Базовая линия

Многие полимеры не имеют четких линий поглощения, образуя так называемый фон однако часто этот фон настолько незначителен, что он не мешает непосредственному измерению оптической плотности раствора в максимуме полос поглощения, характерных для определяемых веществ (добавок, групп полимера и т. п.). В тех случаях, когда фон значителен, измерения следует проводить методом базовой линии или методом гетерохроматической экстраполяции, по возможности исключающими влияние фона на результаты анализа. [c.200]

Рис. 12.5. Пример обработки спектрограммы по методу базовой линии.

Рис. 13.1. Измерение оптической плотности методом базовой линии.

Линия насыщения жидкости является базовой линией при построении поверхности зоны сверхкритической плотности. [c.36]

Если два разных типа соединений имеют обш,ие гомологические ряды характеристических ионов, но максимумы огибающих интенсивностей их пиков достаточно далеко отстоят друг от друга, разделение пиков характеристических ионов разных типов соединений можно осуществить экстраполяцией огибающей интенсивностей пиков, имеющей максимум в области более низких массовых чисел. Отсчет интенсивностей пиков других типов соединений производится от полученной при такой экстраполяции базовой линии. Для этого удобно использовать вместо огибающей интенсивностей пиков сумму интенсивностей всех предшествую,щих характеристических пиков — интегральную кривую [6]. Экстраполяция осуществляется с использованием двух или нескольких пиков характеристических ионов, свободных от наложения., или с использованием распределения интенсивностей пиков в области характеристических ионов, найденных из ряда модельных фракций, в которых содержатся соединения данного типа и отсутствует наложение гомологических рядов характеристических ионов. [c.204]

Оценивают шероховатость поверхности по ее профилю, который получается в сечении этой поверхности плоскостью, перпендикулярной к номинальной поверхности на длине базовой линии. В принятой системе отсчета неровностей в качестве базовой линии служит средняя линия, имеющая форму номинального профиля и проведенная так, что в пределах базовой длины среднее квадратическое отклонение профиля до этой линии будет минимальным (ГОСТ 2.309-73). [c.61]

Время, мин Начальная точка отсчета (базовая линия), уел. ед Конечная точка отсчета, соответствующая оконча-нию реакции, уел. ед. Текущие значения поглощения тепла, уел. ед. [c.24]

Определяют значение оптической плотности в максимуме полосы поглощения при 1720 см методом базовой линии. [c.196]

Для анализа конечной газовой смеси при синтезе азотной кислоты в паровой фазе использовали метод базовой линии. ИК-спектры снимали при помощи однолучевого прибора в области 1,44 мкм. В зависимости от температуры t° , давления Р, соотношения концентраций НОг и Н2О в исходной смеси ( = [N02] [Н2О]) получили следующие значения интенсивностей полос 1а и Iв - [c.149]

Измерить миллиметровой линейкой расстояние от линии 0% пропускания через максимум поглощения до базовой линии а и от линии 0% пропускания до максимума поглощения Ь. Оптическую плотность рассчитать по уравнению Д = 1д(а/Ь). Оптические плотности всех линий в / -ветви записать в таблицу по образцу [c.69]

Рис. 5.20. Примеры построения базовой линии.

Базовую линию получают, проводя касательную к одному или обоим минимумам, расположенным по обе стороны от измеряемой полосы поглощения (рис. 13,1, линия Ь). При гетерохроматической экстраполяции линию отсчета получают, продолжая (в сторону коротких длин волн) прямолинейный участок спектра за полосой поглощения (рис. 13.2, линия ). В обоих методах оптическую плотность Ва данной полосы поглощения А определяют отрезком на перпендикуляре, опущенном на ось абсцисс из максимума полосы, от этого максимума до точки пересечения перпендикуляра с линией L. [c.200]

Но описанный случай является идеализированным и на практике встречается крайне редко. Чаще всего отклонение дифференциальной кривой возрастает постепенно и базовая линия всегда более или менее отклонена от горизонтальной прямой , В этом случае могут быть точно определены температуры минимумов, температуры же начала и конца процесса могут быть определены с ограниченной точностью следующим образом. К ДТА проводят касательные П1, ПГ и IV, IV и из точки их пересечения 4 восстанавливают перпендикуляр к оси времени, пересечение которого с кривой Т дает температуру начала процесса. Превращения, связанные с изменениями массы, точнее характеризовать температурами, определяемыми описанным способом на основании кривой ДТГ, а не ДТА, так как базовая линия кривой ДТГ после завершения какого-либо процесса всегда возвращается к горизонтальному положению. [c.346]

У.64, а). Если же кривая ДТА после окончания процесса отклоняется от базовой линии, площадь пика находят так. Горизонтальный участок кривой ДТА продолжают до пересечения с перпендикуляром, восстановленным к оси времени в точке максимального отклонения кривой ДТА. Точку пересечения соединяют с началом отклонения кривой ДТА (рис. У.64,б). Еще большие трудности. в определении площади пика возникают в случае перекрывающихся площадей (рис. V. 64, в). Для определения граничных линий используют графический метод, который мы не рассматриваем. [c.347]

Если на выходе из колонки регистрировать изменение во времени какого-либо физического свойства газового потока (так называемое дифференциальное детектирование, подробнее см. раздел П.1.4.1), то выходная хроматографическая кривая—хроматограмма — запишется в виде более или менее острых пиков, возвышающихся над нулевой (базовой) линией, уровень которой по окончании анализа, как правило, соответствует исходному ее положению до начала анализа (рис. 1.1, б). Таким образом, сразу же по [c.7]

Для того чтобы по возможности более точно преобразовать аналоговый (непрерывный) сигнал в цифровой (дискретный), необходимо знать, как исключать шумы и осуществлять поиск базовой линии, с какой частотой брать выборки от сигнала. Чем меньше будет интервал между этими выборками, тем точнее мы представим сигнал в цифровой форме. В книге [181 дается вывод математических условий для определения оптимального интервала между выборками. [c.93]

Определение оптимального отношения потоков газа-носителя и водорода при заданном расходе воздуха. Задав какую-либо из рекомендованных преподавателем скоростей газа-носителя через колонку (например, 40 или 60 мл/мин), разогревают термостат хроматографа примерно до 100 °С для увеличения концентрации паров неподвижной фазы в потоке газа-носителя. Далее подают в ячейку ДИП воздух со скоростью 350 мл/мин и водород, расход которого вначале устанавливают в отношении 1 1 к расходу газа-носителя. Спустя 1—2 мин поджигают водород, включают пишущий потенциометр и, подбирая соответствующую чувствительность регистрации фонового сигнала, выводят перо на уровень 30—50 % ширины диаграммной ленты. Выжидают несколько минут до воспроизведения устойчивой базовой линии и увеличивают подачу водорода в ячейку ДИП до зашкаливания пера самописца. [c.269]

Эксперимент может быть выполнен иначе. После установления рекомендованных расходов газа-носителя, водорода и воздуха, поджигания водорода, выведения пера на уровень 30—50 % ширины диаграммной ленты и воспроизведения устойчивой базовой линии фонового сигнала начинают снижать расход водорода не плавно и непрерывно, а дискретно, так чтобы стрелка образцового манометра перемещалась каждый раз примерно на 2—3 деления. После каждого снижения подачи водорода выжидают 3—4 мин, наблюдая за постоянством смещенного уровня фонового сигнала (ступеньки на хроматограмме). Так же как и при плавном изменении расхода водорода, перо самописца вначале должно двигаться влево, затем вправо и вновь влево. В ходе работы рекомендуется записывать прямо на диаграммной ленте против каждого нового уровня положения пера устанавливающееся давление водорода в линии, считываемое с образцового манометра. Сдвиги уровней фонового сигнала при изменении порциями скорости водорода, вначале значительные, при приближении к области оптимального расхода водорода начнут затухать. Соответственно следует уменьшать размер каждой последующей порции. [c.270]

Величина Д7 в зависимости от того, какой является реакция — экзотермической или эндотермической, приобретает положительное или отрицательное значение, что проявляется в появлении специфических пиков, располагающихся выше или ниже базовой линии, Испарение, плавление и сублимация ингибитора, плавление термопластичных покрытий и т. д. приводят к появлению эндотермических пиков разложение целлюлозы, покрытий, ингибитора и других компонентов — к появлению экзотермических пиков. [c.138]

Хроматограмму полимера разбивают на п равных частей (л=15-50) вертикальными линиями и измеряют высоты Ь между кривой и базовой линией. Соответствующие величины удерживаемого объема отсчитывают от момента ввода пробы. По калибровочной зависимости для каждого удерживаемого объема определяют соответствующие молекулярные массы М . Результаты сводят в таблицу и заполняют добавочные графы. После заполнения таблицы суммируют числа в столбцах 2, 5 и 6 и получают величины / М и ЕЬ М . Из этих сумм рассчитывают средние молекулярные массы по формулам [c.55]

При анализе сложных смесей, в частности в тех случаях, когда наблюдаются эффекты влияния матрицы или когда получение в чистом виде исходного образца, для которого строится калибровочный график, затруднительно, применяют метод добавления стандарта. Наличие других компонентов в образце может влиять на степень удерживания и (или) высоту пика интересующего вещества. Метод добавления стандарта состоит в следующем. Образец разделяют в хроматографе и измеряют высоту К интересующего нас пика. После этого добавляют известное весовое количество вещества X и повторяют разделение, определяя высоту пика И х вещества X. Для вещества X строят калибровочный график и, определив калибровочный коэффициент 8х=(11 х—Ьх)ЛЛ/х, вычисляют количество вещества X в исходном образце как Их/8х. Для проверки линейности графика берут несколько значений N . Метод добавления стандарта не обеспечивает поправки на нестабильность базовой линии, на помехи со стороны других компонентов и т.д. Эти помехи должны быть выявлены до добавления стандарта. [c.86]

Электронные цифровые интеграторы представляют собой высокоточные приборы, автоматически измеряющие время удерживания и площадь пиков, которые фиксируются печатающим устройством. Более сложные модели интеграторов учитывают дрейф базовой линии, рассчитывают плохо разделенные пики методом перпендикуляра, а пики малой площади, выходящие на хвосте другого пика,—по наклонной нулевой линии, тангенс угла наклона которой определяется автоматически. [c.160]

Метод вычисления произведения высоты пика на ширину на уровне половины высоты его применяют при четко очерченных и симметричных пиках. Базовую линию строят так же, как и при измерении высоты пика (рис. 10.2). Для более точного определения основания на уровне половины высоты можно увеличить скорость диаграммной ленты или применить микроскоп с миллиметровой сеткой. Ширину лучше измерять от внутренней границы одной линии до наружной границы другой. Для асимметричных пиков метод становится менее точным, так как ширина на уровне половины высоты может и не равняться половине основания. [c.176]

Метод триангуляции состоит в построении треугольника путем проведения касательных к сторонам пика. Вершина треугольника находится выше, чем вершина пика. Увеличение-площади, образованной этой продленной вершиной, будет последовательным для всей хроматограммы и не слишком повлияет на точность. Кроме того, некоторая площадь, теряемая при проведении касательных, будет компенсирована. Основание треугольника определяют пересечением касательных с базовой линией, а площадь—произведением 1/2 основания на высоту. Для определения площадей асимметричных пиков этот метод наилучший. Однако воспроизводимость при построении касательных различными операторами различна и, следовательно, низкая. [c.176]

Методы с применением электронных интеграторов, определяющих площадь пиков и печатающих информацию об этой площади и о временах удерживания, могут включать коррекцию смещения базовой линии и определять площадь лишь частично разделенных [c.176]

Дальнейшие исследования в этом направлении, в частности, проведение количественного анализа методом ИК-спектроскопии фуллеренов С60 в сложных смесях органических соединений нефтяного происхождения, выявили необходимость выбора оптимальной полосы поглощения фуллеренов С60 из имеющихся четырех. Например, как видно из рис. 1.4, в ИК-спектре экстракта фуллеренсодержашего продукта полоса поглощения С60 при 1429 см накладывается на интенсивную полосу поглощения ароматических соединений, также присутствующих в образце, Это значительно затрудняет количественный анализ фуллеренов, в частности, при определении интенсивности данной полосы методом базовой линии, тогда как полоса поглощения С60 при 528 см" идентифицируется намного лучше (рис.4). [c.17]

В чем сущность количественного анализа в ИК-спектроокопии по методу базовой линии [c.140]

На рис. 5.1 [129] кривая а соответствует спектру ЯМР, снятому в ходе реакции, а кривая б — эталонному спектру этилиодида (бсня 1,85 бсы, 3,2 м. д.). Из рисунка видно, что на кривой а некоторые сигналы этилиодида усилены, а другие опущены ниже базовой линии отрицательное усиление, называемое также эмиссией). Таким образом, этилиодид, образующийся в процессе обмена, обнаруживает химически индуцируемую динамическую поляризацию ядер, а это означает, что он образуется через промежуточный свободный радикал. Такое явление поляризации возникает, когда на пути от реагентов к продуктам протоны реагирующей молекулы динамически спарива- [c.241]

Пример 4. В смеси углеводородов с помощью ИК-спектров сняли кривые светопоглощения в области 11,6 мкм для исследуемого раствора Сх) и трех растворов с известными концентрациями цикло-гексапа (Сет), В кювету сравиеипя во всех случаях помещали pa J твор с одинаковой концентрацией циклогексана. Методом базовой линии получили следующие данные [c.143]

Определить концептрациго цпклогексаиа в исследуемом растворе. Решение, На рис, 6 представлена часть ИК-спектра, содержа-1иего аналитическую линию циклогексана (А). Общую энергию в области полосы поглощения измеряют отрезком заключенным между линией 100%-ного поглощения 2 и базовой линией 1, проведенной в основании аналитической полосы поглощения. Пропускание Т в методе базовой линии определяется отношением = [c.143]

При анализе циклогексана в смеси углеводородов в области 11,6 мкм сняли дифференциальные ИК-спектры ряда смесей по отношению к одному и тому же раствору сравнения. Методом базовой линии получили следующие значения и /ддля смесей с известным и неизвестным содержанием циклогексана [c.150]

На рис. 12.5 представлен пример обработки спектрограммы для количественного анализа. Базовой линией называют касательную к минимумам измеряемой полосы поглощения. Так, для полосы А процент пропускания может быть рассчитан по формуле 7 а= (/а1//о)-100 [или= (7 а1/7 о) 100, так как /л1//о = = Та1/То], а для расчета оптической плотности необходимо воспользоваться выражением ОА = ё(1о11 а)- [c.196]

Важнейшей процедурой, осуществляемой ЭВМ, яЕляется и коррекция нулевой линии, так как от этой процедуры зависит точность вычисления площадей, а следовательно, и точность всего количественного анализа данной смеси. Чаще всего используется так называемая локальная коррекция нуля. Так как дрейф нуля хроматографического сигнала носит случайный характер, аналитическое выражение нулевой линии для всей хроматограммы найти не удается. Осуществляют поиск базовой линии для некоторой группы пиков. Особым случаем при определении нулевой линии является вычисление площадей малых пиков на хвосте больших. Алгоритм этой процедуры предусматривает, например, [c.94]

Основным параметром хроматограммы, характеризующим количество анализируемого компонента, является площадь пика 5, ограниченная контуром хроматографической кривой АВСОЕ и продолжением нулевой (базовой) линии АЕ (рис. П1.16). [c.211]

Так, при определении площади пика умножением высоты на ширину в какой-либо гочке высоты необходимо выполнить четыре операции продолжить базовую линию хроматограммы под пиком, измерить высоту пика по линейке, помещаемой перпендикулярно основанию пика, определить точку высоты, в которой будет производиться замер ширины пика, и измерить ширину пика в найденной точке высоты по линейке, помещенной параллельно основанию пика. [c.220]

Техника выполнения анализов. Иа 1/3 занолляют реактор катализатором N10 и подсоединяют его к металлическому блоку реактора. На редукторе баллона с гелием устанавливают давление 4—5 атм. Включают печи нагрева. Включают хроматограф и устанавливают ток детектора 100 мА. На чувствительности 1 проверяют герметичность газо1юй линии. Для этого пенным расходометром устанавливают скорость гелия равной 40 см /мин. После выхода хроматографа на режим (отсутствие дрейфа базовой линии) проверяют герметичность газовой линия проведением холостого опыта . Кранами переключения газов отключают реактор от хроматографа (гелий проходит по байпасной линии) и 1 течение 5—6 мин нагревают реактор большой печью, затем печь снимают и, охладив реактор в точение 1 мин, направляют газ через него. [c.211]

По литературным данным при определении содержания Сщ по коэффициенту поглощения в максимуме полосы при 720 см получается сильный разброс результатов по сравнению с данными, определенными методом n-d-M. Это объясняется тем, что не-во всех случаях можно четко провести базовую линию из-за возможных наложений близко расположенных полос поглощения,, обусловленных деформационными колебаниями ароматических СН-связей и колебаниями СН-связей в коротких парафиновых цепях—(СНг)п—(прип<3). [c.25]

Высотой пик и (рис. 10.1) называют расстояние от вершины пика до базовой линии, его измеряют линейной либо подсчитывают число делений на самописце. Некоторые электронные интеграторы и вычислительные машины дают информацию о высоте пиков. Положение базовой линии смещенных пиков находят путем интерполирования значений ординат, соответствующих началу и концу пика (пик 1 и 3 см. рис. 10.1). Для повышения точности необходимо иметь пологую стабильную базовую линию. В случае неразделенных пиков бацовую линию строят между началом и концом пика, а не заменяют нулевой линией. Так как высота пиков менее зависит от влияния соседних перекрывающихся пиков, оценка по высоте пика точнее, и ее почти всегда используют при анализе микропримесей. [c.176]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.86 , c.239 ]

Высокоэффективная жидкостная хроматография (1988) -- [ c.16 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.86 , c.239 ]

Высокоэффективная жидкостная хроматография (1988) -- [ c.16 ]

Рефрактометрические методы химии (1960) -- [ c.280 , c.297 ]

Инфракрасная спектроскопия полимеров (1976) -- [ c.22 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология