Фокусировка луча

Несравненно более простое и удачное решение задачи о создании светосильных рентгеновских спектрографов было предложено через несколько лет после работы Дю-Монда и Киркпатрика, почти одновременно, Иоганном [2], Кошуа [3] и Хамошем [4]. Работы этих исследователей заложили основы этой новой области рентгеновского приборостроения. Каждый из упомянутых авторов предложил использовать для. фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе изогнутые в специальных кристаллодержателях тонкие пластинки кристалла. При этом в методе, предложенном Иоганном, имелось в виду осуществление фокусировки лучей по схеме, аналогичной той, которая представлена на рис. 1, б. Поэтому в качестве отражающих атомных плоскостей кристалла предлагалось использовать плоскости, параллельные или почти параллельные плоскости изогнутого по цилиндру кристалла. В методе Кошуа была реализована схема фокусировки, изображенная на рис. 1,а. [c.10]

К источникам воспламенения относится также тепловое проявление световой энергии при действии ее на горючие вещества (фокусировка лучей линзами, излучение пламени па пожаре, тепловое излучение от нагретых тел). [c.127]

Ввиду плохой фокусировки луча при низких частотах в случае эхо-импульсного способа приходится отказаться от локализации (определения местонахождения) дефектов. Вместо этого в блоках с параллельными поверхностями могут быть выявлены грубые трещины и включения раздельными искателями при импульсном прозвучивании. [c.621]

Третьей важной проблемой в ЖХ-ИКС является фокусировка луча Если ИК-спектрометр не подвергался какой-либо модификации, никакой особой юстировки не требуется и измерение проводится обычным способом в камере для установки кюветы Однако в ряде случаев чувствительность обычного ИК-спектрометра может оказаться недостаточной Поэтому для повышения чувствительности или поддержания ее на на достаточно высоком уровне иногда прибегают к фокусирующей оптике Обычно для этого пригодны коммерческие оптические конденсоры Причем при малых размерах колонок эти устройства приспособить легче, чем при использовании обычных колонок [c.124]

Фотографирование изображения. Фотографирование изображения производится фотоаппаратом Любитель при помощи специальной фотоприставки, которая укрепляется на экране трубки. Получив изображение на экране, уменьшают яркость до минимума, проверяют фокусировку луча на матовое стекло. Фотоаппарат заряжают пленкой Фото-65— 130 ед. , ставят диафрагму в положение 4,5—8, затвор- в положение выдержка . При [c.159]

Следует особо подчеркнуть, что условие компланарности , о котором идет речь и при выполнении которого при прочих равных условиях можно рассчитывать получить максимальную величину интенсивности суммарного рассеянного изогнутым кристаллом излучения, отнюдь не является достаточным для достижения строгой фокусировки лучей, сходящихся в точке наблюдения. Выполнение этого условия обеспечивает, вне зависимости от радиуса кривизны цилин- [c.11]

Будем различать две группы светосильных рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом. К первой группе можно отнести приборы, в которых осуществляется так называемая вертикальная, или аксиальная, фокусировка рентгеновских лучей кристаллом. Для приборов этого типа условие компланарности выполняется не всегда достаточно строго и тем лучше, чем в большей мере фокусировка лучей в спектрографе приближается к аксиально-симметричной. Ко второй группе отнесем приборы с плоскостной или, как ее иногда называют, горизонтальной фокусировкой лучей кристаллом. В приборах этого типа оба вектора о и 5, характеризующие направления падающей и отраженной от кристалла волн рентгеновской радиации, лежат в плоскости кругового сечения цилиндра, и поэтому условие компланарности выполняется автоматически. [c.12]

СПЕКТРОГРАФЫ С ВЕРТИКАЛЬНОЙ (ПРОСТРАНСТВЕННОЙ) ФОКУСИРОВКОЙ ЛУЧЕЙ [c.12]

Строгая фокусировка лучей в приборе имеет место лишь для точек щели, лежащих на оси изогнутого кристалла. Изображение всех других точек щели оказывается более или менее размытым. Степень дефокусировки спектральной линии тем больше, чем дальше отстоит соответствующая точка щели от оси фокусирующего цилиндра. При заданных [c.13]

СПЕКТРОГРАФЫ С ГОРИЗОНТАЛЬНОЙ (ПЛОСКОСТНОЙ) ФОКУСИРОВКОЙ ЛУЧЕЙ [c.20]

Из соотношения (17) вытекает необходимость одновременного осуществления равенств p=rf и ар==г , так как и каждое из его слагаемых существенно положительно. Можно показать, что это возможно только в том случае, если точка Л и ее изображение, образующееся после фокусировки лучей, отраженных кристаллом, будут лежать на окружности, радиус которой вдвое меньше радиуса кривизны кристалла. Это и есть искомое геометрическое условие, при выполнении которого будет [c.25]

К числу важнейших недостатков спектрографов с горизонтальной фокусировкой лучей относится их относительно небольшая разрешающая сила, которая, как правило, гораздо меньше, чем для обычных спектрографов с плоским кристаллом, не говоря уже о двойном кристалл-спектрометре. Это объясняется сравнительно большой шириной [c.27]

Микроколичества требуют фокусировки луча [c.282]

Поперечное магнитное поле создается электромагнитом, и в этом же поле происходит фокусировка луча. В других структурах используются постоянные магниты, а подстройка луча осуществляется изменением рабочего напряжения. В этих пушках для увеличения электронного эмиссионного тока используется относительно большая площадь удлиненного катода. [c.75]

Созданы и многие другие приборы с изображением, основанные на фазоуправляемых секционированных излучателях для отклонения и фокусировки луча. Некоторые из них имеют один обычный преобразователь в качестве излучателя и систему секций в качестве приемника или же наоборот, а другие имеют два отдельных излучателя и приемника или систему секций и в качестве излучателя, и в качестве приемника. Фазовое управление осуществляется по аналоговой схеме или с помощью цифровой ЭВМ [1748]. [c.309]

В ряде случаев эффективно применение ЛСБЛ с продольным сканированием (фокусировкой) луча (см. рис. 4, б). Свет от лазера 1 с помощью телескопа 3 и объектива 3 фокусируется на объект 5 в точку А. После отражения от объекта свет проходит объектив 3, светоделитель б и линзой 3" фокусируется на диафрагму 8 (т. А ), которая совершает поступательные перемещения вдоль оптической оси. Если т. А совпадает со средним положением диафрагмы, то в цепи нагрузки фотоприемника 4 протекает ток, интенсивность которого меняется по синусоидальному закону (обычно диафрагма совер- [c.493]

Д ш фокусировки лучей в оптической системе ИК-спектрофото-метров используются только зер 1ала, а не линзы. Это объясняется невозможностью идгоювления универсальной линзы, пригодной для всех участков в широкой области спектра. [c.270]

Лауэ, Брегга и Вульфа. Первыми исследователями, указавшими на такую возможность, были М. Де Бройль и Линде-ман (1914), М. Гюи (1916) и П. Капица (1918). Однако практически осуществить одновременную фокусировку монохроматического рентгеновского пучка лучей удалось впервые лишь много позже (в 1930г.) Дю-Монду и Киркпатрику П], которые в своих опытах по созданию мультикристалл-спектрографа хотя и не пошли по линии непосредственного использования в приборе изогнутых отражающих кристаллов, но вплотную подошли к этому, использовав фокусировку лучей набором плоских кристаллов, и в большой мере предвосхитили результаты работ, выполненных в дальнейшем. [c.9]

К приборам с вертикальной фокусировкой лучей в первую очередь относится спектрограф, предложенный в свое время Хамошем [4]. Он многократно описывался в литературе (см., например, [7]) в связи с изложением метода фокусировки, связываемого обычно с именем его автора. Поэтому в настоящей книге этот прибор будет описан кратко. [c.12]

Дисперсия и разрешающая сила спектрографов с горизонтальной фокусировкой лучей были подробно рассмотрены в первых работах Иоганна и Кошуа. Соответствующие расчеты с тех пор неоднократно воспроизводились в руководствах по рентгеноспектральному анализу (см., например, [201). Поэтому ограничимся рассмотрением этих соотношений по существу. [c.26]

Разработкой теории и конструированием спектрографов с вертикальной фокусировкой лучей занимались в середине тридцатых годов Кунцль, Далейшек и Таерле [10, 11, 12]. В 193/—1938 гг. последние описали оригинальную конструкцию спектрографа, основанного на этом принципе. По данным этих авторов, им удалось добиться значительного повышения светосилы рентгеновских спектральных приборов и, работая при больших расстояниях между щелью спектрографа, кристаллом и фотопленкой, довести разрешающую способность спектрографов этого типа до величины около 2700, что сопоставимо с разрешающей способностью существующих двойных кристалл-спектрографов. Особенностью геометрических условий фокусировки таких приборов, как показал Кунцль [10], является зависимость радиуса кривизны их кристалла от длины волны и, следовательно, от угла (Брегга — Вульфа) отражающихся от него рентгеновских лучей. Если р — радиус кривизны кристалла, — радиус окружности изображения спектро- графа, а 6 — угол Брегга — Вульфа, то [c.17]

Ван-ден-Берг и Бринкман [13] предложили другую конструкцию рентгеновского светосильного спектрографа с вертикальной фокусировкой лучей. Они использовали этот прибор для работы в мягкой области рентгеновского спектра (9—19А) и стремились в первую очередь повысить светосилу спектрографа, а не его разрешающую способность. Поэтому радиус кривизны изогнутого кристалла слюды в спектрографе Ван-ден-Берга и Бринкмана был небольшой. Он равнялся 200 мм и оставался неизменным при изменении угла отражения. Высота кристалла 140 мм, ширина 40 мм. При неподвижном кристалле на фотопленке одновременно регистрировалась область спектра протяженностью около 0,5А. Для выполнения условий фокусировки, заключающихся в равенстве расстояний 7 от кристалла до линейчатого фокусного пятна на анопе рентгеновской трубки и [c.17]

Говоря о приборах с вертикальной фокусировкой рентгеновских лучей, нельзя не указать на попытки ряда исследователей создать спектрограф, отражающая поверхность которого представляла бы собою сферу. Создание такого прибора позволило бы в известной мере объединить оба принципа используемых при создании современных светосильных спектрографов—рассматривающегося до сих пор метода вертикальной фокусировки и метода горизонтальной фокусировки лучей, о котором более подробно речь пойдет в следующем параграфе. Как показывает расчет, в таких приборах можно было бы при работе с мягкими рентгеновскими лучами и при углах отражения, близких к 90°, ожидать дополнительного (7соз 6) выигрыша в интенсивности рентгеновских лучей. Однако и в этом случае радиус кривизны кристалла оказывается зависящим от [c.18]

В спектрографах типа Иоганна и Кошуа нельзя добиться строгой фокусировки пучка рентгеновских лучей, падающих на изогнутый кристалл и отражающихся от него в точку наблюдения. Степень совершенства этой фокусировки и, следовательно, разрешающая способность прибора зависят от соотношения геометрических величин, характеризующих спектрограф радиуса кривизны кристалла и расстояний от него до источника рентгеновских лучей и их регистратора. Для выяснения оптимальных соотношений между этими величинами рассмотрим вначале идеализированный случай фокусировки лучей бесконечно тонким кристаллом, образующим двухмерную совокупность рассеивающих центров. [c.21]

Обратимся к рассмотрению другой группы приборов с плоскостной (горизонтальной) фокусировкой лучей в спектрографе—-к приборам типа ] оганна. В приборах этого типа с точечным источником рентгеновских лучей, [c.36]

Обычно в спектрометрах не производится каких-либо существенных конструктивных изменений оптической системы. В работе [88] с целью получения вертикального хода луча для предотвращения спадания порошкообразного адсорбента с поддерживающей пластинки источник инфракрасного излучения был вынесен за пределы опектрометра и предусмотрена система зеркал для фокусировки луча В лучае исследования спектрсЙ [c.84]

Принциниальио электроннолучевая сварка представляет собой процесс, при котором в вакууме создается пучок электронов, ускоряемый высокой разностью потенциалов и фокусируемый на свариваемой детали. Электронный луч служит мощным источником тепла. При сварке очень тонких деталей можно создать пятно фокусировки луча площадью 0,1 мм , что позволяет достичь высокой точности сварки. При сварке толстых металлических деталей можно обеспечить значительное рассеяние энергии на бомбардируемой поверхности площадью 6—8 см , например 5 10 "йг. [c.45]

Световой луч проходит значительные расстояния в воздухе без заметных потерь, легко фокусируется с помощью обычной оптической аппаратуры, обладает глубокой проникающей способностью для прозрачных и даже непрозрачных материалов (в инфракрасной области). Это дает возможность проводить сварку деталей в вакууме с использованием вынесенного источника лучистой энергии. В таком варианте вакуумная камера выполняется с окошком из кварцевого стекла, позволяющего пропустить тепловые лучи (световые лучи в инфракрасной области) и производить визуальное наблюдение за протекающим процессом. Сварка может осуществляться и на воздухе без применения вакуумной камеры. И в том и в другом случаях в качестве источника лучистой энергии применяются установки типа УРАН (название составлено из первых букв слов — установка радиационного нагрева ). Такая установка состоит из блока питания, поджигающего устройства и излучателя, снабженного мощной лампой дугового разряда. Излучатель обычно выполняется в виде сферического или параболического зеркала, поверхность которого имеет высокий коэффициент отражения в результате специальной обработки (шлифование, напыление алюминиевой пленки и т. д.). В фокусе зеркала помещается ксеноновая лампа типа ДКСР мощностью 3—10 кВт. Регулируя положение лампы (в реальных конструкциях передвигается зеркало) относительно зеркала, добиваются наилучшей фокусировки луча в виде светового пятна малых размеров. Теоретически температура в пятне может быть получена равной температуре плазмы. На практике уже получены температуры в пятне, близкие к 3000°С. [c.155]

Фотографирование изображения. Фотографирование изображения производится при помощи специальной фотопрпставки с фотоаппаратом Любитель , которая укрепляется на экране трубки. Получив изображение на экране, уменьшают яркость до минимума, проверяют фокусировку луча на матовое стекло. [c.82]

Блок питания БП-1 обеспечивает питание и модуляцию частоты генераторной лампы (лампа обратной волны с электрической фокусировкой луча), которая генерирует радиоволны СВЧ в диапазоне 3,1—3,3 см. Частота генерации модулируется синусоидальным сигналом частотой 50 Гц. Радиоволны СВЧ через вентиль, являющийся развязкой генератора с волноводной линией, поступают в волномер проходного типа и далее через аттенюатор в виде резонансных импульсов подаются на усилители блока усиления. Предварительно усиленные низкочастотные сигналы затем суммируются, дополнительно усиливаются в блоке усиления и подаются в блок индикации, представляющий собой осциллограф с ЭЛТ 6Л01И, расположенной в датчике. Блок питания БП-2 обеспечивает необходимые напряжения для питания блока усиления и блока индикации. [c.127]

Для испарения ряда тугоплавких металлов можно применять электроннолучевое устройство сравнительно простой конструкции (рис. 3-60,б). В этом испарителе нагрев капли металла 3, помешенной в ох.лаждаемой водой медной чашечке 4, производится хорошо сфокусированным лучом. Фокусировка луча на поверхности металла достигается подачей отрицательного смещения на фокусирующий электрод 1 и перемещением чашечки с каплей металла по высоте. При подводимой мощности 0,5—1 кет (6—10 К0, 80—100 ма) скорость испарения тантала, ниобия, циркония, бора и других тугоплавких металлов составляет 60—100 мг/мин. К недостаткам такого испарителя относится запыление электродов испаряемым металлом, что требует их частой периодической замены. Кроме того, при работе испарителя сильно уменьшается его внутреннее сопротивление из-за компенсации ионами металла отрицательного объемного заряда у катода, и создаются условия для возникновения дугового разряда. [c.240]

Уинтерс и Кей (1967) определяли содержание аргона и азота в напыленных никелевых пленках. В одном из методов маленький кусочек пленки, завернутый в танталовую фольгу толщиной 25 мкм, испарялся при 300 °С в результате омического нагрева танталовой У-образной лодочки. В другом — небольшой объем пробы испарялся при помощи рубинового лазера. Размер обрабатываемой площади можно изменить, варьируя энергию или фокусировку луча лазера. Выделяющиеся газы анализировали на небольшом масс-спектрометре. Для различных подложек <Аи, 510г, Ш) и условий роста получено отношение числа ато- [c.380]

Стандартные КР-кюветы, используемые как с ртутным, так и с лазерным возбуждением, и, некоторые их модификации представлены на рис. 1. Цилиндрические кюветы могут быть изготовлены без труда в большинстве случаев вполне удовлетворительным материалом служит пирексовое стекло. Окошко должно иметь плоскопараллельную поверхность, и его следует припаивать. В некоторых случаях для минимизации помех за счет флюоресценции стекла желательно изготовлять кюветы из плавленого кварца. Длина и диаметр кюветы определяются геометрией прибора. Для малых количеств образца кювета может быть изготовлена в виде толстостенной капиллярной трубки, особенно если надо сохранить большой диаметр. Однако в этом случае рассеяние от стекла будет причиной повышенного фона. Использование светопроводов (рис. 1,6) позволяет сочетать кювету малого объема и преимущества светопроводной техники, что очень удобно, поскольку передняя часть кюветы защищена от действия возбуждающего излучения. В случае образцов, сохраняемых под вакуумом, кювета может быть подсоединена к вакуумной системе, так что образец перегоняется и конденсируется непосредственно в кювете (рис. , в). Для уменьшения отражения света от задней стенки кюветы она должна быть покрашена черным лаком. Кюветы типа изображенных на рис. 1,а и в можно использовать с лазерным возбуждением и фокусировкой луча в точке вблизи окошка. Относительно простая многоходовая жидкостная кювета с внешними плоскими зеркалами описана Танниклифом и Джонсом [35]. С лазерным возбуждением вполне применима, особенно для разбавленных растворов, простая многоходовая кювета с внешним отражающим диэлектрическим покрытием (рис. 1,г). [c.19]

До СНХ пор с достаточным разрешением и интенсивностью, позволяющими получить тонкую структуру, наблюдались вращательно-колебательные спектры КР только нескольких линейных молекул. Так, Стойчев [124] и Иосино и Бернштейн [125] для Нг, Ог, и HD наблюдали разрешение только Q-ветви. Для Ог и N2 при помощи долазерной техники получены О- и S-ветви [77а, 80, 125]. Эти ветви были также фотоэлектрически зарегистрированы Барретом и Адамсом [99] методом фокусировки луча лазера, причем в этом случае эффективный рассеивающий объем составлял 10 см и содержал 10 молекул при атмосферном давлении. Эти же авторы зарегистрировали в спектре СО2 дублеты, обусловленные резонансом Ферми (vi и 2 i). Стойчев [29, 126] сфотографировал аналогичные дублеты в спектрах СО2 и S2 и провел детальный анализ этих спектров, определив точные значения колебательных частот, постоянных ангармоничности и констант, описывающих резонанс Ферми [127]. [c.226]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология