Дифракционные индексы количество

Каждый дифракционный луч характеризуется своей тройкой чисел р, q, г, называемых индексами дифракционного луча. Физический смысл индексов очевиден. В условии (22) целое число т означает разницу в количестве длин волн, укладывающихся на пути лучей, рассеянных соседними атомами атомного ряда. Следовательно,, индексы р, q. г равны разности хода лучей (в, длинах волн), рассеянных в данном дифракционном направлении соседними атомами, расположенными соответственно на осях X, У я Z. [c.184]

Каждый член разложения представляет собой синусоидальное распределение электронной плотности. Эксперимент позволяет найти его ориентацию, периодичность и амплитуду неопределенной остается лишь величина сдвига гребня распределения из начала координат. Справедливо и обратное утверждение какова бы ни была величина этого сдвига при заданной ориентации, периодичности и амплитуде синусоидального распределения, мы всегда получим один и тот же результат—дифракционный луч определенного направления с одними и теми же индексами и одной и той же интенсивностью. Это положение справедливо по отношению к каждому члену разложения. При совмещении всех электронных волн можно получить бесконечное количество различных суммарных распределений в зависимости от принимаемых значений фазовых сдвигов этих волн, и все они будут давать одну и ту же совокупность дифракционных лучей—одинаковых как по направлениям, так и по интенсивностям. Отсюда ясно, что по одним только результатам измерения интенсивности отражений, даваемых кристаллом, в принципе структура не может быть определена однозначно. [c.316]

Хотя газы имеют более низкие атомные номера, чем серебро, а следовательно, и более низкую рассеивающую способность, тем не менее можно легко получить дифракционную характеристику отдельного монослоя газа (кроме водорода) на поверхности твердого тела, если только, как это обычно и бывает [5], атомы газа образуют решетку, несколько отличную от решетки твердого тела. Если атомы газа в поверхностном монослое образуют ту же самую решетку, что и кристалл-носитель, то присутствие атомов газа можно обнаружить, когда расстояние между поверхностным монослоем и атомной плоскостью кристалла отличается от расстояния между двумя соседними атомными плоскостями (в твердом теле-носителе) с такими же мнллеровскими индексами. Примером может служить хемосорбция кислорода и азота на гранях (0001) поверхности титана [6]. Присутствие газа на поверхности может быть обнаружено в столь малых количествах, как несколько процентов от одного монослоя. Если адсорбированы два или более монослоев газа, то внешний слой является аморфным, и он может сделать совершенно невозможным наблюдение дифракционного рассеяния от расположенного под ним кристалла. Поэтому обычно для того, чтобы наблюдать дифракцию, необходимо тщательно очистить твердую поверхность в высоком вакууме путем нагревания или другим способом. Например, на медном кристалле нельзя получить какой-либо дифракционной картины после простого нагревания всей трубки при 300—400°. На некоторых кристаллах даже первый монослой газа имеет аморфную структуру. В этом случае единственным доказательством наличия адсорбированного газа является уменьшение интенсивности дифракционного потока от кристалла -носи-теля. [c.321]

Ниже дается лищь краткое изложение теоретических основ метода (подробнее см., например, у Робертсона [22]). Для кристаллов характерна трехмерная рещетка, определяемая тремя векторами а, Ь я с, которыми ограничивается элементарная ячейка кристалла. Параметры элементарной ячейки могут быть определены, исходя из геометрических характеристик рентгенограммы. В решетке могут быть проведены параллельные плоскости таким образом, чтобы каждый узел решетки лежал на плоскости. Такое семейство плоскостей характеризуется тремя целочисленными индексами (/г, к, I). Эти числа таковы, что если одна плоскость проходит через вершину элементарной ячейки, то следующая плоскость отсекает на ребрах а, Ь, с элементарной ячейки, соответственно, отрезки а//г, Ь к и с//. Число таких семейств плоскостей не имеет предела, так как нет ограничений для к, к я I однако плоскости с низкими индексами имеют наибольшее межплоскост-ное расстояние с и заселены весьма большим количеством узлов. Можно сказать, что дифракционные максимумы получаются при отражении от семейства плоскостей (/г, к, I) с межплоскост-ным расстоянием й луча, падающего под углом скольжения 0 при условии [c.177]

Такая модель непосредственно вытекает из наблюдаемых рентгеновских дифракционных картин, полученных от твердых растворов [2]. Как известно, эти картины совершенно аналогичны картинам, наблюдаемым при исследовании чистых металлов. На дебаеграммах даже линии с большими индексами имеют очень малую ширину, причем изменение интенсивности этих линий в зависимости от индексов не обнаруживает какой-либо аномалии. Однако эта упрощенная модель структуры твердого раствора недостаточна для объяснения многих особенностей физических свойств сплавов. Поскольку эти свойства структурно чувствительны, можно допустить, что присутствие растворенных атомов вызывает появление нарушений правильной кристаллической структуры, причем количество этих нарушений сравнимо с количеством нарушений, всегда и.меющихся в кристаллах даже чистых металлов. [c.9]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология