Интерпретация электронограмм

Для интерпретации электронограмм мы использовали рефлексы парафина, с помощью которых рассчитывалась величина D (где D — расстояние от образца до пластинки) и А, — длина волны ( D X = 39,7). В таблице представлены результаты расчетов одной из электронограмм. [c.16]

Интерпретация электронограмм эфиров целлюлозы [c.47]

На основании интерпретации электронограмм целлюлозы и ее эфиров можно однозначно сказать, что целлюлоза и ее производные (а также некоторые другие высокополимерные вещества, как то натуральный каучук, же- [c.50]

Из указанной интерпретации электронограмм следует, что при небольших различиях параметров действительно имеется тенденция приспособления первого слоя осадка к структуре подложки. Более того, этот процесс может сопровождаться индуцированием роста полиморфной модификации (при кристаллизации у — Fe на Си и Pd) с другой стороны, однозначно доказано, что при больших различиях параметров и в толстых слоях псевдоморфизм не имеет места. [c.216]

Одним из экспериментальных методов, занявших ведущее место в высокотемпературной химии, является масс-спектрометрия. Масс-спектрометрический метод позволяет определять наиболее важную характеристику газовой фазы, а именно, массы молекул, присутствующих в газовой фазе. Расчет термодинамических функций, интерпретация электронограмм и спектров невозможны без знания молекулярных весов компонентов и развитие этих областей высокотемпературной химии неразрывно связано с масс-спектрометрией. Точно такая же картина возникает, если обратиться к вопросам химической кинетики с участием газовой фазы, будь то гомогенные или гетерогенные реакции. При исследовании новых неизвестных ранее реакций прежде всего возникают вопросы молекулярного состава промежуточных и конечных газообразных продуктов. [c.298]

Для интерпретации электронограмм вводится понятие об обратной решетке. Используя обратную решетку, можно не только легко индицировать отдельные рефлексы, но и оценить влияние формы и размера кристаллитов, степени дефектности решетки и т. д. на характер дифракционной картины рассеяния электронов. [c.235]

Электронография как метод изучения структуры кристаллов имеет след, особенности 1) взаимод. в-ва с электронами намного сильнее, чем с рентгеновскими лучами, поэтому дифракция происходит в тонких слоях в-ва толщиной 1-100 нм, 2) /з зависит от атомного номера слабее, чем /р, что позволяет проще определять положение легких атомов в присут. тяжелых 3) благодаря тому что длина волны обычно используемых быстрых электронов с энергией 50-100 кэВ составляет ок. 5-10 им, геом. интерпретация электронограмм существенно проще. Структурная электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода текстур (глинистые минералы, пленки полупроводников и т. п.). Дифракция электронов низких энергий (10-300 эВ, X 0,1-0,4 нм)-эффективный метод исследования пов-стей кристаллов расположения атомов, характера их тепловых колебаний и т. д. Электронная микроскопия восстанавливает изображение объекта по дифракц. картине и позволяет изучать структуру кристаллов с разрешением 0,2-0,5 нм. [c.99]

Длина связи С — F в молекуле F4 определялась рядом исследователей методом дифракции электронов. Впервые такое исследование было проведено Брокуэем [100], который получил значение Гс-р = 1,36+0,02 А. В дальнейшем Гофман и Ливингстон [2094] и Боуэн [877] вновь провели электронографическое исследование структуры F4, используя визуальный способ интерпретации электронограмм, и получили существенно меньшие значения Гс-р, равные 1,317+ 0,015 А [2094] и 1,337+0,022 А [877]. Близкое значение (гс--р= = 1,33 А) было получено Олкоком и Херстом [497] при изучении нейтронной дифракции в твердом четырехфтористом углероде. Брокуэй с сотрудниками [957, 428, 3986] провели наиболее тщательное электронографическое исследование структуры F4, применив сек-торно-микрофотометрическую методику. Полученное в работах [957, 428, 3986] значение Гс-р = 1,322+0,005 А рекомендовано в справочнике [3916] и использовано в настоящем Справочнике для вычисления моментов инерции F4. [c.495]

Методы, применяемые при интерпретации электронограмм, -и использование их для определения конфигурации молекул, углов валентности и междуатомных расстояний достаточно освещены в этой книге достаточно разъяснены также принципы, лежащие в основе этих методов. Действительинр расчеты, [c.168]

Ошибочность выводов Финча и Кворелла относительно образования псевдоморфных окисных пленок на 2 п, и М показана Шишаковым с сотрудниками [56]. Авторы обращают внимание, что в обоих случаях на электронограммах, приведенных в работах Финча и Кворелла, отсутствуют очень сильные отражения, которые должны принадлежать псевдоморфным структурам три-гональной окиси магния, напрймер (110), (300), и гексагональной окиси цинка (100), (ПО), (200), (300). Рассмотрев все возможные погрешности, авторы приходят к выводу, что приведенные меж плоскостные расстояния в случае М содержат систематическую ошибку ( 6%) вследствие неправильного измерения длины волны. Новая интерпретация электронограммы при учете, что часть наблюдаемых рефлексов принадлежит магнию, позволяет сделать вывод о существовании нормальной 222 [c.222]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология