Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Анализ стереографической проекции

    Анализ стереографической проекции [c.408]

    Перечисленные особенности кристаллов разных сингоний служат основой при анализе стереографической проекции. [c.409]

    Формирование габитуса алмазных монокристаллов в значительной мере определяется условиями кристаллизации, а также атомной и зонной структурами алмазной поверхности. При анализе кристаллографического габитуса и характерных морфологических форм монокристаллов используется стереографическая проекция (рис. 58). [c.52]


    Анализ ППФ проводят с помощью стандартных стереографических проекций (сеток Закса). Анализируемую ППФ последовательно накладывают на разные стандартные проекции кристалла той же кристаллической системы, стремясь концентричным вращением ППФ добиться того, чтобы максимумы ППФ совпали с выходами нормалей к тем плоскостям семейства hkl на сетке [c.327]

    Все выделенные на лауэграммах пятна и зональные кривые переносятся на стереографическую проекцию. Далее, на той же проекции отмечаются выходы осей зон, т. е. полюса к дугам большого круга, полученным из зональных кривых. Таким образом, на стереографической проекции имеются точки двух типов выходы нормалей к важным сеткам и выходы важных узловых рядов. Определение сингонии и ориентации кристалла основывается главным образом на анализе их взаимного расположения. [c.408]

    Дальнейшие упрощения возможны, если атомам вблизи поверхности не разрешается релаксация. В этом случае детали кривой сила-расстояние уже не имеют значения в расчет входит лишь единственная величина— энергия связи между ближайшими, последующими ближайшими и т. д. соседями. Соответствующая сумма этих прочностей связи определяется теплотами сублимации, однако их относительные величины находят произвольно. Расчет у(Я) при 0°К сводится, таким образом, к подсчету разрушенных связей для атомов вблизи поверхности. Вычисления значений у( ) при 0° К были выполнены при помощи модели разрушенных связей для изменяющихся параметров силы связи в гцк и оцк кристаллах [18]. На рис. 5, а в стереографической проекции показаны результаты вычислений [18] для гцк решетки, имеющей лишь связи с ближайшими соседями. На рис. 5, б приведен отрезок, перпендикулярный к плоскости (0Т1), и соответствующий профиль равновесной формы. Херринг [13] провел общий анализ, из которого следует, что любая модель разрушенной связи, в которой все [c.110]

    Анализ текстуры — это определение преимущественной ориентации кристаллитов в поликристалличе-ском материале. Термин текстура используется здесь как синоним преимущественной кристаллографической ориентации в поликристаллическом, как правило, однофазном, материале. Для описания преимущественной ориентации обычно производится построение полюсных фигур посредством измерения интенсивности дифракции данного рефлекса (при постоянном значении угла 20) при различных значениях угловой ориентации образца. Затем строится контурная карта интенсивности в зависимости от угловой ориентации образца. Наиболее распространенными способами построения полюсных фигур являются стереографическая и равновеликая проекции. [c.49]


    Анализ текстуры и расширения линий. Малоугловое рассеяние 5.1. Определение текстуры поликристаллических материалов (определения, плотность полюсов и полюсная фигура, экспериментальное определение текстуры рентгеновскими методами, в том числе фотографические методы с неподвижным и движущимся образцом, дифрактометрические методы, техника эксперимента морфологические и другие методы, в том числе оптические методы и косвенные методы интерпретация полюсных фигур и текстурных 1 арт стереографическая проекция, в том числе физический смысл параллелей, меридианов круги отражения, круги отражения для метода Шульца поправки при исследовании текстуры в проходящих и отраженных лучах). 5.2. Размеры частиц и их статистика из пиний Дебая — Шеррера (ширина линии и размер частиц, в том числе определение ширины линии, определение размера частиц, форма кристаллов, методы введения поправок к ширине линии, использование эталонов, поправка на дублет профили линий и статистика размеров частиц, в том числе аналитическое выражение и фурье-преобразование для профиля линии статистика размеров частиц, втом числе средние диаметры, отклонения и дисперсия, доля частиц с заданным интервалом диаметров, объемная статистика, функция распределения по диаметрам, выбор масштаба методы исправления профиля линии, в том числе прямые методы, методы Фурье, детальный анализ факторов расширения линии эффект конечного суммирования). 5.3. Малоугловое рассеяние (порядок величины углов для малоуглового диффузного рассеяния, единичная однородная частица, в том числе общая формула для рассеивающей способности, различные формы частиц сферически симметричная неоднородная частица, группа малой плотности из идентичных беспорядочно ориентированных частиц, в том числе общая формула, частицы различной формы, приближенная формула, закон Гинье, приближение для хвоста кривой, закон Порода эффекты интерференции между частицами для плотных групп идентичных частиц, в том числе формулы Дебая и Фурье группы малой плотности из частиц, имеющих различную форму, в том числе 1фивые Роиса и Шалла, вкспоненциальное приближение, приближение для хвоста кривой общий случай, предельная рассеянная интенсивность при нулевом угле полная энергия, рассеянная при малых углах, поправки на высоту щели у первичного луча, в том числе случай гауссовского распределения интенсивности, поправка для однородного луча с бесконечно высокой щелью, формулы преобразований). [c.324]


Смотреть страницы где упоминается термин Анализ стереографической проекции: [c.470]    [c.293]   
Смотреть главы в:

Рентгеноструктурный анализ Том 1 Издание 2 -> Анализ стереографической проекции




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Проекция



© 2025 chem21.info Реклама на сайте