Поляризатор микроскопа

В ПЭВД, как и в ПЭНД, кристаллиты образуют более крупные упорядоченные образования - сферолиты. Если размеры кристаллитов в ПЭВД 5-20 нм, то размеры сферолитов на несколько порядков больше и составляют 10 — 10 нм и даже более. Микроскопическое исследование в поляризованном свете тонких срезов и пленок ПЭВД обнаружило картину, характерную для сферолитов, - систему кристаллических образований, исходящих из одной точки и имеющих одну и ту же кристаллическую ось, направленную радиально из общего центра. При наблюдении в микроскопе со скрещенными поляризаторами (николями) [c.145]

Деполяризации плоскополяризованного света. При помещении под микроскоп тонкого слоя раствора жидкокристаллического полимера в случае скрещенных поляризаторов наблюдаются окрашенные домены (голубые, зеленые, красные, желтые), вид которых зависит от типа системы и предыстории образца. [c.65]

Определение показателей преломления кристаллических веществ ведут чаще всего иммерсионным методом — путем сравнения оптических характеристик кристаллов и жидкости, в которую их погружают. Для измерений используют поляризационный микроскоп (рис. 34), который снабжен поляризатором и анализатором, расположенными до и после объекта наблюдения в оптической системе микроскопа. Расположение поляризатора и анализатора должно быть на первом этапе измерений взаимно перпендикулярным (оси РР и АА на рис. 35, а). Луч света проходит от осветителя через поляризатор, который пропускает поляризованный свет с колебаниями в плоскости РР] войдя в кристалл исследуемого вещества, луч света разлагается на два с колебаниями, отвечающими направлениям осей эллипса сечения индикатрисы хх и уу. По пути к окуляру эти лучи проходят еще через анализатор, пропускающий только свет с колебаниями в плоскости АА. Колебания Хр и ур, совпадающие с осью РР, перпендикулярной АА, гасятся анализатором, а колебания ха и у а проходят через анализатор и наблюдаются в окуляре. В этом положении кристалл будет выглядеть светлым и окра- [c.108]

Поляризационный микроскоп, общий вид 1 — окуляр, 2 — тубус микроскопа, 3 — поворотный диск со светофильтрами, 4 — анализатор, 5 — объектив, 6 — маховичок грубой наводки на фокус, 7 — предметный столик, 8 — поляризатор, 9 — осветитель, 10 — маховичок тонкой наводки на фокус, 11 — трансформатор [c.108]

Для кристаллов низшей категории симметрии приходится определять еще и средний показатель преломления Мэ(ту Его можно измерить на кристаллах с круговым сечением индикатрисы, которые в случае перпендикулярного положения поляризатора и анализатора не подвергаются затемнению при любом повороте предметного столика микроскопа. [c.112]

Если есть какой-нибудь микроскоп (ученический, биологический или изготовленный самостоятельно), его легко превратить в поляризационный, для чего нужно снабдить осветитель поляроидом (поляризатором), чтобы предмет освещался поляризованным светом анализатор — тоже поляроид его можно накладывать на окуляр для исследования кристалла в скрещенных николях. Скрещивания николей добиваются поворотом поляроидов друг относительно друга до наступления полной темноты при рассматривании стекла. Для изучения минералов в поляризованном свете очень хорошо можно приспособить бинокулярный микроскоп любой конструкции. Для этого необходимо прикрепить к бинокуляру поляризатор и анализатор. Бинокулярный микроскоп БМС-2 для первоначального изучения минералов удобнее поляризационного микроскопа. [c.101]

Исследуемый образец помещают в положении под углом 45° на столик микроскопа, поляризатор и анализатор которого установлены на темноту. В окуляр микроскопа вводят откалиброванный клин так, чтобы его медленное (с большим показателем преломления) направление было параллельно быстрому (с малым показателем преломления) направлению образца. По мере продвижения клина через щель окуляра можно наблюдать изменение цвета интерференционных полос в сторону уменьшения двойного лучепреломления (рис. 75) до полного погашения. В этот момент двойное лучепреломление клина равно и противоположно по знаку двойному лучепреломлению образца, который называют скомпенсированным. Запаздывание определяют по градуированной шкале, лежащей в плоскости перекрестия окуляра. Измерив толщину образца, можно вычислить его двойное лучепреломление по уравнению (22) или найти его по диаграмме, аналогичной рис. 75. В случае полного погашения уравнение (22) сводится к виду [c.121]

Экспериментально было найдено, что малые разности запаздывания, вызываемые соседними областями исследуемого образца, можно определить более просто, если среднее запаздывание образца равно примерно 560 ммк (что соответствует красной полосе первого порядка). Поэтому запаздывание, вызываемое низкими образцами, искусственно увеличивают, а высокими — уменьшают, применяя гипсовые или слюдяные пластинки. Гипсовая пластинка, обеспечивающая запаздывание порядка 560 ммк, называется красной пластинкой первого порядка. Стандартные пластинки обычно устанавливают в держателях так, чтобы низкое (быстрое) направление было ориентировано параллельно длине пластинки. Пластинку вводят в щель, располагающуюся над объективом поляризационного микроскопа. Скрещенные поляризатор и анализатор устанавливают под углом 45° к направлению пластинки. Ориентируя исследуемый образец таким образом, чтобы направление, соответствующее большему показателю преломления, было параллельно-или перпендикулярно направлению пластинки, можно увеличить или уменьшить запаздывание. Для выделения локальных разностей можно применить промежуточную ориентацию. Слюдяная пластинка, обеспечивающая запаздывание примерно на 150 ммк, называется четвертьволновой. Первоначально она предназначалась для работы с монохроматическим желтым светом (D-линия натрия) однако ее можно применять и вместо гипсовой пластинки для получения небольших изменений в интерференционных цветах. [c.121]

При рассматривании пленок кристаллических полимеров в световом микроскопе со скрещенными поляризаторами или в электронном микроскопе часто удается наблюдать сложные образования — сферолиты,— пронизывающие всю массу пленки. Размеры сферолитов зависят от скорости кристаллизации и других причин и колеблются от нескольких сотен ангстрем до нескольких сотен микрон. Присутствие сферолитов оказывает влияние на ряд свойств полимеров, и поэтому они были предметом многочисленных исследований. Например, непрозрачность полиэтилена, найлона и других кристаллических полимеров объясняют наличием не кристалликов, размеры которых меньше длины световой волны, а сферолитов, образовавшихся на основе этих кристалликов, причем для образования сферолитов необходима определенная длина цени. Так, в полиэтилене сферолиты образуются лишь тогда, если его молекулы содержат в среднем не менее 300 атомов углерода. Сферолиты могут образовываться из неразветвленных молекул из раствора или из расплава. [c.258]

С поворотом столика микроскопа может изменяться не окраска кристалла, а ее густота, в таком случае используется термин абсорбция . Если кристалл более темный, когда пропущенные. поляризатором колебания совершаются по Ыд кристалла, то абсорбция такого кристалла по Ng>Ыp и, наоборот, если более темная окраска вызвана колебаниями по Ыр кристалла, то абсорбция по Np>Ыg. [c.16]

Для измерения этого показателя преломления (по В. Б. Татары скому) прямую или симметричную балку следует, поворотом кристалла на столике микроскопа, установить перпендикулярно направлению колебаний поляризатора. Измеренный при таком положении показатель преломления является одним из главных показателей кристалла. [c.28]

Свет, пройдя сквозь щель, входит в фотометр, прикрепленный к конденсатору томного поля, п разлагается стеклянной призмой. Один составной луч проходит через поляризатор к микроскопу, освещает половину поля зрения окуляра при отражении от образца. Другой составной компонент, который отражается под углом 90°, используется для сравнения, проходя через стеклянные фильтры с различной плотностью. Подвижная призма отражает сравниваемый луч под прямым углом, чтобы пропустить его через поляризатор и анализатор затем луч отражается в третий раз под прямым углом фотометрическим кубиком. Круговое поле окуляра разделяется на две полуокружности, одна из которых освещается лучом для сравнения, а другая—лучом отражения от образца. Интенсивность освещения обеих полуокружностей выравнивается и показание анализатора отмечается на градуированной шкале. Величина смещения, найденная при отсчете на шкале, от положения, соответствующего ну.левой интенсивности, в наира-влении к максимальной интенсивности и выраженная в процентах, принимается как мера отражения света и представляет собой показатель отражения. Это не следует смешивать с коэффициентом отражения, который является отношением света отражения от поверхности к сумме падающего света [82]. [c.93]

Рис. 18. Микрофотография штрихов поляризатора 2400 штр/мм, полученная на электронном микроскопе.

Фрейзер [33] рассмотрел поправку, которую нужно вводить при таких исследованиях, для случая, когда сечение пучка излучения, пропущенного образцом, ограничивается внешней и внутренней окружностями. При этом необходимо интегрирование, но в большинстве случаев пределы интегрирования, т. е. используемую часть пучка, определить не так-то просто. Кроме того, Фрейзер принимает, что электрический вектор косых лучей, проходящих через образец, колеблется в плоскости, в которой лежат также ось микроскопа и то направление, какое имеет электрический вектор в поляризаторе, а это выполняется лишь приближенно. Для конечного угла конуса лучей поправку точно ввести трудно, но экспериментальные результаты [c.291]

Оптическая система в основном состоит из объектива 11, закрепляемого в торцовой части внизу тубуса, окуляра 6, вставляемого в верхнюю часть тубуса, поляризатора 13 (призмы Николя), помещаемого под предметным столиком в осветительной системе, анализатора 5 —второй призмы Николя в тубусе микроскопа, линзы Бертрана 8, вводимой в тубус между анализатором и окуляром, и линзы Лазо 12, расположенной непосредственно под предметным столиком над поляризатором. [c.212]

Инфракрасный микроскоп — это такое приспособление к спектрометру, которое позволяет получить спектры чрезвычайно малых образцов. Это особенно важно в биологии, где часто для анализа можно использовать только микрограммы вещества. ИК-микроскоп также является мощным инструментом при исследовании небольших количеств образца, полученного на колонке для газовой хроматографии. Эта глава посвящена главным образом применению ИК-микроскопа в комбинации с поляризатором для анализа небольших монокристаллов и ориентированных волокон природного и синтетического происхождения [10, 16, 17, 40]. [c.236]

Оптическая система микроскопа следующая от источника света лучи идут в две собирательные линзы-конденсоры, позволяющие повысить освеще ние объекта. После конденсоров лучи попадают на призму, преломляются и проходят поляризатор. Поляризованный пучок света проходит один из трех сменных конденсоров и освещает исследуемый объект. От препарата лучи направляются в объектив, анализатор и окуляр. Между объективом и анализатором в систему могут вводиться компенсационные пластинки. Диафрагмы расположены около осветителя, под поляризатором, над ним и в насадке. Диафрагма около осветителя является полевой. Две диафрагмы в конденсаторе — апертурные для различных объектов в насадке — для ограничения зерна минерала в коноскопическом свете. [c.109]

Луч света от осветителя падает на зеркало микроскопа, отражается от него, проходит сквозь поляризатор, остекленное отверстие корпуса 9 и термостолика 11, образец материала, объектив 8, компенсатор, анализатор и окуляр микроскопа и попадает в глаз наблюдателя. Плоско-поляризованный луч света, выходя из поляризатора, падает на образец и вследствие наличия напряжения в нем разлагается на две когерентных волны по правилу параллелограмма с колебаниями в плоскостях главных напряжений в исследуемом материале. [c.31]

Для определения двойного лучепреломления можно использовать любой хороший микроскоп, снабженный 5 X и 10 X окулярами н объективами, оптическими поляризатором и анализатором и изолирпванпым или металлическим столиком. В частности, может быть использован юнитрон поляризационный микроскоп, модель МР5 (Юнайтед Сайентифик К°), котор-ый модифицирован нагревательным столиком Кофлера. В качестве менее сложного прибора может быть модифицирован с помощью диска полярондной пленки на окулярной трубке и диска на источнике света обычный лабораторный микроскоп (рис. 39). [c.59]

Оптическая схема металлографического микроскопа, используемого в металлографическом анализе 1 — источник света 2 — конденсор з — кольцевая диафрагма для фазового контраста 4 — апертурная диафрагма 5 — собирательная линза 6 — поляризатор 7 — полевая диафрагма 8 — кольцевая диафрагма для темнопольного освещения 9 — полупрозрачное зеркало 10 — объектив и — металлографический шлиф 12 — фазовая пластинка 13 — анализатор и — линза 15—зеркало 1в — окуляр 17 — фотоокуляр 18 — фотопластинка. [c.803]

Если наблюдать в поляризационной микроскоп со скрещенными нико-лями тонкую пленку переохлажденного расплава полимера, то первым признаком кристаллизации, который можно обычно видеть, будет появление маленьких площадей с двойным лучепреломлением, растущих равномерно вокруг первичного зародыц1а. На ранних стадиях можно наблюдать в некоторых случаях пучки волокнистых кристаллитов, которые вскоре принимают веерообразную форму, ограниченную окружностью в других случаях к тому времени, когда шх можно отчетливо различать, они могут быть уже круглыми. Начиная с этого момента круглые дискообразные тела продолжают расти при изотермических условиях с постоянной радиальной скоростью до тех пор, пока вся пленка не превратится в ряд более или менее полигональных областей с двойным лучепреломлением, разделенных ясно различимыми границами. На рис. 17 показана наблюдаемая картина в момент, когда радиальный рост приближается к завершению. Видны кресты погасания с центрами на первичных зародышах они ориентированы параллельно направлениям пропускания поляризатора и анализатора, и эта ориентация [c.447]

Единственной фигурой погасания, наблюдаемой у многих полимерных сферолитов через скрещенные николи, является простой крест, какие видны на рис. 17, и интерпретация такого поведения довольно очевидна. Если не считать приблизительной параллельности, соседние фибриллы ориентированы в таком сферолите беспорядочно относительно радиального направления. Оставляя в стороне кристаллографические ориентации фибрилл и их оптические свойства (одноосность или двуосность), такие же свойства сферолита можно рассматривать, учитывая только два средних коэффициента преломления Пг и щ, которые характеризуют преломление света, поляризованного таким образом, что электрический вектор лежит параллельно соответственно радиальному и тангенциальному направлениям. Величину Аге = = Пг — щ называют степенью двойного лучепреломления сферолита. Нулевая амплитуда погасания наблюдается в направлении радиусов, которые параллельны направлениям поляризатора и анализатора микроскопа, а знак (положительный или отрицательный) и величина Ап дают полезную информацию об ориентации молекул и относительной поляризуемости полимерных кристаллитов в направлении различных кристаллографических осей [49, 54]. [c.451]

Фигуры погасания, показанные на рис. 19, могут быть объяснены с точки зрения кооперированной ориентации посредством скручивания следующим образом. На рис. 19, а и 19, б показаны соответственно оптически одноосные и двуосные фибриллы, скручивающиеся вдоль нормали к оптической оси в первом случае и вдоль линии, перпендикулярной плоскости двух оптических осей,— во втором. В обоих случаях принимается, что фибриллы полностью лежат в плоскостях сферолитов и равномерное скручивание дает правовращающий винт с одинаковой фазой у всех фибрилл. Нулевое погасание двойного лучепреломления будет наблюдаться в каждом случае, когда оптическая ось направлена перпендикулярно предметному столику микроскопа, вызывая расположенные на одинаковом расстоянии друг от друга простые или двойные кольца погасания. Кресты, как и в случае, рассмотренном ранее, соответствуют нулевой амплитуде погасания, когда фибриллы лежат параллельно направлениям поляризатора и анализатора. Расстояния между чередующимися кольцами в радиальном направлении обычно составляют величину порядка 10 мк и меняются при переходе от одного полимера к другому. У каждого данного полимера это расстояние зависит от температуры кристаллизации, увеличиваясь при ее повышении [50]. Иногда расстояние между кольцами превышает, однако, 100 лк, и тогда прямое подтверждение ориентационного скручивания методом дифракции рентгеновских лучей становится исключительно трудным. Тем не менее Фудзиваре [29] удалось этим методом показать постепенное скручивание в направлении радиусов у сферолитов полиэтилена. Наличие кооперированной ориентации скручивания у других полимеров было подтверждено методом микроскопии путем изучения систематических изменений фигур погасания при рассмотрении сферолитов на универсальном столике Федорова под различными углами наклона [48, 49, 59, 109, ПО]. Фигуры, показанные на рис. 19, в и 19, г, также объясняются ориентацией скручивания. Например, зигзагообразные кресты были найдены как у одноосных, так и у двуосных полимеров, у которых скрученные фибриллы имеют кристаллографические ориентации, не допускающие расположения оптических осей в тангенциальных направлениях. Более сложная фигура, изображенная на рис. 19, г, особенно интересна, так как она иллюстрирует на примере такого одноосного полимера, как полиэтилен, обычное различие поперечных сечений глобулярных и двумерных сферолитов, выросших в тонких пленках. В первом случае фибриллы лежат в плоскости сечений, образуя фигуры погасания такого типа, как показано на рис. 19, а. Однако во втором случае температурные градиенты, возникающие вдоль пленки полимера во время кристаллизации [49], могут вызвать наклон фибрилл к плоскости сферолитов на несколько градусов. Такие наклоны неизменно приводят к образованию круглыми сферолитами зигзагообразных крестов, и при интерпретации картин, даваемых образцами, закристаллизованными в виде тонких пленок, всегда следует иметь в виду возможность этой необычной ориентации фибрилл в таких случаях. У сферолитов наблюдается как правое, так и левое скручивание, по-видимому, с равной вероятностью, и каждый сферолит вообще поделен на ряд секторов то с правым, то с левым ориентационным скручиванием [49, 52]. На практике ориентационное скручивание не так хорошо координировано, как это показывают идеализированные фигуры на рис. 19, хотя может быть, как видно из рис. 20 (сравните с рис. 19, г), при благоприятных условиях довольно правильным. [c.453]

Если имеется какой-нибудь микроскоп (это может быть ученический, биологический или изготовленный са.мостоятельно), его легко превратить в поляризационный, для чего нужно снабдить осветитель поляроидом (поляризатором), чтобы предмет освещался поляризованным светом анализатор — тоже поляроид его можно накладывать на окуляр при рассматривании кристалла в скрещенных [c.68]

Закристаллизованные области в полимерном теле обычно оптически анизотропны. Эта анизотропия вызвана анизотропным ориентационным и координационным порядком в расположении цепных молекул в кристаллич. решетке полимера. Картина возникающего при этом Д. л. зависит от характера надмолекулярных структур, образовавшихся в закристаллизованном полимере. В фибриллярных структурах наблюдается осевой ориентационный молекулярный порядок и соответственно оптич. анизотропия, ось к-рой направлена вдоль по фибрилле (волокну). При этом знак Д. л. определяется знаком анизотропии цепных молекул, а значение Д. л. может служить мерой средней степепи их ориентации в волокне (фибрилле). Широко распространенным типом кристаллич. форм, обнаруживаемых в микроскоп по их Д. л., являются сферолиты. При наблюдении сферолита, полученного кристаллизацией полимера в тонком слое, в параллельных лучах и скрещенных поляроидах виден темный крест, центр к-рого совпадает с центром сферолита, а оси параллельны плоскостям поляризатора и анализатора. Малое значение Д. л. у сферолитов означает, что степень упорядоченности субмикроскопич. монокристаллов в них невелика. Если известен знак оптич. анизотропии молекул полимера, то по знаку Д. л. сферолита можно судить о направлении в нем молекулярных цепей. Так, отрицательное Д. л. сферолитов полиэтилена соответствует тому, что его положительно анизотропные молекулы ориентированы в сферолите в тангенциальных направлениях (вдоль оси с кристалла). [c.332]

Для подтиерждения того, что рассматриваемые под микроскопом кристаллы являются известью, пыль с фильтра на стороне отсоса подвергалась также рентгенографическому и мик-рокристаллохимическому анализу в поляризационном микроскопе. Этот анализ производился в связи с тем, что методом порошковой рентгенографии трудно определить вещество (в данном случае непрореагировавший кальцит) при его содержании в порошке менее иескольких процентов. Отсутствие кальцита устанавливалось анализатором при скрещенных ни-колях поляризатора. Окись кальция обнаруживалась реакцией [c.183]

Микроскоп в комбинации с поляризатором является очень мощным инструментом для измерений спектров тонких нитей и небольших монокристаллов. Поляризатор обычно помещают в недиспергированный пучок, но при этом необходим источник с высокой интенсивностью [18, 51 [. Это не очень удобно, так как пластинки из хлористого серебра быстро темнеют вследствие фотодеструкции. Поэтому Бон [13] спроектировал такой микрополяризатор, который можно поместить в диспергированный пучок между диафрагмой и конденсором термостолбика (рис. 83). Такой поляризатор равноценен или даже несколько лучше, чем общепринятый, так как в этом случае легко подобрать небольшие прозрачные пластинки из хлористого серебра. [c.240]

Смотреть страницы где упоминается термин Поляризатор микроскопа: [c.281] [c.429] [c.326] [c.157] [c.244] [c.179] [c.497] [c.316] [c.242] [c.663] [c.804] [c.470] [c.335] [c.506] [c.27] [c.69] [c.506] [c.506] [c.293] [c.366] [c.30]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология