Ошибки причины

Разделение ошибок по характеру вызывающих их причин представляет наиболее принципиальный тип классификации ошибок любых измерений. Плодотворность такого подхода состоит в том, что он позволяет наметить общую стратегию уменьшения ошибок путем поэтапной борьбы сначала с систематическими ошибками, причины которых либо заведомо известны, либо могут быть выявлены при детальном анализе процедуры измерения, а потом со случайными ошибками. Вполне естественно, что при этом для борьбы с ошибками разной природы применяются различные приемы и методы математической обработки результатов анализа. Рассмотрим более подробно понятия систематической и случайной ошибок и понятие промаха применительно к химическому анализу. [c.20]

Нефелометрические и турбидиметрические методы мало точны. Ошибки, происходящие от неточности фотометрических измерений, обычно ничтожно малы по сравнению с ошибками, причиной которых является недостаточная воспроизводимость суспензии. Действительно, очень трудно получить при каждом определении частицы суспензии тех же размеров, какие были в стандартной суспензии при построении калибровочной кривой. Многие факторы отражаются на размерах частиц концентрация определяемого вещества в растворе, скорость добавления осаждающего реактива, перемешивание, температура, присутствие посторонних веществ и т. п. Кроме того, размеры частиц суспензии с течением времени возрастают. Этому росту кристаллов суспензии можно воспрепятствовать, прибавляя поверхностно-активные вещества, желатин и т. п. Но надо очень строго следить за тем, чтобы все условия и порядок действий при анализе пробы и при калибровке были совершенно одинаковыми. [c.247]

Так же как во всех предыдущих случаях, информационно-поисковая система позволит изучить связь опасной психофизиоло-геческой ошибки (причины травматизма) с категорией оператора, типом ЧМС, со всеми профессионально важными свойствами пострадавшего. [c.230]

Систематические ошибки III типа — ошибки, причина и величина которых неизвестны экспериментатору. Именно, такие ошибки представляют наиболее трудный объект в борьбе за правильность химического анализа. Они могут быть 01бна-ружены только после устранения всех прочих систематических ошибок по заметному отклонению результатов от истинного-или ожидаемого значения. Естественно, что для борьбы с такими ошибками необходимо прежде всего найти их причину и источник. Для этого следует кропотливо и придирчиво, шаг за шагом пересмотреть все детали и операции химического анализа реактивы, эталоны, мерную посуду, весы, способы отбора средней пробы, операции осаждения, фильтрования и промывания осадков, отбора аликвотных проб и т. д. В ходе такого пересмотра отдельные операции и детали анализа следует последовательно переоснастить , заменяя реактивы, посуду и т. д. а образцы других партий и марок. Кроме того, следует попытаться установить связь ошибки с такими внешними условиями, как время (время приготовления растворов, ароки хранения реактивов), температура, состав атмосферы (.в отдельных заводских и лабораторных помещениях состав атмосферы может сильно отличаться от среднего), влажность и т. д. Рано или поздно в результате такого тщательного расследования будет найден источник, а вослед за этим и причина систематической ошибки, которая может быть теперь устранена или по крайней маре оценена. [c.41]

Последующие ошибки могут быть связаны с самой системой регистрации. Например, при собирании ионов коллектором приемника энергии ионов вполне достаточно, чтобы выбить из материала коллектора электроны (вторичная электронная эмиссия), в результате чего потенциал коллектора повышается и, следовательно, вносится систематическая ошибка. В общем случае эффективность вторичной электронной эмиссии зависит от энергии иона и свойств материала коллектора. Полностью этот эффект не изучен. Некоторую интерпретацию эджекций из металлической поверхности дал Гош [99] и Измайлов [100]. Кроме того, анализируемое вещество можег осаждаться на коллекторе в виде нейтральных молекул, изменяя тем самым характеристики материала коллектора, что также влечет за собой ошибку. Причиной такого эффекта при регистрации изотопов урана может служить тот фа1кт,1у что когда ионы иГс, + с высокой энергией ударяются о поверхность коллектора, получается разбрызгивание материала коллектора с освобождением нейтральных молекул и положительных ионов. В результате этого ионы иГа + будут формировать монослой ир4. Сама электронная схема также не свободна от искажений, особенно в случае применения электронных умножителей. Нелинейность входных высокоомных сопротивлений (зависимость от напряжения), вариации коэффициента усиления усилителя постоянного тока, погрешность компенсационных схем [72, 76] и выходных регистрирующих приборов —все эти ошибки приводят к большому искажению результатов при измерении распространенности изотопов элементов. Иногда приходится калибровать отдельные узлы масс-спектро-метра. Например, сул1мар1Ное искажение, соответствующее регистрационной части маос-спектро-метрической установки, в которое входят все погрешности индекса (И) (согласно нашей схеме), может быть учтено либо при помощи калибровки прибора моноизотопами [97], либо посредством специального приспособления в предусилителе приемника, состоящего из двух эталонных емкостей, после-10- 147 [c.147]

Простейший оптический метод измерения дихроизма с помощью микроскопа заключается в следующем. В микроскоп вставляется дихроскопи-ческий окуляр, т. е. окуляр с призмой Волластона, над которой находится вращающаяся призма-анализатор с круговой шкалой. При измерении следует вывести поляризатор и анализатор микроскопа поляризатор используется лишь для правильной ориентировки кристалла, чтобы его плоскости колебания совпадали с плоскостями колебания изображений в дихроскопе. Чрезвычайно важно, чтобы в окуляр попадал только свет, прошедший через кристалл, так как в противном случае возможны серьезные ошибки, причиной которых являются блики от объектива, если он освещен ярким посторонним светом (стр. 319). Монохроматическое освещение микроскопа должно идти узким конусом и давать маленькое поле поэтому для получения его удобно использовать лабораторный спектрометр. Если интенсивности двух смежных изображений в поле дихроскопа обозначить через и 2. а угол, который составляет плоскость колебания анализатора с плоскостью колебания изображения с интенсивностью /j, через в, то [c.309]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология