Фактор Лорентца

Фактор Лорентца связан с тем обстоятельством, что и при фотографической, и при дифрактометрической регистрации дифракционных лучей мы измеряем не максимальную, а интегральную интенсивность луча (счетчик улавливает весь дифракционный пучок). А интегральная интенсивность зависит от того, насколько узок или насколько широк интервал углов Ар,, Av, Ат, Ар, Аы, в пределах которых кристалл находится еще в отражающем положении для заданного луча кЫ. [c.91]

Для разных отражений НЫ эти интервалы различны и зависят от конкретной кинематической схемы прибора. В частности, для дифрактометров, схемы которых были показаны на рис. 34 и 35, а, б, в, г, математические формулы фактора Лорентца имеют разный вид . [c.91]

Для каждого отражения необходимо также скорректировать интенсивность с учетом классических факторов Лорентца, поляризационного фактора [47], факторов поглощения и, если нужно, разрушения [48, 49] редко вводят поправку на, кратность рефлекса и экстинцию [50]. При наличии нескольких измерений одного и того же отражения или симметричных отражений следует получить среднее значение интенсивности. [c.256]

Перед шкалированием необходимо ввести в данные все поправки, т. е. поправку на фактор Лорентца и поляризации, поправку на поглощение в кристалле и другие. [c.98]

Выходные данные состоят из индексов отражений, соответствующих угловых величин, числа импульсов на счетчике и времени счета. Эти величины печатаются на бумаге и пробиваются на перфоленте. Для расчетов с помощью подходящей ЭВМ придаются программы, написанные на языке Фортран IV, для учета поправки на фактор Лорентца и поляризации и поправки на поглощение. [c.135]

Факторы Лорентца и поляризации рассмотрены подробно, например, в книге [2], монографии [160] и в Интернациональных таблицах , т. 2, стр. 265. [c.144]

Величины структурных факторов получают из измерений интенсивности после введения поправок на фактор Лорентца и поляризации, на поглощение и экстинкцию, а для фотографических данных — также поправки Филлипса на форму пятен. Фазы наблюдаемых структурных факторов находят математическим путем, используя прямые методы, или с помощью синтезов Патерсона и Фурье, если применяется метод тяжелого атома. [c.180]

II. Данные, полученные после расчетов по программам части I, могут быть теперь скорректированы на факторы Лорентца и поляризации, если это не было сделано в процессе их сбора. В случае сферических и цилиндрических кристаллов можно также ввести поправку на поглощение. После этого данные хранятся на магнитной ленте и записаны в формате, пригодном для работы с последующими программами. Помимо этого, можно также записать следующую информацию, которая потребуется при дальнейшей обработке [c.232]

Исследователя интересует зависимость интенсивности дифракционных лучей от координат атомов в элементарной ячейке кристалла. Но понятно, что и лучи первичного пучка, и лучи, дифрагированные решеткой кристалла, меняют свою интенсивность при прохождении сквозь толщу кристаллического вещества под влиянием побочных или вторичных эффектов. К таковым относятся, во-первых, общая зависимость интенсивности рассеяния рентгеновских лучей от угла рассеяния (поляризационный фактор Р) во-вторых, зависимость интенсивности рассеяния от кинематической схемы прибора (фактор Лорентца Ь) в-третьих, поглощение рентгеновских лучей в кристалле (адсорбционный фактор Л) в-четвертых, зависимость интенсивности дифракционных лучей от степени совершенства кристалла (первичная и вторичная экстинкции). [c.74]

Если учесть, кроме того, электрические взаимодействия наведенных дипольных моментов атомов в слое, поле падающей световой волны в слое увеличивается в (п +2)/3 раз (фактор Лорентца) по сравнению с полем той же самой световой волны в вакууме (см. Ill и [15]). Вследствие этого наведенный дипольный момент увеличивается во столько же раз и (Д-31а) переходит в [c.458]

Исследователя интересует зависимость интенсивности дифракционных лучей от координат атомов в элементарной ячейке кристалла. Но интенсивность луча зависит и от целого ряда других факторов и вторичных эффектов. На нее влияет характер поляризации рентгеновской волны (поляризационный фактор Р), кинематическая схема прибора (фактор Лорентца Ь), степень поглощения рентгеновских лучей в кристалле (адсорбционный фактор Л), степень совершенства кристалла (первичная и вторичная экстинкции), величина термодиффузного рассеяния (фактор ТДР). [c.90]

Необработанные данные, полученные фотографическими или ионизационными методами, еще нельзя непосредственно использовать для определения структуры кристалла. Необходимо провести первичную обработку данных, т, е. в измеренные интенсивности ввести различные поправки, например поправку на фактор Лорентца и поляризации и поправку на поглощение, при работе на дифрактометре учесть уровень фона при счете импульсов и ввести другие поправки. После введения поправок дальнейшая работа зависит от того, каким методом решается структура кристалла — прямым или косвенным. Широко распространенный метод тяжелого атома применяется в том случае, когда исследуемое соединение содержит тяжелый атом, наличие которого в кристаллической структуре может быть использовано для определения первоначального набора фаз структурных факторов. Интенсивность отражения — это функция, которую можно представить как / = / (/ ), где f — структурная амплитуда иР — структурный фактор. В кристалле с центросимметричной пространственной группой величина У может быть равна либо + Р 1, либо —[ / в зависимости от положеаия тяжелого атома, вклад которого в структурный фактор подавляет вклады от легких атомов. [c.140]

Фактор Лорентца определяет зависимость измеренной интенсивности от времени, в течение которого плоскость вращаюшегося кристалла находится в отражающем положении. В терминах представления обратная решетка — сфера отражений это означает, что узел решетки соприкасается со сферой отражений в течение определенного времени, и оно, очевидно, зависит от расстояния, на котором находится узел от начала координат. При большом угле отражения узел обратной решетки пересекает сферу отражений почти по касательной и фактор Лорентца L большой. При малых углах 0 фактор Лорентца также большой, поскольку узел находится около начала координат и время пересечения сферы отражений велико. Минимальному значению соответствует угол 0 = 45°. Выражение для L зависит от геометрии дифракционного эксперимента, используемого при наборе данных по интенсивностям. В общем случае можно вывести формулу [c.143]

Вводятся поправки на факторы Лорентца и поляризации для данных, полученных тометодом. Может быть введена также поправка Филлипса на форму пятен. В тех случаях, когда кристалл можно описать сферой или цилиндром, обычно включают учет поглощения рентгеновских лучей в кристалле. [c.230]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология