Длины волн спектральных линий алюминия

Таблица 12.5Ш Длины волн спектральных линий алюминия в видимой области спектра

ТАБЛ. V. ДЛИНЫ ВОЛН СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ АЛЮМИНИЯ [c.301]

Длины волн спектральных линий алюминия [c.301]

Сущность работы. Дисперсионная кривая прибора характеризует положение и длину волны любой линии на спектрограмме. С помощью этой кривой можно находить длины волн в спектре и определять неизвестные элементы. Такая кривая пригодна только для данного прибора при данных условиях фокусировки (положение призм и объективов). Для ее построения используют несколько элементов с простыми спектрами, отождествление которых по длинам волн можно провести по таблицам спектральных линий. Например, очень удобно для этого брать спектры алюминия, меди, цинка кремния,- расположенные от 5200 до 2300 А, или же, что значительно сложнее, спектр железа, линии которого отождествляют по атласу. [c.178]

Для измерений абсорбции используют резонансный дублет алюминия 309,3 нм. При этом спектральная ширина щелей должна быть не более 0,7 нм (для отделения измеряемой линии от соседней линии с длиной волны 308,2 нм). В указанных выще условиях может быть достигнут предел обнаружения алюминия, равный 2 пг. [c.167]

Следует получить спектрограммы железа и стали рядом с металлами алюминием, вольфрамом, кремнием, марганцем, молибденом, никелем, титаном, хромом. Полученную спектрограмму помещают на спектропроектор. По табл. 5 и 6 находят длины волн аналитической пары линий. По дисперсионной кривой определяют их место на пластинке, а при помощи атласа спектральных линий по спектру соли — линию определяемого металла. По атласу спектра железа отыскивают линию сравнения. [c.201]

Из таблицы спектральных линий выписывают значения длин волн наиболее интенсивных линий снятых спектров и сопоставляют эти значения со спектрами, полученными на фотографии. Так, например, в спектре алюминия наиболее интенсивными линиями являются пары -Л =3961 и 3944 А 1=3092 и 3082 А 1=2660 и 2652 А Я =2575 и 2567 А. [c.167]

Спектральные помехи. Помехи, связанные с перекрыванием спектральных линий, более вероятны для метода ИСП, чем для методов ААС, так как эмиссионные спектры более богаты линиями. В работе Мак-Ларена и др. [10] этому вопросу уделяется пристальное внимание при определении следов элементов в морских осадках, содержащих много железа и алюминия, наблюдались сильные помехи со стороны этих компонентов. Авторы разработали методику с компьютерным контролем, в которой для оценки поправки на фон рекомендуется проводить измерения при несколько большей и несколько меньшей длинах волн, чем в максимуме определяемого элемента. Например, при определении меди была выбрана линия при 324,754 нм показания снимали при 324,719 324,754 и 324,789 нм, причем первый и третий результаты использовали для вычисления поправки к показанию, полученному для линии самой меди. На интенсивность линии меди сильно влияет линия железа при 324,739 нм если это влияние очень велико, поправочный коэффициент следует вычислять, используя данные по определению железа при другой длине волны (например, при 259,940 нм). [c.205]

Для анализа алюминиевого сплава образцу придают форму электрода. Таким же образо.м готовят образцы трех эталонов, близких по составу к анализируемому образцу, например, сплав дюралюминий содержит магний, медь, железо, марганец. Готовят также образец железа, так как он служит стандартом, поскольку известны длины волн всех его спектральных линий. Кассету с фотопластинкой вставляют в спектрограф и открывают крышку кассеты. Образцы поочередно укрепляют в держателе электродов искрового генератора ИГ-3 и в стандартных условиях возбуждения (при 220 В и 2 А) снимают спектры в следующем порядке образец железа, три эталонных образца, анализируемый образец и снова образец железа. После каждого снятия спектра кассету с фотопластинкой перемещают таким образом, чтобы после проявления на ней одно над другим были зафиксированы изображения шести спектров. После проявления и высушивания пластинку помещают в спектропро-ектор и находят на экране линии, соответствующие примесям в сплаве алюминия. С помощью микрофотометра МФ-2 (или другого) оценивают их почернение в сравнении с эталоном и определяют количественное содержание каждого элемента в анализируемом образце. [c.245]

Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

Я = 309,27 к = 394,40 и I — 396,15 нм. На планшете № 15 атласа спектральных линий дан участок спектра железа в спектральной области 293,0—314,0 нм. Фотопластинку помещают на столике спектропро-ектора ПС-13 эмульсией вверх, вводят нужный участок спектра под объектив и проецируют на экран прибора. На экран помещают планшет № 15 и совмещают линии спектра железа, спроецированные на экране, со спектром железа на планшете так, чтобы совпадали линии с одной и той же длиной волны. Если в исследуемой пробе присутствует алюминий, то в ее спектре будет заметна линия, которая расположена между сильными линиями железа X — 307,57 и 308,37. Эта линия яв- [c.242]

Тип фотопластинок для анализа определяется прежде всего задачей, поставленной перед аналитиком. В случае необходимости ведения анализа во всем диапазоне длин волн (от 2300 до 5500 А) с максимальной чувствительностью можно использовать пластинки Изоорто . Пластинки Спектральные, тип II можно применять для общего анализа, с учетом, что длинноволновая область спектра значительно ослаблена (потеря чувствительности, например, для аналитической линии бария (4994,0 А) до одного порядка). В случае необходимости определения бария, стронция, лития, кальция, алюминия, хрома и GaPj (с большой чувствительностью) можно рекомендовать применение так называемой мозаичной пластинки. (В правую длинноволновую сторону кассеты до упора ставится 5 см пластинки Изоорто и вплотную к ней ставится пластинка Спектральная, тип II ). [c.18]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология