Рентгенографический анализ текстур

Рентгенографические методы анализа щироко используются для изучения структуры, состава и свойств различных материалов, и в том числе, строительных. Широкому распространению рентгенографического анализа способствовала его объективность, универсальность, быстрота многих его методов, точность и возможность решения разнообразных задач, часто не доступных для других методов исследования. С помощью рентгенографического анализа исследуют качественный и количественный минералогический и фазовый состав материалов (рентгенофазовый анализ) тонкую структуру кристаллических веществ — форму, размер и тип элементарной ячейки, симметрию кристалла. Координаты атомов в пространстве (рентгеноструктурный анализ) степень совершенства кристаллов и наличие в них зональных напряжений размер мозаичных блоков в монокристаллах тип твердых растворов, степень их упорядоченности и границы растворимости размер и ориентировку частиц в дисперсных системах текстуру веществ и состояние поверхностных слоев различных материалов плотность, коэффициент термического расширения, толщину листовых материалов и покрытий внутренние микродефекты в изделиях (дефектоскопия) поведение веществ при низких и высоких температурах и давлениях и т. д. [c.74]

РАЗДЕЛ IV РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ТЕКСТУР [c.169]

Точность определения периодов кристаллической решетки по электронной дифракции по сравнению с рентгеновской дифракцией невелика. Однако преимуществом электронографии является то, что при помощи ее можно получить информацию для кристаллов вещества размером 2—20 нм и их субмикроколичеств. Это же предъявляет высокие требования к чистоте проведения анализа, так как мельчайшие загрязнения на поверхности объекта дают собственную дифракционную картину. Электронографическим анализом решаются те же задачи, что и рентгенографическим анализом определение фазового состава и кристаллической структуры вещества, его текстуры, ориентировок и т. п. Метод электронографии применяют для анализа тонких [c.102]

Rh Г. ц. к. 180 330 По данным рентгенографически исследований Из анализа текстур [758] [c.234]

РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПРЕИМУЩЕСТВЕННЫХ ОРИЕНТИРОВОК (ТЕКСТУР) [c.318]

Рентгенографическим анализом было установлено, что исходная электролитическая фольга текстуры не имеет. Микроструктуру пленок изучали на электронном микроскопе, фазовый состав и текстуру — на электронографе ЭМ-4. [c.63]

Структурный рентгенографический анализ в металлопромышленности может применяться для исследования атомной структуры, текстуры холодно-обработанных металлов, определения остаточных (внутренних) напряжений в отливках и поковках, исследования процесса старения и т. д. Во избежание перестановки трубок и ремонта вакуумной системы желательно иметь не одну, а 2—-3 установки для структурных анализов. [c.38]

С помощью электронографического анализа можно в принципе решать те же задачи, что и рентгенографическим анализом исследование кристаллической структуры, проведение фазового анализа, определение межплоскостных расстояний и периодов решетки, определение текстуры и ориентировки кристаллов и т. д. Однако особенности волновых свойств пучка электронов обусловливают и определенную специфику их использования, а также преимущества и недостатки по сравнению с рентгенографическим методом исследования кристаллов. Преимущество электронограмм заключается прежде всего в том, что в связи с малой длиной волны и сильным взаимодействием электронов с веществом этим методом можно получить резкие и интенсивные рефлексы при меньших размерах кристаллов и-меньшем количестве вещества, чем при рентгенографическом анализе, В рентгенографии, например, расширение линий начинается при р.эзмере частиц 500—900 А, а в электронографии оно становится заметным лишь при размерах 20—30 А. Интенсивность электронного луча гораздо больше, а необходимая экспозиция гораздо меньше, чем рентгеновских лучей, что дает существенные методические преимущества. Интенсивность отражений при дифракции электронов обычно настолько велика, что позволяет визуально на флюоресцирующем экране наблюдать дифракционную картину. Указанные особенности электронографии делают ее особенно ценной, например, при исследовании зародышей новых фаз. Электронография может использоваться также при изучении положений легких атомов в кристаллической решетке, хотя для этого более пригодна нейтронография, [c.105]

По сравнению с низкомолекулярными кристаллами данные рентгенографического анализа кристаллической структуры полимеров относительно скудны. В большинстве случаев полимеры, исследуемые обыч-[10 в растянутом состоянии, ноликристалличны с более или менее выраженной волокнистой текстурой. Лишь в редких случаях (напрнмер, глобулярные белки или а-гуттаперча [18]) удается получить макроскопические монокристаллы. Рефлексы решеток низкой симметрии вследствие очень мелких кристаллитов и искажений решетки в большинстве случаев не резки и малочисленны. Часто, кроме того, встречаются перекрытия различных рефлексов, так что не всегда известна истинная интенсивность рефлексов, которая требуется для определения положе- [c.398]

Таким образом, в направлении полного структурного исследования метод норощка имеет сравнительно ограниченное применение. Зато при рещенин других задач, побочных, с точки зрения классического структурного анализа, этот метод применяется очень широко. К. таким вопросам относятся задачи идентификации и определения фазового состава образцов, выявление кристаллических модификаций, существующих при разных температурах, исследование текстур (преимущественных ориентировок кристаллов в поликристаллическом агрегате), определение размеров кристалликов. Метод порошка применяется также при прецизионных определениях констант решетки высокосимметричных (главным образом, кубических) кристаллов и при рентгенографическом определении коэффициента теплового расширения. [c.431]

Рентгенографические способы исследования позволяют установить наличие преимущественной ориентировки зерен в поликрнсталлическом материале, качественно определить типы текстуры, а также количественно описать статистическое рассеяние ориентировок зерен с помощью количественного анализа распределения дифрагированных лучей в пространстве и построения полюсных фигур. [c.169]