Формула Ван Флека

Косинусы углов а,7 и параметры гибридизации связаны так называемой формулой Ван-Флека (1933 г.) [c.212]

Хотя экспериментально параметр АН1 определяется со значительно большим трудом и во многих случаях с меньшей точностью, чем 6Я1/, и бЯп его значимость состоит в том, что для него существуют точные теоретические формулы. Например, для поли-кристаллического или аморфного твердого тела, содержащего только один сорт парамагнитных ядер и в котором не происходит никаких молекулярных движений, кроме колебаний около положений равновесия (жесткая решетка), второй момент определяется формулой Ван Флека [c.270]

Значения второго момента <АН2 > могут быть рассчитаны по формуле Ван-Флека (8.9), если нет вращательного и поступательного теплового движений молекул. Для этого нужно знать только расстояния между протонами. Обычно расстояния берутся из рентгенографических данных, хотя этим и вносится некоторый произвол, связанный с неопределенностью интерпретации рентгенограмм, а также с тем, что стеклообразный и кристаллический полимеры от- [c.222]

Теория возмущений Рэлея — Шредингера непосредственно приводит к формуле Ван Флека [16]. Для ф -состояния диамагнитной молекулы имеем [c.313]

М — число посторонних магнитных моментов. Полученные соотношения носят название формул Ван-Флека и широко применяются для практических расчетов. [c.92]

Расчет зависимости второго момента линии спектра ЯМР от положения образца в магнитном поле. Согласно формуле Ван-Флека (см. гл. I), второй момент линии ЯМР твердого тела с жесткой структурой АН равен сумме вкладов от всех межъядерных векторов Г . Эти вклады пропорциональны величинам (3 соз 0 — 1) (где Г1 — межъядерное расстояние и 0 — угол [c.175]

Теоретические расчеты, которые приводят к формуле Ван-Флека, довольно длинны, и мы обсудим только вопрос, почему формулы (19а) и (196) различны. Отметим, что явный вид формулы Ван-Флека зависит от членов В в гамильтониане (11) дипольного взаимо- [c.52]

Значение второго момента АЯ2 могут быть рассчитаны по формуле Ван Флека (VIII. 5), если нет вращательного и поступательного теплового движения молекул. [c.271]

Пейк и Парселл [74] доказали справедливость формулы Ван-Флека для второго момента, и ее стали успешно применять для установления структуры твердого состояния. [c.32]

В качестве интересного примера, иллюстрирующего влияние молекулярного движения в твердом теле, можно указать на результаты, полученные Эндрю и Идесом [101] при исследовании протонного резонанса твердого циклогексана. На рис. 10 представлены их данные по зависимости второго момента резонансной линии от температуры. Второй момент ниже 150° К согласуется с молекулярной симметрией Оз , тетраэдрическими углами между связями, расстояниями С—С и С—Н, равными соответственно 1,54 и 1,10 А. Эти данные получены при применении формулы Ван-Флека [уравнение (17)] для расчета меж-молекулярных и внутримолекулярных составляющих второго момента. Расчет межмолекулярной составляющей был произведен на основе 1структуры твердого вещества, установленной рентгеновским анализом. [c.41]

Магнитное экранирование, определяющее величину химиче ского сдвига, обусловлено взаимодействием электронных оболочек молекул с полем Но. В случае атома с электронами в -сострянии экранирование пропорционально электростатической потенциальной энергии взаимодействия между ядром и электронами. Если ядро входит в состав молекулы, то, согласно [69], выражение для величины константы экранирования а будет в общем виде аналогичным формуле Ван-Флека для молекулярного [c.219]

С другой стороны, второй момент определяется пространственным расположением спинов, т. е. структурой кристалла, и может быть теоретически рассчитан для любых структур. Выражение, связывающее второй момент с параметрами структуры, является одним из главных в ЯМР твердого тела (Абра-гам, 1963) и называется формулой Ван Флека (Van Vle k, 1948). Эта формула для самого общего случая (монокристалл) имеет вид [c.8]

В повседневной практике чаще всего рассматриваются поли-кристаллическпе образцы, для которых экспериментальное измерение дает усредненную по всем ориентациям картину спектра ЯМР. В этом случае для сравнения со структурными данными используют формулу Ван Флека для порошка , которая получается из формулы (4) заменой всех сомножителей (3 соз 0 — 1) их изотропным средним, равным 4/5 [c.9]

Определение взаимного расположения атомов водорода п фтора па основе дапных ЯМР является сравнительно просто11 задачей, так как моменты ядер водорода и фтора достаточно велики. Вклад в уширение спектра ЯМР от взаимодействия магнитных моментов водорода и фтора определяется в случае ТМА ГФП вторым слагаемым в формуле Ван Флека (13), описывающим взаимодействие нетождественных сппнов. [c.56]

С. Значение второго момента для поля 10 кЭ составляет 12,8 Э , а экстраполяция к нулевому значению магнитного поля дает величину 12,0 0,6 Э . Формула Ван Флека для нашего случая прпобретает вид [c.56]

Для спектров ЯМР поликристаллов в общем случае можно определить лишь один структурный параметр-второй момент, связанный со структурой кристалла формулой Ван-Флека. Более полную информацию о структуре содержит форма спектра, однако только в простейших случаях, в частности для двухспиповых систем, известна взаимосвязь между особенностями формы спектра и структурными характеристиками. [c.143]

Что касается химической природы кластеров, то в настоящее время можно лишь утверждать, что ни одно из известных соединений в бинарных системах Fe—Sb и Fe—In не обладает отмеченными свойствами. Нельзя исключить полностью возможность образования какого-либо соединения в тройной системе Fe—Sb—In, обладающего магнитным порядком. Более правдоподобным, однако, представляется модель молекулярного кластера, образованного совокупностью ячеек кристаллохимической решетки InSb, содержащих атомы железа в качестве примеси замещения при наличии обменного магнитного взаимодействия между ними. В этом случае возможна ситуация, как это вытекает, например, из формулы Ван-Флека [6] [c.160]

Для интерпретации полученных экспериментальных результатов были рассмотрены возможные типы расположения протонов на поверхности силикагеля и подсчитаны соответствующие величины вторых моментов по формуле Ван-Флека [17]. Такой расчет возможен, поскольку величина 5 определяется главным образом ближайшим окружением исследуемых ядер, что с известной степенью приближения позволяет применить к силикагелю схемы строения кристаллических модификаций кремнезема — р-кристо-баллита и Р-тридимита. Основные параметры структуры, используемые для расчета 5, а именно длина связи 81—О и угол О—81—О в тетраэдре 8104 меняются при этом мало [18, 19]. [c.303]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология