Разность хода

Таблица У1.3. Таблица интерференционных цветов при различной разности хода

В отличие от призмы дифракционная решетка дает сразу несколько спектров. Действительно, свет одной и той же длины волны имеет максимум в любом из направлений, для которого выполняется условие, записанное в формуле (17). В зависимости от значения т образуются спектры разных порядков (рис. 62, а). При т = О свет любой длины волны не имеет разности фаз, и в направлении, перпендикулярном поверхности решетки ( р = 0), получается белое пятно неразложен-ного света — спектр нулевого порядка. При т = 1 разность хода для волн, идущих от соседних щелей, равна одной длине волны. По обе стороны от нулевого порядка получаются спектры первого порядка. Меньше отклоняются лучи более коротких длин волн, потому что для них разность хода, равная длине волны, получается ири меньших углах дифракции. При т = 2 образуются два спектра второго порядка и т. д. [c.90]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны X. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (рис. 1.77). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 6 лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том случае, когда б равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.77, луч Si отраженный от плоскости атомов Ри проходит меньший путь, чем луч S , отраженный от соседней плоскости Р , разность этих путей равна сумме длин отрезков АВ и ВС, Поскольку АВ ВС = d sin ф, то 6 = 2d sin ф (где d — расстояние между плоскостями отражения, ф — угол, образуемый падающим лучом и плоскостью). Усиление отраженного излучения происходит при условии [c.142]

Приведенное уравнение показывает, что по мере вращения объекта через каждые 45° происходит чередование просветления и погасания в зависимости от интенсивности свечения, определяемой разностью хода световых волн в микрообъекте. [c.32]

Как следует из уравнения (3.19), для увеличения разрешающей силы необходимо создать условия, обеспечивающие максимальную разность хода интерферирующих лучей. Такие условия, например, реализуются в устройстве, состоящем из двух полупрозрачных зеркал, параллельных друг другу. Этот прибор, названный эталоном Фабри-Перо , является основным прн изучении сверхтонкой структуры спектральных линий и широко используется во всем мире. Неудобство применения эталона Фабри-Перо заключается в том, что он может работать только в узком спектральном интервале длин волн и поэтому всегда должен использоваться в сочетании с более грубыми спектральными приборами, производящими предварительную монохрома-тизацию, т. е. выделение нужного узкого исследуемого участка спектра. Второй недостаток — узкий динамический диапазон измерений интенсивностей линий, что определяется поглощением света в пластинах или зеркальных покрытиях. [c.69]

Выберем в отдельном кристаллике определенную пачку параллельных атомных плоскостей с межплоскостным расстоянием й. Пусть на эту пачку падает монохроматический пучок рентгеновских лучей о с длиной волны А.1 (рис. XXX. 6). Дифракция первого порядка произойдет только тогда, когда разность хода (2 (] 8Ш О]) между соседними парами отраженных лучей будет рав- [c.356]

Дифракция второго порядка, очевидно, произойдет тогда, когда разность хода тех же лучей будет равна 2А,ь что отвечает другому углу скольжения 62 (разность хода 2с 1 з1п 62) и т. д. [c.357]

С помощью микрометрического винта 3 (см. рис. 33,а), соединенного с компенсаторным устройством, можно добиться совмещения верхней и нижней системы интерференционных полос. Показания шкалы микрометрического винта 3 характеризуют разность хода лучей в обеих камерах и разность показателей преломления эталонного и исследуемого растворов. Микрометрический винт имеет две шкалы, из которых одна, неподвижная, имеет 30 де-60 [c.60]

На пути лучей между плоскостью 2 и объективом 3 помещается двухкамерная кювета. Одну кювету наполняют эталонной жидкостью или газом, другую — исследуемой жидкостью или газом. Разность хода лучей света, возникшая вследствие различия показателей преломления, смещает наблюдаемую в окуляре интерференционную картину. Измерение смещения интерференционных полос позволяет определить разность показателей преломления эталонного и исследуемого вещества. [c.85]

Фазовые соотношения отраженных лучей будут зависеть от длины волны X, межплоскостного расстояния d и угла скольжения 0 (рис. 63, а, б). Выразим математически эту зависимость. В точках В и С лучи Si и Sa находятся в одной фазе (так называемый фронт плоской волны). После отражения луча Si в точке А и луча в точке С оба они пойдут в одном направлении СЛ5. Луч 2 пройдет путь, больший, чем луч St на величину АС — АВ, называемую разностью хода. Отражение рентгеновских лучей в направлении СЛ5 будет наблюдаться при разности хода, кратной длине волны, т. е. при условии АС — АВ = пХ, где п — целое число [c.112]

Если камеры кюветы заполнены жидкостями с различными показателями преломления, то появляется оптическая разность хода между лучами, прощедшими через разные отверстия диафрагмы 4. Это приводит 1К смещению наблюдаемой в окуляр интерференционной картины. Величина смещения пропорциональна разности показателей преломления жидкостей. [c.127]

Направленность создается в результате интерференции волн, приходящих в произвольную точку В от различных элементов излучателя. Разность хода лучей до точки В х, ув, zb) (см. рис. 1.32) от центра О и от элементарного источника А (О, Уа, za) равна [c.80]

Для этого используют принцип изменения интерференционной окраски при последовательном прохождении световых лучей через сферолит и стандартный кристалл. Световая волна поляризованного света, входящая в кристалл, разбивается на две волны, имеющие при выходе из кристалла разность хода Д. Разность хода возникает вследствие различной скорости распространения обеих волн. Она пропорциональна толщине кристалла й и разности показателей преломления ( 1 — Иг) волн в данном сечении кристалла [c.176]

Длины волн белого света имеют значения приблизительно (400—800)-10 мкм. Получающаяся в кристалле разность хода для лучей одних волн равна четному, для других — нечетному числу полуволн. Поэтому волны одной длины (одного цвета), входящие в состав белого света, при интерференции уничтожаются, другие, наоборот, усиливаются В результате отношение интенсивностей различных цветов становится иным, чем в белом свете, и кристалл кажется окрашенным. Каждой разности хода соответствует определенная интерференционная окраска, по которой определяют оптическую индикатрису кристалла. Индикатриса характеризует оптическую анизотропию кристалла и представляет собой вспомогательную поверхность, каждый радиус-вектор которой соответствует показателю преломления кристалла для световой волны, распространяющейся в направлении этого вектора. В общем случае эта поверхность имеет форму эллипсоида. Условно кристаллы называют положительными, если индикатриса имеет форму вытянутого эллипсоида (рис. VI. 14, а) и отрицательным, если индикатриса сплюснута (рие. VI. 14, б). При последовательном прохождении луча через стандартный кристалл с известным знаком двулучепреломления и сферолит наблюдается измене- [c.176]

Прежде чем приступить к работе с микроскопом, необходимо ознакомиться с его устройством по описанию прибора. Проверить, правильно ли в микроскопе установлены николи для получения поляризованного света. Обратить внимание на то, какую окраску в поляризованном свете имеет пробная пластинка (стандартный кристалл) и в таблице интерференционных цветов найти ее разность хода. [c.196]

Разность хода Д 10 мки Цвет Разность хода Д 10 мкм Цвет [c.196]

Исследования с помощью микроскопа начинают на образце высокоориентированного ПП, в котором-оси макромолекулы расположены в направлении растяжения пленки. Вращением предметного столика микроскопа добиваются положения, при котором ось ориентации образца становится параллельной пробной пластинке. Наблюдают изменение интерференционной окраски (разности хода) при последовательном прохождении поляризованного света через пробную пластинку и пленку ПП, на основании чего делают вывод о прямой или обратной параллельности индикатрис макромолекулы и стандартного кристалла (см. рис. VI. 15). [c.196]

Рассмотрим рентгеновское излучение, падающее на кристалл в виде плоской электромагнитной волны. В такой волне в любой момент времени напряженность поля (это в равной мере относится и к электрической, и к магнитной составляющим электромагнитного излучения) одинакова в пределах каждой плоскости, перпендикулярной направлению пучка. Иными словами, колебания поля в пределах такой плоскости, которая в дальнейшем будет называться фронтом волны, находятся в одной фазе и усиливают друг друга. Известно в то же время, что если две волны находятся не в фазе, то они частично или полностью гасят друг друга. Такое несовпадение фаз может возникнуть, если две волны, находящиеся в одной фазе, по тем или иным причинам сместились одна относительно другой, т. е. между ними создалась некоторая разность хода. Имен- [c.181]

Следовательно, nh. nk и ni отвечают разностям хода лучей, рассеянных атомами, отстоящими друг от друга на один период по осям X, у н 2 соответственно. [c.202]

Таким образом, максимумы получаются в тех направлениях, где разность хода для световых колебаний от соответствующих точек соседних щелей составляет целое число длин волн, а разность фаз равна нулю, или, что то же самое, целому числу периодов. Во всех остальных направлениях свет от разных щелей поступает в разных фазах. Его гашение будет тем более полным, чем больше число щелей в решетке. Дифракционные решетки имеют десятки и даже сотни тысяч штрихов, поэтому интенсивность максимумов велика ири практически полном гашении света в остальных точках пространства. [c.90]

Если свет падает на решетку под некоторым углом к ее поверхности, то дисперсия увеличивается, так как лучи получают дополнительную разность хода прежде, чем попадают на соседние щели. [c.92]

Объясните, почему при дифракции света на одной щели условием появления максимума является нечетное число полуволн, а в дифракционной решетке максимумы света получаются в направлениях, где разность хода от соответствующих точек соседних щелей составляет целое число волн (четное число полуволн). [c.93]

Появление д0П0лнител1)Н0Й оптической разности хода между лучами, прошедшими через разные отверстия диафрагмы Д2, возникшей вследствие различия показателей преломления исследуемого и эталонного растворов, приводит к смещению наблюдаемой в окуляр верхней системы интерференционных полос. Если в обеих камерах кюветы разность хода равна нулю, верхняя система интерференционных полос совпадает с нижней неподвижной (рис. 34,в). При наличии разности хода лучей в камерах кюветы верхняя система полос сместится относительно нижней на некоторое расстояние, зависящее от разности показателей преломления сравниваемых жидкостей (рис. 34,6), Если разность хода лучей в камерах кюветы значительна, то верхняя система полос уйдет из поля зрения окуляра и на ее месте будет видна светлая полоса (рис. 34,с). [c.60]

Лучи, [проходящие под кюветой, образуют в толе зрения окуляра нижнюю неподвижную систему интерференционных полос, а проходящие через ювету лучи дают верхнюю подвижную систему полос. Колда разность хода в камерах кюветы равна нулю (обе камеры заполнены одной и той же жидкостью), то верхняя система интерференционныж полос совпадает с нижней (рис. 41, а). При наличии разности хода лу- [c.128]

Бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляют с помощью лазерного интерферометра [14]. Одна из возможных схем показана на рис. 1.30 справа. Луч высокостабилизированного лазера 9 расщепляют полупрозрачным зеркалом 8 на два луча, которые отражаются от зеркала 6 и ОК 5, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи фокусируют линзой 10 и принимают фотоумножителем 11. Разность хода лучей в плечах интерферометра выставлена так, чтобы она была равна нечетному числу четвертей световых волн. Длина волны выбирается довольно большой (например, 0,6328 мкм от гелий-неонового лазера). Тогда косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей при колебаниях поверхности изделия аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3-10 м. Из сигнала на фотоумножителе фильтром 12 выделяют низкочастотную составляющую, соответствующую мешающим вибрациям, усиливают ее усилителем 7 и управляют перемещениями зеркала 6, которое укрепляют на компенсирующем его движение пьезоэлементе. Таким образом отстраиваются от влияния вибраций. [c.73]

Разобьем первую зону Френеля на элементарные площадки. Вследствие разности хода лучей, рассеянных центральной и нери-ферийными площадками, волны, достигаюп ие точки В, интерферируют и частично гасят друг друга. Пользуясь векторной диаграммой амплитуд волн, рассеянных всеми элементарными н.тющад-ками первой зоны, найдем, что длина результирующей амплитуды [c.85]

Из рис. XXII 1.1 видно, что в точке С произойдет интерференция луча, отразившегося от верхней плоскости, и луча, отразившегося от следующей плоскости. Разность хода этих двух лучей А, как это следует из рис. XXIII.1, равна А = АВ + АС. Если А равна целому числу волн, то рассматриваемые два луча будут максимально усиливать друг друга. [c.494]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны Л (рис. 1.71). Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (атомные п.10скости pi, p , Рз, Ра). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 5 лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление излучения происходит в том случае, когда <> равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны находятся в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.71, луч Si, [c.151]

Как и в примере с дифракционной решеткой (см. приложение 2), усиление или погашение волн зависйт от разности фаз р, которая связана с разностью хода лучей б соотношением р = 2яб/л,. Как видно из рис. 166, б = АМ — AN, где АМ и AN — проекции отрезка АВ, равного г, на направления падающего и рассеянного лучей. [c.293]

Теперь рассмотрим две волны, отраженные от атомов, находящихся в двух соседних плоскостях кристаллической решетки. Как видно из рис. 67, волна, рассеянная атомом нижней плоскости к моменту формирования фронта волны, пройдет дополнительное расстояние 2iisin9, т. е. между волнами, рассеянными атомами разных плоскостей, будет существовать разность хода и тем самым смещение по фазе. В общем случае, поскольку рассеяние происходит от большого числа плоскостей, это приведет к взаимному гашению волн, и отражение наблюдаться не будет. Однако если эта разность хода окажется кратной длине волны рентгеновского излучения, то волны, рассеянные атомами разных плоскостей, будут отставать друг от друга на целое [c.161]

Рентгеноструктурный анализ. Этот метод является наиболее старым из перечисленных. Дифракция рентгеновских лучей была открыта Лауэ с сотр. в 1912 г. Тогда же Лауэ показал, что разность хода лучей с длиной волны к, рассеиваемых в дифракционном направлении, т. е. а(соьф— osx). > де о — периодичность решетки [c.201]

Это уравнение по 1воляет определить углы 0, под которыми должно происходить отражение от 1аданной серии сеток hkl). Индексы likl равны числу частей, на которые ра <биваются серией сеток hkl) ребра а, Ь и с элементарной ячейки, а /г — разность хода лучен, отраженных соседними плоскостями. [c.202]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология