Отклонение Понятие плоскости

Вещества, вращающие плоскость поляризации, получили название оптически активных веи еств. Величина угла вращения зависит от ряда причин от природы оптически активного вещества, от длины волны данного света, от толщины слоя, проходимого поляризованным лучом, от концентрации раствора, от температуры. Поэтому определение угла вращения плоскости поляризации проводят в определенных условиях. Вводится понятие удельного вращения , обозначаемое значком [а]. Под удельным вращением имеют в виду угол отклонения плоскости поляризации для 1 г вещества в 1 жл растворителя, при толщине слоя, равной I дм. Удельное вращение определяется по- формуле [c.235]

Проверить правильность произведенного выбора типа регулятора и его настройки можно путем построения области устойчивости системы регулирования в плоскости параметров настройки регулятора. Под областью устойчивости здесь понимается область возможных сочетаний параметров настройки регулятора б и Г , при которых для данного объекта еще сохраняется затухающий характер переходного процесса, т. е. Ч >0. Такой метод исследования поведения системы регулирования весьма прост, так как для его применения достаточно иметь семейство амплитудно-фазовых характеристик системы при различных настройках регулятора. Недостатком его является независимость получаемых результатов от динамики возмущений в объекте. Для оценки способности регулятора понижать динамическое отклонение параметра (первое отклонение, следующее непосредственно за возмущением) вводится понятие динамического коэффициента регулирования д, равного отношению максимального отклонения параметра от задания Ор в переходном процессе регулирования при однократном скачкообразном возмущении к соответствующему отклонению 0о, которое произошло бы при отключенном регуляторе [c.72]

Шероховатость поверхности определяется [17] как совокупность неровностей с относительно малыми шагами, образующих рельеф поверхности и рассматриваемых в пределах участка, длина которого выбирается в зависимости от характера поверхности и равна базовой длине I . Как видно из этого определения, понятие шероховатость связано с базовой линией — длиной участка поверхности, выбираемой для определения шероховатости и позволяющей не учитывать неровности, шаг которых больше базовой длины. Непосредственное измерение микронеровностей и количественную оценку шероховатости проводят по виду профиля, т. е. по результатам рассмотрения сечения поверхности плоскостями, ориентированными в заданном направлении. Профиль характеризуют обычно с помощью средней линии, которая делит его так, что в пределах базовой длины сумма квадратов расстояний точек профиля до этой линии минимальна. Для количественной оценки шероховатости пользуются следующими параметрами среднее арифметическое отклонение профиля, среднее квадратичное отклонение профиля, высота неровностей, средняя высота неровностей, максимальная высота неровностей и др. [17, 56, 57, 59, 60]. В зависимости от числовых значений этих параметров шероховатость поверхностей подразделяют на 14 классов чистоты [17]. Средняя высота неровностей для первого класса чистоты составляет 20 мкм, наивысшему, 14 классу чистоты, соответствуют неровности высотой 0,06 мкм. [c.94]

Понятие химических свойств тоже отличается от понятия физических свойств. Если, например, такое сравнительно сложное физическое свойство, как магнитная вращательная способность, может быть сразу выражено величиной, а именно величиной угла отклонения плоскости поляризации светового луча, направленного параллельно силовым линиям поля, то такое сравнительно простое химическое свойство, как например, способность бензола сульфироваться, не может быть так легко заменено определенной величиной. Правда, это свойство связано с некоторой другой величиной — сродством, однако здесь вполне ясно сказывается наличие специфического, структурного момента, так как при сульфировании образуется новый объект с новой структурой — сульфокислота. [c.398]

Исследования в области пирамидализованных алкенов особенно поучительны с точки зрения молекулярного дизайна [25 а]. Для количественной характеристики степени отклонения геометрии алкенового фрагмента от нормы в этих работах введено понятие угла пирамидализации (Ф), определяемого как угол между продолжением оси двойной связи и плоскостью, со- [c.445]

Общие понятия. Для контроля наружных и внутренних диаметров, расстояний между плоскостями, центрами отверстий, отклонений от правильной геометрической формы (овальность, конусность), биения поверхностей применяются различные измерительные средства калибры, переносные инструменты, простые и нониусные штриховые инструменты, микрометрические инструменты, рычажно-ме-ханические, рьгчажно-оптические, пневматические и электрические приборы и др. [c.122]