Условие искрового пробоя необходимое

При использовании противоэлектродов помимо формы, соответствующей аналитической задаче и геометрии источника излучения (разд. 4.3.3), очень важно правильно выбрать материал противоэлектродов и содержать их в чистоте. Время искрового обжига, необходимое для получения постоянных условий возбуждения (разд. 4.3.2), зависит не только от материала анализируемой пробы, но и от материала противоэлектрода (табл. 9.4.10). [c.90]

Применение какого-либо аналитического прибора для контроля непрерывных процессов является целью исследования во многих лабораториях. Более чем десятилетний опыт применения метода искровой масс-спектрометрии дает возможность использовать его для характеристики некоторых промышленно важных процессов. Однако чтобы реализовать в этих условиях все возможности метода, необходимо свести к минимуму время между отбором пробы и выдачей результатов анализа. Этому будет способствовать разработка многоканальных систем регистрации При соответствующем контроле параметров разряда высокочастотная искра может обеспечить стопроцентную ионизацию атомов образца. По мере того как будет достигаться повышение доли ионов, достигающих детектора (в современных приборах один из 10 ), будет сокращаться и время анализа. Улучшение условий возбуждения образца, экстракции ионов и эффективности переноса обеспечит уменьшение разброса КОЧ (в идеальном случае до 1). [c.341]

Все методы анализа можно классифицировать по их способности выдавать информацию о содержании одного или многих элементов в каждом конкретном случае. Несмотря на то что многие методы обеспечивают получение одновременной информации о содержании нескольких элементов, только эмиссионный спектральный анализ и масс-спектральный анализ с искровым источником позволяют одновременно определять широкий круг элементов. Эти методы исключительно ценны для качественного исследования неизвестных проб или для контроля методов очистки материалов. Очень удобно также применение фотопластинки для регистрации широкой области спектра. Однако методы одновременного определения многих элементов менее точны, чем методы определения одного элемента в оптимальных условиях. Поэтому требуется разумный выбор подходящих методов анализа для получения необходимой информации. [c.22]

С соответствующей скоростью между электродами искрового разряда (рис. 3.27), то можно добиться стабильных и легко воспроизводимых условий введения пробы и возбуждения ее спектра [6]. Искровой разряд проходит через ленту и испаряет прилипщие крупинки материала. Для обеспечения строгой периодичности разрядов специальное устройство, необходимое для экспрессных анализов, пробивает в липкой ленте дырки, наматывает ее на катущку и устраняет складки. Материал из загрузочного бункера налипает в центре ленты, его избыток отсасывается, благодаря чему образуется слой постоянной толщины. Рассеяние света [c.136]

Попробуем проанализировать этот пункт новой теории несколько глубже. Выражение (686) является условием того, что под действием фотоэффекта в объёме газа около основной лавины начинают образовываться и вливаться в её канал новые, дочерние лавины. Но появление одной или даже нескольких таких лавин ещё не обусловливает собой того, что стример будет неуклонно расти от анода к катоду. Необходимы такие благоприятные для роста стримера условия, при которых вместе с вливанием каждой дочерней лавины увеличивается напряжённость поля основной лавины, а также увеличивается число излучаемых во все стороны фотонов. Возможное уменьшение одного из этих факторов с избытком должно перекрываться увеличением другого. Когда поле лавины Х одного порядка величины с полем разрядного промежутка X, вероятность осуществления необходимых для роста стримера благоприятных условий очень быстро растёт с увеличением X. О вероятности здесь уместно говорить йотому, что благодаря большому числу излучаемых головкой лавины фотонов и большого числа дочерних лавин появление и рост стримера носят статистический характер. Только быстрое увеличение вероятности появления и роста стримера, вызываемого единичной электронной лавиной, при увеличении X приводит к возможности говорить об определённом значейии пробивной напряжённости поля Xg и пробивного напряжения t/g. На самом же деле искровой пробой надо рассматривать как явление, происходящее в зависимости от случайных обстоятельств (то при не- [c.559]

Таким образом, при исследовании относительного выхода ионов для получения результатов, характеризующих поведение различных материалов, необходимо исключить потери электрической энергии на соиротивлеппях образца и контакта металл— полупроводник. В нашем случае, когда одним из образцов была пластина из полупроводникового материала, на поверхность кремния был нанесен в вакуумной установке алюминиевый слой толщиной 1 мкм. Обеспечив меха[[ический контакт алюминиевой пленкн с держателем образца, удалось полностью исключить влияние проводимости пробы на условия ис-крообразования. Благодаря этому ири постоянных режимах работы искрового ионного источника, и перемещении образца относительно сканирующего электрода со скоростью около 2 мм/мин (во избел анпе локального перегрева алюминиевой пленки) для отношения ионных токов были получены значения, [c.44]

Источники света для спектрального анализа, в особенности искровые, являются также излучателями радиопомех [167, 171]. Существующие ограждения, кроме описанного выше назначения, должны экранировать эфир от электромагнитных излучений, мешающих радиоприему и различным измерениям. Все это необходимо учитывать, когда требуется налан и-вать самостоятельно ограждающие устройства или видоизменять имеющиеся ограждения, если это нужно по условиям работы. При анализе проб большого размера, когда очень трудно изготовить кожух, охватывающий со всех сторон источник света и громоздкие образцы или готовые изделия, вся комната должна быть экранирована заземленными металлическими листами. Окна при этом затягиваются металлической сеткой, которую также необходимо заземлить. [c.86]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология