Термическая световая сумма

Второй способ основан на том, что для начальной стадии термического высвечивания, когда запасенная световая сумма не успела заметным образом высветиться, справедливо неравенство [c.87]

Продолжительность термической обработки Световая сумма свечения [c.106]

В чем же причина столь значительного возрастания интенсивности и световых сумм термовысвечивания под действием термической обработки кристалла С первого взгляда напрашивается вывод о том, что свечение обусловлено какими-то примесями, проникающими в кристалл извне во время его обработки при высоких температурах. [c.109]

Такие меры были предприняты впервые автором в 1952 году [128], и они заключались в том, что термическая обработка кристалла каменной соли производилась в кварцевом сосуде в условиях высокого вакуума, исключивших возможность проникновения в кристалл каких-либо примесей извне. Оказалось, что интенсивность и световая сумма свечения таким образом обработанных кристаллов также во много раз возрастают по сравнению с необработанными кристаллами. Следовательно, было доказано, что возрастание интенсивности и световой суммы свечения не связано с проникновением в кристалл каких-либо посторонних примесей, хотя в иных условиях опыта возможность такого проникновения, конечно, не исключается. [c.110]

Таким образом, эффект термической обработки не связан с проникновением внутрь кристалла чужеродных примесей, а обусловлен какими-то иными процессами, благоприятствующими увеличению интенсивности и световой суммы люминесценции кристалла. [c.110]

На рис. 37 представлены две кривые термического высвечивания в видимой области для каменной соли в виде монокристалла (а) и порошка (б), полученного после измельчения монокристалла. Из сравнения кривых видно, что запасенная световая сумма порошка больше, чем у монокристалла. При сравнении этих кривых [c.110]

При сравнении кривых термического высвечивания во втором интервале с кривыми спектрального распределения вспышечного действия видимого света (рис. 26) и поглощения окрашенных кристаллов обращает на себя внимание следующее несоответствие отношение интенсивностей свечения и световых сумм в первом и втором пиках кривой термического высвечивания всегда больше отношения коэффициентов поглощения в максимумах М- и f-полос, т. е. [c.119]

Относительные измерения световых сумм производятся методами визуальной или фотоэлектрической фотометрии одним из указанных способов с помощью термического высвечивания, исследования затухания фосфоресценции, оптического высвечивания, а также путём вычисления из кривых нарастания свечения. Абсолютные измерения световых сумм довольно сложны. Они, как и в случае определения выхода флуоресценции, сводятся к сравнительной фотометрии спектров излучения известного источника сравнения и исследуемого фосфора. [c.316]

На рис. 37 представлена кривая а термического высвечивания в видимой области кристалла Na l, не подвергшегося термической обработке. Эта кривая состоит из двух хорошо разграниченных пиков с почти одинаковыми по величине максимумами интенсивности свечения. Аналогичные измерения на кристаллах Na l, подвергнутых до рентгенизации термической обработке, показали, что прогревание кристалла вызывает резкое возрастание интенсивности и световой суммы свечения, которые зависят как от температуры, при которой производится термическая обработка, так и в определенных пределах от ее продолжительности. [c.104]

Возрастая во всех случаях термической обработки, интенсивность и световая сумма свечения при прочих равных условиях зависят от скорости, с которой производится охлаждение кристалла после его прогрева при высокой температуре. На рис. 43 представлены кривые термического высвечивания в видимой области во втором интервале температур для двух образцов Na l, прогретых в одинаковых условиях и охлажденных с небольшой, но различной для обоих образцов скоростью 6° в минуту (кривая 1) и 11° в минуту (кривая 2). [c.105]

Действие длительности термической обработки Na l на световую сумму свечения в видимой области (обработка яри 500° С) [c.106]

Рис. 42. Зависимость световой суммы свечения Na l от продолжительности термической обработки (500° С).

Действие термической обработки на интенсивность и световую сумму свечения в видимой области рентгенизованных кристаллов каменной соли. (Измерения начинались после некоторой выдержки кристалла в темноте после рентгенизации). [c.107]

Влияние скорости охлаждения кристалла каменной соли после термической обработки при 725Х на световую сумму термовысвечивания в ультрафиолетовой области. [c.108]

С этой точки зрения казалось бы легко понять наблюдающуюся зависимость световых сумм свечения от температуры и длительности прогре- Рис. 44. Действие отжига на термическое вы-ва а также явление на- свечивание в ультрафиолетовой области / tniiou гг — неотожженный кристалл каменной соли, [c.109]

На рисунках 46 и 47 приведены кривые термического высвечивания для незасвеченных (кривые (а) и засвеченных (кривые (в)) кристаллов Na l, подвергнутых термической обработке при 600 й 700°. Из рисунков видно, что видимый свет вызывает уменьшение интенсивности свечения во втором пике и параллельное ее увеличение в первом. Если засвечивание производится светом небольшой интенсивности, то световая сумма свечения сохраняется почти неизменной (табл. 14). Таким образом под действием света в области f-полосы происходит превращение одних центров с большей энергией локализации электрона в другие центры с меньшей энергией локализации электрона. Иными словами, под действием света происходит перераспределение электронов по локальным уровням путем их пересадки через зону проводимости с более глубоких f-уровней на более мелкие [c.114]

Наиболее прямые и убедительные доказательства того, что первый пик во втором интервале обусловлен М-центрами, дают опыты по параллельному изучению поведения этого пика и соответствующей ему М-полосы под действием красного света, т. е. света, соответствующего М-полосе поглощения. Уже отмечалось, что красный свет действует на первый пик, как продолжительная выдержка кристалла в темноте (рис. 49). Интенсивность и световая сумма свечения в первом пике падают в обоих случаях. Аналогичное действие оказывает красный свет также на Ai-полосу поглощения. При продолжительном облучении рентгенизованного кристалла Na l красным светом М-полоса поглощения совсем исчезает. С другой стороны, в кривой термического высвечивания такого кристалла, в котором М-полоса уничтожена красным светом, отсутствует также первый пик при 60—70°С, и кривая состоит в этом случае только из одного пика, обусловленного f-центрами. [c.119]

Последняя возникает также при комнатной температуре, но она значительно менее интенсивна. Полосы 1. , и У образуются преимущественно в интервале— 10()°С—50°С. Из перечисленных полос 1 3 наиболее стабильна, а 1 4 наименее стабильна. При нагревании до -1-20°С полоса У полностью исчезает, хотя в процессе нагревания несколько возрастает, по-видимому за счет У, -центров, исчезающих при более низких темгературах. Полоса У также легче возникает при низкой температуре, хотя и существует пр 1 комнатной. Полоса Уобразуется также при комнатной темпер-туре. В общем, чем ниже температура, при которой образуется тот или иной вид У-центров, тем меньше их термическая устойчивость. Этим и объясняется зависимость запасаемых световых сумм от температуры кристалла, при которой производится рентгенизация. [c.144]

Обратимся теперь к рассмотрению световых сумм, аккумулируемых щёлочноземельными фосфорами. Опыт ноказывает, что величина высвечиваемой фосфором (световой суммы зависит от способа высвечивания термические суммы меньше оптических в 4—15 раз. Соотношение площадей термической и оптической световых сумм сохраняется и в том случае, [c.402]

Как указывалось, механизм вторичной фосфоресценции состоит в том, что при поднятии в полосу проводимости электронов, локализованных на уровнях вспышки, часть из них не рекомбинирует, а претерпевает повторную локализацию на мелких уровнях фосфоресценции, с которых в дальнейшем освобождается термическим путём, создавая свечение вторичной фосфоресценции. Энергия повторных фосфоресценций черпается из энергии соответствующей вспышки и определяется её величиной. Так как яркость вспышки зависит от величины аккумулированной световой суммы и от распределения электронов по уровням локализации, то и вторичные фосфоресценции будут зависеть от этих величин. В частности, величины световых сумм вторичных фосфоресценций, возникающих при повторных вспышках (рис. 186), должны дать в зависимости от аккумулировапных фосфором световых сумм такой же ряд кривых, какой получается для самих интенсивностей вспышек. [c.406]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология