Полюсная фигура

Классификация текстур и их представление с помощью полюсных фигур [c.319]

Рис. 9.16. Типичные полюсные фигуры для пленок из изотактического полипропилена, полученные экструзией с раздувом рукава [72]

Рис. 5. Полюсная фигура базисной плоскости для сплава — 8 % А1 — 1 7о Мо — 1 % V, показывающая явно выраженную текстуру. Интервалы полюсной плотности

Рис. 6.2. Полюсная фигура (0001) наноструктурного Со

Результаты определения ориентации можно представить также в виде полюсных фигур , которые строятся для каждой отражающей плоскости. Этот метод довольно редко применяют при изучении полимеров, но при определении ориентации в металлических структурах он используется как стан- [c.90]

Анализ текстуры — это определение преимущественной ориентации кристаллитов в поликристалличе-ском материале. Термин текстура используется здесь как синоним преимущественной кристаллографической ориентации в поликристаллическом, как правило, однофазном, материале. Для описания преимущественной ориентации обычно производится построение полюсных фигур посредством измерения интенсивности дифракции данного рефлекса (при постоянном значении угла 20) при различных значениях угловой ориентации образца. Затем строится контурная карта интенсивности в зависимости от угловой ориентации образца. Наиболее распространенными способами построения полюсных фигур являются стереографическая и равновеликая проекции. [c.49]

Рентгенограмму текстур можно рассматривать как срез сферы проекций плоскостью по определенному направлению. Построим нормали к граням кристалликов в образце. Точки пересечения этих нормалей со сферой назовем полюсами. Проекции полюсов на экваториальную плоскость сферы образуют полюсную фигуру. Полюсную фигуру строят лишь для граней с одинаковыми индексами. Кольцо нормалей ЬЬ, образованное пересечением конуса ЬОЬ со сферой ее, представляет собой срез полюсной фигуры, характеризующей ориентировку кристалликов. Направим на кристаллик к пучок рентгеновских лучей о. Отраженный луч образует конус аОй с углом при вершине 40. Пересечение этого конуса с плоскостью фотопластинки Ф образует дифракционное кольцо аа, которое является подобным отображением среза ЬЬ. Максимумы на дифракционном кольце (пятна 1, 2, 3, 4) соответствуют максимумам полюсной фигуры. [c.366]

Для описания направлений ориентации кристаллитов можно использовать ориентацию элементарной ячейки. Обратная полюсная фигура дает вероятность нахождения данной ориентации образца в положении, параллельном ориентации кристалла (элементарной ячейки). Получив дифрактометрические данные для нескольких рефлексов, и объединив соответствующие полюсные фигуры, можно построить полную функцию распределения ориентации кристаллитов в однофазном поликристаллическом материале. [c.50]

Полное представление об ориентации кристаллитов можно получить, построив так называемые полюсные фигуры [7, в]. Однако этот метод ввиду его трудоемкости не получил широкого распространения при изучении ориентации полимеров. [c.49]

Ориентация кристаллитов в вытянутых полимерах может быть определена как распределение некоторых кристаллографических направлений по отношению к какому-либо внешнему направлению. Рентгенограммы ориентированных полимеров часто представляют собой дуги, что свидетельствует только о частичной ориентации кристаллитов в том или ином направлении. Правильное понимание типа преимущественной ориентации получают не только из рентгенограмм при перпендикулярном падении пучка рентгеновских лучей на образец, но также и из наклонных рентгенограмм в случае аксиальных текстур. Для более сложных текстур (например, плоскостной) используют и азимутальные повороты. Поэтому в последнее время приходят к выводу, что ориентированное состояние в линейных полимерах лучше всего может быть охарактеризовано при использовании метода полюсных фигур [33, гл. 4]. [c.109]

Одно время изучение ориентации при использовании полюсных фигур тормозилось трудоемкостью этого метода, однако, в настоящее время в связи с промышленным выпуском специализированных автоматических дифрактометров с мини-ЭВМ на выходе рассматриваемые исследования все шире входят в практику рентгеноструктурных исследований. [c.110]

I и // —идеализированные полюсные фигуры в малых и больших углах, в которых ось z перпендикулярна плоскости рисунка, а —вертикальна. [c.184]

Дифрактометр для изучения кристаллических материалов с построением полюсных фигур ТУ 25-05-1482—73 [c.244]

Построение и анализ обратных полюсных фигур [c.329]

Аксиальная (неограниченная или осевая) текстура является простейшим типом и характеризуется тем, что определенные кристаллографические равноценные направления типа <иьт >, называемые осью текстуры, во всех зернах параллельны некоторому внешнему направлению (оси ориентировки). Таким образом, зерна материала с осевой текстурой занимают в пространстве такие ориентировки, которые получались бы вращением одного кристаллита вокруг оси текстуры. Это встречается в тянутой проволоке, электролитических покрытиях, слитках и т.д. Ориентацию зерен в текстурованном поликристалле можно изобразить с помощью прямой полюсной фигуры (ППФ), т.е. гномостереографической проекции определенного семейства плоскостей НЫ во всех зернах поликристалла на выбранную плоскость образца. На рис. 13.1, а, б, оси текстуры параллельна плоскости проекций, а угол оси текстуры с нормалью к отражающим плоскостям составляет р. [c.319]

В настоящее время для построения полюсных фигур (ПФ) применяют дифрактометры, которые позволяют получать количественные ПФ. Если плоский образец находится на [c.324]

Последнее значение в К2 раз меньще координат х и у, при которых высота максимума уменьщается в е раз. Возможно также определить соз по формуле = = ]/г У, где VI — объем п изолированных максимумов, соответствующих определенной ориентировке, а У — объем всей полюсной фигуры. Обе величины нужно измерять в одинаковых произвольных единицах. К сожалению, данный метод требует построения полной ППФ. В табл. 13.1 приведены результаты анализа ППФ текстур прокатки для некоторых материалов. [c.328]

Свободным от указанных недостатков является анализ текстур по обратным полюсным фигурам (ОПФ), [c.329]

Рис. 7-12. Полюсные фигуры для структурно неориевтирован-ных и ориентирован-ных образцов ПУ [7-2]. <р — угол между нормвг лью к плоскости, соответствующей линии (002), и нормалью к плоскости отложения. hv) — относительное изменение интенсивности рентгеновской линии (002) в зависимости от угла if.

Анализ полюсных фигур показал, что ориентировка всех кристалликов а-фазы удовлетворяет двум следую- [c.420]

Построение полюсных фигур с помощью текстурдифрактометра и их анализ [c.324]

Для пленок из синдиотактического Полипропилена типичные полюсные фигуры приведены на рис. 9.18. При увеличении коэффициента раздува быстро развивается ориентация в поперечном направлении. Типичные примеры изменения факторов двухосной кристаллической ориентации приведены на рис. 9.19. [c.208]

Ориентация кристаллических областей, максимальная в поверхностных слоях, близка к одноосной в направлении оси с, совпадающей с направлением течения, что было показано уже в первых работах. В сердцевине ориентация практически отсутствует. Отклонение главной оси от продольного направления (направления течения расплава) составляет несколько градусов. Структурные характеристики подобны таковым для рядных структур. Ву и Уайт [94] с помощью анализа полюсных фигур показали, что ось Ь стремится занять положение в направлении вглубь изделия, а ось а ориентирована между направлением течения и направлением по ширине изделия (поперечным направлением). Типичные для полиэтилена полюсные фигуры и ориентационные треугольники факторов двухосной ориентации показаны на рис. 10.13 и 10.14. [c.230]

Рентгеновские дифрактометры ДРФ-2,0 и ДАРТ-2,0 имеют более узкие области применения. Дифрактометр ДРФ-2,0 предназначен для проведения фазового анализа поликристаллов в условиях заводских и научно-исследовательских лабораторий. Егв целесообразно использовать в тех случаях, когда имеют деде с большим количеством образцов различного состава. Дифракционный спектр в дифрактометре ДРФ-2,0 регистрируется в интервале углов от О до 150° при точности их измерения 0,05° [8]. Рентгеновский дифрактометр ДАРТ-2,0 служит для изучения текстур в металлах, сплавах и других кристаллических веществах [91. С его помощью можно строить полюсные фигуры для фолы, листов и шлифов с высокой точностью и малыми временнйми затратами. [c.133]

Условия по/1учения и обработки поликристаллич. материалов часто обусловливают образование в них кристалло-графич. текстуры, т. е. преимуществ, ориентации в кристаллах кристаллографич. направлений и, следовательно, анизотропии св-в. Получение дифракц. картин от текстурир. образца при разл. углах еГо поворота и наклона по отношению к рентгеновскому лучу дает возможность построить т. наз. полюсную фигуру. Последняя позволяет установить распределение кристаллографич. направлений, определенным образом ориентированных (в т. ч. параллельно) относительно оси ориентировки-характерного для данного объекта направления. [c.243]

Количественные полюсные фигуры строят двумя методами съемкой "на просвет" (метод Деккера I 5 ] ) и "на отражение" (метод Щульца 6,7Л. [c.105]

Методы расчета и построения полюсных фигур из данных нейтроно- и электронографии в принципе такие же, как и при применении рентгеновских лучей. [c.336]

Интенсивность данного рефлекса (/г, к, [) согласно закону Вульфа—Брэггов пропорциональна числу отражающих плоскостей (/г, к, I). Следовательно, полюсная фигура дает вероятность нахождения данного рефлекса в положении нормали к кристаллической плоскости как функции ориентации образца. Если ориентация кристаллитов в образце имеет случайный характер, интенсивность дифракции будет равномерна. [c.49]

В работе Г. В. Курдюмова и Г, Закса определено ориентационное соотношение мартенсита и аустенита. Для решения этой задачи закалке был подвергнут монокристалл аустенита. С закаленного образца были сняты рентгенограммы колебания и по расположению рефлексов а-фазы были построены полюсные фигуры для плоскостей кристалликов мартенсита, спроектированные на плоскость аустенита. [c.420]

Тапример, изучение [58] полюсных фигур для плоскостей (200), (020) и (ПО) слабоориентированного (200%) ПЭ (рис. П. 14) выявило достаточно сложную текстуру, в которой полюсы (200) цилиндрически распределены относительно направления вытяжки под углом 50°, а полюсы (020) концентрируются в плоскости пленки около поперечного направления векторы (110) стремятся сконцентрироваться в плоскости пленки под промежуточным углом между этими двумя направлениями (см. также [59]). [c.110]

Изменение текстуры ни-кельбериллиевых сплавов в зависимости от концентрации легирующего элемента после деформирования прокаткой на 90% (пюкний ряд полюсных фигур) и рекристаллизационного отжига. [c.510]

Первые попытки измерить двухосную ориентацию были предприняты Сиссоном [66], который использовал полюсные фигуры широкоуглового рентгеновского рассеяния для различных целлюлозных пленок. Окаяма с сотр. [67] применяли рефрактометр Аббе для определения двух независимых двулученреломлений в двухосноориентированных целлюлозных пленках. Первые попытки определения показателей двухосной ориентации принадлежат Стейну [68]. Более детальные разработки были осуществлены Каваи [69] и Номурой с сотр. [70], которые дали определение функции распределения трехмерной ориентации (ф, Э) через полиномы Лежандра. Здесь 0 — широтный угол, который дополняет продольный угол ф. Факторы двухосной ориентации были определены из квадратичных выражений функции распределения ориентации. [c.51]

Двухосная ориентация также определяется с помощью двулучепреломлеиия или рентгеновского рассеяния. Измерения двулучепреломлеиия требуют знания как Д 3, так и АП23. Эти величины можно измерить методом оптической задержки с помощью компенсатора или непосредственно определить по главным показа телям преломления пленки, найденным на рефрактометре Аббе [67]. Для измерения ориентации кристаллитов необходимо использовать рассеяние рентгеновских лучей. При этом обычно применяют метод полюсных фигур [66,72,73]. [c.53]

Исследования ориентации кристаллических областей полиэтиленовых пленок продолжаются уже много лет [58-63, 65,66]. Холмс с соавторами [58,59] обнаружили ориентацию оси а в продольном направлении при низких коэффициентах вытяжки. Ось Ь была направлена перпендикулярно поверхности пленки. Более подробные исследования ориентации кристаллических образований в полиэтиленовых рукавных пленках провели Линденмейер и Лустиг [60], которые получили и интерпретировали рентгеновские полюсные фигуры. В последующие годы такие же исследования проводили Деспер [61], Мэддамс и Приди [65], Чой с соавторами [66]. Во всех работах было получено, что ось Ь ориентирована нормально к поверхности, а оси а и с стремятся расположиться в плоскости пленки. При высокой степени вытяжки и низких коэффициентах раздува оси макромолекулярных цепей ориентированы в продольном направлении. При высоких коэффициентах раздува оси цепей ориентируются по касательным к окружности. [c.203]

Полюсные фигуры, полученные для полиэтиленовых рукавнх пленок совпадают у всех названных выше авторов. Как видно на рис. 9.13, перпендикулярная к плоскости [c.203]

Рис. 9.13. Типичные полюсные фигуры в полиэтиленовой пленке, полученной экструзией с раздувом рукава (ЛПЭНП степень вытяжки 8,0/коэффициент раздува 2,5) [36]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология