Разрешение микроскопа

Разрешение микроскопа зависит от толщины пучка электронов и площади образца, испускающей вторичные электроны. У промышленных приборов разрешение составляет 6—10 нм (60—100 А). [c.111]

Существует три основных метода световая оптическая микроскопия, трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), растровая (или сканирующая) электронная микроскопия (РЭМ или СЭМ). Методы различаются сферами применения, определяемыми разрешением микроскопа. Разрешающая способность микроскопов определяется длиной волны излучения А, показателем преломления среды между образцом и линзой п р и углом приема линзы 6 [c.353]

НИИ размеров кристаллов (с/ 0,3 мк) с помощью оптического микроскопа легко могла быть не замечена более мелкая фракция, лежащая за пределами разрешения микроскопа, что и явилось, по-видимому, причиной завышенных результатов не только для СаРг, но и для ряда других веществ (табл. 4). [c.355]

При исследовании гетерогенных сплавов разрешение микроскопа реализуется, если используют отпечатки с фиксированными частицами исследуемых фаз. [c.258]

Однако указанный метод имеет два существенных ограничения. Во-первых, он не позволяет наблюдать митохондриальные контакты. Поэтому не удается ответить на вопрос, что является объектом наблюдения — одна протяженная митохондрия или множество органелл, состыкованных друг с другом. Во-вторых, подобно любой другой методике, использующей электронный микроскоп, при высоковольтной микроскопии исследователь имеет дело с фиксированным материалом, что не позволяет прямо следить за функционированием митохондрий. Чтобы преодолеть последнее затруднение, было решено временно вернуться к световому микроскопу. Этим методом в принципе можно увидеть митохондрии в живой клетке, но тонкие митохондриальные филаменты и сети часто ускользают от наблюдения из-за низкого разрешения микроскопии в проходящем свете. Такого рода ограничение снимается, если работать не с поглощением, а с эмиссией света. Когда эмиссия достаточно интенсивна, источник света можно увидеть в темноте, даже если его не удается наблюдать как тело, задерживающее свет. [c.203]

Сканирующий электронный микроскоп представляет собой прибор, который в течение последних нескольких лет позволил получить множество прекрасных микрофотографий клеточных поверхностей. Разрешение микроскопа ограничено 200 А, причем [c.84]

Хикмен с сотр. [78] исследовали бериллий, облученный дозой (3,5—5,5) нейтр/см при температурах 450—650 °С. Результаты экспериментов показали, что облучение не привело к изменению размеров образцов и их плотности. Не были также замечены и газовые поры. Исходя из этого, авторы пришли к заключению, что либо весь гелий находится на границах зерен, либо газовые поры имеют размеры менее 30 А (разрешение микроскопа составляло 20—30 А), либо, наконец, гелий внутри зерен находится в твердом растворе. В пользу последнего предположения, по-видимому, говорит и тот факт, что наиболее сильное увеличение твердости наблюдалось именно на этих образцах. [c.34]

Наилучшими слоями в отношении контрастности, зернис-гости, химической устойчивости и устойчивости во время электронной бомбардировки являются, вероятно, слои из чистой латины. Платина сплавляется с вольфрамом, поэтому возникают трудности при ее испарении. Платину лучше испарять не из спирали, как обычно принято, а с /-образной вольфрамовой проволоки, на которую навешивается кусочек платиновой проволоки. Хорошие результаты могут быть получены также при катодном распылении платины в- атмосфере кислорода [58]. При этом на объекте образуются не кристаллики платины, а мельчайшие частицы окиси платины, размеры которых находятся за пределом разрешения микроскопа. Было найдено, что сплав платины с палладием испарять легче, чем одну платину [54]. Если не имеется готового сплава, то на вольфрамовую нить наносят кусочки металлов в соотношении Р1 Рс1 как 3 1 но весу. При нагревании первым плавится палладий, который затем сплавляется с платиной и предотвращает взаимодействие платины с вольфрамом. Слои палладия обладают достаточной рассеивающей способностью, но под действием интенсивного электронного облучения в них протекают процессы грануляции. В начальной стадии развития метода оттенения часто применяли золото, пока не была замечена его тенденция также образовывать зернистую структуру под действием электронного пучка. Эта тенденция может быть ослаблена сплавлением золота с марганцем. Что касается толщины наносимых слоев платины, ее сплава с палладием и урана, то в зависимости от объекта ее варьируют в пределах от 3 до 15 А. [c.84]

В последнее время при помощи электронной микроскопии и дифракции электронов было проведено исследование морфологических и структурных изменений частиц, наблюдаемых при старении ряда золей. Изменения такого рода отмечены для золей иодистого серебра [35, 36], трехокиси вольфрама [37], гидроокисей магния [38] и свинца [39]. В коллоидных частицах сернокислого бария были обнаружены поры размером от 70 А вплоть до предела разрешения микроскопа ( 15 А), появление которых, вероятно, обусловлено удерживанием гид-ратащгопной воды [40]. [c.144]

Предельное разрешение микроскопа после исключения хроматических ошибок и астигматизма определяется сферической аберрацией и дифракционными явлениями. Повышение ускоряющего напряжения до 300 кВ вызывает резкое убывание потерь энергии электронов в объекте. Минимальные потери происходят при =1ч-2 МэВ при этом хроматическая аберрация уменьшается как АЕ1Е. Существенно повысить разрешение микроскопа можно применяя криогенные линзы, позволяющие уменьшить сферическую аберрацию по сравнению с аберрацией обычных объективов, либо корректируя сферическую аберрацию при помощи дополнительных октупольных элементов линз. [c.227]

Еще существеннее проявляются достоинства люминесценции при работе с очень мелкими объектами. Предел разрешения микроскопа 0,2 мкм, и объекты даже с высокой концентрацией вещества, но меньше этого размера не могут быть обнаружены в проходящем свете и видны лишь в темном поле при косом освещении (например, риккет-сии или крупные вирусы). Если эти объекты обладают люминесценцией, то они легко обнаруживаются в люминесцентном микроскопе как светящиеся точки на темном фоне, даже если их размеры меньше" 0,2 мкм, подобно тому как мы видим звезды, хотя угловой размер их много меньше угла, разрешаемого глазом. Если же объект несколько больше 0,2 мкм, то в люминесцентном микроскопе детали его рассматривать гораздо легче, чем в проходящем свете, так как объект расположен на темном несветящемся поле и контраст между полем и объектом гораздо больше, чем в случае мелкой темной точки на светлом поле. К тому же глаз, адаптированный к темноте, острее видит отдельные переходы в яркостях свечения отдельных участков объекта. С другой стороны, темнопольный конденсор или косое освещение, которые также позволяют рассматривать объект в темном поле, ведут к снижению апертуры освещения и, следовательно, к снижению разрешающей способности всей системы, чего не происходит в люминесцентном микроскопе. [c.288]

В последние годы внимание общественности все чаще привлекают сравнительно новые науки — молекулярная биология и клеточная биология, но никто не задумывается о том, что наряду с ними должна бы развиваться и мезобиология, изучающая содержимое клетки между уже знакомыми нам объектами. А нужно-то для этого разрешение микроскопа всего-навсего 10 м (характерный масштаб мезомира) — далеко не рекордное по нынешним временам. Каковы детали ДНК в таких масштабах — вот, пожалуй, главный вопрос, не ответив на который, не достичь исчерпывающего понимания механизмов самовоспроизведения и передачи информации в клетке на уровне спаривания оснований. Пока же наши представления на этот счет остаются фрагментарными. [c.15]

Весьма важным примером фрактальной кривой является траектория броуновской частицы. Ее фрактальность проявляется в том, что, увеличивая разрешение микроскопа и уменьшая время между фиксациями местоположениями броуновской частицы, мы вновь получим подобные друг другу блуждания. График зависимости координаты броуновской частицы от времени (винеровский процесс) является самоаффинной кривой и также нигде не дифференцируется. [c.17]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология