Предел разрешения и разрешающая способность

Ценность электронного микроскопа заключается в его способности разрешать объекты, которые не разрешаются оптическим микроскопом в видимом или ультрафиолетовом свете. Короткая длина волны электронов, которая уменьшается в прямой зависимости от подаваемого ускоряющего напряжения, позволяет разрешать, т. е. различать как отдельные объекты, отстоящие друг от друга всего на 2А (0,2 нм или 0,0002 мкм) или даже меньше, в то время как предел разрешения световой оптики лежит вблизи 0,2 мкм (он зависит от длины волны используемого света). На практике самые лучшие современные электронные микроскопы просвечивающего типа в самых оптимальных условиях работы (т. е. при при соответствующих вакууме, центрировке линз, ускоряющем напряжении, чистоте прибора, физической стабильности и качестве приготовленного образца) дают разрешение в диапазоне 0,5—1,0 нм. Но биологические образцы имеют вполне определенную толщину реально предел разрешения для срезов достигает около 2,5 нм, а для негативно контрастированных препаратов — около 1,0 нм. Чтобы улучшить разрешение, нужны мастерство и хорошо налаженный прибор. Образцы и поддерживающие пленки-подложки с большой толщиной увели- [c.92]

Меняя напряжение, оказывается возможным менять длину волны и, соответственно, разрешающую способность микроскопов. Если применяются достаточно большие напряжения, необходимо учитывать релятивистские поправки. Таким образом, длины волн лежат в пределах 0,001<А,-<0,10 нм [148]. Различные модификации электронных микроскопов позволяют разрешать детали объектов до 0,1 нм. Прн изучении размеров частиц в дисперсионных средах такое высокое разрешение не требуется, поэтому используются обычно небольшие напряжения. Исследование малых частиц позволяет получить информацию об их внешней форме и структуре. Изображение фотографируется и по нему определяется угол рассеяния электронов 0, связанный с размером чистицы г простым соотношением д = к г. [c.102]

Мак Мюрреи п др [ШЬ] при анализе метилпальмитата на приборе с геометрией Пира—Джонсона (разрешающая способность 10 000 скорость сканирования масс спектра 8 с/декада, электрическая регистрация) измерили массы ионов с точ ностью 3 10 а е м, или 1 10 % Кимбл [72] изучил возможность точного измерения масс при электрической регистрации в реальном масштабе времени Первоначальные исследования осуществлялись на масс спектрометре СЕС 21 110 с разрешением 20 000 [107] При анализе октадекана для шести измерений 16 разных ионов с массами от 43 до 254 получено среднеквадратичное отклонение в пределах <2,5—6,5) 10- 7о Для малоинтенсивных пиков ошибки бы ли гораздо больше При анализе перхлорбутадиена (разреше ние 25 ООО, скорость сканирования 35 с/декада, 9 повторных измерений масс спектра) для 70 % пиков из общего числа 266 с относительной интенсивностью от 2 до 100 % массы ионов в интервале 100—266 были измерены с относительной ошибкой не более 2 10- % [108] [c.60]

Один из участков спектра приведен на рис. 2, иллюстрирующем работу прибора. Как видно из рисунка, спектрометр вполне разрешает линии поглощения, отстоящие друг от друга на 0,5 см . В этом спектре у полосы 38,79 сж" отчетливо видно плечо, расстояние между этими компонентами спектра составляет 0,32 сж [13]. Таким образом, можно заключить, что предельное разрешение прибора составляет 0,3 см . Мы произвели расчет разрешения спектрометра по формуле (6). При этом удельная чувствительность приемника была умножена на величину =40, ибо при записи сигнал превосходил среднеквадратичный шум ие в 2, а в 80 раз. Яркость источника оценена по данным работы [14], пропускание прибора принято равным 10%. Вычисленная величина составляет 0,2 и довольно близка к реальной — расчет спектральной ширины щели дает 0,29 см К Такое разрешение сохраняется-почти по всей рабочей области, и прибор в этом отношении при не худшем отношении сигнал/шум не хтупает приборам сравнимого класса (например, спектрометр Р15-21 фирмы Хитачи ). Поскольку разрешение нашего прибора определялось энергетическими соображениями, использование охлаждаемого приемника с более высокой пороговой чувствительностью позволит еще повысить разрешающую способность прибора, доведя ее до теоретического предела решетки. [c.117]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология