Локальный анализ рентгенофлуоресцентный

Анализ с помощью некоторых физико-химических методов может быть выполнен без разрушения анализируемого образца (недеструктивный анализ), что имеет большое значение для некоторых отраслей промышленности, а также для криминалистики, медицины и т. д. Недеструктивный анализ может быть выполнен рентгенофлуоресцентным, радиоактива-ционным и некоторыми другими методами. Часто практический интерес представляет не общее содержание какого-либо элемента в пробе, а его распределение по поверхности образца — так называемый локальный анализ — определение элемента в данной точке образца. Этот анализ имеет значение в металловедении и других областях, где состав отдельных включений определяет качество материала, а также в минералогии, петро- [c.5]

Неразрушающие методы, недеструктивные методы — выполнение анализа без разрушения или повреждения анализируемого объекта, возможно дальнейшее применение объекта (см. локальные методы). К ним относятся электронно-зондовые, рентгенофлуоресцентные и другие методы. [c.7]

В то время как в химическом методе определяют среднее содержание хлора в 5 г полимера, толщина полимерного диска, используемого при анализе методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии, составляет всего несколько микрон. Следовательно, какие-либо локальные флуктуации содержания хлора в полимере заметнее проявляются в методе рентгенофлуоресцентной спектроскопии. Можно видеть, что, хотя химический метод дает хорошие результаты анализа одного и того же об- [c.14]

Наиболее точным и надежным методом определения усредненного по объему образца элементного состава является растворение образца с последующим анализом качественного и количественного состава раствора стандартными методами аналитической химии. В то же время специфика задач химии твердого тела обусловливает необходимость исследования не только усредненного элементного состава образца в целом, но и локального — усредненного по некоторому малому элементу объема образца. Применяемые для этой цели экспериментальные методы основаны на анализе некоторых индивидуальных характеристик атомов того или иного элемента — энергетических характеристик электронов внутренних уровней или атомных масс. При этом в ряде случаев требуется знание состава участка образца, близкого к точечному, а в других случаях — состава некоторого его тонкого слоя. В первом случае обычно применяют методы, связанные с воздействием на объект сфокусированного (до диаметра порядка 1 нм) пучка электронов (локальный рентгеноспектральный анализ оже-электронная спектроскопия, или спектроскопия энергетических потерь электронов), а во втором более точные масс-спектрометрические методы или рентгенофлуоресцентный анализ совместно с тем или иным способом удаления тонких поверхностных слоев образца. [c.261]

Для H.a. примешпот методы рентгенофлуоресцентного, активационного, рентгенорадиометрич. анализа и др. Когда спец. подготовки образца х анализу не требуется, H.a. можно проводить методами локального анализа (ионный микроанализ, электронно-зондовые методы, методы фотоэлектронной и рентгеноэлектронной спектроскопии, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.). [c.220]

Аппаратурное оформление метода. Схема рентгенофлуоресцент-ного спектрометра аналогична схеме рентгеноэмиссионного спектрометра. Вакуумные рентгенофлуоресцентные спектрометры позволяют работать с длинноволновым рентгеновским излучением и определять легкие элементы. Дпя локального анализа поверхностных слоев твердого тела применяют современные РФ-спектрометры на основе капиллярной рентгеновской оптики. [c.257]

Рентгенофлуоресцентный локальный микроанализ с использованием рентгеновского излучения от рентгеновской трубки [163, 713], а также первичного рентгеновского излучения, возбужденного В тонкой мишени электронным пучком [163, 303, 677, 703, 1045], применяют к образцам в любом агрегатном состоянии. Метод позволяет определять химический состав без разрушения и расходования образцов в микро- и нанограммовых количествах или в прицельно выбираемых зонах исследуемого объекта с локальностью от 0,1 до 1 мм. Предел обнаружения достигает 2 10 з, а для пленочных материалов соответствует обнаружению одного моноатомного слоя [163]. Примером анализа микрообъекта произвольной формы является анализ кусочка стружки нержавеющей стали 1Х18Н9Т (18% Сг, 9% Ni -)- основа Fe) [163]. Размер образца 0,3 X 0,15 X 0,012 мм, его вес 4,3 мкг. Образец монтируют в пластмассовую подложку так, чтобы его поверхность приблизительно совпала с поверхностью подложки. Эталоном служит шлиф того же материала. [c.120]