Полуширина спектральных линий

Рис. 5. К объяснению полуширины спектральной линии.

Наиболее надежные табличные данные но длинам волн, энергетическим уровням, вероятностям переходов, полуширинам спектральных линий и их смещениям [c.598]

Стабильность показывает, насколько постоянным во времени остается магнитное поле спектрометра, поскольку от этого показателя зависит постоянство (воспроизводимость) положений отдельных сигналов в спектре. Для определения стабильности записывают спектр какого-либо соединения, дающего узкие линии, через некоторые промежутки времени и находят смещение этих линий. Стабильность приобретает особо важное значение при использовании накопителя сигналов, когда в течение нескольких часов дрейф поля или частоты прибора должен быть значительно меньше полуширины спектральной линии. [c.40]

Для экспериментального изучения процессов диффузии в широкой окрестности критических точек расслаивания были использованы методика и установка, описанные в гп. II. 6, метод спектроскопии оптического смешения. Значения В определялись по полуширине спектральной линии рассеяния, по анализу спектров смешения. Та же установка позволяла измерить суммарную интенсивность излучения, зависящую от величины (д/1/дС ), и тем самым на основе (1У.1.3) проводить изучение подвижности в /30/. В результате исследований систем нитробензол-гептан, нитробензол-декан и метиловый спирт-гептан /92, 93/ было выяснено, что показатель степени в (1У.1.9) лежит в пределах 0,63 + 0,04, а для 1д/1 /вс ) и имеют место соотношения [c.57]

Лу, - полуширина спектральной линии. [c.561]

Для достижения желаемого эффекта развязки в рассмотренных выше экспериментах необходимо использовать поля В-1 с относительно большой амплитудой. При слабых полях В2 (порядка величины, определяемой соотношением В2 А, где А — полуширина спектральной линии) наблюдаются другие эффекты. Облучение полем 62 на частоте какого-то определенного [c.311]

Допплеровская полуширина спектральной линии Допплеровское смещение Допплеровское уширение дочерние продукты дрейф дуга [c.598]

Полуширина спектральной линии много меньше полуширины аппаратной функции иначе говоря, можно считать, что Е (х) = О во всем спектральном диапазоне за исключением очень узкого спектрального участка 2Ах в районе х = Хо, в пределах которого функция А (х — Xi) меняется очень мало. Тогда [c.37]

Полуширина спектральной линии много больше полуширины аппаратной функции. Полагая что А (х — Xj) О только в пределах (Xj — Ах) <<х -<(Xj + Ах) и учитывая в (5.5), получим [c.37]

Полуширина спектральных линий. При рассмотрении инструментального контура спектрального прибора мы полагали, что его щель освещена монохроматическим излучением. В действительности всякая линия занимает некоторый более или менее широкий интервал длин волн. Спектральное распределение энергии в пределах этого интервала задается функцией [c.18]

Важная характеристика С. в р-рах полимеров — уширение спектральной линии рассеянного света, обусловленное тем, что флуктуации концентрации непрерывно рассасываются (релаксируют) вследствие диффузионного движения макромолекул. Флуктуации распространяются в сплошной среде со скоростью звука в виде волн сжатия и разрежения (гиперзвук) и создают периодич. структуру, на к-рой происходит С. с частотой со, отличной от частоты Шц падающего света. Полуширина спектральной линии рассеяния Г обратна времени релаксации флуктуаций и связана с коэфф. поступательной диффузии молекул D [c.193]

Наблюдаемая полуширина спектральных линий тиофена нри комнатной температуре позволяет провести измерение частоты спектральных линий с точностью от 0,02 до 0,05 мгц. [c.26]

Это означает, что Э( )фективная ширина спектра флюктуаций уровня и фазы волны, прошедшей через случайные неоднородности газовой среды ячейки радиоспектроскопа, определяется учетверенной полушириной спектральной линии. [c.34]

При определении фотографической полуширины спектральных линий и, в частности, в методе количественного анализа, осно- [c.107]

Полуширина спектральной линии (т. е. разность энергий, при которой интенсивность излучения понижается до половинного значения), очевидно, равна 2Х. Значение X зависит как от v, представляющей собой классическую часто гу колебаний по координате S в рассматриваемом состоянии, так и от /, являющейся мерой прозрачности барьера между областями I и III. [c.390]

Численная оценка величин (АЕ), фактически берется из экспериментальных данных. Значения, приведенные в монографиях (например, [106]), следует считать ориентировочными. Так как из измерений на двухкристальном спектрометре (см. ниже) непосредственно определяется полуширина спектральной линии, то лучше обратиться к этим данным. Итак, согласно [106], величины АХ для Ка линии монотонно падают от 1,60 X для Са до 0,153 X для АХ для Ьа — от 4,5 X для Ag до 0,88 X для 1). Новые и более точные данные, хотя и для ограниченного числа линий, приведены в табл. 10 в связи с анализом результатов, полученных на двухкристальном спектрометре. [c.235]

Таблица 10. [ Экспериментальные рентгеновские данные по естественной полуширине спектральных линий (в X ед.), полученные измерениями

Поступательная температура частиц плазмы может быть измерена путем определения допплеровской полуширины спектральных линий, излучаемых атомами и молекулами системы. Однако основой этого метода является предположение о максвелловском распределении излучающих частиц по скоростям (см. стр. 399). Проверку этого предположения практически невозможно выполнить. При давлениях 1 атм и выше это предположение, по-видимому, вполне реально, но в этих условиях допплеровское уширение линий, как правило, существенно меньше ударного или штарковского. При пониженном давлении можно ожидать отклонений функции распределения скоростей излучающих частиц от максвелловской. Но, вероятно, они не должны быть значительными вследствие того, что для поступательных степеней свободы максвелловское распределение устанавливается очень быстро [3] (после одного-двух соударений). [c.406]

Интегральная интенсивность позволяет получить модули упругости ku, тогда как полуширина спектральной линии дает Usa- Поэтому на основе анализа данных рассеяния света в соответствующей геометрии можно получить коэффициенты вяЗ кости. [c.177]

Полуширина спектральной линии или полосы означает ширину соответствующего спектрального интервала, измеренную от точки с одной [c.652]

Однако в противоположность УФС естественная ширина линий обычных источников рентгеновских лучей РФС довольно значительна и играет большую роль в определении полуширины экспфиментально наблюдаемых спектральных линий [27]. В РФС обычно используют рентгеновский дублет 011 2, а это рентгеновское излучение образуется в том случае, когда электроны падают из оболочек Ьц и Ьщ (спин-орбитальное расщепление 2р-атомных уровней) в дырку оболочки К (1.5-атомный уровень). Естественная ширина линий, связанная либо с переходом Ь,1 -> К, либо с переходом Ьщ К, составляет 0,7 эВ для рентгеновского излучения А1 в этом случае дублеты перекрываются, приводя к эффективной ширине 1,0 эВ. Магниевое рентгеновское излучение Хо(1а2 состоит из дублета шириной 0,8 эВ. Источники рентгеновских лучей с большими энергиями (например, Сг, Си или Мо) характеризуются шириной дублетной компоненты, превьппающей 1,0 эВ. Таким образом, эффективный предел ширины линий РФС устанавливается естественной шириной источника рентгеновского излучения, несколько модифицированной естественной шириной, связанной с уровнем, с которого происходит фотоионизация. Некоторые вклады обусловлены также недостатками приборов. При изучении твердых веществ экспфиментально наблюдаемая полуширина спектральных линий РФС для пиков С15, N5 , Рзр, 82 и подобных им составляет 1,5 эВ. Эксперименты РФС с газообразными веществами дают значительно более узкие линии. Например, полуширина линии Ые для газообразного неона составляет 0,8 эВ [27]. Разница в полуширине линий для газообраз- [c.335]

Как указывалось ранее, естественная гиирина линии в спектрах ЯМР обратно пропорциональна времени спин-спи-новой и спин-решеточной релаксации. У твердых тел время спин-спиновой релаксации очень мало, поэтому их спектры ЯМР состоят из широких линий ( 10 Гц), и потому мало пригодны для исследования органических соединений, у которых расстояние между спектральными линиями может составлять всего лишь несколько герц. В невязких жидкостях и газах и Tj имеют порядок нескольких секунд, что соответствует естественной ширине спектральной линии, равной десятым долям герца. И в этом случае решающим фактором, определяющим наблюдаемую форму спектральной кривой (в частности, ее полуширину), может стать разрешающая способность (разрешение) прибора. Например, если прибор с рабочей частотой 80 МГц имеет разрешение 5 10 , то это значит, что полуширина спектральных линий, полученных с помощью этого спектрометра, не будет меньше 0,4 Гц(8 10 X 5 10 ). [c.33]

Для пламен светильный газ—воздух и ацетилен—воздух изучена зависимость логарифма интенсивности от логарифма концентрации щелочного элемента [401]. Угол наклона градуировочных графиков согласуется с теоретически рассчитанным, зависящим от абсорбционного параметра а а равно отношению лоренцовской и допплеровской полуширин спектральных линий). Отмечено, что в воздушно-пропа-новом пламени влияние калия и кальция на определение натрия соответствует уровню случайных ошибок измерений [1133]. [c.114]

Пргшечания Т—температура Дуд—допплеровская полуширина спектральной линии Ау/ — лорентцевская полуширина спектральной линии Р — давление уши- [c.880]

Уширение спектральной линии вызывается различными факторами. В пламенах наиболее важными являются уширение вследствие теплового движения атомов (допплеровское уширение) и уширение вследствие соударений возбужденных атомов с другими частицами (лорентцовское уширение). Величины ло-рентцовского и допплеровского уширений характеризуются полушириной линии, т. е. расстоянием между точками на контуре линии, в которых интенсивность линии равна половине максимальной. С ростом концентрации атомов в источнике возбуждения интенсивность излучения достигает максимума, равного интенсивности излучения черного тела лишь в центре линии и дальнейший рост интенсивности излучения возможен за счет периферических частей линии ( крыльев ). В целом поглощение света в источнике возбуждения и интенсивность его излучения определяются параметром а, равным отношению лорентцовской полуширины спектральной линии Аю , к допплеровской полуширине Дсоо [c.67]

На фиг. 5.1 — 5.4 приведены также графики п(со) и 1д(со). Рассмотрение этих графиков приводит к ряду выводов, некоторые из которых очевидны. Так, например, для полуширины спектральной линии б, гораздо боль-птей, чем ширина основания аппаратной фуикции Лд (со) [c.73]

В тех случаях, когда надежное измерение полуширины спектральной линии (при п = 2) затруднительно из-за искажающего влияния слабых спутников Ка-линий (так называемых сателлитов) или по каким-либо другим причинам, у может быть вычислена на основании измерения ширины Л1ШИИ на л ю б о 1 ее высоте и последующего пересчета по формуле [c.12]

Сплошная кривая — фотометрическая кривая, пунктирная — та же кривая пооле пересчета от почернений к истинным интенсивностям Оо — истинная полуширина спектральной линии. [c.57]

Измеряемая полуширина спектральных линий при работе со спектрографами с изогнутым кристаллом в общем случае должна отличаться от естественной ширины и в большей или меньшей мере зависеть от геометрических условий фокусировки лучей в приборе. Эта величина, естественно, должна быть определяема в тех же условиях, в которых в дальнейшем предполагается проводить анализ. Элементарная теория фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе с изогнутым кристаллом, работающим по схеме на отражение , показывает, что величина расширения спектральных линий, возникающая из-за несовершенства фокусировки лучей в таком приборе, пропорциональна котангенсу угла отражения лучей от атомных плоскостей изогнутого кристалла. Поэтому, если естественные ширины спектральных линий группы анализируемых элементов мало отличаются друг от друга и составляют относительно небольшую часть измеренной на опыте величины Г, то можно ожидать, что Г для группы последовательно расположенных друг за другом аналитических линий элементов будет также линейным образом зависеть от величины котангенса угла отражения. Как видно из рассмотрения графика, представленного на рис. 93, именно такая зависимость обнаруживается при сопоставлении величин Г для Ы,- и Рх-линий редкоземельных элементов. Это очень облегчает установление величины Г, так как позволяёт вычислять ее для линий любого из элементов рассматриваемой группы при помощи графика, построенного на основании немногих измеренных величин для тех элементов, которые имеются в распоряжении экспериментатора. [c.181]

Для определения следов элементов целесообразно применять спектрографы болыпох дисперсии и разрешающей способности. Интенсивность непрерывного фона ослабевает обратно пропорционально величине дисперсии (или прямо пропорционально обратной дисперсии), интенсивность спектральных. линий остается неизменной. Каждая спектральная линия представляет собой изображение входной щели, и поскольку увеличение почти всех дифракционных спектрографов независимо от их размеров равно единице, теоретически полуширина спектральной линии должна равняться ширине щели. Поскольку непрерывны спектр можно рассматривать как наложение бесконечного числа перекрывающихся изображений щели, обладающих определенной энергией в заданном интервале длин волн, ясно, что интенсивность фона в этом интервале уменьшается по мере увеличения дисперсии. Фон спектра может быть обусловлен раскаленными частицами пробы, рассеянным внутри спектрографа светом, излучением молекулярных полос, образующихся в результате реакций пробы и электродов с атмосферой разряда и другими причинами. В пределах любого заданного интервала длин волн падающий на фотопластинку ноток, соответствующий фону, остается почти постоянным. Так, в спектрографе с малой дисперсией, папример 20 А1мм, энергия излучения фона в области 2000—3000 А падает на часть фотопластинки длиной 50 мм. Если же применяют спектрограф с дисперсией в 10 раз большей, та же энергия распределяется уя е по длине 500 мм. Поэтому интенсивность спектра фона уменьшается в каждой точке в 10 раз, тогда как интенсивность линии при этом почти не меняется. [c.167]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология