Определение структуры кристалла

Графит как вещество представляет собой аллотропное видоизменение углерода с определенной структурой кристаллов. Эта структура и обусловливает свойства графитного вещества. [c.39]

Близко к этому методу (рентгенографии) стоит метод дифракции электронов (электронография). Волновая механика показывает, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. Определение структуры кристаллов и молекул методом дифракции электронов привело к результатам, полностью совпадающим с результатами, получаемыми с помощью рентгенографии, В последние годы с этой же целью стали применяться и нейтроны (нейтронография), что дало возможность определять положение и водородного атома, чего не удавалось достигнуть методами рентгенографии и электронографии. [c.123]

Определение структуры кристалла оказывается возможным вследствие однозначной связи между межплоскостными расстояниями параметрами элементарной ячейки а, Ь, с, а, у и индексами (/гг //,). [c.355]

Основным методом определения структуры кристаллов является рентгеноструктурный анализ. Установка для исследования (рис. 114) состоит из источника рентгеновских лучей, устройства для закрепления и ориентирования исследуемого образца и приемника рассеянного образцом излучения. Приемниками служат фотопластинки (или счетчики рентгеновских квантов). [c.182]

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — метод исследования строения вещества, использующий дифракцию (рассеивание) рентгеновских лучей. Р. а. является основным методом определения структуры кристаллов. Метод основан на дифракции рентгеновских лучей частицами веществ, расположенными в пространстве кристалла. [c.214]

Возможности метода Лауэ не ограничиваются только определением симметрии кристалла и его ориентации. Он может быть использован для определения структуры кристалла, для изучения диффузного рассеяния и для ряда других задач [9]. Интересный пример применения метода Лауэ для установления ориентационных соотношений фаз, возникающих при распаде пересыщенных твердых растворов, приведен в работе [10. Авторы показали, что выявление и анализ элементов симметрии матрицы и фазы на лауэграммах монокристалла распавшегося сплава позволяют установить ориентационные соотношения между их кристаллическими решетками. Большим преимуществом этого метода является его экспрессность и наглядность. [c.153]

За последние годы для определения структуры кристаллов и молекул сравнительно широко применяется метод дифракции электронов (электронография). Метод заключается в том, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. [c.59]

Строение многих соединений было установлено также методами дифракции электронов и дифракции рентгеновских лучей. В дальнейших разделах книги описано атомное строение многих веществ, установленное этими методами. В приложении IV описан метод дифракции рентгеновских лучей, применяемый для определения структуры кристаллов. [c.31]

Как сказано выше, в кристаллохимическом анализе попутно решался вопрос об определении структуры кристалла (т. е. типа решетки Бравэ), что, вообще говоря, является не обязательным, если ставить себе целью только идентификацию вещества по внешней форме его кристаллов, поэтому во всех последующих методах такого рода, являющихся развитием кристаллохимического анализа Федорова (например, метод А. К. Болдырева или Т. В. Баркера), [c.61]

Если структура кристалла известна, то с помощью рентгенографических данных можно вычислить электронную плотность в любой точке. Построив график распределения электронной плотности, можно получить картину изучаемой структуры. Построение трехмерного распределения электронной плотности в элементарной ячейке представляет собой очень трудоемкую задачу таких работ почти не было до тех пор, пока не появились электронные вычислительные машины. Расчет можно упростить, если свести задачу к двум измерениям и вычислить проекцию электронной плотности элементарной ячейки на плоскость, перпендикулярную ребру ячейки. Такая проекция изображена на рис. 43. Подробности методов определения структуры кристаллов можно найти в посвященных этому вопросу работах [7, 16, 28, 34—36]. [c.80]

В 1890 г., задолго до первых определений структур кристаллов, Е. С. Федоровым были выведены строго математическим путем все возможные сочетания элементов симметрии в пространстве. Е. С. Федоров и А. Шенфлис доказали, что таких пространственных групп симметрии мо- жет быть только 230. Этот вывод стал впоследствии незыблемой основой современной кристаллохимии — теорией атомной структуры кристаллов. [c.64]

Основные выводы, сделанные на основании первых определений структур кристаллов 133 [c.397]

Можно выделить два направления использования результатов измерений в поляризованном свете 1) поиск связи моментов перехода с молекулярной ориентацией в кристаллах с известной структурой 2) определение структуры кристаллов или полимеров на основании дихроичных отношений. В одной из таких работ методом НПВО в поляризованном свете было проведено отнесение частот в ИК-спектрах монокристаллов стеариновой кислоты и ее дейтерированного ( 35) аналога [196]. Для дальнейшего ознакомления с поляризационным методом можно обратиться к литературе [35, 161]. [c.221]

В рентгеноструктурном анализе используют явление дифракции рентгеновских лучей для определения структуры кристаллов, а также жидких веществ. [c.758]

Особенности методик рентгенографического и электронографического определения структуры кристаллов [c.32]

Определение структуры кристалла всегда основано на сопоставлении методом проб и ошибок наблюдаемых и расчетных интенсивностей дифракционных максимумов. Чтобы получить полный набор максимумов на рентгенограмме, необходимо изучать монокристалл размером не менее 20—50 мкм. На рентгенограммах порошков многие дифракционные максимумы не наблюдаются из-за их перекрывания или из-за того, что их интенсивность не превышает уровень фона. Это создает значительные трудности в определении рентгенографическим методом пространственной группы симметрии. При изучении мелкокристаллических цеолитов методом дифракции электронов легко детектировать дополнительные слабые отражения, но появление большого числа отражений затрудняет расшифровку. Изучение морденита, эрионита и цеолита Ь доказало ценность этого метода, однако для изучения многих других мелкокристаллических цеолитов дифракция электронов пока не применялась. [c.32]

Самая полная из всех книг по электронографии Дифракция электронов 3. Г. Пинскера [7] содержит только основные и притом кратко изложенные сведения по электронографии поверхности металлов, по электронографии молекул и по применению медленных электронов I В основном она посвящена методам полного определения структуры кристаллов. В более поздней монографии Б. К. Вайнштейна Структурная электронография [8] совсем не содержится сведений ни по структуре молекул в парах, ни по медленным электронам. [c.5]

Из этого же рисунка видно, что наряду с усилением лучей, отраженных плоскостями одной простой решетки, напри--мер РР, будет происходить их ослабление за счет влияния отражений плоскостями вставленной в нее решетки. Напри-. гер, лучи от смежных плоскостей PQ будут ослаблять друг друга, но это и значит, что в зависимости от структуры решетки будут меняться интенсивности. Углы же будут оставаться неизменными. На анализе интенсивностей отражений и основано определение структуры кристаллов. [c.69]

Это явление также наблюдается при наличии свободных радикалов в химической смеси. Наибольшее распространение парамагнитный резонанс получил как метод определения структуры кристаллов парамагнитных веществ и для качественного и количественного определения свободных радикалов [3, 4, 51—55]. [c.116]

Использование проникающего излучения для определения структуры кристалла [c.24]

Определение структуры кристаллов обычно проводится при комнатной температуре. Спектры же кристаллов измеряются при температурах, при которых структура кристалла недостаточно известна. При изменении температуры структура кристалла может сильно измениться и, даже когда этого нет, могут изменяться размеры элементарной ячейки и ориентация молекул. При охлаждении вообще должны происходить некоторые изменения размеров элементарной ячейки в кристаллах, и в нескольких случаях [561 они были измерены. Наиболее яркий пример сильного изменения структуры кристалла встречается в случае гексаметилбензола. Было измерено несколько спектров кристаллов в форме, стабильной при низкой температуре, а также в обычной форме при комнатной температуре. [c.559]

Полное определение структуры кристалла предполагает следующие операции [c.290]

Теперь при определении структуры кристалла мы можем измерить величины F hkl). Величину р (xyz) можно легко рассчитать, если функцию р (xyz), которая, безусловно, является периодической, разложить в ряд Фурье [c.47]

В настоящее время кажется очевидным, что после вывода уравнения (1), как мы уже указывали во введении, проблема определения структуры кристалла формально была решена. Расчет этого выражения для каждой точки элементарной ячейки является трудоемким процессом, который, однако, можно запрограммировать для электронных вычислительных машин или провести расчет с помощью некоторых методов подобия. Измерение F hkl) в общем случае не дает нам какой-либо информации о фазовой постоянной а (hkl). Так как отражения рентгеновских луч й зависят от положения кристалла нри проведении эксперимента, то вся информация о соответствующих фазовых постоянных теряется. [c.48]

В последние десятилетия наблюдалось бурное развитие рентгеноструктурного анализа (в первую очередь с использованием монокристаллов), а также других дифракционных методов исследования. Это обусловлено рядом причин. Одной из них явилось кардинальное усовершенствование рентгеновской аппаратуры, включая разработку ряда типов дифрактометров, управляемых ЭВМ, для съемки монокристаллов, внедрение новых способов регистрации рентгеновского излучения, использование монохроматоров. В результате точность экспериментальных данных резко возросла и появилась возможность решения принципиально новых задач (локализация легких атомов, определение деталей распределения электронной плотности на базе совместных данных нейтронографического и рентгеновского методов). Не менее важным обстоятельством явилась разработка комплексов программ обработки результатов измерений и определения структуры кристаллов, зачастую с недостаточно охарактеризованным химическим составом. Этой области применения рентгеноструктурного ана 1иза в химии посвящено несколько прекрасных монографий и учебников, и структурные разделы почти обязательно включаются в работы по синтезу новых соединений, так как дают непосредственные данные о пространственном расположении атомов в кристаллах а иногда являются и удобным способом определения химического состава, в особенности если известен качественный состав. [c.3]

Картины дифракции прошедших электронов служат главным образом средством для определения структуры кристаллов наноучастков материала. Определенные параметры решетки являются также ценной дополнительной информацией для аналитической идентификации фаз. Минимальный размер фаз, необходимый для формирования дифракционной картины, составляет величину порядка 20 нм. [c.328]

Что понимают под определением кристаллической структу1ры того или иного соединения Определить кристаллическую структуру вещества — это значит найти пространственное положение каждого атома, входящего в состав соединения. Обычно для каждого атома указывают три координаты по отношению к координатной системе, оси которой совпадают с направлением ребер элементарной ячейки кристалла. Определением координат атомов и заканчивается рентгенографическое определение структуры кристалла. Эта задача довольно сложная И, к сожалению, нет универсальных рецептов для ее решения. [c.536]

Хотя этот эффект известен уже давно и еще в 1928 г. был использован для определения абсолютной полярности сульфида цинка [13], он считался принципиально неприемлемым для определения абсолютной конфигурации хиральных молекул. Бийо показал, что его можно применять и для установления абсолютной полярности кристаллической структуры, содержащей хиральные молекулы [И]. В первом опубликованном сообщении было описано определение структуры кристалла рубидиевой соли (-f)-виннoй кислоты [15]-Поскольку каких-либо простых методов, которые позволили бы установить стереохимическое родство между соединениями с различным типом хиральности, не существует, применение метода Бийо к соединениям с аксиальной и планарной хиральностью явилось особенно важным. [c.40]

Кроме ИК-спектроскопии и спектроскопии КР существуют и другие спектроскопические методы, которые являются важным средством изучения систем с Н-связями. К таким методам относится в первую очередь спектроскопия в видимой и ультрафиолетовой области. Развитие исследований в этом направлении было стимулировано появлением цитированной выше работы Нагакура и Баба [1481], которые обнаружили влияние Н-связи на электронные спектры молекул. В последнее время проявляется большой интерес к применению протонного магнитного резонанса. В настоящей главе обсуждаются, кроме того, флуоресценция, фототропизм и измерения квадрупольного взаимодействия. Применения протонного магнитного резонанса, рентгенографии и нейтронографии для определения структуры кристаллов рассматриваются в гл. 9., [c.126]

Определение структуры кристалла становится осуществшлым вследствие однозначной связи ыеаду индексами Л , , [c.80]

Праменення рентгеновских лучей. Интерференция рентгеновских лучей за последнее время получила широкое применение для определения структуры кристаллов структурный анализ). Постоянную кристаллической решетки, т. е. расстояние между ее главными плоскостями, можно легко определить для кристаллов, имеющих простое строение, путем измерения всего лишь нескольких углов отражения. Вычисление ее производят на основании уравнения (1). Но и для веществ с очень сложным строением можно лишь на основании существования рентгеновских интерференций судить по крайней мере о том, являются ли эти вещества кристаллическими, т. е. построенными упорядоченно или нет, так как только при кристаллической строении, как это следует из теории,, имеются условия [c.235]

Структура кристаллов. Первые определения структуры кристаллов были проведены в 1913 г. В. Л. Брэггом, в то время студентом Кембриджского университета, исследовавшим по методу Лауэ строение каменной соли (Na l), сильвина (КС1) и бромистого калия (КВг). Из распределения интенсивностей Брэгг одновременно устанавливал структуру этих кристаллов и находил длины волн рентгеновских лучей, соответствующих каждой дифракционной картине. В настоящее время стробние таких кристаллов определяется гораздо проще, а именно путем облучения кристаллов рентгеновскими лучами известной длины волны, так как теперь измерение длин волн рентгеновских лучей производится очень просто, с использованием для этой цели кристаллических дифракционных решеток с известными межплоскостными расстояниями. Брэгг установил, что решетки кристаллов каменной соли, сильвина и бромистого калия имеют [c.236]

В Институте кристаллографии АН СССР разработаны специальные программы и эквинаклонный дифрактометр, который вместе с ЭВМ образует автоматизированный комплекс ДАР-М для проведения рентгеновских съемок и расчетов по определению структуры монокристаллов, Комплекс позволяет выпо.чнить пункты а—г анализа структуры, а затем в автоматическом режиме реализовать программу полного определения структуры кристалла. [c.292]

Нетрудно показать, что это соотношение эквивалентно условиям Лауэ. Использование монохроматических лзгчей и этого простого соотношения позволило разработать различные изящные и эффективные экспериментальные методы,определения структуры кристаллов. [c.36]