩ от ядер фтора для структуры I составляет 7,6 и для структуры II—8,6 [c.189]

В спектрах ЯМР, вызываемых релаксацией, были дополнены изучением влияния облучения при дозах до 940 Мрад [34]. Линия, обусловленная наличием аморфной части, уширялась от исходной величины 0,5 до 2 Гс при 20—50 Мрад [34], затем более медленно, приблизительно до 3 Гс при 600 Мрад, что указывало на возрастание ограничений движению даже в аморфной области. Эти изменения в спектрах связаны с перегруппировкой, приводящей к более плотной упаковке цепей. Широкая линия ЯМР-спектра, обусловленная кристаллической частью, протяженностью в 10 Гс, не наблюдалась в этих случаях из-за силового насыщения, однако в дру- [c.272]

Метод широких линий ЯМР был использован Свенсоном [175] для получения изотерм адсорбции для хлопка, искусственного шелка и древесины (ель ситкинская). На кривых зависимости второго момента от содержания воды для всех материалов наблюдался резкий скачок при содержании воды около 0,1%, выше которого кривая уплощается и практически не изменяется при дальнейшем увеличении содержания воды. Графическая зависимость Омакс от содержания воды выше 0,1% является практически линейной. Получаемые кривые аналогичны кривым для крахмала и пектина (см. рис. 8-10). [c.496]

Рис. Г-3. Широкие линии ЯМР протонов в водных растворах Сг(ЫОз)з (АЯманс=0,19 Гс) при различных амплитудах Нт [466].

При изучении термической деструкции поликарбоната проводившейся в вакууме при 500 °С, были сняты спектры ЯМР исходного полимера и остатка после деструкции в широком интервале температур. Сравнение кривых температурной зависимости ширины линий обоих образцов (рис. 147) показывает, что для твердого остатка после деструкции сужение линии в области от —150 до —50 °С, обусловленное вращением СНз-групп, выражено гораздо слабее, чем в исходном полимере. При всех температурах выше чем —100 °С деструкти-рованный образец дает более широкую линию ЯМР сужение линии не происходит вплоть до 210 °С. Изменение кривой ЬН = / (t) показывает, что в полимере резко уменьшается число метильных групп и возрастает жесткость структуры (но-видимому, за счет образования полифенильных структур). Еще нагляднее уменьшение числа СНз-групп в поликарбонате проявляется в изменении формы линии ЯМР при температуре —196 °С. После деструкции исчезает характерная для полимеров с СНз-группами линия с внешними экстремумами [c.290]

Действительно, величина для обычных жидко- j стей равна 10 — 10 Гц. Однако для очень вяз- i них жидкостей значение может понижаться до 10 Гц и менее без кристаллизации, и для такой жидкости при изменении температуры может наблюдаться плавный переход от широких линий ЯМР к узким и наоборот. Проведенные измерения полностью подтвердили теоретические расчеты авторов (Bloembergen, Pur ell, Pound, 1948). [c.14]