Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Измерения прямые однократные

Рис. 13. Рассчитанные (прямая) и-измеренные (точки) сечения ионизации углеводородов при однократном электронном ударе 131]., Рис. 13. Рассчитанные (прямая) и-измеренные (точки) <a href="/info/40444">сечения ионизации</a> углеводородов при однократном электронном ударе 131].,

    Оценка точности прямого однократного измерения [c.38]

Рис. 3.8. К измерению координат дефекта при контроле прямым (а) и однократно отраженным (б) лучами Рис. 3.8. К <a href="/info/1565965">измерению координат дефекта</a> при контроле прямым (а) и однократно отраженным (б) лучами
    Задача измерений — определить значения физических величин. Точно решить эту задачу нельзя из-за неизбежных погрешностей измерений. Теорией ошибок разработаны способы получения приближенных значений измеряемых величин и способы оценки точности получаемых результатов. Способ обработки опытных данных оказывается зависящим от характера измерений, которые могут быть прямыми и косвенными, однократными и многократными. [c.38]

    К косвенным измерениям обращаются, когда прямые измерения искомой величины / неосуществимы или затруднены. Косвенное измерение сводится к измерению независимых величин А, В, С,. .. связанных с искомой величиной функционал ьной зависимостью Н = f А, В С,. . . ). При этом величины А, В, С,. .. могут быть из мерены как однократно, так и многократно. Если X У, Z,. .. — результаты измерения величин А, В, С,. .. а Ах, Ау, А г — абсолютные погрешности этих резуль татов (Дх = X — А, Ау = — В, Д = 2 — С,. . . то = 1 А,В,С,. . . )=fiX-Ax. У-Ау, г А,,..) [c.44]

Рис. 3.9. Измерение координат дефекта при контроле цилиндрических изделий прямым лучом (а) и полых цилиндрических изделий однократно отраженным лучом (б) Рис. 3.9. <a href="/info/1565965">Измерение координат дефекта</a> при контроле цилиндрических изделий прямым лучом (а) и полых цилиндрических изделий однократно отраженным лучом (б)
    Результат каждого прямого измерения может включать случайную ошибку, которая зависит от большого числа случайных факторов. Если отклонения, вызываемые этими факторами, по абсолютной величине значительно меньше чувствительности прибора, то они не обнаруживаются при многократных измерениях одной и той же величины результаты получаются одинаковые, хотя ошибка и не равна нулю. В этом случае (как и при однократных измерениях) критерием точности является цена наименьшего деления шкалы прибора или десятые доли наименьшего деления. Если же отклонения, вызванные случайными факторами, сравнимы по абсолютной величине с чувствительностью прибора, то они обнаруживаются приборами и при п измерениях одной и той н<е величины получаются результаты х , х ,...х , которые могут отличаться друг от друга в пределах точности данных измерений. [c.25]


    Выполняемые однократно технические измерения не позволяют по данным эксперимента разделить случайные и систематические погрешности, поэтому точность измерений оценивают, как правило, только границей суммарной погрешности средства измерений, для чего используют нормативные данные этих средств, к которым относят пределы допускаемых основной и всех дополнительных погрешностей, а также характеристики нормальных условий и допускаемые отклонения всех влияющих величин от нормальных значений. В частности, для щитовых электроизмерительных приборов, манометров и других средств измерений, у которых случайная составляющая погрешности существенно меньше систематической, используют следующие способы оценки точности результата измерений. При прямых измерениях в нормальных условиях она определяется пределом абсолютной основной погрешности прибора Ап.о.пр и вычисляется через его класс точности. [c.54]

    Однако только в редких случаях этот закон можно использовать без дополнительных предположений для расчета концентрации с из измерений оптической плотности D. В простейшем случае коэффициент экстинкции е выбранной полосы определяют при однократном измерении эталонного образца с фиксированными значениями с и d. Повышение точности достигается путем экспериментального определения связи между D я с, для чего используют ряд эталонных систем, в которых варьируется лишь концентрация анализируемого компонента. При выполнении закона Ламберта — Бера связь между Du выражается калибровочной прямой, проходящей через начало координат и имеющей наклон ed. Условия, при которых это соотношение выполняется, следующие 1) незначительная спектральная ширина щели 2) отсутствие межмолекулярных взаимодействий, меняющихся с измене- [c.21]

    Для практического использования в контроле технологического процесса [7-10] и количественных измерений глицирризиновой кислоты предложено использовать хромато-снектрофотометрню. Отработана методика, пригодная для анализа глицирризиновой кислоты и флавоноидов в сырье, причем бьшо показано что полнота извлечения достигается однократной экстракцией сырья 50% спиртом при кипении в соотношении 1 100. Полученное извлечение используют для ТСХ- и ВЭЖХ-анализа глицирризиновой кислоты и для прямого спектрофотометрирования флавоноидов. [c.141]

    Методом введения небольших добавок и измерением потенциала после добавления каждой порции удается определять малые количества некоторых ионов с более высокой точностью, чем путем однократного прямого измерения. Значения потенциалов и концентраций наносят на ординаты специальной графической бумаги (полуантилогарифмической) и получают график Грана [45]. Полученную прямую экстраполируют к горизонтальной оси (потенциал, равный бесконечности), а концентрация, соответ-ствуюшая точке пересечения, и есть искомая концентрация определяемого иона. Зелиг [46] приводит пример микроопределения фторид-ионов. [c.280]

    При прямых (непосредственных) измерениях числовое значение измеряемой величины (х) сразу получается из показании прибора, при номош,и которого выполняется данное измерение, нанример, значение оптической плотности или светопропускания. Результат каждого прямого измерения может включать ошибку, которая зависит от большого числа случайных факторов. Если отклонения, вызываемые этими факторами, по абсолютной величине значительно меньше чувствительности регистрируюш,его прибора, то они не обнаруживаются нри многократных измерениях одной и той же величины результаты получаются одинаковые, хотя ошибка и не равна нулю. В этом случае, как и при однократных измерениях, критерием точности является цена наименьшего деления шкалы прибора или десятые доли наименьшего деления. Если же отклонения, вызванные случайными факторами, сравнимы по абсолютной величине с чувствительностью прибора, то их обнаруживают приборами, и при измерениях одной и той же величины получаются результаты (х , х. ,. . . , . .. х ), которые могут отличаться друг от друга в пределах точности данных измерений. [c.225]

    Измерительные элементы однократного отражения (рис. XII.7) имеют полусферическую (полуцилиндрическую) или призматическую форму. Элементы многократного отражения выполняются в виде прямых или изогнутых цилиндрических стержней, плоских пластин или конических стержней. Последние позволяют повысить чувствительность и расширить диапазон измерения. Достоинством изогнутых элементов является возхможность измерения погружным способом. Их недостаток — необходимость эмпирической калибровки, так как теоретический расчет в изогнутом световоде затруднен. [c.225]

    УЗТ осуществляют путем однократных измерений эхоимпульсным методом с записью фиксируемых толщин в память прибора и последующей обработкой на ЭВМ. Толщину стенок измеряют дискретно по окружности каждого элемента (не менее четырех измерений в отдельных точках) ФА и КГ. В случае отсутствия прямого доступа к устью обсадной колонной головки допускается проводить замер толщин в резьбовой части головки через пьедестал. В местах, где толщина стенки элементов ФА и КГ изменяется более чем на 10 % от максимально зафиксированной, измерения выполняют с шагом не более 3 мм (на заранее подготовленной площадке размером 30x30 мм ). За результат измерения принимается минимальное показание прибора. [c.230]

    Для измерения выожих скоростей движения частиц и > 300 м/с сдвиг частоты можно измерить прямым методом, например, интерферометром Фабри-Пфо, так как при больших скоростях сдвиг частоты может соответствовать оптическсмму диапазону. Системы с интерферометром Фабри-Перо можно использовать для непрерывного слежения за мгновенной скоростью. Но устройства такого типа слишком дороги и громоздки. Во всех схемах анемометров спектральная мощность сигнала имеет вид узкой полосы конечнш ширины в районе доплеровской частоты Центральная частота соответствует постоянной скорости потока. Для пульсирующего потока доплеровский сигнал оказывается частотно-модулированным, где модуляция соответствует пульсирующей составляющей или. вернее, скорости индивидуальной частицы / = и/Г, а несущая частота связана со средней скоростью [21]. Для определения концентрации частиц в предположении однократного рассеяния могут быть также полезны методы корреляционного и спектрального анализа, так как корреляционная функция и энергетический спектр пропорщисиальны концентрации одинаковых частиц. [c.46]



Смотреть страницы где упоминается термин Измерения прямые однократные: [c.48]    [c.141]    [c.454]    [c.271]    [c.27]   
Лабораторный курс гидравлики, насосов и гидропередач (1974) -- [ c.3 , c.40 , c.182 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Прямые измерения



© 2025 chem21.info Реклама на сайте