Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)

В катализаторе определяют содержание серебра, щелочноземельных металлов, щелочных металлов и таких вредных примесей, как тяжелые металлы, сера и галогены. Исследование физических свойств включает измерение поверхности методом БЭТ, обычно по криптону из-за малой площади поверхности. Для измерения пористости при контроле качества катализатора можно применять ртутную порометрию, несмотря на известную тенденцию серебра к амальгамированию, так как этот процесс сильно замедляется на окисленной поверхности. Состав поверхности катализаторов определяется современными методами, связанными с использованием высокого вакуума. Из них наиболее важны рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и электронная оже-спектроскопия (ЭОС). [c.240]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [c.12]

Метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), предложенный Зигбаном в 1949 году (Нобелевская премия 1981 года), является основным методом качественного и количественного элементного анализа поверхности. С его помощью можно также получить информацию о химических связях возбуждаемых атомов. [c.316]

Методы электронной спектроскопии. В рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) рентгеновские кванты с известной энергией ку поглощаются образцом, испускающим электроны с кинетической энергией определяемой по уравнению [c.152]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) [c.253]

Изучение химнческого состава хемосорбционных слоев на поверхности металла может быть осуществлено методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС). Этим методом были изучены, в частности, адсорбция и механизм действия неорганических ингибиторов на магнии, алюминии и железе [61]. [c.50]

Изменение состава пограничных слоев отмечается не только для олигомерных, но и для полимерных адгезивов. При формировании прессованием пленки статистического сополимера би-нилхлорида [87% (мае.)] и винилацетата [13% (мае.)] на золоте, никеле, алюминии и политетрафторэтилене методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) показано, что количество полярных групп на границе раздела растет сим-батно поверхностной энергии [161] [c.101]

Структуру поверхности ХМЭ исследуют методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) [137в, 156], спектроскопии КР, а также разнообразными электроаналитиче-скими методами. В большинстве случаев трудно получить твердое доказательство существования однородного равномерного покрытия поверхности и определить, покрыт ли ХМЭ ковалентно связанным рса1ентом или полимерной пленкой. [c.190]

В настоящее время для анализа поверхности и межфазных границ реально используют более 30 методов. Около 15 из них считаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми в промьш1ленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), электронная [c.313]

В настоящее время для изучения физики поверхности твердых тел пшроко используется метод дифракции медленных электронов (ДМЭ), фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), метод дифракции отраженных электронов высокой энергии (ДОЭВЭ) и Оже-спектроскопия. [c.687]

Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС). Принцип метода УФЭС показан на рис. 3.4. Твердое тело облучают вакуумным ультрафиолетом и мягким рентгеновским излучением, в результате из атомов, расположенных вблизи поверхности, выбиваются электроны. Энергия падающих квантов (hv), кинетическая энергия испущенного электрона (Е ) и энергия связи электрона в твердом теле, (Eg) связаны соотношением = hv - Eg. [c.43]

На основании детального исследования поверхности различных моно- и биметаллических сульфидных катализаторов методами просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения (ПЭМВР), рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и электронной мессбауэровской спектроскопии EXAFS была предложена модель структуры активного компонента сульфидного катализатора, представленная на рис. 12.7. [c.806]

Существует большой набор методов, позволяющих фиксировать свойства катализаторов. Это определение химического и фазового составов. При их изучении могут быть использованы приемы мокрой химии, рентгенофазовый анализ, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), электронная и месс-бауэровская спектроскопия, а также методы ЭПР и ЯМР. [c.234]

По энергии возбуждающего электромагнитного излучения различают ультрафиолетовую фотоэлектронную спектроскопию (УФЭС) и рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (РФЭС). Последнюю называют также электронной спектроскопией для химического анализа (ЭСХА), что обусловлено такой возможностью ее применения. При возбуждении ультрафиолетовыми лучами (/гу<40 эВ) испускаются только валентные электроны. Данные, получаемые этим методом, специфичны для системы связывающих электронов, часто делокализованных, и лишь в некоторых случаях —для отдельного атома. [c.40]

В этом разделе мы обсудим методы анализа, позволяющие определить состав и структуру поверхности, валентность поверхностных атомов и другие химические характеристики. Наиболее эффективными современными методами исследования являются ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) и оже-электронная спектроскопия (ОЭС). [c.43]

Рентгеновские фотоны вызывают эмиссию электронов с глубоких основных уровней атомов (рис. X. 1). Если использовать монохроматическое рентгеновское излучение с постоянной длиной волны (обычно для этих целей применяется излучение линий А1К или MgKa), то электроны, испускаемые атомами разной природы, будут иметь отличные друг от друга значения кинетической энергии. Эти значения известны для атомов всех химических элементов, начиная с лития, что создает возможность применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) для качественного химического анализа поверхностей твердых тел. По интенсивности фотоэлектронных пиков можно оценивать поверхностные концентрации элементов. [c.221]

В предьщущем пункте читатель уже проследил пути поглощения и неупругого рассеяния рентгеновского излучения. При этом регистрировались фотоны. В этом пункте внимание будет уделено методам, основанным на регистрации электронов, которые возникают опять же после действия рентгеновского излучения, а также после поглощения ультрафиолетового излучения или электронного пучка. Длина свободного пробега электронов сильно зависит от их энергии, однако она меняется в пределах от 100 до 1 нм при изменении энергии от 1 эВ до 1 кэВ соответственно, проходя через минимум 0,5 нм при 100 эВ [1]. В связи с этим все эти методы эффективны для изучения поверхности, а так же для объектов с наноразмерами. Будут рассмотрены три весьма распространенных и эффективных метода рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), ультрафиолетовая электронная спектроскопия (УФЭС) и электронная Оже-спектроскопия (ЭОС). [c.69]

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, ХР8), известная также как электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА, Е8СА), весьма широко используется [c.297]