Сканирование скорость

Выше дано определение понятия "сканирование . Скорость сканирования - время, необходимое для регистрации масс-спектра, измеряемое в секундах на декаду масс. Декада масс - это область масс, в которой начальная и конечная массы различаются в 10 раз. Например, если масс-спектрометр имеет скорость сканирования 1 с/декаду, то масс-спектр в диапазоне чисел от 1 до 1000 регистрируется за 3 с (1 с на область т/г 1-10, 1 с на область т/г 10-100 и 1 с на область т/г 100-1000). [c.54]

Сканирование - перемещение преобразователя по поверхности изделия (или изделия относительно преобразователя) с целью проверки УЗ всего материала ОК. Преобразователь перемещают с определенной скоростью скоростью сканирования) вдоль траектории сканирования (рис. 2.69, а). При ручном сканировании скорость перемещения <150 мм/с и ограничивается физиологическими возможностями среднего дефектоскописта. В ведомственных руководствах допустимая скорость сканирования часто снижается до 50. .. 100 мм/с. [c.240]

После уточнения первичных оценок параметров к, п с помощью метода сканирования, примененного в виду малости числа параметров (двух), зависимость (3.270) для скорости зародышеобразования приобрела вид [c.320]

На рис. 1.8 приведена блок-схема алгоритма оптимального расчета колонны с учетом приведенных затрат. Оптимизация осуществлялась методом сканирования с переменным шагом. Метод заключается в последовательном просмотре значений критерия оптимальности в ряде точек, принадлежащих области независимых переменных, и нахождении среди этих точек такой, в которой критерий оптимальности принимает минимальное значение. Этот метод позволяет определить глобальный экстремум функции. При этом задаются диапазоном изменения - скорости пара на полное сечение колонны W и флегмового числа Л - с соответствующим шагом. В процедуре расчета критерия оптимальности на каждом шаге определяется число тарелок и тарелка ввода питания в виде отдельной процедуры проектного расчета колонны. [c.70]

Если спектр вещества записан на определенной скорости сканирования, то необходимо убедиться в его правильности. Для этого идентичный спектр должен быть получен при записи с меньшей скоростью. На практике скорость сканирования обычно выбирается равной отношению расчетной СШЩ к постоянной времени пера самописца. Например, СШЩ равна 5 нм, постоянная времени пера—2 с, отсюда необходимая скорость сканирования 2,5 нм/с или меньше. [c.20]

На рис. 24 слева показан участок скоростного разреза, полученного сканированием первичного материала с шагом 30 м/с и с шагом по вертикали 0,03 с (расстояние между кривыми). Для интервала времени 0,5-0,9 с были рассчитаны три детальных разреза в трех независимых соседних точках с шагом сканирования по скорости 15 м/с и с шагом по вертикали 10 мс (рис. 24, -правая часть). Интерпретация этих [c.89]

Учитывая также сказанное о зависимости интенсивности сигнала ЯМР от скорости сканирования, можно понять необходимость поиска компромиссного решения вопроса о ее соотношении с величиной магнитной индукции (напряженности поля). [c.16]

Составление правил поиска дефектов выбор пути, шага и скорости сканирования. [c.185]

Скорость сканирования V при ручном контроле ограничивается физиологическими возможностями контролера и обычно составляет 0,05. ..0,2 м/с. При автоматическом контроле скорость ограничивается частотой посылок зондирующих импульсов N3 и инерционностью регистратора дефектов, определяемой числом импульсов Л/р, от которого срабатывает регистратор. [c.191]

При контроле вручную оператор перемещает преобразователь по контролируемому изделию со скоростью 1.. .15 м/мин. Большие значения скоростей сканирования соответствуют ОК с гладкими поверхностями. Шаг сканирования составляет 60.. .80% от минимальной протяженности допустимого дефекта. Контуры выявленных дефектов отмечают на поверхности ОК по показаниям дефектоскопа. Для механизации контроля используют установки, обеспечивающие сканирование ОК по заданной программе и запись результатов контроля. Диаграмма записи представляет собой план или развертку ОК в определенном масштабе и позволяет определить размеры, форму и расположение выявленных дефектов. [c.228]

Как отмечено в предыдущем разделе, спектр ПМР имеет второй порядок в том случае, если не выполняется соотношение (4.3) или химически эквивалентные ядра системы магнитно неэквивалентны. При работе со спектрами второго порядка предъявляются повышенные требования к качеству спектра. Все мультиплетные сигналы. следует записывать при сканировании с малой скоростью 0,3—1 Гд/с и с большой разверткой 0,3 -—1 Гц/мм. Особое внимание уделяется определению интенсивностей линий в мульти-плетах, потому что интенсивности наряду со значениями частот учитываются при анализе спектра. Спектры ПМР второго порядка наблюдаются обычно в том случае, если протоны имеют одинаковое ближнее, но различное дальнее окружение (например, для различных конформеров или геометрических изомеров). Нередко для подтверждения правильности расшифровки спектра второго порядка сравнивают экспериментальный и ожидаемый спектры путем сопоставления частот и интенсивностей линий. В рассматриваемых ниже примерах приводятся лишь упрощенные способы анализа спектров двух- и трехспиновых систем типа АВ, АВг и АВХ. Подробное изложение этих вопросов см. в монографиях, указанных в списке литературы. [c.10]

Помимо предела обнаружения к числу главных характеристик хромато-масс-спектромЕтров относятся диапазон массовых чисел (обычно не более 1—2 тыс.), скорость сканирования спектров (на некоторых современных моделях спектр можно записать за несколько десятых долей секунды) и разрешающая способность R, от которой зависит важнейший параметр масс-спектрометра — [c.200]

Следует иметь в виду, что в отличие от других разновидностей масс-спектрометрии, где скорость сканирования спектров не имеет принципиального значения, в хромато-масс-спектрометрии она лимитируется временем выхода компонента из колонки (для капиллярных колонок от 2 до 10 с). Этим обусловлен один из двух дополнительных источников искажений масс-спектров при хромато-масс-снектрометрическом анализе 1) за счет изменения количества вещества, поступающего в источник ионов во время выхода хроматографического пика, и 2) за счет наложения на спектр исследуемого соединения сигналов фона неподвижной фазы, особенно ири высоких рабочих температурах. Для борьбы с этими источниками погрешностей спектров уменьшают время сканирования, используют статистическую обработку нескольких спектров, записанных в разных точках хроматографического пика, и работают, по возможности, с максимально термостабильными неподвижными фазами, из которых наиболее перспективны силиконовые эластомеры, либо, при анализе низкокипящих веществ, неорганические или полимерные сорбенты. Статистическая обработка нескольких спектров одного и того же соединения представляет собой несложный, но крайне эффективный прием, с помощью которого легко выявляются сигналы фона и примесей других веществ. Критерием их обнаружения служит плохая воспроизводимость относительных интенсивностей соответствующих им пиков масс-спектра. [c.205]

Если спектр вещества записан на определенной скорости сканирования, то необходимо убедиться в его правильности. Для этого идентичный спектр должен быть получен при записи с меньшей скоростью. На практике скорость сканирования обычно выбирается равной отношению расчетной СШЩ к постоянной времени пера самописца. На- [c.22]

Для контроля качества металла изделий небольших размеров, изготовленных из стали толщиной до 25 мм и алюминиевых сплавов толщиной до 150 мм, применяют установку ИМ-1-114, в которой источником излучения является рентгеновский аппарат РУП-150-300-10. Производительность установки 3 м ч. Способ сканирования — построчный. Чувствительность к обнаружению дефектов составляет 0,5—1,0%. Результаты контроля регистрируются самописцем. В качестве детектора служит сцинтилляционный счетчик. Сцинтилляционные детекторы при толщине изделия менее 200 мм обеспечивают чувствительность по стали до 0,2— 0,5%. Высокая чувствительность радиометрического метода контроля привлекает внимание конструкторов механизированных установок. Созданы и испытаны образцы установок, обеспечивающих визуализацию дефектов. Разработан опытно-промышленный образец гамма-дефектоскопической установки для контроля сварных швов с толщиной стенки 16—52 мм. Однако без снятого усиления шва чувствительность установки составляет 6—13%, скорость контроля — до 13 м/ч. [c.250]

И. м. проводят в статич. и динамич. режиме. В первом случае при малой плотности тока анализируют практически без разрушения реальную пов-сть твердого тела (распыление одного слоя происходит за неск. ч). Во втором случае проводят послойный анализ с относительно высокой скоростью катодного распыления (единицы-десятки нм/с). При этом осуществляют сканирование первичного пучка по большой площади и напуск реакционноспособного газа для получения плоского кратера. [c.260]

В разд. 9.4 были описаны масс-спектрометры различных типов. Ограничимся характеристикой особенностей, относящихся к газовой хромато-масс-спектрометрии, таких, как чувствительность, линейный динамический диапазон, разрешение, диапазон масс и скорость сканирования. Скорость сканирования масс-спектрометра—это время, необходимое для сканирования одного порядка на шкале масс (например, от т/г 50 до 500). В газовой хромато-масс-спектрометрии с капиллярными колонками благодаря небольшой ширине пика необходима высокая скорость сканирования (< 1 с/порядок), чтобы получить по крайней мере 3-5 спектров для пика в режиме полного сканирования. Ограниченный диапазон масс некоторых масс-анализаторов не является проблемой, поскольку молекулярная масса соединений, поддающихся газохроматографическому разделению, обычно меньше 600. Различные типы масс-спектрометров значительно различаются разрешающей способностью. Разрешение Д —мера способности масс-спектрометра разрешать два пика иона с различными т/г, она определяется как К = т/Ат. Способность масс-спектрометра разрешать два пика с различающимися на единицу массами называется единичным массовым разрешением. С едичичным массовым разрешением обычно работают квадрупольные приборы. Приборы же с двойной фокусировкой достигают высокого массового разрешения (Д > 10 ООО). Это важно, поскольку из точной массы иона фрагмента часто можно непосредственно получить элементный состав. Для разделения ионов С5Н11О2 и 4HllN20 (табл. 14.2-1) с Дт = 0,01123 требуется разрешение по крайней мере К = 9172. [c.603]

В частично автоматизированных рентгеноскопических системах покрышка автоматически перемещается в зону осмотра и устанавливается на манипуляторе при этом продолжительность цикла сканирования, скорость вращения и продолжительность осмотра регулируются оператором. Устройством такого типа является установка Монсанто Инфлейтид Систем , или ЗЙД-А1, у которой продолжительность цикла загрузки — выгрузки составляет 9 с, а продолжительность полного осмотра (от борта до борта) легковой покрышки — от 30 до 40 с. [c.173]

Исследована структура осадков песка с размером частиц около 600 мкм методом оптического сканирования микрошлифов [187]. Осадки получены на обычном фильтре диаметром 90 мм и на фильтре с поршнем диаметром 75 мм в качестве жидкой фазы использована эпоксидная смола с вязкостью 1,4 Н-с-м- . В опытах на обычном фильтре осадки образованы путем фильтрования при постоянной скорости под давлением сжатого воздуха и путем седиментации. В экспериментах на фильтре с поршнем осадок образован двумя способами разделением суспензии песка в эпоксидной смоле под вакуумо.ч с последующим механическим сжатием осадка поршнем (влажный осадок) сжатием поршнем сухих частиц песка с последующим фильтрованием смолы через осадок (сухой осадок). По окончании опытов через осадок фильтровалось вещество, полимери-зующее смолу, твердые осадки разрезались алмазной пилой в продольном и поперечном направлениях, шлифовались алмазной пастой и шлифы исследовались. Установлена разница в структуре осадков, полученных при обычном фильтровании, седиментации и на фильтре с поршнем. Отмечено, что влажный осадок, полученный на фильтре с поршнем, существенно отличается по своей структуре от осадка, полученного на обычном фильтре при одинаковой разности давлений. Возможность использования результатов опытов на фильтре с поршнем для практических расчетов поставлена под сомнение. Значение приведенного исследования состоит в том, что в опытах на обычном фильтре и на фильтре с поршнем было устранено влияние многих искажающих факторов, поскольку изучался по существу чисто гидродинамический процесс с использованием достаточно крупных частиц округлой формы. [c.182]

В качестве первой исследуемой системы выбирались раствор и кристаллы алюмоаммонийных квасцов. Система уравнений, описывающая движение, рост кристалла совместно с явлениями тепло-и массообмена (следствие из системы (1.58)), решалась для двух значений температур (вариант I—7 i=--293K варпант II—7 j= = 295 К при Сц=126 кг/м в обоих вариантах) при различных начальных значениях масс кристаллов (0,5—1,2 мг). Неизвестными являлись кинетический коэффициент е и параметр Ua в (1.251). Неизвестные параметры определялись из сопоставления экспериментальных и расчетных данных по скорости осаждения, методом сканирования в достаточно широком диапазоне значений. Для всех вариантов величины параметров (е = 43,8 см/с f7<.= 13 250 Дж/ /моль) совпали (относительная ошибка менее 8%). Одинаковые величины объясняются независимостью параметров е и от массы кристаллов. Коэффициент B vd, где < - 10 см, v s[10 — [c.80]

По методу [58] ПО мл топлива окисляют в стеклянном стакане с обратным холодильником (прибор ГОСТ 20449—75) этапами по 6 ч (всего 24 ч). После каждого этапа определяют оптическую плотность топлива (прибор ФЭК-М) и снимают его спектр в инфракрасной области на приборе UR-20 в кюветах с толщиной слоя топлива < = 0,4 мм при следующих условиях скорость сканирования 160 см /мин, щелевая программа 4, призма Na l и LiF. По окончании испытания (через 24 ч) анализируют топливо по тем же показателям, определяя дополнительно и другие (содержание смолы, кислотность и т. д. можно все эти показатели определять и по мере окисления топлива по этапам). Примерные кинетические кривые окисления очищенных топлив и ИК-спектры окисленного топлива показаны на рис. 30. [c.92]

B.W. Aud, отмечает, что скоростные разрезы, получаемые на ЭВМ при широком использовании функций сглаживания как по времени, так и по скорости, при сканировании с шагом в 30 или 60 м/с являются удобными при обычной интерпретации материалов ОГТ, но не пригодны для вьтолнения детального анализа изменения скорости по разрезу. Сканирование же с меньшим шагом и ограниченное использование смешивания позволяют повысить разрешающую способность определения скоростей, [c.88]

Сканирование по времени с шагом 30, 40 или даже 50 м/с часто не позволяет определять время первых вступлений с достаточной точностью, необходимой для правильного расчета глубин. Тем не менее, почти во всех случаях от этого недостатка удавалось избавиться тем или иным способом, поскольку большинство программ обработки позволяет варьировать входные параметры в широких пределах и повышать разрешающую способность определений скорости, необходимой для установления литологии, прогнозировавия и оцевки зон АВПД. [c.88]

В промышленности весьма перспективно применение КМУП для изготовления высокопроизводительных ткацких машин с увеличенным сроком службы и относительно бесшумной работой, медицинской и другой аппаратуры для прецизионных измерений, в том числе больших зеркал для радиоастрономии (точность геометрических размеров панелей до 10 мкм), фотокамер для скоростной съемки, электрического инструмента для лесопиления, узлов сканирования компьютерных томогра [)ов [9-8], валков для бумажной промышленности, деталей высокой жесткости робототехники, инвалидных колясок, подшипников скольжения с низкой скоростью изнашивания. [c.509]

Скорость движения преобразователя по поверхности плиты принимаем 100 мм/с. За 1 с будет проверен участок поверхности 100X5=500 мм =5-10 м . Время сканирования двух плит 2/5-10- = 4000 ся 1,1 ч. [c.217]

Если неч особых оговорок, предполагается, что спектры получены при комнатных температурах в чистых жидкостях на приборах с рабочей частотой 60 МГц. Приводятся полные спектрограммы, т. е. за пределами воспроизведенной шкалы сигналов нет. В противном случае сигналы, находящиеся в очень слабых или очень сильных полях, выписаны на спектро1 раммах отдельно с указанием их сдвигов. Слабые и сложные сигналы, структура которых существенна для истолкования спектра, зарегистрированы повторно над основной спектрограммой с большим усилением и малой скоростью сканирования. Очень слабые сигналы, площадь которых явно не находится в простом целочисленном [c.102]

Спектр поглощения снимать при самых малых скоростях сканирования, так как спектр состоит из узких, близко расположенных друг к другу спектральных линий. Скорость сканирования и скорость регистрации задается преподавателем. Отградуировать шкалу прибора по волновым числам, для чего снять спектр полистирола и построить график v = f(n) (см. с. 57). Если же шкала прибора или бланк, на которых снимается спектр, градуированы, то проверить шкалу по спектру полистирола. При отклонениях показаний И1калы от волновых чисел полос поглощения полистирола ввести поп 5авку. Эта поправка может быть постоянной для всей шкалы. [c.67]

Ультразвуковые исследования проводили приборами ДСК-1 и УСИП-10В фирмы Крауткремер в контактном и иммерсионном вариантах.Особенности структуры металла оценивали путем определения коэффициента затухания ультразвуковых колебаний по общепринятой методике или путем наблюдения изменения амплитуды сигнала поперечных или продольных УЗК в различных зонах сварного соединения при сканировании вдоль или поперек щва. Одновременно измеряли скорость распространения продольных УЗК погрешность измерения составляла около 1 %. Результаты определения коэффициента затухания б УЗК, скорости с их распространения и содержания ферритной а-фазы в основном металле и металле шва нержавеющих сталей при /=2 МГц приведены в табл. 12. Из табл. 12 видно, что коэффициент б в основном металле исследованных сталей отличается незначительно и составляет [c.97]

Смотреть страницы где упоминается термин Сканирование скорость: [c.101] [c.102] [c.57] [c.229] [c.80] [c.57] [c.86] [c.88] [c.153] [c.112] [c.15] [c.15] [c.271] [c.22] [c.351] [c.35] [c.479] [c.86] [c.394] [c.319] [c.425]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.52 , c.244 , c.256 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.52 , c.244 , c.256 ]

Введение в моделирование химико технологических процессов Издание 2 (1982) -- [ c.0 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология