Параметры элементарной ячейки

Сущность метода графической экстраполяции заключается в том, что выбирается экстраполяционная функция а = /(0), связывающая зависимостью значения параметра элементарной ячейки а и угла 0, В зависимости от источника ошибок экстраполяционная функция может иметь различный вид. Например, для кубических [c.97]

В отличие от алюминия и его оксида параметры элементарной ячейки кристаллов железа и FeO значительно отличаются, и поэтому слой оксида железа плохо пристает к металлическому железу. Беда заключается не в том, что ржавчина образуется, а в том, что она постоянно отслаивается и открывает свежую поверхность железа воздействию коррозии (рис. [c.191]

Как описать этот набор плоскостей, используя параметры элементарной ячейки Можно рассматривать их как определяемые точками равной электронной плотности в ячейке в этом случае решетка задается симметрией распределения электронной плотности, аналогичным образом плоскости могут задаваться решеткой. Рассмотрим двумерные решетки и наборы плоскостей, показанных на рис. 17.10. Все возможные наборы плоскостей могут быть заданы с помощью так называемых ин- [c.375]

Поверхность металла, покрытая атомами химически сорбированного кислорода, в корне отличается от поверхности металла, покрытой пленкой оксида, если даже толщина последней не превышает параметра элементарной ячейки. Адсорбция монослоя кислорода во многих случаях вызывает перестройку структуры поверхности металла образуются грани, ориентированные параллельно плоскостям большой плотности, например (111) и (100). Удаление адсорбированного слоя в результате реакции с водородом позволяет возвратиться к слоистому профилю, характерному для поверхности металла, существовавшей до сорбции кислорода. [c.55]

Определение структуры кристалла оказывается возможным вследствие однозначной связи между межплоскостными расстояниями параметрами элементарной ячейки а, Ь, с, а, у и индексами (/гг //,). [c.355]

Рис. УП1.4. Кривые температурных зависимостей параметров элементарной ячейки (а) и главных КТР (6) замещенного ортоферрита диспрозия ВуРе1 5-Со Оз х = 0,002).

Определив вещество и его модификацию, приступают к определению параметров элементарной ячейки, что является самостоятельной задачей. [c.360]

С повышением температуры амплитуды колебаний атомов или частей молекул увеличиваются и достигают критической величины, определяемой расстоянием между соседними частицами, что приводит к плавлению полимерных кристаллов и исчезновению кристаллической фазы. При плавлении полимера резко увеличивается свободный объем и ослабевают связи между цепями, хотя подвижность макромолекул как целого остается незначительной из-за большого внутреннего трения. Уменьшение коэффициентов теплопроводности кристаллических полимеров может быть объяснено также увеличением рассеяния в них тепловых волн вследствие изменения параметров элементарной ячейки и ослаблением межмолекулярного взаимодействия, связанного с увеличением расстояния между цепями. Уменьшению X кристаллических полимеров с повышением температуры может способствовать и рассеяние структурных фононов на границах аморфных и кристаллических областей, на границах раздела кристаллов и на границах раздела сферолитов. Кроме того, с повышением температуры уменьшается длина свободного пробега фононов, что также может приводить к уменьшению X. [c.257]

Для расчета числа частиц определяют рентгеновским методом прецизионные значения параметров элементарной ячейки растворителя и твердого раствора, а также плотности этих веществ другим независимым методом (например, пикнометрическим). На основании этих данных число частиц N, приходящихся на элементарную ячейку, подсчитывается по формуле [c.98]

Рентгеноструктурный анализ — один из наиболее совершенных методов изучения структуры кристаллических веществ. С его помощью определяют параметры элементарной ячейки и симметрию кристалла, размеры структурных элементов (атомов, ионов) кристаллической решетки. [c.152]

Используя квадратичные формы, индицирование можно осуществить сравнительно легко, если известны параметры элементарной ячейки исследуемого вещества. Придавая в квадратичных формах индексам hkl различные значения, можно с учетом закономерных погасаний рассчитать.величины межплоскостных расстояний, а затем, сравнив их с найденными по рентгенограмме величинами, придать каждому значению d соответствующий индекс. Следует отметить, однако, что даже при известных параметрах решетки индицирование сильно усложняется при пониженной симметрии [c.93]

ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ [c.97]

Определение параметров элементарной ячейки. Основу кристаллической структуры вещества составляет элементарная ячейка — минимальный объем кристалла, в котором расположение часТиц подчинено той или иной геометрической закономерности. В общем случае ячейка представляет собой параллелепипед с длинами ребер а, Ь, с и углами а, р, у между ними. Размеры а, Ь, с называются параметрами ячейки (решетки). Если за координатные [c.61]

Элементарная ячейка — наименьший объем кристаллической решетки, с помощью которой можно построить (мысленно) всю структуру кристалла путем последовательного приложения таких ячеек друг к другу в трех пространственных направлениях, т. е. путем параллельного переноса (трансляции) ячейки в трех направлениях (рис. 4.2). Для описания кристаллической решетки достаточно знать расположение частиц в элементарной ячейке, которое характеризуется ее параметрами. Параметры элементарной ячейки включают длины ее ребер — периоды идентичности, или периоды решетки, а, Ь, с и углы между ребрами, а, 7. Число частиц, непосредственно окружающих данную частицу в кристаллической решетке и расположенных на ближайших и одинаковых расстояниях от центральной частицы, — это ее координационное число. [c.159]

Рассматривая строение кристаллических веществ, нужно различать понятия о структуре и структурном типе. Структурный тип характеризует относительное расположение атомов в пространстве без указания расстояний между ними. Когда мы хотим охарактеризовать структуру того или иного вещества, то кроме структурного типа должны указать также параметры элементарной ячейки. Наименование структурного типа дается по одному из веш,еств, имеющих решетку данного типа. Большое число структур может относиться к одному и тому же структурному типу. Так, например, многие А еталлы образуют кристаллы, принадлежащие к структурному типу магния. Ниже описаны некоторые структурные типы, характерные для неорганических веществ. [c.256]

В методе вращения рентгенограмму получают при постоянной (характеристической) длине волны излучения анода рентгеновской трубки от монокристалла, вращающегося вокруг какой-либо оси. Съемку осуществляют в камерах вращения, колебания и рентгено-гониометрах с движущейся пленкой. Метод этот применяют для полного определения структуры вещества (параметры элементарной ячейки, ее тип, симметрия, крординаты атомов в элементарной ячейке.) не только в простых, но и в сложных случаях. Это наиболее совершенный метод структурного исследования кристаллических веществ. [c.355]

Чистый карбамид имеет тетрагональную структуру [9]. Его молекулы упакованы плотно, и свободные пространства, в которых могут разместиться молекулы другого вещества, отсутствуют (рис. 76). При образовании комплекса происходит перестройка кристаллической структуры карбамида из тетрагональной в гексагональную. При помощи рентгеноструктурного анализа установлена идентичность рентгенограмм комплексов двух парафиновых углеводородов нормального строения ( н-ундекана и н-гексадека-на), при этом положение линий спектров этих комплексов отличалось от таковых для чистого карбамида (табл. 26). Различие в параметрах элементарной ячейки кристаллов карбамида и комплекса подтверждает способность карбамида изменять в процессе комплексообразования кристаллическую решетку из тетрагональной в гексагональную. [c.196]

Результаты рентгенографического анализа зауглероженных образцов с содержанием углерода до 25% (масс.) не показали наличия в них свободного поликристаллического графита [109]. Однако для зауглероженных образцов фиксируется уменьшение интегральных интенсивностей дифракционных пиков (на 15%) и увеличение параметра элементарной ячейки гексагональной решетки оксида хрома(1П). Предполагается [c.46]

Зная структуру и среднестатистические параметры элементарной ячейки, нетрудно оценить плотность упаковки шаров в целом. Полностью заполненная ячейка ГЦК структуры содержит 4 шара и характеризуется плотностью 1)о = 0,74. Наличие дырок приводит к уменьшению О в соответствии с формулой ОМ = = 0,74(1 — v/16). Подстановка v = 4 дает среднюю величину В = 0,56. Полученная оценка О, как видим, существенно ниже плотности реальной структуры I) = 0,6 -т- 0,64. Очень рыхлые случайные упаковки с плотностью порядка 0,53 могут быть получены только специальцыми методами, например медленным осаждением псевдоожиженного слоя. Если затем воздействовать на слой путем интенсивного встряхивания, произойдет усадка и О повысится до обычного уровня. [c.21]

При решении целого ряда задач (определение типа твердых растворов н концентрации в них компонентов, величины коэффициента термического расширения и т. д.) измерения параметров элементарной ячейки должны быть выполнены с максимально возможной точностью. Необходимое условие для этого — минимальная погрешность при измерении углов отражения и межплоскостных расстояний, Существуют различные методы прецизионного измерения параметров элементарной ячейки. При исследовании высокосимметричных веществ для этой цели можно использовать, например, метод графической экстраполяции. Этот метод основан на том, что большинство систематических ошибок, приводящих к смещению дифракционных линий от положения, соотиетствующего истииному углу отражения, уменьшается ири увеличении угла О, Следовательно, для прецизионного измерения параметров решетки необходимо использовать линии с максимально возможными углами 0. Однако линии с углами 0>85° очень широки, что с1П1жает точность определения. Поэтому на практике для измерения используют линии с углами в области 6О°<0<84°, а затем результаты определения по этим линиям параметров решетки графически экстраполируют до значений, соответствующих углу 0 = 90°, что позволяет устранить или существенно уменьшить ошибки измерения. [c.97]

К2504 — арканит (Л1= 174,27 состав, % К2О 54,06 ЗОз 49,54 К 44,88 5 18,40 О 36,72). Ромбическая сингония. Параметры элементарной ячейки а = 5,74, Ь= 10,03, с = 7,44 А. [c.269]

Калибровку камер высокого давления производят либо по измерениям параметра элементарной ячейки Na l, являющегося эталоном, либо по реперным точкам. При этом используют величины давлений для фазовых переходов хорошо известных соединений [12, 20]. Одна из существеннейших трудностей в проведении калибровки камер высокого давления заключается в возникновении между наковальнями радиальных градиентов давления. [c.142]

На рис. VIII.2 приведены кривые зависимостей параметра элементарной ячейки Y-фазы СП9А14ОТ угла рассеяния , построенные [c.150]

Результаты рентгенодилатометрических измерений замещенного ортоферрита представлены на рис. VHI.4, а в форме температурных зависимостей параметров элементарной ячейки кристалла. Из приведенного рисунка видно, что тепловое расширение исследуемого кристалла происходит немонотонно по всем трем главным осям, а в двух температурных интервалах (вблизи 140° и 168—178 °К) в ходе кривых наблюдаются аномалии. [c.157]

Новая форма оксида цинка. 2пО кристаллизуется в структуре вюрцита, т. е. составляющие его атомы имеют координациопное число 4 плотность 5,78 г/см . Анализ структуры и физико-химических свойств 2пО привел к выводу, что при высоком давлении должно происходить превращение в более плотную форму со структурой типа КаС1 и соответственно с изменением координационного числа до 6. Были поставлены опыты, которые показали, что при давлении 10 ГПа и температуре 220 °С получается новая модификация 2пО со структурой типа ЫаС1 параметр элементарной ячейки а==0,428 нм, плотность 6,912 г/см . На основании опытов была построена фазовая диаграмма 2пО (рис. 45). Значение получен- [c.159]

Кальцит кристаллизуется в гексагональной системе, плотность его 2600—2800 кг/м , твердость 3 по шкале Мооса. Элементарная ячейка кальцита включает две молекулы СаСОз. Параметры элементарной ячейки =0,663 нм, а=46°. Кислородные атомы группы СОз в элементарной ячейке расположены в вершинах треугольника, плоскость которого перпендикулярна тройной оси. Расстояние 0—0 равно 0,124-10 нм. Каждая группа СО3 окружена шестью атомами кальция. [c.195]

В зависимости от степени гидратации были получены три кристаллические модификации р-1,4-ксплана (после элиминирования химическим путем боковых моносахаридных заместителей и, О-ацетильных групп)— сухой ксилан (после высушивания под вакуумом), моногидрат (содержащий одну молекулу воды на моносахаридное звено) и дигидрат (получаемый при относи-тельно11 влажности 100% и содержащий, вероятно, две молекулы воды иа ксилозный остаток). Параметры элементарной ячейки для трех форм варьируются в интервале 8,4—9,64А для а п Ь (во всех случаях а Ь) 14,85—14,95 А для с (ось волокна) и -у = = 120° (для всех трех форм). Как видно, и в случае р-1,4-ксилана повторяющийся сегмент полимерной цепи вдоль оси волокна одинаков для всех известных полиморфных модификаций. [c.19]

Необходимо проверить возможность индицирования в предположении одного из этих вариантов.Проверка показывает, что все линии рентгенограммы удается проиндицировать, приняв третий вариант (см. табл. 29). Указанные варианты соотвеютвуют различным типам чередования занятых катионных позиций и вакансий по различным направлениям. Параметры элементарной ячейки а = 7,817 0,003А Ь = 11,724 0,007 А с = 11,629 + 0,007 А р = И0°03 + 0,0А Рз = 6,77 = = 6,75 г = 4 пространственная группа С2/с, так как для Ьк1Ь+к = = 2л для ЛО/ - / = 2п. Эта пространственная группа согласуется и с исходной пространственной группой структуры шеелита. [c.118]

Большинство неорганических веществ является соединениями переменного состава, поскольку в качестве струк тур-ных единиц в них отсутствуют молекулы. Однако области гомогенности могут быть настолько малы, что обнаружить их не просто. Одним из признаков, характеризующих наличие протяженной области гомогенности, является изменение параметров элементарной ячейки. Отсутствие таких изменени(1 не свидетельствует, конечно, о постоянстве состава, но если изменения найдены, то заметная область гомогенности у соединения имеется. Это одна из областей неорганической химии и материаловедения, где остро стоит вопрос о необходимости прецизионного определения параметров. Эта. же проблема возникает при изучении фазовых диаграмм, так как образование твердых растворов той или иной концентрации является одним из наиболее распространенных типов химических взаимодействий. Термин твердые растворы не должен вводить в заблуждение - фактически речь идет об области гомогенности фазы более сложного состава структурные единицы, характерные, например, для растворяемого компонента, в твердом растворе не сохраняются. Параметры решетки характеризуют изменение состава сосуществующих фаз, что помогает понять природу протекающих в системе процессов. Так, изменение параметров в двухфазной области - указание либо на неравновесность, либо неквазибинарностъ системы. Менее строгим является обратное утверждение -постоянство параметров может бьп ь кажущимся, связан- [c.131]

Иезиньш А.Ф., Озол Я.К. Прецизионное определение параметров элементарной ячейки кристаллов асимметрическим методом. Рига, 1956. [c.146]

Анализ расположения не только линий, соответствующих субъячейке, но и сверхструктурных линий, позволяет найти параметры элементарной ячейки N3 Мс(2( Л/Од) . Векторы этой моноклинной ячейки и тетрагональной субъячейки связаны соотношениями а = От + 26. , в, =с.у., С =2а. -в. . Объем ячейки увеличивается в Ь раз, что согласуется с предложенным составом. Этот стехиометрический состав попадает в область гомогенности фазы в интервале температур до 1000 С. В случае стехиометрического состава можно предполагать упорядочение в расположении катионов и вакансий (катионы могут располагаться по занятым позициям статистически). Смещение состава в сторону N32 0 будет приводить к частичному заполнению вакансий, в сторону вольф-рамата неодима - неупорядоченно расположенных вакансий наряду с упорядоченными. Тип сверхструктуры при этом сохраняется, что было показано для образца, содержащего 20% мол. Na2 закаленного с 1100". Определение границ [c.172]

Актуальность отмеченной выше проблемы проверки м(1де лей структур очень часто связана с вопросом правильной интерпретации сведений о фазовых диаграммах. Одним из распространенных вариантов взаимодействия между компо нентами является образование фаз со структурой, не известной ни для одлого из компонентов системы, но существующей у соединений близкого химического состава с другими элементами. Долгое время образование таких фаз опис1лва лось в терминах стабилизации не существующих в чистом виде модификаций, высокотемпературных фаз и т.д. Подобную интерпретацию обычно можно рассматривать как первый шаг к решению проблемы. Более детальное изучение вопроса обычно позволяет выяснить особенности таких стабилизированных фаз. Рентгенография является одним из возможных методов, применяемых для-изучения стабилизированных фаз, причем для получения правильных результатов требуется не только анализ дифракционной картив1ы до стадии определения параметров элементарной ячейки (а иногда субъячейки), но и проверка возможных моделей структуры. В качестве примера можно привести систему СаО - 1/ l2 О У оксида гадолиния в сопредельном интервале температур существует моноклинная модификация со структурой В - S ГП2 Oj. В системе с оксидом кальция монок линная фаза существует вплоть до комнатной температуры. Детальное изучение строения этих фаз показало, что они имеют общую [c.201]

I = 1,6 - величины, зависящие от параметров элементарной ячейки. Обозначим подкоренное выражение через ST. Тогда для расчета рентгенограммы от угла 0fnin ДО выбираются индексы, удовлетворяющие условию [c.219]

Например, исследование гексагидрата уранилнитрата проводилось рентгеноетруктурным методом, с помощью которого были определены параметры элементарной ячейки, установлена группа симметрии, предложена структура [LI02(N0з)2(H20)2] НаО, но положение молекул кристаллизационной воды осталось неизвестным (рис. 6.8). Применение метода нейтронной дифракции позволило установить структуру полностью. Два атома кислорода уранила расположены перпендикулярно плоскости рисунка атом урана по экватору окружен неправильным шестиугольником (четыре атома кислорода двух групп ЫОз и два атома кислорода молекул воды). [c.209]

В окислительной атмосфере вплоть до 1460 5°С 12A7 плавится конгруэнтно. В восстановительной атмосфере его температура плавления 1480 5°С. Решетка 12A7 способна включать ионы фтора, хлора с образованием соединения i2A7 aX2, где X—ОН, F, С1, при этом параметры элементарной ячейки увеличиваются в следующем порядке фторид — гидрат — хлорид. [c.144]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология