Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод каналирования

    Методы каналирования частиц и эффекта теней  [c.209]

    Метод каналирования тяжелых заряженных частиц (протонов, а-частиц, ионов) основан на классическом прохождении их через кристалл по его пустым плоскостям, т. е. плоскостям, расположенным между заселенными атомами плоскостями, или таким же осям (соответственно плоскостное и аксиальное каналирование). Атомы, находящиеся по обе стороны пустой плоскости или осевого канала, своим электростатическим полем способствуют ходу тяжелых частиц именно по этим направлениям. Для каналирован-ных частиц меньше вероятность электронных и ядерных взаимодействий с атомами кристалла, чем неканализированных частиц. Явление каналирования пригодно для изучения дефектов кристаллов, которые препятствуют каналированию. [c.210]


    Заканчивая этот краткий обзор, нельзя не вернуться к проблеме минимальных затрат энергии при разделении многокомпонентной смеси, определяемых формулой (8.1.4). Конечно, любая практически действующая схема требует затрат энергии. Однако, можно задаться вопросом возможен ли метод, в котором сам элементарный акт разделения не требует затрат энергии Как это ни удивительно, но можно ответить на этот вопрос положительно. Дело в том, что существует эффект каналирования атомов в сферической стоячей волне градиентной силой [56] (рис. 8.1.10). [c.373]

    Таким образом, излучение, возникающее при радиационных переходах между уровнями поперечного движения каналированной частицы, создает за кристаллом дифракционную картину, которая может быть расшифрована методами, используемыми в рентгеноструктурном анализе. [c.86]

    Будем далее рассматривать достаточно тонкие кристаллы, чтобы можно было пренебречь потерями энергии участвующих в реакции частиц а и Ь (согласно [23], для протонов с энергией = 0,4 МэВ в 81 толщина —7Х ХЮ А, для а-частиц с энергией Е==2 МэВ в Аи / ЗХ X 10 А). В этом случае волновые функции, описывающие явление каналирования падающих на кристалл и вылетающих из кристалла частиц, могут быть найдены методом, изложенным в гл. I. Например, внутри кристалла волновую функцию можно представить в виде [c.170]

    Расширяется круг доступных технологу тонких физических методов. Кроме традиционных дифракционных методов (рентгено- и электронография) применяют нейтронографию, мессбауэрографию, появились. методы каналирования тяжелых частиц и электронов Работы по изучению минеральных веществ и продуктов переработки невозможны без исследования их электронных и колебательных спектров. Развиваются новые спектральные методы, растет их значение. Вслед за эмиссионной и абсорбционной рентгеновской спектроскопией получили развитие электронная рентгеновская спектроскопия и ее раздел — оже-спектроскопия, которые открывают новые возможности изучения процессов и веществ. Ценную химическую информацию дает мессбауэровска (ядерная 7-резонансная)" спектроскопия, которая во многих научных центрах становится рядовым, широко применяемым методом. Достижения радиоспектроскопии (электронный парамагнитный и ядер-ный магнитный резонанс, в том числе в релаксационном варианте) обеспечивают возможность изучения жидких и твердых веществ почти всех элементов периодической системы. Давно используются магнитные измерения. Все чаще привлекается масс-спектрометрия. [c.200]


    Целесообразно упомянуть о возможности определения состояния примесных инертных газов в ионных кристаллах, используя метод каналирования . Изучение кристаллических дефектов этим методом описано в ряде прекрасных обзоров (см., например, [3]), однако в области ионных кристаллов работав этом направлении лишь начинается. При облучении кристалла какими-либо частицами, например протонами, условия их прохождения зависят от направления падающего пучка. Известно, что частица, движущаяся внутри полости, ограниченной совокупностью соседних параллельных друг другу цепочек из атомов, испытывает в результате электростатического взаимодействия с атомами решетки переменные отражения от стенок канала. Таким образом, в кристалле существуют определенные направления сравнительно легкого проникновения движущихся по этим направления каналированных частиц. Рассеяние под значительным углом, вызванное тем или другим центром рассеяния, естественно, вызывает деканализацию. [c.160]

    Появились методы структурных исследований, использующие явление каналирования тяжелых частиц и электронов и эффект теией . [c.209]

    МЕТОДОМ ОРИЕНТАЦИОННЫХ ЭФФЕКТОВ АНАЛИЗ — анализ кристаллов, основанный на исследовании ориентационной зависимости выхода процессов, протекающих при взаимодействии высокоэнергетиче-ских заряженных частиц с атомами кристалла. Для М. о. э. а. используют частицы с энергией от нескольких килоэлектронвольт до десятков мегаэлектронвольт. В процессе анализа изучают процессы, определяющиеся близким (на расстоянии менее 0,2 А) взаимодействием. В СССР М. о. э. а. впервые (1965) применен А. Ф. Тулн-новым. Различают анализы, основанные на эффекте каналирования, на эффекте теней и на двойной ориентации. При анализе, основанном [c.810]

    Начиная с первого десятилетия нашего века публикуется большое число работ, посвященных исследованию процессов, сопровождающих взаимодействие рентгеновских лучей, электронов и д гих частиц с кристаллами. Полученные результаты изложены во многих монографиях и обзорах. На первый взгляд может создаться впечатление, что указанная область физики приобрела известную законченность. Однако в начале 60-х годов существенно новый шаг был сделан при анализе особенностей взаимодействия быстрых заряженных частиц с кристаллами. В первую очередь здесь следует сказать об открытии эффекта каналирования заряженных частиц в кристаллах и эффекта теней, послуживших основой нового метода определения времени протекания ядерных реакций [1—3]. Выяснилось также, что явление каналирования имеет место и для релятивистских позитронов (электронов), а также протонов, я-ме-зонов большой энергии и других частиц. [c.3]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод каналирования: [c.6]    [c.170]    [c.163]    [c.602]    [c.15]   
Химия несовершенных ионных кристаллов (1975) -- [ c.160 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте