Масс-спектрометрия вторичных ионов МСВИ

Спектроскопия рассеяния ионов Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) Магнитная восприимчивость. [c.12]

В катализаторе определяют содержание серебра, щелочноземельных металлов, щелочных металлов и таких вредных примесей, как тяжелые металлы, сера и галогены. Исследование физических свойств включает измерение поверхности методом БЭТ, обычно по криптону из-за малой площади поверхности. Для измерения пористости при контроле качества катализатора можно применять ртутную порометрию, несмотря на известную тенденцию серебра к амальгамированию, так как этот процесс сильно замедляется на окисленной поверхности. Состав поверхности катализаторов определяется современными методами, связанными с использованием высокого вакуума. Из них наиболее важны рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и электронная оже-спектроскопия (ЭОС). [c.240]

Для неорганического анализа можно использовать и масс-спектрометрию вторичных ионов (МСВИ). Однако этот метод применяется в основном для анализа поверхности и локального микроанализа. Поэтому данный метод рассматривается в разд. 10.2. [c.133]

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) [c.355]

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Если энергия пучка падающих электронов превышает 3 кВ, образуются вторичные ионы, которые можно детектировать масс-спектрометрически (см. [102]). [c.226]

К локальным методам анализа состава вещества наряду с описанными выше методами рентгеноспектрального анализа и методов электронной спектроскопии относится масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Главной особенностью метода МСВИ является очень высокая чувствительность — более 10 %. Минимальный объем образца, необходимый для анализа 10- см , глубина анализируемого слоя 10" мкм. Первичный ионный пучок может быть сфокусирован в зонд малого сечения в свою очередь фокусировка вторичных ионов может дать ионное изображение бомбардируемой поверхности. Масс-спектрометрическая фильтрация этого изображения дает картину распределения ионов определенного типа по поверхности объекта. Форсируя режим бомбардировки, можно удалять поверхностные слои и проводить послойный анализ. [c.580]

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (РФС) Фотоэлектронная спектрометрия (ФЭС) Электронная оже-спек-трометрия (ЭОС) Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) Лазерно-индуцированная флуоресцентная спектрометрия (ЛИФС) Атомно-эмиссионная спектрометрия (АЭС) [c.7]

Анализ с помощью ядерных реакций (КРА), активационный анализ заряженных частиц (СРАА) Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) [c.347]

Если мишень бомбардировать ионами средней массы, например, 0+ (М = 16) или Аг+ (М = 40), с энергиями в нижнем килоэлектронвольтном диапазоне, будут преобладать неупругие ядерно-электронные взаимодействия, приводящие к разрыву химических связей поверхностных атомов и распылению этих атомов. Часть распыленных атомов ионизируется на поверхности в процессе удаления. Их регистрация лежит в основе масс-спектрометрии вторичных ионов (МСВИ). Большинство распыленных с поверхности частиц являются, однако, незаряженными частицами (нейтралями). Их можно анализировать после дополнительной ионизации (постионизации нейтральных частиц после испускания их с поверхности). Этот метод называется масс-спектрометрия распыленных нейтралей (МСРН). [c.348]

И молекулярной масс спектрометрии вторичных ионов (МСВИ) поверх иосгь мишени с образцом бомбардируется пучком первичных ионов (чаще (ГО Аг+) с энергией 2—20 кэВ под определенным углом Вторичные ионы образующиеся в результате бомбардировки, отбираются под другим углом и направтяются в масс анализатор [c.15]

В псх ледиее время в ВЭЖХ-МС получила распространение также тенденция сочетать метод переноса на движущейся ленте с методами, включающими ионизацию на поверхности, например масс-спектрометрию вторичных ионов (МСВИ) [22, 23], бомбардировку быстрыми атомами (ББА) [24] и лазерную десорбцию [25] При применении этих методов упомянутые выше ограничения метода движущейся леиты, связанные с возможностью термического разложения определяемых соединений в процессе удаления растворителя, могут быть почти полностью устранены [c.134]